【課題】
試料の電流経路に限定されること無く欠陥を検出すること。
【解決手段】
加熱源により試料の裏面側から当該試料を加熱した後、所定時間放置し、観測部により前記試料の表面側から前記試料上に形成される温度分布を観測することで、前記試料の欠陥の有無を検出する。 （もっと読む）

【課題】 冷熱サイクルを１サイクル実施するのに要する時間を最小限に短縮でき、試料の熱容量や試料の数量等の条件によらず安定した条件下で熱衝撃試験を実施可能な冷熱衝撃試験装置、並びに、冷熱衝撃試験の試験方法の提供を目的とする。
【解決手段】 冷熱衝撃試験装置１は、高温試験槽２と低温試験槽３とを有し、両者の間を試料Ｗを載せたラック４が移動可能な構成とされている。冷熱衝撃試験装置１は、予備試験において環境温度検知センサ９によって検知される試験環境の雰囲気温度が所定の設定温度に到達するまでの時間と、試料Ｗ自身の温度が所定の設定温度に到達するまでの時間との差異時間を記憶しておく。冷熱衝撃試験装置１は、本試験において、環境温度検知センサ９の検知温度が所定の設定温度に到達した後、差異時間が経過した時点から所定の晒し時間にわたって試料Ｗを試験環境下に晒す。 （もっと読む）

【課題】
故障検出の分解能を高める装置と方法の提供。
【解決手段】
検査対象のサンプル１０１の予め定められた検出箇所に関連付けされた所定範囲の領域に対して加熱用のレーザビームを掃引し、サンプルの検出箇所に検出用レーザをあて検出用レーザの反射光から、熱反射情報又は赤外線の強度を検出する検出器１１０を備え、検出箇所からの検出結果に基づき、所定範囲の領域の熱分布情報を取得する。 （もっと読む）

【課題】構造体を構成する各材料の方向性を考慮した精度の高い等価材料定数を効率よく計算することができる等価材料定数算出システムを提供する。
【解決手段】各材料の形状を表すデータを入力する形状データ入力部と、材料定数を表すデータを入力する材料データ入力部と、構造体を小領域に分割する分割部と、小領域における等価材料定数を算出する小領域内計算部とを備え、前記小領域内計算部は、各小領域内の前記各材料間の境界を表す境界関数Ｆ（ｕ）を生成する境界関数生成部と、区間を設定する区間設定部と、前記区間において、材料定数が適用される位置を表す関数を積分することで、該区間における等価材料定数を求める区間内計算部と、各区間の区間等価材料定数に基づいて小領域における等価材料定数を求める小領域等価材料定生成部とを備える等価材料定数算出システム。 （もっと読む）

【課題】
サーモリフレクタンス法による高速検査可能な測定装置及び方法の提供。
【解決手段】
ニポウディスク１２０を有する共焦点光学系を備え、共焦点光学系を介して被検査対象のサンプルの複数の箇所に、検査用と加熱用レーザ光を照射し、被検査対象のサンプルからの複数の箇所からの反射光に基づき複数の箇所の熱物性情報を同時に取得する。 （もっと読む）

【課題】従来の画像検査方法では検査不可能なはんだ付けの検査を可能とする、画像式とレーザー式を併用した電子部品のはんだ接合部検査方法を提供することを課題とする。
【解決手段】レーザーではんだ接合部を加熱し、前記はんだ接合部における熱容量から前記はんだ接合部の良否判定を行なう。前記熱容量値からの前記はんだ接合部の良否判定は、計測された前記熱容量値と良品サンプルの基準熱容量値の許容範囲との比較により行なわれ、前記熱容量値は、被加熱部からの放射パワーの測定値から演算される。 （もっと読む）

人体に悪影響を与え得るＸ線やガンマ線を使用せず、接合部における不都合な欠陥を容易かつ確実に検出できる非破壊検査方法を提供する。非破壊検査方法を実施するための装置は、被検査体を支持可能なステージと、被検査体の接続部の表面を加熱するためのストロボ光源と、被検査体の接続部の表面温度の経時変化を測定可能な赤外線サーモグラフとを有する。ステージは、加熱された被検査体の温度変化すなわち冷却を促進するために被検査体を載置可能なヒートシンクを有することが好ましい。
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【課題】 人体に悪影響を与え得るＸ線やガンマ線を使用せず、接合部における不都合な欠陥を容易かつ確実に検出できる非破壊検査方法を提供する。
【解決手段】 非破壊検査方法を実施するための装置４０は、被検査体３０を支持可能なステージ４２と、被検査体３０の接続部２４の表面を加熱するためのストロボ光源４４と、被検査体３０の接続部２４の表面温度の経時変化を測定可能な赤外線サーモグラフ４６とを有する。なおステージ４２は、加熱された被検査体３０の温度変化すなわち冷却を促進するために被検査体３０を載置可能なヒートシンク４８を有することが好ましい。 （もっと読む）

【課題】 試料の吸着物に対する吸着量の評価を正確に行うこと。同一製品の同一ロット品の中での不良品の判別を、簡単かつ迅速に評価すること。
【解決手段】 試料１００の特定領域のみに対して選択的に成膜して脱離抑制膜２０を形成するようにしたので、特定領域内に存在する吸着物を脱離させずに封じ込めることができ、特性領域からの脱離ガス３０を抑制し、正確かつ迅速に試料の評価を行う。 （もっと読む）

赤外線サーモグラフィを使用して改善された欠陥検出及び解析を提供する方法及びシステム（３１０）について記載する。信号発生器（３３０）からのテストベクタにより、テスト対象デバイス（３０５）の各部分を加熱して欠陥を識別する際に有用な熱特性を生成する。テストベクタは、欠陥とそれを取り囲む部分との間の熱コントラストを高めるように調節されるので、赤外線（ＩＲ）撮像装置（３１５）は改善されたサーモグラフ画像を取得することができる。幾つかの実施形態では、ＡＣ及びＤＣテストベクタを組み合わせることにより、電力伝送を最大化して加熱を、従ってテストを加速する。改善された画像に数学的変換を適用することにより、欠陥検出及び解析をさらに加速する。幾つかの欠陥により、欠陥を不明瞭にする画像アーチファクト、または「欠陥アーチファクト」が生成されるので、欠陥位置の特定作業が困難になる。幾つかの実施形態では、欠陥アーチファクトを解析して該当する欠陥の位置を正確に特定する欠陥位置特定アルゴリズムを採用する。
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【課題】電源を落とすことなく容易にバッテリ交換が可能な非破壊検査装置を実現する。
【解決手段】被検体内部の状態を検査する非破壊検査装置である超音波非破壊検査装置１は、複数のバッテリとしてＡ，Ｂバッテリ２１，２３の２個のバッテリを収納するバッテリ収納部であるＡ，Ｂバッテリコンパートメント２２，２４と、これらＡ，Ｂバッテリコンパートメント２２，２４に収納されたＡ，Ｂバッテリ２１，２３の残量状態を個別に検知するバッテリ残量検知手段としてのバッテリ用ＣＰＵと、電源オンしている際にバッテリ交換モードに移行し、バッテリ用ＣＰＵにより検知したＡ，Ｂバッテリ２１，２３の個別の残量状態に応じて交換すべきバッテリを指示するバッテリ交換指示手段としての装置本体３のＣＰＵ３１とを具備して構成されている。 （もっと読む）