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Fターム[4G077BE08]の内容

結晶、結晶のための後処理 (61,211) | 材料−〜化物 (3,360) | 炭化物 (729) | SiC (719)

Fターム[4G077BE08]に分類される特許

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【課題】安価な単結晶炭化ケイ素液相エピタキシャル成長用シード材を提供する。
【解決手段】単結晶炭化ケイ素液相エピタキシャル成長用シード材12は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有する。表層の励起波長を532nmとするラマン分光解析によって、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素に由来のL0ピークが観察される。L0ピークの972cm−1からのシフト量の絶対値が4cm−1以上である。 (もっと読む)


【課題】炭化ケイ素エピタキシャル成長速度を高くできる単結晶炭化ケイ素エピタキシャル成長用フィード材を提供する。
【解決手段】単結晶炭化ケイ素エピタキシャル成長用フィード材11は、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有する。表層のX線回折により、(111)結晶面に対応した回折ピークが観察される。表層のX線回折により観察される(111)結晶面のうち、配向角度が67.5°以上であるものの占める割合が80%未満である。 (もっと読む)


【課題】単結晶炭化ケイ素の液相エピタキシャル成長に要するコストの低減が可能な単結晶炭化ケイ素の液相エピタキシャル成長用のシード材とフィード材のユニットを提供する。
【解決手段】フィード材11及びシード材12のそれぞれは、結晶多形が3Cである多結晶炭化ケイ素を含む表層を有する。フィード材11及びシード材12のそれぞれの表層のX線回折により、(111)結晶面、(200)結晶面、(220)結晶面及び(311)結晶面の少なくとも一つに対応した1次回折ピークが観察される。フィード材11の少なくとも一つの1次回折ピークから算出される平均結晶子径が、シード材12の少なくとも一つの1次回折ピークから算出される平均結晶子径よりも小さい。 (もっと読む)


【課題】改良型レーリー法により炭化珪素単結晶を作製する場合において、結晶成長中、特に結晶成長の初期の段階で発生する欠陥を低減することができ、欠陥密度の低い高品質の炭化珪素単結晶を製造することができる炭化珪素単結晶の製造装置を提供する。
【解決手段】対称軸を有する坩堝と対称軸を有する種結晶を用いて昇華再結晶法により炭化珪素単結晶インゴットを製造する装置であり、種結晶の対称軸に対して非軸対称な温度分布を持つ加熱を行うと共に、その非軸対称な温度分布の中で種結晶の対称軸を中心にして、種結晶と成長している結晶を回転させながら結晶成長を行う炭化珪素単結晶インゴットの製造装置であり、結晶成長中の結晶欠陥の発生を抑制し、欠陥の少ない高品質の炭化珪素単結晶を製造する。 (もっと読む)


【課題】SiC多結晶の成長による炉内の閉塞を防止し、長時間の成長を可能とする。
【解決手段】加熱容器8の内周壁面および台座9の外縁にパージガスを流動させる。これにより、台座9の周囲や加熱容器8の内周壁面に多結晶が形成されることを抑制することが可能となり、原料ガス3の流路の閉塞を防止することが出来る。これにより成長結晶の成長端面以外の不要な箇所でのSiC多結晶の堆積を抑制し、成長結晶の長時間にわたる成長が可能となる。 (もっと読む)


【課題】SiC単結晶に多結晶が癒着することを抑制し、より高品質なSiC単結晶を製造できるようにする。
【解決手段】台座9をパージガスが種結晶5の裏面側から供給できる構造とし、種結晶5の外縁に向けてパージガスを流動させられるようにする。このような構造とすれば、パージガスの影響により、台座9のうちの種結晶5の周囲に位置する部分に多結晶が形成されることを抑制できる。これにより、SiC単結晶20を長尺成長させたとしても、多結晶のせり上がりによりSiC単結晶20の外縁部に多結晶が癒着することを防止することが可能となる。したがって、外縁部の品質が損なわれることなくSiC単結晶20を成長させることが可能となる。 (もっと読む)


【課題】SiC半導体自立基板上に形成される電子デバイスの耐電圧、オン抵抗、素子寿命等のばらつきを抑えて歩留まりを向上させることが可能なSiC半導体自立基板及びSiC半導体電子デバイスを提供する。
【解決手段】SiC半導体自立基板を構成するSiC半導体結晶3は六方晶系であり、SiC半導体結晶3の格子定数のばらつきを、SiC半導体自立基板の主面内のa軸方向の格子定数の標準偏差をa軸方向の格子定数の平均値で除した値とするとき、格子定数のばらつきが±55ppm以下である。 (もっと読む)


