【課題】内部電極の厚みや内部電極間の絶縁層の厚みが微小化された場合でも、内部電極間短絡を確実に高精度で検出しえる電子部品の不良検出方法を提供すること。
【解決手段】絶縁体１１の内部に、絶縁体層を介して対向する内部電極１１、１３を埋設した電子部品の欠陥を検出するにあたり、内部電極１３の一端を、絶縁体１１の端面１１１に露出させた電子部品１を準備する。上述した電子部品１の端面１１１を電解質溶液２２に接触させ、電解質溶液２２を介して、内部電極１２、１３に電圧を印加する。これにより、内部電極１３（又は１２）、短絡部Ｄ１を、電気分解反応によって、電解質溶液２２中に溶出させる。 （もっと読む）

【課題】複数のキャパシタモジュールからなる蓄電装置における不良キャパシタセルを簡便で効率的に発見する方法。
【解決手段】複数のキャパシタセルと並列に接続され、複数のキャパシタセルが満充電に達すると満充電信号を発する複数の並列モニタとからなるキャパシタモジュールより構成される蓄電装置の検査方法であり、キャパシタモジュールそれぞれの電圧を検出するステップと、キャパシタモジュールからの並列モニタ信号を検出するステップと、検出電圧値が所定の範囲内にあるときの並列モニタ信号検出回数をそれぞれのキャパシタモジュール毎に計数する正常検出計数ステップと、検出電圧値が所定の範囲外にあるときの並列モニタ信号検出回数をそれぞれのキャパシタモジュール毎に計数する異常検出計数ステップと、該異常検出計数ステップで検出された信号を発したキャパシタモジュールを不良キャパシタモジュールと判定するステップと、からなる。 （もっと読む）

【課題】比較的簡単な構成によってキャパシタモジュールの基本定なパラメータの正常・異常などを検査することができるキャパシタモジュール特性検査装置を提供する。
【解決手段】キャパシタモジュール特性検査装置は、直列接続された複数のキャパシタセル（Ｃ１，Ｃ２，・・Ｃｎ）と、該複数のキャパシタセルと並列に接続され、該複数のキャパシタセルが満充電に達すると満充電信号を発する複数の並列モニタ（Ｍ１，Ｍ２，・・Ｍｎ）とからなるキャパシタモジュールの特性検査を行うものであり、定電流発生部１１と、定電圧発生部１２と、電流検出部１３と、電圧検出部１４と、放電制御を行う放電制御部１５と、Ｆ信号検出部１６と、表示部１７と、検出結果に基づいて所定の演算などを行う主制御部１８と、を有する構成となっている。 （もっと読む）

【課題】負荷の要求に応じて使用されるキャパシタ電源の温度上昇から寿命を推定しキャパシタ電源の容量評価を簡便に行えるようにする。
【解決手段】少なくとも基準とする温度Ｔ_r 、該温度Ｔ_r に対応するキャパシタの劣化係数α_Tr又は劣化時間ｔ_Trr 、劣化度Ｄ_r 、劣化度Ｄ_r における所定の温度差Ｔ_int 、該所定の温度差に対応する各温度における劣化時間の倍率λからなる寿命推定用のデータ、キャパシタ電源の使用温度Ｔ_x のデータを保持し、
ｔ_Txr ＝λ^(Tr-Tx)/Tint×ｔ_Trr 、α_Tx＝Ｄ_r ／√ｔ_Txr 、ｔ_Tx＝（Ｄ_s ／α_Tx）² により使用温度Ｔ_x における劣化係数α_Tx、劣化度Ｄ_s までの推定寿命ｔ_Txを求める。 （もっと読む）

【課題】本発明は、電気二重層キャパシタの内部抵抗測定装置に係り、特に、電気二重層キャパシタの内部抵抗が低い場合に、その内部抵抗の抵抗値を精度よく測定する内部抵抗測定装置を提供するものである。
【解決手段】電気二重層キャパシタ１に直列に外部抵抗４を接続し、直列に接続された電気二重層キャパシタ１と外部抵抗４の両端の電圧を測定するように構成する。これにより、高精度に内部抵抗を測定することができるものである。 （もっと読む）

