【課題】光ディスク検査工程において、すべてのディスクに対して実施出来ない検査を実施する場合は製造されたディスクに対し、オフライン検査装置で抜き取り検査が実施され記録異常等を検査しているが、多くの時間が必要になるとともに、製造工程へのフィードバックが遅れる。
【解決手段】ポリカーボネイト基板を成形する成形工程と金属膜を形成する成膜工程、その上に光透過層を形成する光透過膜形成工程と基板が大気中の湿気を吸水することを防ぐ防湿膜を形成する防湿膜形成工程とＣＣＤカメラを用いて行なう外観検査工程と電気特性を検査する電気特性検査工程を備え、電気特性検査工程は記録再生機能を有し、一定間隔で抜き取り検査を実施し、その測定データの判定と、データ推移を統計的に処理し信号特性劣化予測や共通欠陥を検出し、製造工程へフィードバックする。 （もっと読む）

【課題】光情報媒体の記録／再生光入射側表面の耐擦傷性を、簡便に、かつ実際の使用環境を反映した形で定量化できる評価方法を提供する。
【解決手段】透光性基体および情報記録層を有し、前記透光性基体側から前記情報記録層に入射したレーザービームによって光学的に記録および／または再生がなされる光情報媒体に対し、レーザービーム入射側表面の耐擦傷性に関する評価を行う方法であって、
光情報媒体のレーザービーム入射側表面を故意に摩耗させた後、記録／再生特性を測定し、その測定値に基づいてレーザービーム入射側表面の耐擦傷性を評価する光情報媒体の評価方法。 （もっと読む）

【課題】
ディスクなどの基板を洗浄する装置において、洗浄に要する純水の量を少なくし、且つ、装置を小型化して装置全体の床面積を小さくする。
【解決手段】
基板の両面に純水を供給しながらブラシを回転させて基板の両面をこすって洗浄するスクラブ洗浄ユニットと、スクラブ洗浄処理ユニットで洗浄処理された基板の表面を純水で洗浄するリンスユニットと、リンスユニットで洗浄処理された基板の表面を乾燥させる乾燥ユニットとを備えた洗浄装置において、スクラブ洗浄ユニットは、基板の両面に供給する純水に超音波を印加する超音波印加手段を有し、この超音波印加手段で超音波を印加した純水を基板の両面に供給しながらブラシを回転させて基板の両面をこすって洗浄するようにした。 （もっと読む）

【課題】被検査対象であるパターンドメディアからなる磁気記録媒体の微細なパターンの形状欠陥を高速で検査できるようにする。
【解決手段】パターンドメディアの欠陥検査方法において、検出された分光波形データをデータベースに記憶しておいたパターン形状が既知の標準試料の分光反射率波形データと比較して、欠陥を検出し、この検出した欠陥の分光波形データと標準試料の分光反射率波形データとの検出波長ごとの差異に基づいて欠陥の種類を判定するようにした。 （もっと読む）

【課題】光ディスクの欠陥の有無を確実に検査する。
【解決手段】検出部５２は、再生部５０からの信号を用いて光ディスクの内周から外周に向けてＲＦ信号、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号からそれぞれ欠陥を検出する。欠陥検出時において、光学ヘッドをステッピングモータで半径方向に送り駆動するとともに、光学ヘッドの対物レンズを半径方向正弦波で振動させる。正弦波の振動振幅をステッピングモータの送り幅以上とすることで、送り幅より小さい欠陥も検出可能とする。 （もっと読む）

【課題】ディスクの傷による劣化と、研磨によるジッタ劣化とを識別する。
【解決手段】ディスク検査装置１は、ＥＣＣ制御部１８と比較部２０を有する。ＥＣＣ制御部１８は、ディスク１０の所定区間におけるエラー訂正数ＰＩＥとエラー訂正不能数ＰＩＦを測定する。比較部２０は、ＰＩＥの最小値または平均値が第１しきい値を超える場合にジッタ劣化ディスク、ＰＩＦの最大値が第２しきい値以下でＰＩＥの最小値あるいは平均値が第１しきい値以下の場合に正常ディスク、ＰＩＥの最小値または平均値が第１しきい値以下であってＰＩＦの最大値を超える場合に傷ディスクと識別する。 （もっと読む）

【課題】磁気ディスク用ガラス基板の製造工程において、端面の損傷、欠損（カケ）のための外観検査を強化している。この外観検査は、目視にて実施しているが、ガラス基板を一列に並べて外観検査すると正面から見たとき、ガラス基板が重なり見えにくいため、検査精度と検査効率の低下の原因となっている。
【解決手段】本発明は、複数の円板状ディスクを、互いに平行に、かつ階段状に並べて配置するディスク保持構造を有するディスク検査装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】最短のマーク及びスペースに関するジッタが最短のマーク及びスペースよりも長いマーク及びスペースに関するジッタより悪い光記憶媒体を用いた場合にも高い信頼性で情報を記録再生可能な光記憶媒体および光情報装置を提供する。
【解決手段】この光情報装置は、光ビームを光記憶媒体に照射して、前記光記憶媒体から反射された光ビームを受光して、受光した光に基づく信号を出力する光ピックアップヘッドと、前記光ピックアップヘッドから出力される信号のジッタを計測するジッタ計測部と、前記計測したジッタから前記光記憶媒体が良品か不良品かを判別する判別部とを備え、前記ジッタ計測部は、デジタル情報が２以上の整数ｋと周期Ｔを基本とする長さがｋＴのマーク又はスペース列として記録されている前記光記憶媒体に対して、３Ｔ以上のマーク又はスペース列についてのジッタを計測する。 （もっと読む）

