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Fターム[4J100BA11]の内容

付加系(共)重合体、後処理、化学変成 (209,625) | 構成元素 (28,779) | O含有基 (18,190) | =O(ケトン)基 (1,206)

Fターム[4J100BA11]に分類される特許

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【課題】高感度で、良好な形状のパターンを形成できるレジスト組成物及びレジストパターン形成方法の提供。
【解決手段】酸の作用により極性が増大する構成を有する(メタ)アクリル酸エステル単位と、−SO−含有環式基を含む(メタ)アクリル酸エステル単位及び、一般式(a5−1)で表される(メタ)アクリル酸エステル単位とを有する高分子化合物(A1)、及び露光により酸を発生する成分(B)を含有するレジスト組成物。
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【課題】透明性及び可とう性に優れ、且つ吸湿性に優れた硬化物を得ることが可能な活性エネルギー線硬化性組成物、その硬化物及びその硬化物を使用した発光特性に優れた有機EL素子を提供する。
【解決手段】(メタ)アクリロイルモルホリン(A)30〜100質量%及びその他のビニル単量体(B)0〜70質量%を含む単量体成分並びに活性エネルギー線重合開始剤(C)を含有する活性エネルギー線硬化性組成物、活性エネルギー線硬化性組成物をフィルム状に成型した後に硬化して得られる吸湿性硬化物及び吸湿性硬化物を乾燥用吸湿剤として使用する乾燥手段を有する有機EL素子。 (もっと読む)


【課題】微細なパターンの形成においてもCDU等のリソグラフィー特性に優れるフォトレジスト組成物及びレジストパターン形成方法の提供。
【解決手段】[A]γ−ブチロラクトン環を含む構造単位を有するアダマンチル基及びアダマンタン環を含む酸解離性基含有重合体、及び[B]酸発生体を含有するフォトレジスト組成物であって、上記構造単位の含有割合が60モル%を超えることを特徴とするフォトレジスト組成物。 (もっと読む)


【課題】平版印刷における高い耐刷性を実現し、しかも露光部の良好な現像性をも達成する平版印刷版原版を提供する。
【解決手段】親水性表面を有する支持体上側に、下層及び上層をこの順に配設した記録層を有してなる赤外線感光性ポジ型平版印刷版原版であって、前記上層および/または下層が、特定のマレイミド樹脂Aと、両性界面活性剤および/またはアニオン性界面活性剤と、赤外線吸収剤とを、同じ層に、あるいはそれぞれ別々に層に含有する平版印刷版原版。 (もっと読む)


【課題】 優れた帯電付与特性を有する高分子化合物が得られる重合性単量体を提供する。
【解決手段】 サリチル酸或いはサリチル酸誘導体とスチレン或いはスチレン誘導体とが、連結基−A−NH−で連結された構造を有する重合性単量体。 (もっと読む)


【課題】高収率で、分子量分布が狭い樹脂を製造することができるレジスト組成物用樹脂の製造方法を提供する。
【解決手段】溶解度パラメーターが11.8〜13.0[cal/mol]1/2の範囲内である溶剤(1)中に、アセチル基含有溶剤である溶剤(2)[ただし溶剤(1)とは異なる。]、モノマー及び重合開始剤を添加する工程、好ましくは、溶剤(2)、モノマー及び重合開始剤を混合してなる混合物を滴下する工程を有するレジスト組成物用樹脂の製造方法の提供。 (もっと読む)


【課題】形成したパターンをベークした後であっても矩形又は矩形に近いプロファイルが形成可能なポジ型感光性樹脂組成物を提供すること。
【解決手段】(成分A)カルボキシ基又はフェノール性水酸基が酸分解性基で保護された残基を有するモノマー単位(a1)と、エポキシ基及び/又はオキセタニル基を有するモノマー単位(a2)と、アミノ基、アミド基、イミド基、スルホンイミド基、スルホンアミド基、イミノ基、ウレタン結合及びウレイド結合よりなる群から選ばれた構造を有するモノマー単位(a3)と、を有する重合体、(成分B)光酸発生剤、並びに、(成分C)溶剤、を含むことを特徴とする
ポジ型感光性樹脂組成物。 (もっと読む)


