【課題】簡易な構成で、初期捕捉および高精度捕捉を行い、受信部で受光する光ビームの損失を最小限に低減し、受光量が微量な場合でも捕捉追尾を行う。
【解決手段】光ビームを偏向する第１の光路偏向手段１と、光ビームを集光する集光手段３と、光ビームを偏向する第２の光路偏向手段５と、第２の光路偏向手段５に設け、光ビームが基準光軸３０と一致する際の集光スポット近傍かつ集光スポットサイズ以上のピンホール４と、第２の光路偏向手段５を通過した光ビームを受信する受信部１０と、第２の光路偏向手段５により偏向された光ビームに基づき光ビームと基準光軸との角度ズレを検出する第１の光検出手段６と、光ビームを分岐する光分岐手段２と、分岐された光ビームに基づき光ビームと基準光軸３０との角度ズレを高精度に検出する第２の光検出手段７と、角度ズレに基づき、第１の光偏向手段１の偏向方向を補正する偏向方向補正手段８とを備えた。 （もっと読む）

【課題】太陽電池モジュールを測定するソーラシミュレータの被照射面内の照度分布を、高速かつ実際の照射状態に則して測定することのできる照度分布測定装置及び照度分布測定方法を提供する。
【解決手段】疑似太陽光を出射するソーラシミュレータ１と、ソーラシミュレータ１の下位に配置された、下記センサのフルスケールに合わせて調整された透過率を有し、かつ面方向の拡散が少ない遮光機能を有する透過型造影板３と、透過型造影板３の下面に位置し照度分布測定対象となる被照射面２と、透過型造影板３を透過した透過光像を被照射面２において照度分布として測定する１次元イメージセンサ４または２次元イメージセンサからなるセンサとを備えたことを特徴とする照度分布測定装置である。 （もっと読む）

【課題】
微小な欠陥を検出すること、検出した欠陥の寸法を高精度に計測することなどが求められる。
【解決手段】
光源から出射した光を、調整する照明光調整工程と、前記照明光調整工程により得られる光束を所望の照明強度分布に形成する照明強度分布制御工程と、前記照明強度分布の長手方向に対して実質的に垂直な方向に試料を変位させる試料走査工程と、照明光が照射される領域内の複数の小領域各々から出射される散乱光の光子数を計数して対応する複数の散乱光検出信号を出力する散乱光検出工程と、複数の散乱光検出信号を処理して欠陥の存在を判定する欠陥判定工程と、欠陥と判定される箇所各々について欠陥の寸法を判定する欠陥寸法判定工程と、前記欠陥と判定される箇所各々について、前記試料表面上における位置および前記欠陥の寸法を表示する表示工程と、を有することを特徴とする欠陥検査方法。 （もっと読む）

【課題】本発明は、高い消光比と短いゲート幅を両立することの可能なサンプリング波形測定装置の提供を目的とする。
【解決手段】本願発明のサンプリング波形測定装置は、サンプリング用光パルスＰｓを発生するサンプリング用光パルス発生部１１と、被測定光信号Ｐｘおよびサンプリング用光パルスＰｓが入力されサンプリング後の光信号Ｐｙを出力する電界吸収型光変調器１２と、光信号Ｐｙを受光する受光器１５と、を備え、等価サンプリング方式で被測定光信号Ｐｘの波形を測定するサンプリング波形測定装置１０１において、サンプリング用光パルス発生部１１は、サンプリング用光パルスＰｓとして、光パワーの時間波形に複数のピークを有するパルス群を発生し、電界吸収型光変調器１２は、複数のピークのうち少なくとも２番目以降のピークによって被測定光信号Ｐｘを１回サンプリングすることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】調節可能なマルチモードの光照射野結像システムを提供する。
【解決手段】光学的なモジュール１０５は、物体１５０の光学的な像１７０を形成する。光学的な像は、光学的なモジュール像平面１２５に形成される。光学的なモジュールは、開口１１７及び開口面１１５を有するが、単一のレンズ素子と共同で配置された開口絞りによって表される。より複雑な光学的なモジュールにおいては、開口及び開口面は、光学的なモジュール内の光学的な素子のいずれのものとも共同で配置される必要はない。不均質なフィルターモジュール１１０は、光照射野結像システムの開口面に位置決めされると共にマルチモードの性能を提供する。フィルターモジュールを結像システムに対して相対的に移動させることができると共に、このようにマルチモードの性能の調節を可能にする。 （もっと読む）

