説明

Fターム[4J100BC03]の内容

付加系(共)重合体、後処理、化学変成 (209,625) |  (19,108) | 飽和脂環 (7,963) | 単環のもの (3,883) | シクロペンタン環 (921)

Fターム[4J100BC03]に分類される特許

81 - 100 / 921


【課題】レジストパターン形成時の露光マージン(EL)に優れ、欠陥の発生数が少ないレジストパターンを製造することができるレジスト組成物を提供する。
【解決手段】式(I)で表される構造単位を有する樹脂、アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂(但し、式(I)で表される構造単位を含まない)及び式(II)で表される酸発生剤を含有するレジスト組成物。


[式中、A14は、脂肪族炭化水素基を表す。] (もっと読む)


【課題】優れたフォーカスマージン(DOF)で、欠陥の発生数も少ないレジスト組成物を提供する。
【解決手段】式(I)で表される構造単位を有する樹脂、アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂(式(I)で表される構造単位を含まない)、酸発生剤及び式(IA)で表されるアニオンを有する塩を含有するレジスト組成物。
(もっと読む)


【課題】高解像性と共に、良好なパターン形状を与えることができるポジ型レジスト組成物、該ポジ型レジスト組成物を使用した、保護膜を形成して行う液浸リソグラフィーにおけるパターン形成方法の提供。
【解決手段】(A)酸不安定基として、3級炭素にアダマンチルを含むメタアクリル系繰り返し単位及び3級炭素が環状構造を形成してるメタアクリル系繰り返し単位を有し、酸によってアルカリ溶解性が向上する樹脂、(B)光酸発生剤、(C)下記一般式(3)で表される化合物、及び(D)溶剤を含有するポジ型レジスト組成物。
(もっと読む)


【課題】パターン倒れ及び欠陥が少ないレジストパターンを得ることができるレジスト組成物の提供。
【解決手段】式(I)で表される構造単位を有する樹脂、式(II)で表される構造単位を有し、アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂及び酸発生剤を含有するレジスト組成物。


アルキル基、水素原子又はハロゲン原子を表す。] (もっと読む)


【課題】優れたパターン倒れ耐性(PCM)で、欠陥の少ないレジストパターンを製造することができるレジスト組成物の提供。
【解決手段】式(I)で表される構造単位を有する樹脂、アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂(但し、式(I)で表される構造単位を含まない)及び式(II)で表される酸発生剤を含有するレジスト組成物。


[式中、Rは、水素原子又はメチル基;Aはアルカンジイル基を表す。] (もっと読む)


【課題】優れたマスクエラーファクター(MEF)のレジストパターンを製造し得るレジスト組成物及び該レジスト組成物に用いられる新規な樹脂を提供する。
【解決手段】式(aa)で表される構造単位(aa)と、式(ab)で表される構造単位(ab)とを有する樹脂及びこの樹脂及び酸発生剤を含むレジスト組成物。


[Raa1及びRab1は、水素原子又はメチル基;Raa2は、水素原子又はフッ化アルキル基;Raa3は、フッ化アルキル基;Raa4は、酸安定基;Aaa1は、炭化水素基;Aab1は、アルカンジイル基;Rab2は、脂肪族炭化水素基を表す。] (もっと読む)


【課題】CD均一性で、欠陥の発生が少ないレジストパターンを製造できるレジスト組成物の提供。
【解決手段】式(I)で表される構造単位を有する樹脂、アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂及びアルカリ現像液の作用により開裂する構造を有する酸発生剤を含有するレジスト組成物。


[式中、A13は、ハロゲン原子を有していてもよい2価の脂肪族炭化水素基を表す。] (もっと読む)


【課題】優れた解像度及びラインエッジラフネス(LER)で、欠陥の発生が少ないレジストパターンを製造することができるレジスト組成物を提供する。
【解決手段】式(I)で表される構造単位を有する樹脂、アルカリ水溶液に不溶又は難溶であり、酸の作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂(但し、式(I)で表される構造単位を含まない)及び酸に不安定な基を有する酸発生剤を含有するレジスト組成物。