【課題】p層とn層を順次積層させなくても、多形や転位の引継ぎを抑制しつつ、貫通転位を低減できるSiC単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】縦型MOSFETのドレインリークなどのリークを引き起こす転位は貫通らせん転位であるということに基づき、Alイオンの注入および活性化アニール後に溶融KOHエッチング等を行うことにより、リーク部に相当する場所に非常に深いエッチピット1bを形成する。そして、その表面に、エッチピット1bの側壁部に成長した部分同士が互いに接触する条件にてSiC成長層4をエピタキシャル成長させることで、SiC成長層4に転位が引き継がれないようにする。これにより、貫通らせん転位1aが存在しない表面を有するSiC成長層4を得ることが可能となる。したがって、p層とn層を順次積層させなくても、多形や転位の引継ぎを抑制しつつ、貫通転位を低減できるSiC単結晶を製造することができる。 (もっと読む)


【課題】異種多形の混入が無く、かつ、積層欠陥や螺旋転位などの欠陥が少ない高品質なSiC単結晶を製造することが可能なSiC単結晶の製造方法を提供すること。
【解決手段】SiC単結晶の製造方法は、SiCからなる第1種結晶を用いて第1SiC単結晶を成長させる第1成長工程と、第(k−1)SiC単結晶(2≦k≦n)から切り出した第k種結晶を用いて第kSiC単結晶を再成長させる第k成長工程を(n−1)回(n≧2)繰り返す再成長工程とを備えている。第1種結晶の成長面のオフセット角θ1は4°<θ1≦30°。(n−1)回(n≧2)の第k成長工程の内、少なくとも1回は、θk<θk-1の関係を満たす。第n種結晶の成長面のオフセット角θnは、θn<θ1である。第k種結晶(1≦k≦n)は、すべてオフセット方向上流側端部に螺旋転位発生領域を有する。 (もっと読む)


【課題】単結晶製造装置を大型化せずに単結晶の製造効率を向上させることができる単結晶の製造方法及び製造装置を提供すること。
【解決手段】ルツボ8内に収容した昇華性の原料6の表面6a上に熱伝導体11Aを配置する熱伝導体配置工程と、ルツボ8及び熱伝導体11Aを加熱して原料6を昇華させ、熱伝導体11Aを下降させながら、昇華した原料6のガスを、ルツボ8を密閉する蓋体9に固定した種結晶10に付着させて再結晶させ、単結晶15を成長させる成長工程とを含む単結晶の製造方法。 (もっと読む)


【課題】溶液内のC溶解度を高めてSiC単結晶の成長速度を向上させると共に、単結晶の成長に伴うSiC成分の消費等による溶液の組成変動を抑制し、単結晶成長のための条件を安定させることができるSiC単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】黒鉛るつぼ10内の底部にSiC種結晶20を設置すると共に、るつぼ10内にSiとCとX(XはSc及びYを除く遷移金属、Al、Ge及びSnから選ばれる1種以上)を含む溶液30を存在させ、溶液30を過冷却させて種結晶20上にSiC単結晶を成長させると共に、SiC単結晶を成長させながら黒鉛るつぼ10の上部から溶液30に粉末状もしくは粒状のSi及び/又はSiC原料41を添加する。 (もっと読む)


【課題】溶液内のC溶解度を高めてSiC単結晶の成長速度を向上させると共に、単結晶の成長に伴うSiC成分の消費等による溶液の組成変動を抑制し、単結晶成長のための条件を安定させることができるSiC単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】黒鉛るつぼ10内の底部にSiC種結晶20を設置すると共に、るつぼ10内にSiとCとR(RはSc及びYを含む希土類元素から選ばれる1種以上)を含む溶液30を存在させ、溶液30を過冷却させて種結晶20上にSiC単結晶を成長させると共に、SiC単結晶を成長させながら黒鉛るつぼ10の上部から溶液30に粉末状もしくは粒状のSi及び/又はSiC原料41を添加する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、昇華再結晶法による単結晶成長において、高くかつ安定した昇華速度を示す炭化ケイ素粉体、及びその製造方法を提供する。
【解決手段】平均粒径が100℃以上700μm以下であり、かつ比表面積が0.05m/g以上0.30m/g以下である炭化ケイ素単結晶製造用炭化ケイ素粉体。粒子径が5μm以上200μm以下の一次粒子が焼結した粒子形態であることが好ましい。平均粒径が20μm以下の炭化ケイ素粉体を、温度1900℃以上2400℃以下、圧力70MPa以下、非酸化性雰囲気下の条件で加圧焼結させ、密度1.29g/cm以上の焼結体を得る工程、得られた焼結体の粉砕による粒度調整工程、酸処理による不純物除去工程、を含む炭化ケイ素単結晶製造用炭化ケイ素粉体の製造方法。 (もっと読む)


