【課題】 特に１μｍの波長帯域において、レーザ装置の発生する光パルスをモニタすることができる光パルスのモニタ方法を提供する。
【解決手段】 光パルスのモニタ方法は、光パルスを発生させる光源と、光サーキュレータと、分散補償量を変化できる可変型分散補償器と、光パルスを周期的に強調する干渉計と、２光子吸収を利用した受光器と、Ａ／Ｄコンバータと、受光器で受光した信号の時間的変化をモニタに表示するソフトウエアを備えたコンピュータとで、構成される光パルスモニタ装置を用いて実施される。 （もっと読む）

【課題】出力窓でのチャンネル配列方向における光学像のボケ及びチャンネル位置の変化を防止し、高精度のマルチチャンネル計測を実現する。
【解決手段】ストリーク管１は、入射面板２ａと出力面板２ｂとを有する容器２と、容器２内に設けられ、入射面板２ａから入射した被計測光に応じて電子を放出する光電面７と、光電面７から放出された電子を出力面板２ｂに向けて集束させるための軸対称電子レンズを形成するメッシュ電極３、第１集束電極４、及びアパーチャー電極５と、容器２内に設けられ、軸対象電子レンズによって集束された電子を出力面板２ｂに沿った掃引方向に掃引する掃引電極６と、入射面板２ａと出力面板２ｂとの間に設けられ、電子を掃引方向に集束する１次元の電子レンズを形成する第２集束電極９とを有する。 （もっと読む）

【課題】被測定光信号の隣接ビット間の位相差及び強度比のばらつきを検出する光サンプリングシステムを提供する。
【解決手段】
被測定光信号を、第１及び第２サブ被測定光信号、並びに１ビット遅延を与えられた第３及び第４サブ被測定光信号に分割する光分岐器及びビット遅延器と、第３及び第４サブ被測定光信号に、各々異なる位相変調を与えて第１及び第２変調光信号を生成する第１及び第２位相シフタと、第１サブ被測定光信号及び第１変調光信号、並びに第２サブ被測定光信号及び前記第２変調光信号を、各々結合して第１及び第２干渉光信号を生成する光結合器と、第１及び第２干渉光信号の各々とサンプリング用パルスとを入力して第１及び第２サンプリング光信号を出力する非線形光学媒体とを具える。そして、第１及び第２サンプリング光信号の電力を測定して、被測定光信号の隣接ビット間の位相差及び強度比を検出する。 （もっと読む）

【課題】各チャネルが差動位相変調された波長多重信号光において、個々の変調信号の隣接シンボル間での位相差を一括かつ同時に評価可能とする。
【解決手段】評価対象の波長多重信号光Ｓに対して、該信号光を構成する変調信号の１シンボル長に相当する時間遅延ΔＴを付与し（１１）、時間遅延ΔＴを付与前の信号光と付与後の信号光のそれぞれについて、サンプリングパルス光Ｌとの干渉効果を用いることにより全電界振幅を時間Ｔ毎にＭ回測定し（１２−１，１２−２）、測定されたＭ個のサンプルをフーリエ解析することで各波長の変調信号の電界振幅を算出し（１３）、各波長毎に時間遅延ΔＴを付与前の信号光の電界振幅と付与後の信号光の電界振幅とを比較することにより各波長の変調信号における隣接シンボル間の位相差を算出する（１４−１〜１４−Ｍ）。 （もっと読む）

【課題】
パルス光の時間幅の状態をリアルタイムにモニターできる、パルス光のモニター装置およびパルス光のモニター方法を提供する。
【解決手段】
測定対象であるレーザーパルス光を２つの光に分波する分波器と、分波された２つの光をそれぞれ受ける、第１光検出器および第２光検出器と、信号演算処理器と、出力器と、を有し、前記第１光検出器は１光子吸収を利用して受けた光のエネルギーを第１信号に変換するとともに、前記第２光検出器は２光子吸収を利用して受けた光のエネルギーを第２信号に変換しており、前記信号演算処理器は、前記第２信号を前記第１信号の２乗で除した商を求め、前記商より前記パルス光の時間幅の状態を表す演算機能を有しており、前記パルス光の時間幅の状態を表す信号を、前記出力器に出力しモニターすることを特徴とするパルス光のモニター装置である。 （もっと読む）