【課題】電気二重層コンデンサの直流抵抗値を高精度に測定する。
【解決手段】所定電圧Ｅ［Ｖ］まで充電した電気二重層コンデンサＣｘと直流阻止用コンデンサ３４のうち、直流阻止用コンデンサ３４の他端を開放し、電気二重層コンデンサＣｘを定電流値Ｉで放電させたときに直流阻止用コンデンサ３４の開放端に現れる電気二重層コンデンサＣｘの放電による電圧の時間変化を直流電圧計２２を通じて制御装置２６により測定する。直流阻止用コンデンサ３４と直流電圧計２２の入力抵抗による高域遮断周波数が、接合型ＦＥＴ入力のボルテージフォロワ３０を挿入していることからきわめて低い値となり、数秒以上の長時間の電圧変化を、直流電圧計２２のフルスケールに近いレンジで精度よく測定することができる。電圧測定が精度よく行なえることより、「降下電圧÷定電流放電値」で算出する直流抵抗値が高精度で求められる。 （もっと読む）

【課題】位置決めのＯＮ／ＯＦＦ動作が迅速で、高速の間欠搬送に対応することが可能であり、しかも、搬送経路に突出するような機構部や部材を必要とせず、被搬送物が搬送中にダメージを受けることのない、信頼性の高い位置決め手段付き搬送装置を提供する
【解決手段】位置決め手段４３を構成する静電吸着機構４１を、被搬送物１の搬送領域に突出しないような態様で配設し、搬送プレート１１の収容部１２に収容されている被搬送物を静電吸着することにより被搬送物の位置決めを行う。
搬送プレートを、周縁部に外周側が開口した収容部が配設された円板状の構造とし、かつ、その周囲に収容部の一部を構成する部材としても機能する外周ガイドを配設する。
静電吸着機構により被搬送物の位置決めを行った状態で、チップ型電子部品の特性を測定する特性測定手段を備えた構成とする。 （もっと読む）

【課題】電気二重層キャパシタ（ＥＤＬＣ）を、キャパシタ適用機器から切り離すことなく、寿命判定をする。
【解決手段】直流負荷１には、スイッチＳＷ１，ＳＷ２を介して、ＥＤＬＣ４が接続されている。ＥＤＬＣ４が劣化していないときにおいて、ＳＷ２、ＳＷ４をＯＦＦ、ＳＷ３をＯＮにして、満充電充状態となっているＥＤＬＣの放電を開始した時点から、ＥＤＬＣ端子電圧が設定電圧に低下する時点までの初期定抵抗放電時間Ｔ０を求めておく。そしてＥＤＬＣ４を使用して劣化した場合にも、同様にして、経時定抵抗放電時間Ｔを求める。そして、静電容量変化率（≒（Ｔ０−Ｔ）／Ｔ０）を求め、この値から、寿命判定をする。 （もっと読む）

【課題】絶縁抵抗または漏洩電流を短時間で精度よく測定可能とする。
【解決手段】絶縁抵抗測定装置は、定電圧電源１と、定電流回路２と、オンオフ回路３と、漏洩電流増幅器４と、Ａ／Ｄコンバータ５と、データ処理部６と、定電流吸収回路７と、定電流ブリーダ回路８と、ショート回路９とを備える。１ｋΩ未満の内部抵抗を有する定電圧電源１と定電流回路２を用いて、被測定コンデンサＣ１に短時間だけ定電圧かつ定電流を印加するため、ＪＩＳ規格による測定方法で１分の所要時間を要するコンデンサの絶縁抵抗測定と、ＪＩＳ規格による測定方法で５分の所要時間を要するコンデンサの漏洩電流測定を、いずれも１秒以内という短時間で測定でき、検査工程のスループット向上が図れる。 （もっと読む）

【課題】ＳＭＤ型受動素子を試験する際の傷の減少方法を提供する。
【解決手段】伝動装置１１０と可動式検知装置１２０とを有する試験機器を提供し、伝動装置１１０は複数個のＳＭＤ型受動素子１０を連続的に積み込んで移動させ、可動式検知装置１２０はそれらのＳＭＤ型受動素子１０の電極１１に電気接触することによって、ＳＭＤ型受動素子１０群は連続的に多種の試験を受けることになる。試験を行う際に、伝動装置１１０と可動式検知装置１２０とは分類作業まで同時に移動して試験による傷を低減することが可能である。 （もっと読む）

