【課題】高効率でしかも高精度にグリーンシートを積層可能なグリーンシート積層装置および積層型電子部品の製造装置を提供すること。
【解決手段】シート積層位置に配置される積層テーブル８０の上で、第１ヘッド４２から受け渡されたグリーンシート１０ａの第１積層位置と、第２ヘッド４４から受け渡されたグリーンシート１０ｂの第２積層位置との搬送位置ズレを検出する搬送ズレ検出手段７２と、搬送ズレ検出手段７２で検出された搬送位置ズレのデータに基づき、テーブル旋回機構３６に対する第１テーブル３２の相対位置を調節し、搬送位置ズレが小さくなるようにする制御手段７０とを有するグリーンシート積層装置である。 （もっと読む）

【課題】短い測定時間で、精度よく漏れ電流を測定可能なコンデンサＣ０漏れ電流測定方法および測定装置を提供する。
【解決手段】リニアフィーダ１と、分離供給部２と、ワーク収納孔４が等間隔で形成された円形の搬送テーブル３と、複数の充電ステージ６と、測定前充電ステージ１０と、測定ステージ７とを備える。複数の充電ステージ６に順次ワークを搬送して、ワーク内の誘電吸収因子Ｄを十分に充電した後、測定前充電ステージ１０でワーク内の主容量Ｃをフル充電する。その後、測定ステージ７までワークを搬送する間に、主容量Ｃに過剰に充電した電荷を絶縁抵抗Ｒ１を介して放電する。その後、測定ステージ７にワークが到達すると漏れ電流測定を行う。測定前充電ステージ１０と測定ステージ７との間の放電期間を最適化することにより、ワークに充電を開始してから漏れ電流測定を行うまでの時間を短縮でき、漏れ電流測定の効率向上が図れる。 （もっと読む）

【課題】電気化学デバイスの運転時の動的な劣化を加速させる劣化加速試験装置及びその方法を提供する。
【解決手段】劣化加速試験装置１は、燃料電池１００と、交流インピーダンス測定装置２００と、交流電流印加装置３００と、制御部４００と、を備える。制御部４００は、交流インピーダンス測定装置２００を制御して、燃料電池１００の交流インピーダンスを測定する。測定結果から、制御部４００は、測定時に印加した交流電流の印加周波数に対する前記交流インピーダンスの虚数成分の複数の極大値を判別し、前記複数の極大値に対応する複数の極大周波数を取得する。そして、制御部４００は、交流電流印加装置３００を制御して、取得した極大周波数の交流電流を重畳して燃料電池１００に印加する。 （もっと読む）

【課題】特に高出力用途向け蓄電デバイスの設計において、蓄電デバイス内部の反応均一性を評価する方法、及び評価する治具を提供することにある。
【解決手段】正極集電体と正極電極層から構成される正極、負極集電体と負極電極層から構成される負極、及び電解質を具備した蓄電デバイスの設計において、正極集電体の厚さと形状と電子伝導度、負極集電体の厚さと形状と電子伝導度、正極電極層厚さと電子伝導度、及び負極電極層の厚さ電子伝導度が反応分布に与える影響を検討する場合に、正極電極層と負極電極層の間に電子伝導性層を介した電子伝導モデルを用い、前記正極あるいは及び負極の電圧分布を測定することを特徴とする電圧分布の評価方法、及び複数本の電圧測定プローブを均等な圧力で同時に接触させて電極表面上の電圧を測定することを特徴とする電圧分布の評価治具。 （もっと読む）

【課題】固体電解コンデンサのインピーダンスの測定高速化と高精度化の両立が困難という課題を解決し、インピーダンスを極めて短時間で、かつ精度良く測定できるコンデンサの検査装置及びこれを用いた検査方法を提供することを目的とする。
【解決手段】下面に陽極端子と陰極端子が設けられた４端子構造のコンデンサの検査装置であって、マイクロストリップライン４とグランド５を形成した基板３と、この基板３上に設けた測定部１と、４端子回路網を構成したネットワークアナライザ１２からなり、上記測定部１内のマイクロストリップライン４ならびにグランド５に上記コンデンサ２の４つの端子と夫々当接して信号を入出力するためのピン状の測定端子を植設した構成により、簡単な構成で不要な抵抗等のインピーダンス発生がなく、極めて短時間で、かつ精度良くＥＳＬを測定することができる。 （もっと読む）

