【課題】画素ごとの劣化状況をデータとして検出、格納、その結果をもとに表示データを演算して補正した場合、回路規模が大きくなる。
【解決手段】
電流補償機能内臓データ線駆動回路２内の電流比較回路４７によって自発光素子の劣化による電流量の基準値との大小比較結果のみを検出し、基準値を下回ったことを表示データの格納回路３０の下位ビットに付加して記憶し、この格納回路３０から読み出される表示データに応じて、Ｄ／Ａ変換回路４１が書込み信号電圧を生成する。 （もっと読む）

【課題】表示装置及びその製造方法が開示される。
【解決手段】本発明は、基板、前記基板上に形成されチャンネル領域を含む第１半導体層を含む駆動薄膜トランジスタ、前記駆動薄膜トランジスタ上に形成された絶縁膜及び前記絶縁膜上に形成されたチャンネル領域を含む第２半導体層を含むスイッチング薄膜トランジスタを含み、前記駆動薄膜トランジスタ及びスイッチング薄膜トランジスタのうち、少なくとも１つのソース電極及びドレイン電極全体がチャンネル領域を除いた半導体層の上部に形成されたソース電極及びドレイン電極を含む表示装置及びその製造方法を提供する。本発明は、有機発光表示装置のスイッチング薄膜トランジスタ及び駆動薄膜トランジスタに要求される特性を同時に充足した表示装置の構造及びその製造方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】積算値の算出や蓄積を実時間で実行するために、積算値の最大値に対応するバス幅の更に２倍のバス幅がデータの読み書き用に必要となる。
【解決手段】複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された表示パネルを搭載する自発光表示装置として、入力階調値を劣化量に変換する階調値／劣化量変換部と、フレーム単位で発生する劣化量の短周期単位の累積値を蓄積する短周期劣化量蓄積部と、累積値に基づいて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、短周期単位で算出される劣化量差の累積値を蓄積する長周期劣化量蓄積部と、長周期劣化量蓄積部に蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量を、補正期間内の予測劣化量に基づいて算出する補正量算出部と、算出された補正量で対応画素の階調値を補正する劣化量差補正部とを有するものを提案する。 （もっと読む）

【課題】輝度劣化に伴う黒レベルのずれによりガンマ特性が崩れてしまう。
【解決手段】有効表示領域の外側に、基本原色別のダミー画素とその発光輝度を基本原色別に検出する輝度検出センサーとを配置する。その上で、自発光表示装置に、ダミー画素について実際に測定される基本原色別の輝度特性に基づいて、階調変化を観察できる最下点に対応するデータ線駆動部の動作電圧を基本原色別に検出する黒レベル検出部と、検出された動作電圧を最小電圧とする一組の基準電圧を発生し、対応する基本原色用のデータ線駆動部に供給する基準電圧設定部とを搭載する。 （もっと読む）

【課題】劣化量の予測精度が低いか、製造歩留まりが悪い問題がある。
【解決手段】有効表示領域の外側に複数個のダミー画素を分散的に配置し、これらダミー画素の平均的な発光輝度を実際に測定する。この後、実測期間内の平均階調値と実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出する。次に、算出された実劣化率を用い、階調値に応じた劣化量への変換に使用する参照テーブル値を更新する。これにより、各画素の劣化状態の見積もり精度を高めることができる。 （もっと読む）

【課題】劣化量の予測精度が低いか、製造歩留まりが悪い問題がある。
【解決手段】有効表示領域の外側にダミー画素を配置する。この際、ダミー画素とその光検出素子の周辺全体を硬化性濃色接着剤で被覆し、外光その他の予定しない光が検出対象の光に混入するのを確実に遮断する。この結果、ダミー画素の使用による輝度低下を正確に測定することができる。この後、測定結果を焼き付き現象の抑制又は改善処理に使用することにより、焼き付き現象を確実に解消することができる。。 （もっと読む）

【課題】焼き付き状態を予測して補正する場合、実際に入力される映像信号が予測値と異なる場合に焼き付き補正の効果が十分に発揮されない。
【解決手段】複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された表示パネルを搭載する自発光表示装置として、第１の発光期間に補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を第２の発光期間に解消するのに必要な補正量を算出する補正量算出部と、算出された補正量で対応画素の階調値を補正する劣化量差補正部と、劣化量差補正部で補正された階調値をガンマ変換して表示パネルに供給するガンマ変換部と、ガンマ変換部から表示パネルに供給される階調値を入力し、基準画素に対応する実劣化量を算出する実劣化量算出部と、基準画素について算出された予測劣化量と実劣化量とのずれ量を検出し、当該ずれ量を解消するようにガンマ変換部で使用する入出力関係を更新する予測ずれ検出部とを有するものを提案する。 （もっと読む）

