説明

洗浄方法及びその装置

【課題】
ディスクなどの基板を洗浄する装置において、洗浄に要する純水の量を少なくし、且つ、装置を小型化して装置全体の床面積を小さくする。
【解決手段】
基板の両面に純水を供給しながらブラシを回転させて基板の両面をこすって洗浄するスクラブ洗浄ユニットと、スクラブ洗浄処理ユニットで洗浄処理された基板の表面を純水で洗浄するリンスユニットと、リンスユニットで洗浄処理された基板の表面を乾燥させる乾燥ユニットとを備えた洗浄装置において、スクラブ洗浄ユニットは、基板の両面に供給する純水に超音波を印加する超音波印加手段を有し、この超音波印加手段で超音波を印加した純水を基板の両面に供給しながらブラシを回転させて基板の両面をこすって洗浄するようにした。

【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、磁気ディスクや光ディスク、半導体ウェハなどのディスク基板を洗浄し、乾燥させる基板洗浄方法及びその装置の関するものである。
【背景技術】
【0002】
従来の技術として、ディスク洗浄装置の例を説明する。従来の磁気ディスク基板を洗浄する装置として、例えば特開平5−290373号公報(特許文献1)には、第1の超音波洗浄ステーションとブラシ洗浄ステーション及び第2の超音波洗浄ステーションとを備え、複数枚のディスクを同時に洗浄するディスク洗浄装置が記載されている。
【0003】
また、特開2001-96245号公報(特許文献2)には、シャワー槽と薬液槽、超音波槽、純水槽を備えた洗浄ユニットとを備えた洗浄装置が記載されている。
【0004】
更に、特開平6−5577号公報(特許文献3)には、オーバーフロー槽内の洗浄液に超音波発信器で発生させた超音波を作用させ、この洗浄液中で回転する洗浄ブラシにより基板を1枚ずつ洗浄する基板洗浄装置が記載されている。
【0005】
更に、特開2001−246331号公報(特許文献4)には、基板の一方の面(上面)にシャワーノズルから洗浄液を供給しながらロールブラシでブラシ洗浄し、同時に基板の反対側の面(下面)に超音波ノズルから超音波振動を付与した洗浄液を噴射させて基板の裏面を超音波洗浄する洗浄装置が記載されている。また、超音波振動を付与した洗浄液を基板の仮面に印加することにより、超音波を基板の上面まで伝播させて基板の上面も超音波洗浄することが記載されている。
【0006】
更に、特開2007−207377号公報(特許文献5)には、ディスクローダ、酸薬液超音波洗浄槽、アルカリ薬液洗浄槽、純水槽、乾燥室との間にそれぞれシャワー洗浄槽を配置した構成のディスク洗浄システムが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0007】
【特許文献1】特開平5−290373号公報
【特許文献2】特開2001-96245号公報
【特許文献3】特開平6−5577号公報
【特許文献4】特開2001−246331号公報
【特許文献5】特開2007−207377号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0008】
特許文献1および特許文献2に記載されている洗浄装置においては、超音波洗浄と、ブラシ洗浄とをそれぞれ分離して行うために大量の純水を消費するとともに洗浄装置全体が大型化して装置の占める床面積(フットプリント)が大きくなってしまうという問題があった。
【0009】
特許文献3には超音波をかけた洗浄液中で搬送ローラに載せた基板を1枚ずつ搬送ローラに接する面と反対側の面(上向きの面)をブラシ洗浄することが記載されているが、横置きにした基板を片面ずつ洗浄処理するので、基板の両面を洗浄するには洗浄のためのスペースが大きくなってしまうという問題がある。更に、基板を1枚ずつ処理するために、洗浄に使用する純水の使用量が多くなってしまうという問題があった。
【0010】
また、特許文献4には基板の一方の面にシャワーノズルから洗浄液を供給してブラシ洗浄し反対側の面を超音波洗浄することがそれぞれ記載されているが、基板の両面を洗浄するためには洗浄のためのスペースが大きくなってしまうという問題がある。更に、基板を1枚ずつ処理するために、洗浄に使用する純水の使用量が多くなってしまうという問題があった。