【課題】金属ケース内面にアルミニウム酸化皮膜が形成されている場合においても、確実に電極箔と金属ケース間の短絡の有無を検査できるようにする。
【解決手段】アルミニウム電解コンデンサ１のコンデンサ素子２に含まれている電極箔と金属ケース３間の短絡の有無を検査するにあたって、金属ケース３と電極箔のリード端子（例えば陽極リード端子２ａ）との間に、バイアス電源１１より金属ケース３の内面に形成されている酸化皮膜（Ａｌ_２Ｏ_３）を破壊し得る直流バイアス電圧を印加した状態で、インピーダンス測定手段（例えばＬＣＲメータ）１２にて金属ケース３と上記リード端子２ａ間のインピーダンスを測定して、電極箔と金属ケース３間の短絡の有無を検査する。 （もっと読む）

【課題】自動車用等に使用される金属化フィルムコンデンサに関し、高温で漏れ電流が大きくなる可能性があるものを、常温の検査において容易にスクリーニングすることが可能な検査方法を提供することを目的とする。
【解決手段】金属化フィルム１の単位厚さ当たりの電圧が２５０Ｖ／μｍ以上となる電圧を印加して常温で漏れ電流を測定し、この結果に基づいて、高温で漏れ電流が大きくなる可能性のあるものを排除するようにした方法により、常温での検査においても高温での検査と同様の結果が得られるため、高温で漏れ電流が大きくなる可能性があるものについても精度の良い判定を行ってスクリーニングすることができる。 （もっと読む）

【課題】コンデンサ素体の外表面と信号用内部電極層との間のギャップ異常の有無を容易に判断することが可能な貫通コンデンサ、及びこのような貫通コンデンサの製造方法を提供する。
【解決手段】貫通コンデンサ１では、信号用内部電極層６において、誘電体層８の積層方向から見て、接地用内部電極層７と互いに対向する対向部分６ａに、接地電極４に向かって突出する凸部１０が設けられている。そのため、接地電極４が形成された端面２ｂ，２ｂから信号用内部電極層６までのギャップ量Ｇに異常がある場合、凸部１０と接地電極４とが接触し、接地電極４と端子電極３とがショートすることとなる。したがって、この貫通コンデンサ１では、ショート不良の有無に基づいて、上記ギャップ量Ｇの異常を容易に検出することができる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、電解コンデンサの半ショート状態のものをリフロー前に高速で合否の判断をする検査装置を提供することを目的とする。
【解決手段】異なった定電流を出力するための切り替えスイッチ４を有した定電流電源部５と、この定電流電源部５の電流をコンデンサに通電するための接続端子７，８と、接続端子７，８を短絡または開放するスイッチング素子よりなる短絡スイッチ９と、上記接続端子７の電圧を測定する電圧回路１０と、これらを制御するシーケンサ１６等の制御部１９を含む構成からなり、上記接続端子７，８に測定するコンデンサ６を接続し、そのコンデンサ容量に応じてスイッチ４を選択して定電流電源部５から電流Ｉを流してコンデンサを充電し、電圧の上昇または電圧上昇時間によりショートの合否判定を行なう検査装置とするものである。 （もっと読む）

【課題】組電池等の蓄電装置の異常を検出する。
【解決手段】組電池１００の各ブロック毎に、所定の電圧に達するタイミングを比較器１４０−１〜１４０−ｎで検出する。判定部１６０は、所定の電圧に達するタイミングにおける電流を検出し、各ブロック毎の代表電流値を算出する。各ブロック毎の代表電流値の偏差をしきい値と比較し、偏差が大きい場合に短絡や微小短絡、ＩＲ（内部抵抗）上昇、容量低下等の異常が生じていると判定する。 （もっと読む）