【課題】周期的に変わる光信号強度に対して積分型光検出器によりリアルタイムで測定したとき、その波形を分析する従来の方法における演算式の複雑性、読み出し時間に対する近似補正、積分時間の制限的可変性などの問題を改善する。
【解決手段】振幅が一定の時間周期で変わる光に対し、積分型光検出器を使用して前記周期の間、一定の時間間隔で露光量Ｓｊを測定したとき、前記光の強度波形の正規化されたフーリエ係数α’２ｎ，β’２ｎを、前記測定された露光量Ｓｊに関する等式に対して離散フーリエ変換を行う。任意の積分時間と特定の読み出し時間に対して完全に補正された露光量計算法と、離散フーリエ変換とを使用することにより、近似なく正規化されたフーリエ係数を求める。 （もっと読む）

本装置は、偏光フィルターセルのアレイであって、各セルが第一の偏光方向を有する第一の偏光フィルター及び第一の偏光方向とは異なる第二の偏光方向を有する第二の偏光フィルターを備えた、アレイと；偏光フィルターのアレイ上に光を向ける光学システムと；それぞれ第一及び第二の偏光フィルターを介して受光した光からデータを生成する第一及び第二の光センサーとを備える。また、本方法は、偏光フィルターセルのアレイ上に光を向けるステップであって、各セルが第一の偏光方向を有する第一の偏光フィルター及び第一の偏光方向とは異なる第二の偏光方向を有する第二の偏光フィルターを有する第二の偏光フィルターを有する、ステップと；それぞれ第一及び第二の光センサーによって第一及び第二の偏光フィルターを介して受光した光からデータを生成するステップと；データに基づいて偏光パターンを導出するステップとを備える。
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【課題】入射する光のｓ波成分とｐ波成分とでオフセット及びアンバランスが生じない偏光面検波センサーを提供する。
【解決手段】本発明の偏光面検波センサーは、シリコン基板３０１に形成された２つのフォトダイオードと、フローティングディフュージョンＣｆｄと、シリコン基板３０１上方に形成された偏光層とを有する複数の単位画素を備え、偏光層は、２つのフォトダイオードの一方が形成されている領域の上方に形成され、入射光の第１の偏光成分を透過する第１の偏光子Ｐｓ１と、２つのフォトダイオードの他方が形成されている領域の上方に形成され、第１の偏光成分に直交する第２の偏光成分を透過する第２の偏光子とを有し、複数の単位画素それぞれは、さらに、第１の偏光子Ｐｓ１及び第２の偏光子からフローティングディフュージョンＣｆｄに入射する斜め光を遮光する遮光部３１０を備える。 （もっと読む）

【課題】紫外線検出機能を実装しながら製造コストの削減及び設計スペースの節約を実現するディスプレイ装置等を提供する。
【解決手段】画像を表示する表示パネル１００を有するディスプレイ装置１０で、表示パネル１００は、外光２００を受ける面に、可視光を透過する偏光板Ｌ１を設けられている。ディスプレイ装置１０は、偏光板Ｌ１に覆われていない表示パネル１００の基板Ｌ４上の領域に設けられ、外光２００を検出し、その波長成分に対応する信号を出力する第１の光センサ３１０と、偏光板Ｌ１に覆われている表示パネルの基板Ｌ４上の領域に設けられ、偏光板Ｌ１を透過した可視光を検出し、その波長成分に対応する信号を出力する第２の光センサ３２０と、第１及び第２の光センサ３１０、３２０の夫々から出力される信号に基づいて、外光２００に含まれる紫外線光の強さを求めるセンサ出力演算部４２とを有する。 （もっと読む）

【課題】簡易で安価な構成で且つ高いサンプリング効率で光信号をサンプリングでき、高速な光信号の波形情報を安定に得ることができるようにする。
【解決手段】光サンプリング装置２２のサンプリング用素子としてカーボンナノチューブ素子２３を用い、その一方の光端子２３ａに監視対象の光信号Ｐｘを入射させ、サンプリングパルス用光パルス発生器２１から出射されたサンプリング用光パルスＰｓを、光カプラ２５を介してカーボンナノチューブ素子２３の他方の光端子２３ｂへ入射させ、そのサンプリング用光パルスＰｓが入射したときに生じる過飽和吸収特性により光信号Ｐｘに対する吸収率を低下させて他方の光端子２３ｂから出射させて、サンプリングを行っている。 （もっと読む）