【課題】実装状態を適切且つ簡易に検査することが可能な検査用チップ型電子部品及び実装状態検査方法を提供すること。
【解決手段】検査用チップ型電子部品ＴＣは、素体１と、素体１の外表面に配置された第１〜第８の端子電極１１〜１８とを備える。素体１は、積層された複数の絶縁体層２１と、複数の内部電極２３とを有する。複数の内部電極２３は、互いに絶縁体層２１を挟んで対向するように配される。各内部電極２３は、絶縁体層２１を挟んで互いに対向する第１の導体部分２５と、第１の導体部分２５から第１の側面６あるいは第２の側面７まで引き出されて第１〜第８の端子電極１１〜１８に電気的且つ物理的に接続される複数の第２の導体部分２７とを含む。各内部電極２３は、第１〜第８の端子電極１１〜１８に電気的に接続される。 （もっと読む）

【課題】キャパシタを所定の電圧にまで充電し、その後にキャパシタの特性を測定する特性検査装置において、複数のキャパシタを直列接続とし、その各キャパシタに並列モニタ回路を接続して充電するにあたって、当該特性検査装置を量産ラインに適用可能とするため、各キャパシタを短時間で効率よく充電する。
【解決手段】定電流電源４１より所定電流値の第１充電電流（例えば６０Ａ）を出力させてキャパシタバンク１０の充電を開始し、各並列モニタ回路２０のいずれかから動作信号が出力された時点で、定電流電源４１より出力される充電電流を、電流バイパス路の耐電流上限値よりも大きいが第１充電電流よりも小さな第２充電電流（例えば３０Ａ）に少なくとも１回切り替える。 （もっと読む）

【課題】バイパスコンデンサが挿入されたＩＣの電源ピンとグランドピンとの間のインピーダンスが実測結果に一致するよう計算できるようにして、複雑な電源プレーン層やグランドプレーン層でも瞬時に、バイパスコンデンサの有効無効を判定すること。
【解決手段】プリント基板設計データ１０３から配線のインダクタンスのを計算し、電源プレーン層とグランドプレーン層間の静電容量を計算し、バイパスコンデンサの特性と、各配線のインダクタンスとプレーン層間の静電容量から、ＩＣの電源ピンとグランドピンとの間のインピーダンスと周波数との関係を計算する。ＩＣの動作周波数における要求インピーダンスを計算し、前記インピーダンスと要求インピーダンスとを比較し、バイパスコンデンサの有効無効を判定する。 （もっと読む）

【課題】稼働停止時には搬送部材の貫通孔内から電子部品を全て排出することができ、かつ、不良品の発生を抑えることのできる電子部品搬送装置及びその制御方法を得る。
【解決手段】電子部品搬送装置の稼働を停止させる際には、貫通孔３内の負圧状態を停止し、圧縮空気噴出し機構１０の噴出口１１から、電子部品搬送装置の稼働時より強い圧縮空気を噴き出す。これにより、貫通孔３の案内部材５側の開口部にエアーカーテンが生じ、電子部品３０が貫通孔３内に入るのを防止する。噴出口１１の位置より搬送方向Ｘの下流側に位置する貫通孔３内に残った残留電子部品３０は、測定区間まで搬送されて測定されるとともに排出区間において排出機構によって排出され、その後、搬送部材２の回転が停止する。 （もっと読む）

【課題】多数のキャパシタについて、これらを一括して個々の自己放電率を効率よく測定しえる、自己放電測定システムを実現する。
【解決手段】所定数の平板形のキャパシタを厚み方向へ整列状態に収装してこれらキャパシタを直列に接続する測定用セット装置（図２〜図４、参照）、リレーユニット１３（所定数のキャパシタの直列回路と充電用電源との間に構成される充電回路を開閉するリレー手段、所定数のキャパシタの直列回路と放電用電子負荷との間に構成される放電回路を開閉するリレー手段、所定数のキャパシタの直列回路をキャパシタ単位に開閉するリレー手段）、これらリレー手段を充電状態−放置状態−放電状態に制御する機器制御用シーケンサ１４、パラレルモニタ基板１５、各キャパシタの端子電圧の検出値を逐次記録する制御を行う電圧測定用シーケンサ１６、を備える。 （もっと読む）