【課題】騒音の低減が可能な積層セラミック・コンデンサの実装構造を提供する。
【解決手段】積層セラミック・コンデンサ１９と積層セラミック・コンデンサ２１はそれぞれ両端に１対の外部端子２０ａ、２０ｂ、２２ａ、２２ｂを具備する。外部端子を結ぶ中心軸３５、３７が所定の交差角度Ａを形成するように外部端子２０ａ、２２ａを直接ハンダ・フィレット２３で接合する。外部端子２０ａ、２２ａは前記プリント配線基板の表面から離隔させて外部端子２０ｂ、２２ｂをプリント配線基板に直接接続する。この構成により積層セラミック・コンデンサの振動が相互に打ち消し合い振動が軽減する。 （もっと読む）

【課題】欠陥率を低くするためにプリント配線アセンブリ上のタンタルコンデンサ１２を調整する方法が開示される。
【解決手段】この方法によって、試験されるアセンブリ上の各々のコンデンサ１２が試験中に同じ調整レベルにさらされる。タンタルコンデンサ１２を調整するため、サージ電流が制御された状態でコンデンサ１２に誘導される。電圧レベル、タイミングおよび電流レベルは試験を行うために使用される回路１０によって設定される。システムの用途でコンデンサ１２と共に使用されるものと同じ回路が、調整プロセス中のタンタルコンデンサ試験回路１０にも使用される。 （もっと読む）

【課題】設計者の経験や勘に依存せず簡便に対象とするキャパシタ等価回路の定数設定を行えるようにする。
【解決手段】静電容量Ｃ、内部抵抗Ｒ、定格電圧Ｖ_f とするキャパシタから下限とする放電効率Ｐ_min のときの放電電流で放電開始する固定抵抗を負荷として放電を行い、基準とする放電効率Ｐ_s のときの放電時間ｔ_s のＮ分の１の放電時間で測定した電圧での時定数を求めて該時定数となる抵抗Ｒ₁ とキャパシタＣ₁ の値を設定し、次に放電時間ｔ_s で測定した電圧での時定数を求めて該時定数となる抵抗Ｒ₂ とキャパシタＣ₂ の値、及び放電時間ｔ_s の放電時間で測定した電圧での時定数を求めて該時定数となる抵抗Ｒ₃ とキャパシタＣ₃ の値を順次設定して、シミュレーションした値と測定した値との差を加減して設定した値の調整を行う。 （もっと読む）

【課題】キャパシタの充電に関し、その制御の簡略化とともに充電に伴う電力消費を低減する。
【解決手段】電気二重層キャパシタ（キャパシタＣ、Ｃ１〜Ｃｎ）の充電装置（２）であって、電気二重層キャパシタの充電電圧が所定値に到達した場合、前記電気二重層キャパシタの充電電流を分流させるバイパス手段（バイパス回路部２４、２４１〜２４ｎ）と、前記電気二重層キャパシタに流す充電電流に異なった電流値を設定する複数の制御信号を発生する制御信号発生手段（制御信号生成部２０）と、前記制御信号発生手段に発生させた前記制御信号を、前記電気二重層キャパシタの充電電圧が所定値に到達したか否かにより選択する制御信号選択手段（制御信号選択部２２）と、前記制御信号選択手段で選択された前記制御信号により設定される電流値に前記電気二重層キャパシタに流す充電電流を制御する制御手段（充電制御部１６）とを備えている。 （もっと読む）

【課題】制御装置に組み込まれた電解コンデンサを回路から取り外さず外部から劣化診断ができ、また、制御装置内の複数個の被診断コンデンサを短時間に効率よく診断を自動的に行う電解コンデンサ劣化診断システムおよび電解コンデンサ劣化診断方法を提供する。
【解決手段】複数の異なる誘電正接の電解コンデンサ２ｓを用いて、単体での誘電正接ｔａｎδｓとそれぞれの構成回路３に搭載された状態での誘電正接ｔａｎδｓｍとの相関関係から推定式を構成回路３毎にそれぞれ予め求めて記憶し、構成回路３に搭載された状態で被診断電解コンデンサ２の静電正接ｔａｎδｍを測定し、測定値とその構成回路３を特定する情報から被診断電解コンデンサ２単体時の誘電正接ｔａｎδを推定式に基づいて推定し、予め記憶している劣化判定値と比較することにより劣化度を診断する。 （もっと読む）

