説明

Fターム[4M104EE01]の内容

半導体の電極 (138,591) | 絶縁膜(特徴のあるもの) (8,323) | 絶縁膜の適用位置 (3,412)

Fターム[4M104EE01]の下位に属するFターム

Fターム[4M104EE01]に分類される特許

121 - 123 / 123


【課題】高出力の窒化ガリウムショットキー・ダイオード素子を提供する。
【解決手段】1〜6μmの厚さを有するn+型ドープしたGaNダイオードから製造した窒化ガリウムベースの半導体ショットキー・ダイオードをサファイア基板の上に配設する。1μmを超える厚さを有するn−型ドープしたGaNダイオードを、複数の細長形の指にパターン化した前記n+型ドープGaNダイオード上に配設し、金属層をn−型ドープGaN層上に配設し、それとの間にショットキー接合を形成する。細長形の指の層厚、長さおよび幅は、降伏電圧が500Vを超え、電流容量が1アンペアを超え、かつ順方向電圧が3V未満である素子を得るように最適化される。 (もっと読む)


【課題】 トレンチパワーMOSやトレンチIGBT、或いはトレンチアイソレーションを用いた半導体装置での基板に加わる応力を低減する。
【解決手段】 Nch パワーMOSトランジスタには、小さな粒径を有するシリカ微粒子7がトレンチゲート底部に埋め込まれ、トレンチゲート上部には、シリカ微粒子と接するN+多結晶シリコン膜からなるゲート電極8が埋め込まれている。シリカ微粒子7の空隙には、ゲート電極8が形成されていない。 (もっと読む)


窒化ガリウム材料デバイスおよびその形成方法を提供する。該デバイスは、電極規定層を包含する。電極規定層は典型的にはその内部に形成されたビアを有し、該ビア内に電極が(少なくとも部分的に)形成される。したがって、ビアは、電極の寸法を(少なくとも部分的に)規定する。いくつかの場合において、電極規定層は、窒化ガリウム材料領域上に形成された不動態化層である。 (もっと読む)


121 - 123 / 123