【課題】記憶媒体へのサーボパターン転写不良を回避又は低減する。
【解決手段】サーボパターン転写前の記憶媒体の表面に、異物（ゴミ等）又は欠陥（キズ等）があるか否かを検査する（ステップＳ１）。続いて、記憶媒体表面の異物又は欠陥と、転写マスタのサーボパターンとの相対位置を計算する（ステップＳ２）。相対位置は、例えば、角度で表現され、相対角度と呼ぶこととする。続いて、記憶媒体及び／又は転写マスタを回転若しくは異動させて、記憶媒体の表面上の異物又は欠陥と、転写パターンとの重畳による転写パターンの転写不良を回避又は低減する様に、相対位置を調整する（ステップＳ３）。続いて、記憶媒体にサーボパターンが、磁気的又は物理的に転写される（ステップＳ４）。このようにしてサーボパターンを転写すると、サーボパターンの転写不良を回避又は低減し、記憶媒体の廃棄率を低減し、記憶装置の製造コストを低減することが可能になる。 （もっと読む）

【課題】スパッタリング時にパーティクル発生が少ない相変化膜形成用スパッタリングターゲットおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】原子％でＧｅ：２０．２〜２４．２％、Ｓｂ：２０．２〜２４．２％含有し、残部がＴｅおよび不可避不純物からなる組成を有する相変化膜形成用スパッタリングターゲットであって、その曲げ強度が１１０ＭＰａ以上あるパーティクル発生の少ない相変化膜形成用スパッタリングターゲットおよびその製造方法であって、このターゲットは合金インゴットを粉砕することにより得れられた合金粉砕粉末を不活性ガスのプラズマ中に曝して合金粉末の表面を活性化し、この表面を活性化した合金粉末を使用して加圧焼結することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】基板の裏面からの反射光の影響を受けない光ディスクの表面評価方法とその評価方法を実現することができる表面評価装置を提供する。
【解決手段】干渉計１００が被測定物である光ディスク基板１５０の表面に対して計測光の光軸が傾斜角Φ_０で傾斜するように設置されている。一方、回折光ＤＦは基板１５０の表面から伸びる仮想垂線ＶＬに対してΦ_１の角度で出射される。Φ_０＝Φ_１となるように干渉計１００の傾斜角を設定すると、干渉計１００に回折光ＤＦが入射されるようになる。回折光ＤＦと参照光ＲＦとの干渉によって生じた干渉縞を観測することにより表面の凹凸を評価する。 （もっと読む）

【課題】ディスクの表面（記録面部分）及び端面（エッジ部）の同時検査や両面の同時検査に好適なディスク検査装置及び方法を提供する。
【解決手段】垂直姿勢で保持されたディスク12の面に対し、照明装置112，114,116,118からエッジを含んだ検査領域の形状と略同一形状の照射範囲となる照明光パターンの照明光を照射し、当該エッジを含んだ検査領域部分からの反射光をカメラ102,104によって撮像する。照明光は、光ファイバーなどのライトガイドを使用して照射パターン形状を整形し、ディスク12のテクスチャの接線方向に沿って照射する。カメラ102,104から得られる画像を解析し、ディスクの中心位置と半径を求めて自動的に各検査面のウインドウを形成する。また、検査画像からエッジ部分における反射形状を認識し、当該反射形状に基づき、塵埃と塵埃以外の要因によるものとを判別して塵埃の検出と測定を行う。 （もっと読む）

【課題】 サーボ信号に基づく評価値を用いて光ディスクの光透過層の表面の評価を行う際に、サーボ残差とデータ復号エラーの発生量との相関関係が低いために評価の精度が低いという課題を解決する。
【解決手段】 フォーカスまたはトラッキングのサーボ信号を検出し、検出された前記サーボ信号とその検出時間から前記サーボ信号の推移を検出し、前記サーボ信号の推移から得られたピークのうち、所定の閾値を超えた部分について、前記所定の閾値からのピーク高さをその継続時間と線速度との積で算出される距離で積分し、積分によって得られた積分値を合計して評価値を算出し、該評価値とデータ復号エラーの発生量との相関関係に基づいて、前記光ディスクの光透過層の表面の凹凸を評価する。 （もっと読む）