【課題】製造された複数のn型SiC単結晶インゴット間の窒素濃度のばらつきを抑えることができるn型SiC単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】本実施の形態におけるn型SiC単結晶の製造方法は、坩堝7が配置される領域を有するチャンバ1を備えた製造装置100を準備する工程と、坩堝7が配置される領域を加熱し、かつ、チャンバ1内のガスを真空排気する工程と、真空排気した後、希ガスと窒素ガスとを含有する混合ガスをチャンバ1内に充填する工程と、領域に配置された坩堝7に収納された原料を加熱により溶融して、シリコンと炭素とを含有するSiC溶液8を生成する工程と、混合ガス雰囲気下において、SiC種結晶をSiC溶液に浸漬して、SiC種結晶上にn型SiC単結晶を育成する工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】SiC単結晶の製造装置に備えられる断熱材の劣化を抑制することができるようにする。
【解決手段】加熱容器8の周囲を囲む第1外周断熱材10を、浸透性の大きな断熱基材10aの内周面に浸透性の小さな黒鉛シート10bを配置した構造とし、さらに黒鉛シート10bの内周面を高融点金属炭化膜10cで覆った構造とする。これにより、黒鉛シート10bによって断熱基材10aに原料ガス3などが浸入することで固体SiCが析出することを抑制しつつ、さらに高融点金属炭化膜10cによって黒鉛シート10bがエッチングガスや原料ガス3に含まれる成分と化学反応することを抑制できる。したがって、第1外周断熱材10が劣化することを抑制することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】円筒状の断熱材を中心軸に対して平行に分割する場合において、分割された隣り合う断熱材同士の間に放電現象が発生することを抑制する。
【解決手段】加熱容器8の周囲に配置される第1外周断熱材10を円筒形状で構成すると共に、中心軸に平行に円筒形状を複数に分断した分割部10a〜10cを備えた構成とする。そして、各分割部10a〜10cの繋ぎ目の箇所を覆うように低抵抗部材20を備えた構造とする。これにより、複数の分割部10a〜10cの間の空隙のうち比較的幅が狭い部分において局所的な放電現象が起こることを抑制でき、誘導電力を安定して供給することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】複合基板が有する複数の炭化珪素基板の間の隙間への異物の残留を防ぐことができる複合基板を提供する。
【解決手段】第1の炭化珪素基板11は、支持部30に接合された第1の裏面B1と、第1の裏面B1に対向する第1の表面T1と、第1の裏面B1および第1の表面T1をつなぐ第1の側面S1とを有する。第2の炭化珪素基板12は、支持部30に接合された第2の裏面B2と、第2の裏面B2に対向する第2の表面T2と、第2の裏面B2および第2の表面T2をつなぎ、第1の側面S1との間に隙間GPを形成する第2の側面S2とを有する。閉塞部21は隙間GPを閉塞している。 (もっと読む)


【課題】SiCエピタキシャル成長装置におけるクリーニング方法を提供する。
【解決手段】反応室内に載置された被処理基板にSiCエピタキシャル膜を形成する成膜工程と、前記成膜工程において前記反応室内に設けられる部材に堆積したSiC膜を改質するために第1のガス(例えば塩素系ガス)を供給する改質工程と、前記改質工程において改質された堆積膜を除去するために前記第2のガス(例えばフッ素系ガス、酸化ガス、水素ガス)を供給する除去工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】種結晶の成長面に溝を形成することなく、高品質なSiC単結晶を成長させることができるSiC単結晶の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】種結晶30として、(0001)面から所定角度傾斜させた面を成長面30aとして有し、成長面30aに達する貫通転位31を含み、成長面30aのうち(0001)面の法線ベクトルを成長面30aに投影したベクトルの方向であるオフセット方向の端部に、成長中のSiC単結晶40に積層欠陥37を生成させる積層欠陥生成領域30bを有するものを準備する種結晶準備工程と、種結晶30の成長面30a上に、SiC単結晶40を成長させるSiC単結晶成長工程と、を含むことを特徴としている。 (もっと読む)


【課題】大型で転位密度の低い結晶が得られるAlxGa1-xN結晶の成長方法およびAlxGa1-xN結晶基板を提供する。
【解決手段】気相法によるAlxGa1-xN結晶10の成長方法であって、結晶成長の際、AlxGa1-xN結晶10の主成長平面11に複数のファセット12を有するピット10pを少なくとも1つ形成し、ピット10pが少なくとも1つ存在している状態でAlxGa1-xN結晶10を成長させることにより、AlxGa1-xN結晶10の転位を低減することを特徴とする。 (もっと読む)


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