【課題】コストの上昇や、美観および信頼性の低下を招くことなく、プローブからのノイズの侵入を効果的に抑制できるアクティブプローブを備えた電気特性検査装置を提供する。
【解決手段】コンデンサ２１に所定の電圧を印加する電流制限回路１に接続され、その先端がコンデンサ２１の一方の電極に接続する第１測定端子２２Ａと、コンデンサ２１の漏れ電流を検出する漏れ電流検出回路３１と、この漏れ電流検出回路３１に接続され、その先端がコンデンサ２１の他方の電極に接続する第２測定端子２２Ｂと、を備え、測定端子２２Ａの直近に、電流制限回路１を配置すると共に、測定端子２２Ｂの直近に、漏れ電流検出回路３１を配置する。 （もっと読む）

【課題】良質な電子部品にクラック等を発生させることなく、スクリーングを簡便に行なうことが可能な電子部品の製造方法を提供すること。
【解決手段】被検査体７の端子電極５，６を、誘電体層２を構成する誘電体材料のキュリー温度以上の温度に発熱させる。直流電源１１に接続された通電プローブ１３を端子電極５，６それぞれに接触させて、通電プローブ１３に通電する。これにより、端子電極５，６にも通電され、端子電極５，６は自らが有する電気抵抗により発熱する。そして、被検査体７の端子電極５，６を、誘電体層２を構成する誘電体材料のキュリー温度以上の温度とした状態で、被検査体７の絶縁抵抗ＩＲを測定する。絶縁抵抗ＩＲは、端子電極５，６に測定プローブを接触させ、測定プローブ間に直流電源から直流電圧を印加して、端子電極５，６間に通電し、測定器により測定する。 （もっと読む）

【課題】電歪クラックの発生を精度良く検出することによりスクリーングを適切に行ない、製造歩留まりを向上させることが可能な電子部品の製造方法を提供すること。
【解決手段】積層セラミックスコンデンサ１（被検査体）について、耐電圧検査及びクラック検査を行う（ステップＳ１３）。ここでは、積層セラミックスコンデンサの定格電圧を超える所定の試験電圧を印加し、絶縁破壊又は破損がないかを調べる（耐電圧検査）。さらに、被検査体に電歪クラックが発生したか否かを調べる（クラック検査）。これらの結果に基づいて、被検査体をスクリーニングする。クラック検査では、まず、耐電圧試験として上記所定の試験電圧を印加する際に、被検査体の積層方向での変位量を測定する。そして、被検査体７の測定面の略中央部Ｐにおける変位量の変化率に基づいてクラックの有無を判断してスクリーニングする。 （もっと読む）

予め設定した期間にわたって、プログラムされた電圧に対して、少なくとも１つの部品を充電、保持、および／または放電するステップと、各部品が充電、保持、および放電されている間に、各被試験部品の品質に対応する、少なくとも１つの値を定期的に測定するステップとを含む、多層セラミックコンデンサのような少なくとも１つの部品を試験するための方法。少なくとも１つの値は、電圧値、電流値、漏れ電流値、静電容量値、散逸率値、およびあらゆるそれらの組み合わせから成る群より選択することができる。曲線は、プログラムされた電圧に対して、各部品が、充電、保持、および放電されている間に収集した、定期的に測定した値からデジタル化することができる。
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【課題】直流コンデンサの劣化予測の信頼性の高い直流コンデンサ試験装置を提供すること。
【解決手段】高周波インバータ３の電力を出力する耐圧トランス４の２次コイルと供試直流コンデンサ１および２を直列に接続し、その供試直流コンデンサ１および２の各コンデンサに直流電源を接続し、供試直流コンデンサ１および２に直流電圧を印加した状態で高周波インバータ３による高周波電圧を印加する。これにより供試直流コンデンサ１および２に使用状態に則したリップル分を含む直流電圧を印加して試験することができる。 （もっと読む）