【課題】テレセントリック光学系を用いた検査光学系において、うねりや微妙な凹凸や異物、傷のような欠陥と同時に、色むら欠陥も同時に感度良く検出できる検査装置及び検査方法を提供する。
【解決手段】白色点光源からの照射光を検査対象物に導き、検査対象物表面から戻って来た反射光を集束するための光学素子と、光学素子の後像空間焦平面位置に配設される開口絞りと、開口絞りを通過した反射光の像を検出する像検出手段と、を備えた検査装置において、開口絞りは、透過波長帯域の異なる複数のカラーフィルターを同心円状に配置した構成であり、像検出手段は、複数のカラーフィルターを透過した光を分離した状態で受光し、像検出手段によって得られた単独の画像及び組み合わせた画像から欠陥を検出する欠陥検出手段を有する。 （もっと読む）

【課題】従来の多層型光ディスクの製造法では、歩留まりが低く、多層型光ディスクの低価格化が困難であった。また、歩留まりが低いことに起因する不良品の廃棄も問題となっていた。
【解決手段】少なくとも片面にｎ層（ｎは２以上の整数）の情報層を有する光ディスクにおいて、第１の基板を作製後、情報の記録または再生が可能な層を作製、検査処理を順次行って第１の光ディスクを製作する。また、第２の基板を、ナノインプリント法でシートに凹凸を形成後、情報の記録または再生が可能な層を作製、検査処理を順次行って第２の光ディスクを製作する。 （もっと読む）

【課題】
同一の光ディスクを何度測定してもエラー箇所の画面表示が同一になり、また目視した光ディスクとエラー箇所の画面表示とを対応づけることができる光ディスク検査装置及び光ディスク検査方法を提供することにある。
【解決手段】
光ディスクに記録された識別コードにレーザ光を照射し、光ディスクからの反射光に基づく信号から検出した識別コードの特定位置を回転基準位置として取得する。検査用信号の波高値が所定値をクロスしたときエラー検出信号を出力するようにし、光ディスクの回転位置を検出し続けるとともに、エラー検出信号が入力するとエラー箇所の回転位置を回転基準位置からの回転角度として取得する。 （もっと読む）

【課題】光ディスクそのものが入手できない場合においても、不具合が生じた光ディスクの不具合の原因を特定する技術を提供する
【解決手段】追記又は書換が可能である光記録媒体は、ロット番号を記録する領域を有する。又、光記録媒体記録再生装置は、光記録媒体の所定領域に記録されたロット番号を再生し、ロット番号を記憶する。又、光記録媒体の解析方法は、不具合が生じた光ディスクのロット番号を通報する通報処理と、不具合を知らせる対象を選択する通知対象の選択処理と、ロット番号に基づき不具合の解析をおこなう解析処理と、を有する。このように、光記録媒体にロット番号が付与されているので、このロット番号に基づき、光記録媒体に不具合が生じた場合に容易にその解析を行うことができる （もっと読む）

【課題】
同一の光ディスクを何度測定してもエラー箇所の画面表示が同一になり、また目視した光ディスクとエラー箇所の画面表示とを対応づけることができる光ディスク検査装置及び光ディスク検査方法を提供することにある。
【解決手段】
光ディスクの記録面からの反射光に基づく信号から、光ディスクの記録面に記録されたデータに相当する２値化信号を作成し、２値化信号からアドレスデータを復号し、特定アドレスを復号したとき、光ディスクの回転位置を回転基準位置として取得する。検査用信号の波高値が所定値をクロスしたときエラー検出信号を出力するようにし、光ディスクの回転位置を検出し続けるとともに、エラー検出信号が入力するとエラー箇所の回転位置を回転基準位置からの回転角度として取得する。 （もっと読む）

【課題】光情報媒体の記録／再生光入射側表面の耐擦傷性を、簡便に、かつ実際の使用環境を反映した形で定量化できる評価方法を提供する。
【解決手段】透光性基体および情報記録層を有し、前記透光性基体側から前記情報記録層に入射したレーザービームによって光学的に記録および／または再生がなされる光情報媒体に対し、レーザービーム入射側表面の耐擦傷性に関する評価を行う方法であって、
光情報媒体のレーザービーム入射側表面を故意に摩耗させた後、記録／再生特性を測定し、その測定値に基づいてレーザービーム入射側表面の耐擦傷性を評価する光情報媒体の評価方法。 （もっと読む）

【課題】
再生データのエラー数やエラー率を測定して光ディスクの検査を行う場合、短時間で検査を行うことができ、記録面の中にエラー率が悪い箇所がある光ディスクを合格とする可能性を極めて低く抑えることができる光ディスク検査装置及び光ディスク検査方法を提供することにある。
【解決手段】
レーザ光の照射位置を光ディスクと相対的に光ディスクの半径方向に移動させるフィード手段と、光ディスクの記録面における欠陥箇所の位置を検出する欠陥位置検出手段と、欠陥位置検出手段により検出された欠陥位置の半径に基づき、再生データにおけるエラー数又はエラー率を測定する際の半径位置を設定する検査半径位置設定手段とを備えたことを特徴とする。 （もっと読む）