【課題】 スペクトル線幅が狭い（コヒーレンス時間が長い）レーザ光のコヒーレンス時間を正確に測定する。
【解決手段】 遅延時間τの関数である被測定レーザ光のコヒーレンス関数γ(τ)を測定する場合に、被測定レーザ光（１１）の光周波数を線形に掃引し（１２）、掃引されたレーザ光を分岐し（１３１）、分岐された一方のレーザ光をサーキュレータ（１４）により光ファイバ（１５）に入射してレイリー散乱光を生じさせ、光ファイバ（１５）で生じたレイリー散乱光と分岐されたもう一方のレーザ光とを合波し（１３２）、合波された光を受光して光電流を検出し（１６）、検出された光電流を数値化してフーリエ変換し（１７，１８）、フーリエ変換された光電流値より、遅延０における振幅の標準偏差と遅延τにおける振幅の標準偏差とを算出し、両者の比により遅延τにおけるコヒーレンス関数の絶対値を求める（１９）。 （もっと読む）

【課題】検出器の両端に必要とされるバイアスを増大させずに単一光子による信号の存在を強調するため、従来より高い周波数で動作させることができる光子検出システム。
【解決手段】単一光子を検出するように構成された光子検出器５１と、光子検出器の出力信号を、第１の部分が第２の部分と実質的に同一である第１の部分と第２の部分とに分配する信号分配器５５と、第２の部分を第１の部分に対して遅延させる遅延手段５６と、信号の第１の部分と遅延させた第２の部分とを、遅延させた第２の部分が出力信号の第１の部分における周期的変動を打ち消すために使用されるように合成する合成器６１とを備える光子検出システム。 （もっと読む）

【課題】単一光子検出器が被る１つの問題は、単一光子の検出により出力される信号は弱いことが多く、検出器出力の他のアーチファクトと区別するのが困難な場合がある。
【解決手段】単一光子を検出するように構成された光子検出器（ＡＰＤ５１）と、光子検出器の出力信号を、第１の部分が第２の部分と実質的に同一である第１の部分と第２の部分とに分周する信号分周器（電力分配器５５）と、第２の部分を第１の部分に対して遅延させる遅延手段（遅延線５６）と、信号の第１の部分と遅延させた第２の部分とを、遅延させた第２の部分が出力信号の第１の部分における周期的変動を打ち消すために使用されるように合成する合成器（ハイブリッド結合器６１）とを備える光子検出システム。 （もっと読む）

【課題】微弱な光パルスであっても、光増幅器を使用することなく、高い時間分解能で光パルスを検出することができる時間ゲート付き光検出装置およびこれを用いた多点計測システムを提供する。
【解決手段】時間ゲート付き光検出装置は、所定の変調周波数で光パルスを発生するレーザ光源ＬＡと、レーザ光源ＬＡからの自然放出光の強度を検出するための光検出器ＰＤと、レーザ光源ＬＡからの光パルスと同期した被測定光パルスをレーザ光源ＬＡへ注入するための光カプラＣＰ１と、光パルスと被測定光パルスとの間の時間差を調整するための可動ミラーＭＲと，光パルスと被測定光パルスの偏光状態を揃えるための偏波コントローラなどで構成される。 （もっと読む）

【課題】局発光の位相揺らぎが存在する場合であっても、信号光の光複素振幅を正確に測定可能とする。
【解決手段】入力信号光、入力信号光の周波数帯域内にスペクトルを有する局発光をそれぞれ光分岐器１１，１６により第１及び第２の系統に分岐し、第１の系統の信号光と局発光とを第１の光90度ハイブリッド１２で混合し、第２の系統の信号光と局発光とを第２の光90度ハイブリッド１４で混合する。続いて、第１、第２の光90度ハイブリッド１２の出力を光電変換して第１、第２の複素振幅信号を生成する。ここで、第２の系統の信号光を光遅延器１３により一定時間遅延させる。また、第１の局発光及び第２の局発光それぞれの光路長が互いに一致するように調整する。この状態から、波形観測装置２３に第１及び第２の複素振幅信号を入力して、遅延時間差による位相変化を測定する。 （もっと読む）