【課題】媒質の群速度分散の影響を受けにくく、チャープの影響を受けにくい光学遅延素子を提供し、また、チャープの影響を受け難く広帯域の光パルス計測を行うことができる光計測装置を提供する。
【解決手段】光学遅延素子１０Ａは、透過型の光学遅延素子に代えて反射型の光学遅延素子とし、光学的な遅延を反射距離によって遅延時間を形成し、この反射距離を異ならせることによって遅延時間に時間差を付与するものである。反射型の光学遅延素子によれば、光学素子を光が通過することによる吸収や分散の影響を除くことができるため、媒質の群速度分散による光パルスの時間広がり（チャープ）を無くすことができ、また、広帯域の周波数（波長）に対して光学遅延時間を付与する。 （もっと読む）

【課題】波形情報として信号光の位相情報を高い時間分解能で取得および観測ができるようにする。
【解決手段】所定周期の光パルスＰｓを発生する光サンプリングパルス発生器３５と、被測定信号光Ｘとローカル光Ｌ（＝Ｐｓ）との合波によって得られた干渉光成分を光パルスに同期して出射させる光サンプリング部３１と、サンプリング部３１の出射光を受けて電気信号に変換する光電変換部３６と、光電変換部３６が出力する電気信号Ｅに対するサンプリングを行う電気サンプリング部３７と、電気サンプリング部３７によるサンプリングが、干渉光成分に対応した電気信号に対して行われるように同期させる同期手段４０とを備えている。 （もっと読む）

【課題】製造が容易で且つ再現性の高い構造を備えた量子ドット赤外線光検出器を提供することである。
【解決手段】半導体基板と、前記半導体基板の上に形成された、導電性の半導体からなる第１の電極層と、前記第１の電極層の上に形成された前記第１の光電変換層と、前記第１の光電変換層の上に形成された、導電性の半導体からなる第２の電極層と、前記第２の電極層の上に形成された、第２の光電変換層と、前記第２の光電変換層の上に形成された、導電性の半導体からなる第３の電極層からなる赤外線を電気信号に変換する光半導体装置において、前記第１の光電変換層が、前記半導体基板の主面に投影した形状が、第１の方向に長軸を有する第１の量子ドットから成り、前記第２の光電変換層が、前記主面に投影した形状が、前記第１の方向にに交差する第の２の方向に長軸を有する第２の量子ドットから成ること。 （もっと読む）

本発明は、テラヘルツ周波数帯域中に存在する摂動によって光学媒体で誘起される一時的な複屈折の、直接で、非変形の、ワンショット測定方法及び装置に関する。本発明の目的は、ワンショットの測定方法及びワンショットの測定装置を提供することによって先行技術の欠点を軽減することにある。これらは、スペクトル符号化／復号化方式に基づく。そして、それらはすべての短いパルス（UV-NIR）のレーザー光源と互換性がある。この点に関し、本発明は、少なくとも１つのテラヘルツ摂動（６）によって、光学媒体（１２）で誘起される一時的な複屈折のワンショット測定方法を提供し、その方法は、光パルス信号（２）の送信及びスペクトル符号化のステップを含む。符号化ステップは、スーパーコンティニューム（３）の生成を含み、さらに、２つの偏光方向へのスーパーコンティニュームの電界を分解し、その２つの成分の強度I_s及びI_pを同時に測定することによる、媒体（１２）の摂動（６）によって誘起されたスーパーコンティニュームの偏光の楕円率の復号ステップと組み合わされる。 （もっと読む）