【課題】リソグラフィー特性に優れ、良好な形状のレジストパターンを形成できるレジスト組成物およびレジストパターン形成方法の提供。
【解決手段】酸の作用により現像液に対する溶解性が変化する基材成分(A)、露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)を含有するレジスト組成物であって、前記基材成分(A)が、下記一般式(a0−1)または下記一般式(a0−2)で表される構成単位(a0)を有する樹脂成分(A1)を含有し、前記酸発生剤成分(B)が、下記一般式(b0−1)または(b0−2)で表される化合物からなる酸発生剤(B1)を含有することを特徴とするレジスト組成物。
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【課題】感度等基本特性を満足し、MEEF及びLWRに優れる感放射線性樹脂組成物の提供。
【解決手段】下記式(1)で表される構造単位(I)を有する重合体、及びトリフェニルスルホニウム塩系の感放射線性酸発生体を含有する感放射線性樹脂組成物。
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【課題】高感度、高解像性(例えば、高い解像力、優れたパターン形状、小さいラインエッジラフネス(LER))、及び、良好なドライエッチング耐性を同時に満足したパターンを形成できるレジストパターン形成方法、レジストパターン、有機溶剤現像用の架橋性ネガ型化学増幅型レジスト組成物、レジスト膜、及びレジスト塗布マスクブランクスを提供することにある。
【解決手段】非酸分解性の多環脂環炭化水素構造を有する基で、フェノール性水酸基の水素原子が置換された構造を有する繰り返し単位を含有する高分子化合物(A)、活性光線又は放射線の照射により酸を発生する化合物(B)、及び、酸の作用により前記高分子化合物(A)を架橋する架橋剤(C)を含有する、ネガ型化学増幅型レジスト組成物を用いてレジスト膜を形成する工程(1)、該膜を露光する工程(2)、及び、露光後に有機溶剤を含む現像液を用いて現像する工程(4)をこの順番で有する、レジストパターン形成方法、レジストパターン、有機溶剤現像用の架橋性ネガ型化学増幅型レジスト組成物、レジスト膜、及びレジスト塗布マスクブランクス。 (もっと読む)


【課題】リソグラフィー特性に優れ、LWRが改善され高解像度のフォトレジストパターンを形成するフォトレジスト組成物用の高分子化合物の原料として有用なアクリル酸エステル誘導体を提供する。
【解決手段】下記一般式(1)


(式中、Rは水素原子、メチル基またはトリフルオロメチル基を表し、RおよびRはそれぞれ独立した基を表すか、またはRおよびRは両者が結合して炭素数1〜3のアルキレン基、−O−、若しくは−S−を表す。R11は水素原子、炭素数1〜6のアルキル基、炭素数3〜10の環状炭化水素基を表す。)で示されるアクリル酸エステル誘導体。 (もっと読む)


【課題】本発明は、主鎖に多重環化合物を含む光反応性重合体及びその重合方法に関する。
【解決手段】本発明による光反応性重合体は、ガラス転移温度の高い多重環化合物を主鎖として含むために、熱的安定性に優れ、空いている格子の空間が相対的に大きいために、光反応基が高分子主鎖内で比較的自由に移動できて、既存の液晶表示素子用配向膜製造用の高分子材料の短所として指摘されてきた遅い光反応速度という短所を改善できる。 (もっと読む)


【課題】擦傷復元性および耐汚染性に優れ、かつ耐候性、耐薬品性、耐折曲性および耐衝撃性にも優れ、傷付き防止フィルムや加飾フィルムとして有用なフィルムを提供する。
【解決手段】ビニル化合物共重合体およびポリイソシアネートからなる組成物の架橋物からなるフィルムにおいて、該ビニル化合物共重合体が下記モノマー単位:(A)水酸基を有しないビニル化合物(aモル%)、(B)水酸基を有する直鎖状または分岐状のアルキル基を有し、該アルキル基の炭素数が1〜6であるビニル化合物(bモル%)、および(C)下記式:CH=C(R)−COO−Y[ここで、RはHまたはCHであり、Yは末端に水酸基を有する直鎖状または分岐状飽和炭化水素基であり、Yは所望により開環ラクトン基(−CO−(CH)n−O−、ここでnは4〜6の整数である)、カーボネート基(−O−CO−O−)、エステル基(−CO−O−)、エーテル基(−O−)およびウレタン基(−NH−CO−O−)から成る群から選択される1以上の基を有していてもよく、かつ12〜120の炭素原子を有する]を有するビニル化合物(cモル%)から成り、上記a〜cが、a+b+c=100でありかつ下記式(1)および式(2):3(b+c)/4≦a≦4(b+c) ・・・(1)および4c/3 ≦b≦40c ・・・(2)を満たすところのフィルム。 (もっと読む)


【課題】従来の酸発生剤を含むレジスト組成物では、得られるレジストパターンのラインエッジラフネス(LER)が必ずしも十分に満足できない場合があった。
【解決手段】式(I)で表される塩。