【課題】輝度半減寿命が映像ソースに応じて変動する。このため、商品仕様として輝度半減期寿命を謳う場合、ユーザークレームを増加させる懸念がある。
【解決手段】ダミー画素を配置して劣化状態を実測し、この検出結果に基づいて仕様で定めた輝度半減寿命を満たすように制御する。すなわち、測定タイミング以外は、基準画素に対応する階調値でダミー画素を継続的に発光制御する一方で、測定タイミングでは事前に設定した測定用の階調値でダミー画素を発光制御する。この際、逐次検出されるダミー画素の発光輝度情報に基づいて、仕様で定めた輝度半減寿命を満たす輝度劣化特性を上回る速度で発光輝度の低下が進行しているか否かを判定する。この判定結果に応じて有効表示領域全体の発光輝度を制御する。 （もっと読む）

【課題】発光時間の寿命を単に延長するだけであり、焼きつき現象の発生を本質的に補正できない。
【解決手段】表示パネルの有効表示領域の外側にダミー画素を配置し、有効表示領域内で任意に選択された現在のターゲット画素について算出された累積劣化量差とダミー画素について算出された累積劣化量差とが一致するようにダミー画素用の階調値を与える。やがて両値が一致すると、輝度検出センサーの検出輝度に基づいて累積劣化量の実測値を測定し、当該実測値に現在のターゲット画素について基準画素との間に発生している累積劣化量差の実測値を測定する。更に、ターゲット画素について算出された累積劣化量差と実測値との差分として誤差量を算出し、累積劣化量差の見積もり値から誤差量の影響を除去して現在のターゲット画素に対する補正量を決定する。これにより、焼き付き現象の補正精度を改善する。 （もっと読む）

【課題】発光時間の寿命を単に延長するだけであり、焼きつき現象の発生を本質的に補正できない。
【解決手段】表示パネルの有効表示領域の外側に複数個のダミー画素を配置し、それらに画面全体の平均階調値とサンプル画素の表示階調値とを与える。この後、複数個のサンプル画素について算出された累積劣化情報の見積もり値と、これらに対応する累積劣化情報の実測値に基づいて各サンプル画素に対応する修正倍率を求める。更に、複数個のサンプル画素について算出された累積劣化情報の見積もり値を大きさ順に並べた際に隣接する２つのサンプル画素について算出された各修正倍率の平均値を、対応する見積もり範囲に対する修正値に決定する。この修正値で全画素について算出された累積劣化情報の見積もり値を修正することで焼き付き現象の補正精度を改善する。 （もっと読む）

【課題】発光時間の寿命を単に延長するだけであり、焼きつき現象の発生を本質的に補正できない。
【解決手段】表示パネルの有効表示領域の外側に、複数個のダミー画素を一組とする一組又は複数組のダミー画素群と少なくとも一つの輝度検出センサーとを搭載する。この場合に、劣化特性の測定開始前の全てのダミー画素群には平均階調値を与える一方で、劣化特性の測定を開始した一組のダミー画素群には異なる階調値を与える。この後、一組のダミー画素群について測定した検出輝度に基づいて階調値と劣化特性との対応関係を検出し、変換テーブルを更新する。 （もっと読む）

【課題】劣化量の予測精度が低いか、製造歩留まりが悪い問題がある。
【解決手段】一組のダミー画素に対して１つの検出センサーを有効表示領域の外側に配置する。この場合に、基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値で前記ダミー画素を発光制御する。そして、劣化情報の実測タイミング毎に輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、基本発光色別の実測劣化情報を求める。この後、実測期間内の平均階調値と実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、階調値と劣化率との基本対応関係を定めた基本テーブルを参照することにより、平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する。 （もっと読む）

【課題】発光時間の寿命を単に延長するだけであり、焼きつき現象の発生を本質的に補正できない。
【解決手段】１フレーム期間内の点灯時間長を可変制御可能な自発光表示パネルの有効表示領域の外側にダミー画素と輝度検出センサーが搭載される場合に、フレーム単位で入力表示データの平均階調値を入力表示データに多重し、ダミー画素の劣化特性を有効表示領域に一致させる。その上で、輝度劣化の実測タイミング毎に、一定の階調値をダミー画素データとして入力表示データに多重する。そして、その際の検出輝度に基づいて検出される発光特性の低下度合いに応じて、画面輝度の低下速度が一定になるように１フレーム期間内の点灯時間長を制御する。 （もっと読む）