【課題】 等価直列抵抗の制御を容易に且つ精度良く行うことが可能な積層コンデンサを提供すること。
【解決手段】
積層体１は、複数の誘電体層と、第１及び第２の内部電極４１〜４４，６１〜６４とが交互に積層されることにより構成される。第１の内部電極４１〜４４は、第１の接続導体７Ａ、７Ｂを介して互いに電気的に接続されている。第１の内部電極４１〜４４はそれぞれ、各引き出し導体５３Ａ〜５３Ｄを介して各第１の端子電極３Ａ〜３Ｄに電気的に接続されている。第２の内部電極６１〜６４はそれぞれ、第２の接続導体９Ａ、９Ｂを介して互いに電気的に接続されている。第２の内部電極６１〜６４はそれぞれ、各引き出し導体７３Ａ〜７３Ｄを介して各第２の端子電極５Ａ〜５Ｄに電気的に接続されている。 （もっと読む）

【課題】 短絡を容易に発見することができる電気二重層キャパシタの製造方法及び短絡検査装置を提供すること。
【解決手段】 本発明の電気二重層キャパシタの製造方法は、端子部及び本体部を備える第１の電極及び第２の電極を、セパレータを介してそれぞれの端子部が互いに重なりあわないように積層して、積層体を得る工程と、第１の電極、セパレータ及び第２の電極からなる積層体を加圧しながら、第１の電極と第２の電極との短絡を検査する工程とを含む。 （もっと読む）

【課題】 蓄電装置の小型、軽量化を図る。
【解決手段】 軸線方向の一端側に正極端子、他端側に負極端子を備えたキャパシタ２を、上下２段に配置するとともに各段に６個配置し、これらキャパシタ２を電気的に接続してなる蓄電装置１Ａであって、上下のキャパシタ２，２は正極端子と負極端子との嵌合によって電気的に接続され、上下のキャパシタ２，２の嵌合した正極端子と負極端子を貫通させるとともにキャパシタ２を位置決めする中間プレート５０と、上段のキャパシタ２の一方の端子に電気的に接続されるアッパープレート２０と、下段のキャパシタ２の一方の端子に電気的に接続されるロアプレート７０と、を備え、全てのキャパシタ２がアッパープレート２０とロアプレート７０との間に挟装されている。 （もっと読む）

【課題】 基板上に組込まれた状態の電解コンデンサについて、その劣化状態を容易に判定できる劣化診断装置および劣化診断方法を提供する。
【解決手段】 透過画像取得部８は、基板２０に対して一方からＸ線を照射し、基板２０を介して対向する他方において、透過したＸ線に応じた透過画像を取得する。画像処理部２は、ＣＣＤ部１６から電気信号を受けて、基板２０の透過画像を生成し、透過画像の中から画像の濃淡の程度に応じてＸ線が透過した領域（透過領域）と透過しなかった領域（不透過領域）とに２値化する。演算部４は、２値化された透過画像に基づいて、診断対象の電解コンデンサにおいて電解液が存在する領域を設定し、その設定した領域に含まれる不透過領域の面積、すなわち電解液の残存量を算出する。そして、演算部４は、電解液の残存量が所定の基準値以上であるか否かに応じて、劣化状態を判定する。 （もっと読む）

【課題】 デラミネーションの発生を低減し、かつ高い寸法精度を有する電子部品の製造方法を提供すること。
【解決手段】第１のセラミックグリーンシートと第２のセラミックグリーンシートとを積層して加熱することにより積層グリーンシートを得る工程Ａと、積層グリーンシート上に導体層を形成し、これを複数枚、積層して加熱することにより積層体を得る工程Ｂと、積層体を焼成してセラミック電子部品を得る工程Ｃと、を含むセラミック電子部品の製造方法であって、第１のセラミックグリーンシートは、工程Ａおよび工程Ｂにおける加熱に際して溶融状態となる溶融成分を含有しており、且つ溶融成分の融点をＭ℃、工程Ａにおける加熱温度をＴ℃、工程Ａにおいて積層グリーンシートがＭ℃以上の温度に保持される時間をｔ秒としたとき、関係式“３≦ｔ×（Ｔ−Ｍ）≦２００”を満たすことを特徴とする電子部品の製造方法。 （もっと読む）