[式中、A14は、ハロゲン原子を有していてもよい脂肪族炭化水素基を表す。] (もっと読む)


【課題】リソグラフィー特性に優れたレジスト組成物、該レジスト組成物用として有用な新規な重合体、該レジスト組成物を用いるレジストパターン形成方法を提供する。
【解決手段】主鎖の少なくとも一方の末端に露光により酸を発生するアニオン部位を有し、酸の作用により極性が増大する酸分解性基を含む構成単位(a1)を有し、該構成単位(a1)として、前記酸分解性基の活性化エネルギーが3.0kJ/mol以上異なる2種を含む重合体。該重合体を含有するレジスト組成物。 (もっと読む)


【課題】特定の構造を有するアクリル系共重合体、およびこの共重合体を用いることにより、放射線に対する透明性が高く、しかも感度、解像度、ドライエッチング耐性、パターン形状等のレジストとしての基本物性を有する樹脂組成物を提供する。
【解決手段】下記式で表される繰り返し単位を含むアクリル系共重合体およびこの共重合体を用いた感放射線性樹脂組成物。
(もっと読む)


【課題】リソグラフィー特性及びパターン形状に優れたレジスト組成物、該レジスト組成物用として有用な新規重合体、及び該レジスト組成物を用いるレジストパターン形成方法を提供すること。
【解決手段】主鎖の少なくとも一方の末端に露光により酸を発生するアニオン部位を有し、かつ、−SO−含有環式基を含む構成単位(a0)を有する重合体;該重合体を含有するレジスト組成物、及び該レジスト組成物を用いたレジストパターン形成方法。 (もっと読む)


【課題】レジスト膜の面方向における断面形状に関して整形性が良好な(変形度が低い)コンタクトホールを形成できるパターン形成方法、並びに、これを用いた電子デバイスの製造方法、及び、電子デバイスを提供する。
【解決手段】(1)基板上に、(A)化学増幅型レジスト組成物によって、レジスト膜を形成する工程、(2)露光して、ラインアンドスペースの潜像を形成する工程、(3)第1の加熱処理を行う工程、(4)第2のラインアンドスペースの潜像を、前記第1のラインアンドスペースの潜像におけるライン方向と交差するように形成する工程、(5)第2の加熱処理を行う工程、及び、(6)前記第2の加熱処理が行われたレジスト膜を、有機溶剤を含む現像液を用いて現像を行う工程を、この順で有するパターン形成方法、並びに、このパターン形成方法を用いた電子デバイスの製造方法、及び、電子デバイス。 (もっと読む)


【課題】特定の構造を有するアクリル系共重合体、およびこの共重合体を用いることにより、放射線に対する透明性が高く、しかも感度、解像度、ドライエッチング耐性、パターン形状等のレジストとしての基本物性を有する樹脂組成物を提供する。
【解決手段】下記式で表される繰り返し単位を含むアクリル系共重合体およびこの共重合体を用いた感放射線性樹脂組成物。
(もっと読む)


【課題】パターンプロファイル及び焦点深度マージンに優れる感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物であって、特に反射防止膜を用いず高反射基板をそのまま用いてパターン形成される場合にもこれら性能に優れ、インプランテーション用として好適な感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物を及びパターン形成方法の提供。
【解決手段】一般式(PG1)、(PG2)、(PG3)と、ラクトン構造を含む少なくとも一種の繰り返し単位を含有する樹脂(A)光酸発生剤(B)と、溶剤(C)を含有する感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物。
(もっと読む)


【課題】露光感度が高く優れ、現像欠陥が少ない感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物、それを用いたレジスト膜及びパターン形成方法、並びに電子デバイスの製造方法及び電子デバイスを提供する。
【解決手段】(A)下記一般式(I)で表される化合物、及び(B)樹脂を含有する感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物。