【課題】高抵抗な光伝導素子を提供することである。
【解決手段】光伝導素子は、励起光（４）の照射により光励起キャリアを発生する半導体材料からなる光伝導層（２）と、光伝導層（２）に配置された複数の電極（３）を有する。光伝導層（２）の材料は、光伝導層に生ずる空乏層（６）の厚さが励起光（４）の波長における光伝導層（２）の光学吸収長より小さい材料である。光伝導層（２）の膜厚は、光伝導層の複数の電極（３）の間の少なくとも一部分において空乏層（６）が膜厚方向全体に達する様に調整されている。 （もっと読む）

【課題】簡単な構成で容易に画像に重畳するフリッカーを測定できるフリッカー測定方法を提供する。
【解決手段】表示装置１０で表示される画像のフリッカーを測定するフリッカー測定方法であって、測定対象のフリッカーの周期より所定の追加時間分（露光時間）長い時間間隔で、撮像部１００にて画像を撮像させて撮像信号を取得する画像撮像制御工程と、取得した撮像信号における光の強さを、追加時間（露光時間）毎のデータとしてフリッカーの波形を演算するフリッカー波形演算工程と、を実施する。 （もっと読む）

【課題】光源からの光を分光して検出する測光装置において、バンドル化した光ファイバを通して積分球に光を導く場合の測定誤差を軽減することのできる測光装置を提供する。
【解決手段】測光装置１００は、積分球１と、光ファイババンドルケーブル２と、光検出器３０と、を有し、光ファイババンドルケーブル２の積分球１の入射開口１２に隣接して配置される第１の端部２２における複数の光ファイバ素線２１の端面は第１の軸方向に沿って一方向に長くなるように配列され、光検出器の３０複数の光電変換素子は第２の軸方向に沿って一方向に長くなるように配列されており、積分球１の出射開口１３を含む平面と直交し且つ上記第２の軸方向と平行な平面を基準平面としたとき、光ファイババンドルケーブル２の第１の端部２２は、上記第１の軸方向が基準平面と交差するように入射開口１２に隣接して配置される構成とする。 （もっと読む）

【課題】 表面プラズモンを伝送するための開口における表面プラズモンの透過光量の低下を招くことなく、高速応答性の向上をはかる。
【解決手段】 入射光を表面プラズモンに変換するための結合周期構造２２が表面に設けられ、該結合周期構造２２中に表裏面を貫通する開口２３が設けられた導電性薄膜２１と、開口２３の結合周期構造２２が設けられた面と反対面の端部に配置された受光部とを有した受光素子であって、開口２３の形状は、２つのスリットを直交交差させた十字形であり、各々のスリットの長辺方向が前記表面プラズモン波長の１／２より長く、短辺方向が前記表面プラズモン波長の１／２より短い。 （もっと読む）

【課題】簡便な手段によって有効に、テラヘルツ波帯を中心とする検出帯域を拡張すると共に、高感度で検出できる電磁波形状検出方法及び装置の提供。
【解決手段】基板１１の表面に形成された金属膜から成る光伝導アンテナ１２、１３の電極に接続された配線１４、１５に接続され、電極間にかかる電流を測定する電流測定手段１６、１７と、電極間の間隙にサンプリング光２２を照射する手段と、検出対象の電磁波２１を電極間の間隙１８に照射する手段とを備え、光伝導アンテナ電極を複数組設け、それら複数組の光伝導アンテナ電極を電極間の間隙を共有する位置に配置し、検出対象の電磁波の偏波方位を各電極組が向き合う方位とずらして設定し、サンプリング光の照射を光学遅延によってタイミングを徐々に変えながら行い、各光伝導アンテナ電極間に発生する電流を計測し、得られた電磁波の電場波形をフーリエ変換することで振幅と位相の情報を同時かつ独立に得る。 （もっと読む）