【0011】
更に、特許文献5には、シャワー洗浄槽と酸薬液超音波洗浄槽、アルカリ薬液超音波洗浄槽、純水洗浄槽、乾燥室とを並べてディスク洗浄システムにおいて、シャワー洗浄槽をブラシ洗浄槽に置き換えても良く、また、シャワー洗浄槽とブラシ洗浄槽とを両方用いても良いと記載されているが、シャワー洗浄槽またはブラシ洗浄槽で超音波洗浄を行うことについては記載されていない。
【0012】
本発明は、ディスクなどの基板の両面を洗浄する装置における上記した従来技術の課題を解決して、洗浄に要する純水の量をより少なくすることができ、且つ、装置を小型化して装置全体の床面積を小さくし、消費電力を低減することが可能な洗浄装置及び洗浄方法を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【0013】
上記目的を達成するために、本発明では、基板の両面を洗浄装置のスクラブ洗浄ユニットにおいて、従来の純水ノズルを超音波スポットノズルに置き換えることにより、スクラブ洗浄と同時に超音波洗浄を行うことを可能にして超音波洗浄槽の数を削減した。
【0014】
即ち、上記目的を達成するために、本発明では、基板の両面に純水を供給しながらブラシを回転させて基板の両面をこすって洗浄するスクラブ洗浄ユニットと、スクラブ洗浄処理ユニットで洗浄処理された基板の表面を純水で洗浄するリンスユニットと、リンスユニットで洗浄処理された基板の表面を乾燥させる乾燥ユニットとを備えた洗浄装置において、
スクラブ洗浄ユニットは、基板の両面に供給する純水に超音波を印加する超音波印加手段を有し、この超音波印加手段で超音波を印加した純水を基板の両面に供給しながらブラシを回転させて基板の両面をこすって洗浄するようにした。
【0015】
また、上記目的を達成するために、本発明では、基板の両面に純水を供給しながらブラシを回転させて前記基板の両面をこすって洗浄し、ブラシでこすって洗浄処理された基板の表面を純水でリンス洗浄し、リンス洗浄処理された基板の表面を乾燥させる基板の洗浄方法において、ブラシでこすって洗浄処理する工程で、超音波を印加した純水を基板の両面に印加しながらブラシを回転させて基板の両面をこすって洗浄するようにした。
【発明の効果】
【0016】
本発明によれば、超音波洗浄槽とブラシ洗浄槽とを統合することで設備を小型化してフットプリントを小さくするとともに、純水の使用量と消費電力を削減できて設備のランニングコストを低減できるようになった。更に、洗浄のスループットを向上させることができるようになった。
【図面の簡単な説明】
【0017】
【図1A】図1Aは、洗浄装置の全体の構成を示すブロック図である。
【図1B】図1Bは、ローダユニットと搬送ユニットの断面図である。
【図2】図2は、洗浄処理工程の流れを示すフロー図である。
【図3】図3は、スクラブ洗浄ユニットにおけるブラシとガイドローラ及び基板との関係を示す斜視図である。
【図4】図4は、スクラブ洗浄ユニットにおけるブラシとガイドローラ及び基板との関係を示す正面図である。
【図5】図5は、スクラブ洗浄ユニットにおけるブラシとガイドローラ及び基板との関係を示す側面の断面図である。
【発明を実施するための形態】
【0018】
以下に、本発明を磁気ディスクを洗浄するディスク洗浄装置に適用した実施の形態を、図面を用いて説明する。
【0019】
本発明の実施例に係るディスク洗浄装置1の構成を図1Aに示す。
【0020】
ディスク洗浄装置1は、ローダユニット2、スクラブ洗浄ユニット3、クイック・ダンプ・リンス(QDR)ユニット4、リンスユニット5、乾燥ユニット6、アンローダユニット7及び複数枚の基板を装着したディスクカセット11を各ユニット間でレール8に沿って移動して搬送する搬送ユニット9で構成されている。
【0021】
また、スクラブ洗浄ユニット3では、搬送ユニット9で搬送されてきた基板をディスクカセット11から1枚ずつ取り出してガイドローラ310(図3参照)に装着し、洗浄後の基板をガイドローラから1枚ずつ取り出してディスクカセットに戻すハンドリングユニット10を備えている。
【0022】