【課題】劣化量の予測精度が低いか、製造歩留まりが悪い問題がある。
【解決手段】ダミー画素と、その発光輝度を検出する検出センサーとを有効表示領域の外側に配置する。この場合に、基本的に基本発光色別に算出する平均階調値でダミー画素を継続的に発光制御する。一方で、劣化情報の実測タイミングには事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御する。この際、劣化情報の実測タイミング毎に検出センサーで実測される発光輝度の推移を求め、実測タイミング間の発光特性の劣化情報を求める。この後、実測タイミング期間に求めた平均階調値とこれに対応する劣化情報とに基づいて、平均階調値に対応する実測劣化率を算出する。同時に、階調値と劣化率との基本対応関係を定めた基本テーブルを参照することにより、平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を算出する。 （もっと読む）

【課題】各発光素子の駆動を制御して、明るい画像表示部と暗い画像表示部の、経時的な相対輝度差を一定にさせる表示装置および表示方法を提供する。
【解決手段】支持基板１１と対向基板１２との間に配列形成してなる複数の発光素子１３と、対向基板１２の表面側における発光素子１３間に配置され、発光素子１３の漏れ光を検出して光電変換する受光素子１９と、発光素子１３への入力信号と受光素子１９からの出力信号に基づいて、各発光素子１３の経時的な相対輝度差が一定となるように、各発光素子１３の駆動を制御する制御部２０を備えたことを特徴とする表示装置および表示方法である。 （もっと読む）

【課題】 電気光学素子の実際の特性に適合した補正を補正テーブルを必要とせずに実現する。
【解決手段】 複数の電気光学素子１２の各々は階調が階調データＧ0によって指定される。平均値算定部４２は、複数の電気光学素子１２の各々に過去に指定された階調の平均値を電気光学素子１２ごとに算定する。変数設定部５２は、操作子２０に対する操作に応じて変数Ａ0と変数γとを設定する。補正値算定部５４は、平均値算定部４２が算定した平均値Ｘと、複数の電気光学素子１２の平均値Ｘの最大値Ｘpと、変数設定部５２が設定した変数Ａ0および変数γとを含む演算式「Ａ＝Ａ0・｛１−（Ｘ／Ｘp）^γ｝」によって補正値Ａを演算する。駆動回路１４は、階調データＧ0と補正値算定部５４が算定した補正値Ａとに応じた階調で各電気光学素子１２を駆動する。 （もっと読む）

【課題】 電流駆動型発光素子における電流量や発光量が低下する経時劣化や該経時劣化がバラツキをもって発生した場合に、その経時劣化を適宜補正し、画面輝度の低下や画面ムラを低減すること。
【解決手段】 マトリクス状の複数の画素の各々に設けられる画素回路であって、第１給電線２１３及び第２給電線２１５間に接続された電流駆動型の発光素子２２４と、第１及び第２給電線間に発光素子と直列に接続されたソース及びドレインを介して発光素子を流れる駆動電流を、ゲートに供給される前記データ信号の電圧に応じて制御する第１薄膜トランジスタ素子２２３と、保持容量２２２と、発光素子の両端の電圧と駆動電流の電流量との関係に依存して、第１給電線２１３と第２給電線２１４との間の抵抗、あるいは第１，第２の給電線の一方と保持容量との間の抵抗を調整して、駆動電流の電流量の減少に応じて駆動電流を増加させる駆動電流補償素子２３１〜２３４とを備えた。 （もっと読む）

アクティブマトリックス型表示装置は表示画素の配列を有し、各画素はＥＬ表示素子、表示素子の輝度を検出する光依存性デバイス、及び表示素子を流れる電流を駆動する駆動トランジスタ回路を有する。駆動トランジスタは光依存性デバイスの出力に応じて制御され、それにより、経時変化補償が実行可能にされる。光依存性デバイスはＥＬ表示素子の発光材料の領域に対して横方向に配置されている。故に、光依存性デバイスはステップ・カバレッジ問題を引き起こさないとともに、画素開口率に影響を及ぼすことなく画素配置に集積化される。さらに、光依存性デバイスは、表示素子領域の大きい部分からの光入力を受光するように、発光材料の領域の全長に沿って延在することが可能である。
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