【課題】本発明は、高い消光比と短いゲート幅を両立することの可能なサンプリング波形測定装置の提供を目的とする。
【解決手段】本願発明のサンプリング波形測定装置は、サンプリング用光パルスＰｓを発生するサンプリング用光パルス発生部１１と、被測定光信号Ｐｘおよびサンプリング用光パルスＰｓが入力されサンプリング後の光信号Ｐｙを出力する電界吸収型光変調器１２と、光信号Ｐｙを受光する受光器１５と、を備え、等価サンプリング方式で被測定光信号Ｐｘの波形を測定するサンプリング波形測定装置１０１において、サンプリング用光パルス発生部１１は、サンプリング用光パルスＰｓとして、光パワーの時間波形に複数のピークを有するパルス群を発生し、電界吸収型光変調器１２は、複数のピークのうち少なくとも２番目以降のピークによって被測定光信号Ｐｘを１回サンプリングすることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】周期的に変わる光信号強度に対して積分型光検出器によりリアルタイムで測定したとき、その波形を分析する従来の方法における演算式の複雑性、読み出し時間に対する近似補正、積分時間の制限的可変性などの問題を改善する。
【解決手段】振幅が一定の時間周期で変わる光に対し、積分型光検出器を使用して前記周期の間、一定の時間間隔で露光量Ｓｊを測定したとき、前記光の強度波形の正規化されたフーリエ係数α’２ｎ，β’２ｎを、前記測定された露光量Ｓｊに関する等式に対して離散フーリエ変換を行う。任意の積分時間と特定の読み出し時間に対して完全に補正された露光量計算法と、離散フーリエ変換とを使用することにより、近似なく正規化されたフーリエ係数を求める。 （もっと読む）

【課題】ホモダイン干渉計を用いた光信号の電界波形計測装置で、フォトダイオードの応答時間に制限されない広帯域計測と、干渉計の複雑な制御不要な手法と、ホモダイン信号に混入する被測定光信号の強度成分の除去手法と、同相、直交成分の観測時のスキュー低減手法を提供する。
【解決手段】単一周波数レーザ光源１、第１の光方向性結合器２ａ、被測定デバイス３、位相変調器４、第２の光方向性結合器２ｂからなるホモダイン干渉計において、光源１の出力を第１の光方向性結合器２ａにより分岐し、被測定デバイス３の透過光を信号光とし、位相変調器４の透過光を局部発振光とし、信号光と局部発振光を、第２の光方向性結合器２ｂにより合流し、局部発振光の位相を離散的に変化させながら、第２の光方向性結合器２ｂからの干渉信号強度を光サンプリングオシロスコープ５で時分割サンプリングし、サンプリング値から前記信号光の振幅と位相の時間波形を計算する。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、多量子井戸構造の電界吸収型光変調器を用いた光サンプリングにおいて高いＳ／Ｎ比と短いゲート幅を両立することにある。
【解決手段】本願発明のサンプリング波形測定装置１０１は、光パルス発生器１１と、電界吸収型光変調器１２と、受光器１５と、を備え、光パルスＰｓが入力された際の電界吸収型光変調器１２の相互吸収飽和による光ゲート動作を利用して被測定光信号Ｐｘをサンプリングし、等価サンプリング方式で被測定光信号Ｐｘの波形を測定するサンプリング波形測定装置１０１において、電界吸収型光変調器１２の逆バイアス電圧を高くするバイアス調整用電気パルスＶｐｍを、少なくとも光ゲートが開いている間、電界吸収型光変調器に入力するバイアス調整手段（１６）を備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、電界吸収型光変調器の光ゲート動作の時間幅を短縮することにある。
【解決手段】本願発明のサンプリング波形測定装置１０１は、光パルスＰｓを発生する光パルス発生器１１と、被測定光信号Ｐｘ及び光パルスＰｓが入力されて光信号Ｐｙを出力する電界吸収型光変調器１２と、電界吸収型光変調器１２から出力された光信号Ｐｙを電気信号Ｄｙに変換する受光器１５と、を備え、光パルスＰｓが入力された際の電界吸収型光変調器１２の相互吸収飽和による光ゲート動作を利用して被測定光信号Ｐｘをサンプリングし、等価サンプリング方式で被測定光信号Ｐｘの波形を測定するサンプリング波形測定装置１０１において、光ゲート動作の立ち下がり速度を速めるゲート幅調整用電気パルスＶｐｍを電界吸収型光変調器１２に入力するゲート幅調整手段１６を備えることを特徴とする。 （もっと読む）