搬送ユニット9は、レール8に沿って基板ローダユニット2から、スクラブ洗浄ユニット3、クイック・ダンプ・リンス(QDR)ユニット4、リンスユニット5、乾燥ユニット6、アンローダユニット7までの間を移動する。搬送ユニット9としては、上記に説明した各ユニット間をレール8に沿って移動する方式のものに替えて、各ユニットに対応して固定された複数の固定式ロボット(例えば、スカラー型のロボット)で構成してもよい。
【0023】
図1Bに搬送ユニット9がローダユニット2に位置している時のとのローダユニットの断面図である。搬送ユニット9はレール8にガイドされて、図示していない駆動装置で駆動されてレール8に沿って図面に垂直な方向に移動する。搬送ユニット9のアーム部91は図示していない駆動機構により搬送ユニット9に沿って上下方向に移動可能になっている。また、搬送アーム91には開平動作が可能な一対のチャック92と93とが備えられており、チャック92と93とを開閉させることによりカセット11を挟持したり開放したりする。
【0024】
ローダユニット2のテーブル21上に基板が装着されたカセット11が外部から供給され設置されている状態で、搬送ユニット9のアーム部91がチャック92と93とを開いた状態で図示していない駆動手段で駆動されて下降し、下降端でチャック92と93とを閉じてこのカセット11を挟み込む。次に、チャック92と93とでカセット11を挟み込んだ状態でアーム部91が図示していない駆動手段で駆動されて所定の高さまで上昇する。図1Bは、アーム部91が所定の高さまで上昇した状態を示している。
【0025】
図1Aに示した洗浄装置を用いた基板洗浄の処理の流れを図2を用いて説明する。
まず、ローダユニット2に複数の基板を収納したディスクカセット11を外部から供給する(S201)。この供給されたディスクカセット11を搬送ユニット9でレール8に沿って移動させてスクラブ洗浄ユニット3に搬送する(S202)。
【0026】
スクラブ洗浄ユニット3ではハンドリングユニット10でディスクカセット11から基板38を取り出してスクラブ洗浄ユニット3のガイドローラ310に装着する(S203)。このとき、ガイドローラ310に対向してブラシ37が配置されており、図5に示すように、基板38はブラシ37に挟まれた状態でブラシ37の中心軸39とガイドローラ310とで支持される。このようにしてガイドローラ310に装着されてブラシ37の中心軸39とガイドローラ310とで支持された状態の複数枚の基板38に超音波を印加した純水を供給しながら基板38の両面をブラシ37でこすって複数枚の基板38のそれぞれの両面を同時にスクラブ洗浄処理する(S204)。
【0027】
スクラブ洗浄処理された基板38は、再びディスクカセット11に戻され(S205)、搬送ユニット9でレール8に沿ってクイック・ダンプ・リンスユニット4に搬送される(S206)。
【0028】
クイック・ダンプ・リンスユニット4では、図示していないリンス液槽に貯蔵したリンス液を基板38にディスクカセット11に装着した状態で浴びせかけて基板38の表面をリンスする(S207)。
【0029】
クイック・ダンプ・リンスユニット4で洗浄された基板38を収納したディスクカセット11は、搬送ユニット9によりレール8に沿って移動してリンスユニット5に搬送される(S208)。
【0030】
リンスユニット5において、クイック・ダンプ・リンスユニット4で洗浄処理された基板をディスクカセット11に装着した状態でディスクカセット11ごと純水が入っている槽内に入れて純水に浸漬してリンス処理を行う(S209)。
【0031】
リンスユニット5でリンス処理された基板を収納したディスクカセット11は、搬送ユニット8により乾燥ユニット6に搬送され(S210)、基板表面に付着した純水を蒸発させて基板を乾燥させる(S211)。乾燥処理された基板が入ったカセット11は、搬送ユニット8により乾燥ユニット6から取り出されてアンローダユニット7に搬送され(S212)、アンローダユニット7から洗浄装置1の外部に取り出される(S213)。
【0032】
上記した一連の処理工程のうち、スクラブ洗浄ユニット3で行うスクラブ洗浄処理について、図3乃至5を用いて詳しく説明する。
【0033】