[式(I)中、
及びRは、それぞれ独立に、炭素数1〜6のアルキル基を表すか、又は、R及びRは互いに結合し、それらが結合している炭素原子とともに炭素数5〜20の脂肪族環を形成する。
及びRは、互いに独立に、フッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。
は、2価の炭素数1〜17の飽和炭化水素基を表し、該飽和炭化水素基に含まれる水素原子は、フッ素原子で置換されていてもよく、該飽和炭化水素基を構成する−CH−は、−O−又は−CO−で置き換わっていてもよい。
1+は、有機対イオンを表す。] (もっと読む)


【課題】優れたフォーカスマージン(DOF)でレジストパターンを製造することができるとともに、得られたレジストパターンの欠陥が少なく、良好な形状が得ることができるレジスト組成物を提供する。
【解決手段】(A1)式(I)で表される構造単位を有する樹脂、(A2)式(II)で表される構造単位を有し、アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂、(B)酸発生剤及び(E)溶剤を含有するレジスト組成物。


[式中、R2はフッ素原子を有する炭化水素基;環Xは置換されていてもよい複素環を表す。] (もっと読む)


【課題】ネガ型現像プロセスにおいて、エッチング耐性に優れたレジストパターンを形成できるレジストパターン形成方法、及び該レジストパターン形成方法に用いられるネガ型現像用レジスト組成物の提供。
【解決手段】酸の作用により有機溶剤に対する溶解性が減少する基材成分(A)と、露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)とを含有するレジスト組成物を用いて支持体上にレジスト膜を形成する工程、レジスト膜を露光する工程、及びレジスト膜を、有機溶剤を含有する現像液を用いたネガ型現像によりパターニングしてレジストパターンを形成する工程、を含むレジストパターン形成方法であって、基材成分(A)として、アクリル酸エステルから誘導される構成単位であって、酸の作用により極性が増大する酸分解性基を含む構成単位(a1)を有する樹脂成分(A1)を用い、酸発生剤成分(B)が、環構造をアニオン部に有する酸発生剤(B1)を含有する。 (もっと読む)


【課題】CD均一性が良好で、かつ欠陥が少ないレジストパターンを製造することができるレジスト組成物の提供。
【解決手段】式(I)で表される構造単位を有する樹脂、(A2)式(II)で表される構造単位を有し、アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂及び酸発生剤を含有するレジスト組成物。


[式中、Rは水素原子又はメチル基;Aはアルカンジイル基;Rはフッ素原子を有する炭化水素基;環Tは、置換基を有していてもよいスルトン環;Zは、置換基を有していてもよいアルカンジイル基等;Zは、単結合又はカルボニル基を表す。] (もっと読む)


【課題】レジストパターン製造時のフォーカスマージンが良好であり、欠陥の発生が少ないレジストパターンを得ることができるレジスト組成物を提供する。
【解決手段】式(I)で表される構造単位を有する樹脂、式(II)で表される構造単位を有し、アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂及び酸発生剤を含有するレジスト組成物。


[式中、Rは、水素原子又はメチル基;Aはアルカンジイル基;Rはフッ素原子を有する炭化水素基;Rは、ハロゲン原子を有してもよいアルキル基、水素原子又はハロゲン原子;環Xは、複素環を表す。] (もっと読む)


【課題】パターン倒れ及び欠陥の少ないレジストパターンを得ることができるレジスト組成物を提供することを目的とする。
【解決手段】(A1)式(I)で表される構造単位を有する樹脂、(A2)アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂及び(B)式(II)で表される酸発生剤を含有するレジスト組成物。


[式中、R1は水素原子又はメチル基;A1はアルカンジイル基;R2はフッ素含有炭化水素基;R及びRは、互いに独立に、フッ素原子又はペルフルオロアルキル基;Xは飽和炭化水素基を表し、該基に含まれる水素原子は、フッ素原子で置換されていてもよく、該基に含まれる−CH−は−O−又は−CO−で置き換わっていてもよい;Rは、環状エーテル構造を含む基;Z1+は有機カチオンを表す。] (もっと読む)


【課題】優れたフォーカスマージン(DOF)で、ラインエッジラフネスを有するレジストパターンを製造することができるレジスト組成物を提供することを目的とする。
【解決手段】式(I)で表される構造単位を有する樹脂、酸発生剤及び式(II)で表される化合物を含有するレジスト組成物。


[式中、Rは、ハロゲン原子を有してもよいアルキル基、水素原子又はハロゲン原子;環Xは、複素環を表し、該複素環に含まれる水素原子は、ハロゲン原子、ヒドロキシル基、炭化水素基、アルコキシ基、アシル基又はアシルオキシ基で置換されていてもよい;R及びRは、それぞれ独立に、炭化水素基、アルコキシ基、アシル基、アシルオキシ基、アルコキシカルボニル基、ニトロ基又はハロゲン原子を表す;m及びnは、それぞれ独立に、0〜4の整数を表す。] (もっと読む)


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