上記一般式(I)中、Xは、酸素原子、硫黄原子又は−N(Rx)−を表す。R〜R及びRxは、それぞれ独立に、水素原子、アルキル基、シクロアルキル基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基、アシル基、アルキルカルボニルオキシ基、アリール基、アリールオキシ基、アリールオキシカルボニル基、アリールカルボニルオキシ基を表す。R〜Rはそれぞれ互いに連結して環を形成していても良い。但し、R〜Rのうち、少なくとも2つが下記一般式(II)で表される構造を表す。
(もっと読む)


【課題】有機溶剤現像において溶解コントラストが大きく、かつ高感度なフォトレジスト組成物及び有機溶剤による現像によってポジネガ反転によるホールパターンを形成するパターン形成方法を提供する。
【解決手段】分岐状アルキレン基もしくは脂環式基上のヒドロキシ基が酸不安定基で置換された側鎖を有するアクリル系繰り返し単位を有する高分子化合物と、酸発生剤と、有機溶剤とを含むレジスト組成物を基板上に塗布し、加熱処理後に高エネルギー線で上記レジスト膜を露光し、加熱処理後に有機溶剤による現像液を用いて未露光部を溶解させ、露光部が溶解しないネガ型パターンを得るパターン形成方法。
【効果】上記パターン形成方法で得られるレジスト膜は、有機溶剤による現像におけるポジネガ反転の画像形成において、未露光部分の溶解性が高く、露光部分の溶解性が低く溶解コントラストが高い特徴を有する。 (もっと読む)


【解決手段】一般式(1)で示される重合性エステル化合物。


【効果】重合性エステル単量体は、波長500nm以下、特に波長300nm以下の放射線に対して優れた透明性を有し、現像特性の良好な感放射線レジスト材料のベース樹脂を製造するための単量体として非常に有用である。 (もっと読む)


【課題】耐熱性、無機密着性、湿熱安定性を有し、かつ、高度な光学等方性(低複屈折性)を有する光学等方性支持板、インナータッチパネル用光学等方性支持板及びインナータッチパネルを提供する。
【解決手段】下記式(1)で表される第一の構造単位50〜95質量%と、下記式(2)で表される第二の構造単位0.1〜20質量%と、下記式(3)で表される第三の構造単位0.1〜49.9質量%とを有するアクリル系熱可塑性樹脂で形成される光学等方性支持板12。




(もっと読む)


【課題】ラインエッジラフネス(LER)を改善し、パターン倒れを抑制できる感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物、それを用いたレジスト膜及びパターン形成方法、並びに電子デバイスの製造方法及び電子デバイスの提供。
【解決手段】(A)下記一般式(I−1)〜(I−3)のいずれかで表される構造を有する繰り返し単位と、ラクトン構造、サルトン構造及びシアノ基からなる群より選択される少なくとも1種を含有する繰り返し単位とを有する樹脂、及び(B)活性光線又は放射線の照射により酸を発生する化合物を含有する感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物。
(もっと読む)


【課題】リソグラフィおよび現像性能に悪影響を及ぼさず、膜表面および頂部表面付近の領域に分布した、濃縮されたクエンチャー材料が存在するフォトレジスト組成物。
【解決手段】式(Ia)、式(Ib)または式(Ia)および(Ib)の組み合わせを含む窒素含有モノマーと、特定の酸脱保護性モノマーとを含むモノマーの重合生成物を含むポリマー。(Ia):R−C(=CH)−CO−(−O−L−)−NR、(Ib):R−C(=CH)−CO−O−LN−X。(式中aは0または1であり、Lは直鎖もしくは分岐C1−10アルキレン基、または単環式、多環式、もしくは縮合多環式C3−20(ヘテロ)シクロアルキル等であり、各Rは別々に分かれているか、または少なくとも一つのRは隣のRに結合されており;LNは縮合多環式C3−20ヘテロシクロアルキレン基等であり、XはH、C1−10アルキル等である。) (もっと読む)


81 - 100 / 921