図3はスクラブ洗浄ユニット3の斜視図、図4はスクラブ洗浄ユニット3において複数の基板38がブラシ37にはさまれた状態でブラシ中心軸39とガイドローラ310とに支持されている状態を示すブラシの正面図、図5は図4の構成を横から見た側面図である。である。
【0034】
スクラブ洗浄ユニット3では、ディスクカセット11に収納されて供給された複数の基板38がハンドリングユニット9で順次ディスクカセット11から取り出され、ガイドローラ310の溝部311とブラシ37の中心軸39とで支持される位置にブラシ37に一枚ずつ挟まれた状態でセットされる。
【0035】
この状態で中心軸39を図示していないモータなどの駆動源により回転させるとブラシ37が基板38の両面をこするようにして回転し、基板38もブラシ37よりも遅い回転速度で回転する。一方、給水管321の端部付近に設けた給水口312から純水を供給し、給水管321に取付けたバー313に設けた多数の噴出口315から純水を噴出させる。このとき、超音波発信機320から発振された超音波を給水管321の端部に設けた超音波導入口314から給水管321の内部に導入し、給水口312から給水管321の内部に供給された純水に超音波を印加する。
【0036】
この超音波を印加された純水は、給水管321に取付けたバー313に設けた多数の噴出口315から噴出して両面がブラシ37でこすられている基板38の両側の面にかけられる。この状態で、基板38の両側の面の超音波が印加された純水が供給された部分とブラシ37との間の一部に、1〜2mm程度の厚さの純水層が形成される。この基板38とブラシ37との間に形成された純水層により、基板38の両側の面は超音波純水洗浄が施される。一方、噴出口315から離れた部分では純水に印加された超音波の効果が弱まり、基板38とブラシ37との間には純水層が形成されず基板38の両面に回転するブラシ37が接触してブラシ洗浄処理が行われる。
【0037】
このように、超音波を印加した純水を供給しながら一定の時間ブラシ洗浄処理を行うことにより、基板38の両側の面全面に対して超音波純水洗浄処理と超音波洗浄処理とが施される。
【0038】
即ち、超音波を印加した純水をかけながら複数のブラシ37を回転させて複数の基板38の両面を同時にこすって基板38の表面に付着したごみを除去することにより、従来、別々の装置を用いて処理していたブラシ洗浄処理と超音波洗浄処理とを一つの装置で処理できるようになり、従来の超音波純水洗浄工程を省略することが可能になった。その結果、洗浄装置全体が占める床面積(フットプリント)を縮小することができるようになった。
【0039】
また、この超音波ブラシ洗浄処理工程において使用する純水の量は、従来のブラシ洗浄工程で使用する純水の量と同じでよく、従来の超音波純水洗浄工程で使用する純水の量だけ使用量を削減することができた。
【0040】
更に、従来のブラシ洗浄処理と超音波洗浄処理とを同時に実施することにより、消費する電力量も低減することができるようになった。
【0041】
なお、上記実施例においては、スクラブ洗浄ユニット3でスクラブ洗浄処理した後にクイック・ダンプ・リンスユニット4でクイック・ダンプ・リンス処理を行う構成で説明したが、スクラブ洗浄ユニット3とクイック・ダンプ・リンスユニット4との間に特許文献4に記載されているような基板38の表面を酸又はアルカリの薬液を用いて超音波洗浄処理を行う薬液洗浄処理層を挿入しても良い。
【0042】
上記に説明した実施例は本発明の一実施の形態を説明するものであって、本発明はこれに限定されるものではない。すなわち、上記実施例で説明した構成の一部をそれと等価な機能を有する手段で置き換えたものも、または、実質的でない機能の一部を省略したものも本発明に含まれる。
【符号の説明】
【0043】
1…ディスク洗浄装置 2…ローダユニット 3…スクラブ洗浄ユニット 4…クイック・ダンプ・リンス(QDR)ユニット 5…リンスユニット 6…乾燥ユニット 7…アンローダユニット 8…レール 9…搬送ユニット 10…ハンドリングユニット 11…ディスクカセット 37…ブラシ 38…基板 39…ブラシ中心軸 310…ガイドローラ 312…供給口 313…吐出口 320…超音波発信機。