【課題】偏波ダイバーシティ構成を用いずに強度相関信号の偏波依存性を無くす。
【解決手段】波長の異なる複数系列の光信号を波形測定の対象となる被測定光信号とし、該複数系列の被測定光信号を一括サンプリングするためのサンプリング光パルスを出力しうるサンプリング光出力部１３と、該複数系列の被測定光信号および該サンプリング光出力部からの該サンプリング光パルスによる非線形光学効果を生じさせて、該被測定光の一括サンプリング結果となる光を出力しうるサンプリング結果出力部４４と、サンプリング結果出力部４４において出力される光を用いて該波形測定を行なうことができるように、サンプリング結果出力部４４において出力される光のパワーレベルに基づいて該サンプリング結果出力部に入力される被測定光信号の偏波状態を個別に制御しうる偏波状態制御部４７と、をそなえる。 （もっと読む）

【課題】被測定光と当該被測定光をサンプリングするパルス光の時間精度を長時間連続して安定させることができる。
【解決手段】与えられる２つのパルス光の位相差を調整して出力するタイミング調整装置であって、２つのパルス光の少なくとも一方のパルス光を遅延させて、位相差を調整する光可変遅延部と、光可変遅延部により位相差が調整された２つのパルス光のそれぞれを電気信号に変換することにより、２つの調整用信号を生成する光電変換器と、２つの調整用信号の位相差を検出し、検出した位相差を予め定められた位相差に近づけるべく、光可変遅延部における遅延量を制御する位相比較部とを備えるタイミング調整装置が提供される。 （もっと読む）

【課題】
量子ビームの３次元的な測定を簡便に行うことができるビーム測定装置、及びビーム測定方法、及びそれを用いたポンプ・プローブ測定方法を提供する。
【解決手段】
本発明の一態様にかかるビーム測定装置１００は、レーザ発振器１１によって発振したパルスレーザ光の波長が時間に応じて変化するよう、パルスレーザ光のパルス波形を整形して出射する光源部１０と、光源部１０から出射したパルスレーザ光に対して入射位置に応じた時間遅延を与える遅延素子２３と、パルスレーザ光を入射位置に応じて異なる偏光状態に変換する偏光変換素子２４と、を有する入射光学系２０と、入射位置に応じて異なる結晶軸を有する電気光学素子３０と、パルスレーザ光から所定の偏光成分を取り出す偏光子４６と、偏光子４６で取り出されたパルスレーザ光のスペクトルを測定する分光測定器５０と、を備えるものである。 （もっと読む）

【課題】被測定光の波形測定を精度よく実行すること。
【解決手段】光波形測定システム１００は、位相比較器１５０が、ＰＤ１４０ｂから出力される電気信号と、Ｍｉｘｅｒ２００から出力される電気信号との位相を比較し、各電気信号の位相差に比例した振幅の信号を誤差信号としてＬＰＦ１６０を介してＶＣＯ１７０に出力する。そして、ＶＣＯ１７０から出力される電気信号のジッタをＢＰＦ１８０が除去し、ジッタが除去された電気信号に基づいてサンプリングパルス光源２１０がサンプリング光を出力する。光サンプリングゲート１２０は、サンプリングパルス光源２１０から出力されるサンプリング光によって被測定信号光をサンプリングし、サンプリングされた被測定信号をオシロスコープ２２０が測定する。 （もっと読む）

【課題】偏波ダイバーシティ構成を用いずに強度相関信号の偏波依存性を無くす。
【解決手段】光を波形測定する際に、該測定対象となる被測定光をサンプリングするためのサンプリング光パルスを出力し、該被測定光および該サンプリング光パルスによる非線形光学効果を生じさせて、該被測定光のサンプリング結果となる光を出力する一方、該サンプリング結果として出力される光が所定の直線偏波状態を有するように、該測定対象となる被測定光およびサンプリング光パルスの偏波状態を制御する。 （もっと読む）

【課題】被検出物体の検出の安定性が高められた回帰反射型光電センサを提供する。
【解決手段】回帰反射型光電センサは、円偏光を投光する投光系と、逆円偏光と円偏光とが混在する光が入射された場合に逆円偏光を選択的に受光する受光系とが形成されたセンサ本体１０と、円偏光を逆円偏光を含む光に変換して反射する回帰反射部３０とを含む。センサ本体１０は、投光素子と、受光素子と、垂直偏光を円偏光に変換し、逆円偏光を垂直偏光に変換する１／４波長板２８と、偏光フィルタ２６とを含む。偏光フィルタ２６は、回帰反射部３０から受光素子４に至る受光経路上において受光素子４と位相差板２８との間に配置され、垂直偏光を選択的に透過させる。 （もっと読む）