【特許請求の範囲】
【請求項1】
基板の両面に純水を供給しながらブラシを回転させて前記基板の両面をこすって洗浄するスクラブ洗浄ユニットと、
該スクラブ洗浄処理ユニットで洗浄処理された基板の表面を純水で洗浄するリンスユニットと、
該リンスユニットで洗浄処理された基板の表面を乾燥させる乾燥ユニットと
を備えた洗浄装置であって、
前記スクラブ洗浄ユニットは、前記基板の両面に供給する純水に超音波を印加する超音波印加手段を有し、該超音波印加手段で超音波を印加した純水を前記基板の両面に印加しながら前記ブラシを回転させて前記基板の両面をこすって洗浄することを特徴とする洗浄装置。
【請求項2】
前記スクラブ洗浄ユニットにおいて、前記回転するブラシの中心軸部とガイドローラとで前記基板を支持し、前記ガイドローラと前記回転するブラシの間に設けたパイプの多数の噴出口から前記超音波を印加した純水を前記基板の両面に供給することを特徴とする請求項1記載の洗浄装置。
【請求項3】
前記スクラブ洗浄ユニットにおいて、前記回転するブラシの中心軸部とガイドローラとで複数の基板を支持し、前記ガイドローラと前記回転するブラシの間に設けたパイプの多数の噴出口から前記超音波を印加した純水を前記複数の基板のそれぞれの両面に供給することを特徴とする請求項1記載の洗浄装置。
【請求項4】
外部から供給された基板を前記スクラブ洗浄ユニットへ供給するローダユニットと、前記乾燥ユニットで乾燥処理された基板を装置外へ取り出すアンローダユニットとを更に備えることを特徴とする請求項1記載の洗浄装置。
【請求項5】
前記スクラブ洗浄処理ユニットで洗浄処理された基板の表面を純水で洗浄するリンスユニットは、リンス液槽と洗浄槽とを有して該洗浄槽内で前記リンス液槽に貯蔵したリンス液を前記基板に浴びせかけて前記基板の表面をリンスするクイック・ダンプ・リンス槽部と、該クイック・ダンプ・リンス槽部で処理された基板を純水で洗浄処理するリンス槽部とを備えていることを特徴とする請求項1記載の洗浄装置。
【請求項6】
基板の両面に純水を供給しながらブラシを回転させて前記基板の両面をこすって洗浄し、
該ブラシでこすって洗浄処理された基板の表面を純水でリンス洗浄し、
該リンスユ洗浄処理された基板の表面を乾燥させる
基板の洗浄方法であって、
前記ブラシでこすって洗浄処理する工程において、超音波を印加した純水を前記基板の両面に印加しながら前記ブラシを回転させて前記基板の両面をこすって洗浄することを特徴とする洗浄方法。
【請求項7】
前記基板の両面をこすって洗浄する工程において、前記ブラシの中心軸部とガイドローラとで前記基板を支持し、前記ガイドローラと前記回転するブラシの間に設けたパイプの多数の噴出口から前記超音波を印加した純水を前記基板の両面に供給しながら前記ブラシを回転させて前記基板の両面をこすって洗浄することを特徴とする請求項6記載の洗浄方法。
【請求項8】
前記基板の両面をこすって洗浄する工程において、前記ブラシの中心軸部とガイドローラとで複数の基板を支持し、前記ガイドローラと前記回転するブラシの間に設けたパイプの多数の噴出口から前記超音波を印加した純水を前記複数の基板のそれぞれの両面に供給しながら前記ブラシを回転させて前記複数の基板の両面をこすって洗浄することを特徴とする請求項6記載の洗浄方法。
【請求項9】
前記基板の表面を純水でリンス洗浄する工程は、リンス液槽に貯蔵したリンス液を前記基板に浴びせかけて前記基板の表面をリンスするクイック・ダンプ・リンス処理と、該クイック・ダンプ・リンス処理された基板を純水で洗浄処理するリンス処理とを行うことを特徴とする請求項6記載の洗浄方法。

【図1A】
image rotate

【図1B】
image rotate

【図2】
image rotate

【図3】
image rotate

【図4】
image rotate

【図5】
image rotate


【公開番号】特開2011−204346(P2011−204346A)
【公開日】平成23年10月13日(2011.10.13)
【国際特許分類】
【出願番号】特願2011−45486(P2011−45486)
【出願日】平成23年3月2日(2011.3.2)
【出願人】(501387839)株式会社日立ハイテクノロジーズ (4,325)
【Fターム(参考)】