電解コンデンサ劣化診断システムおよび電解コンデンサ劣化診断方法
【課題】制御装置に組み込まれた電解コンデンサを回路から取り外さず外部から劣化診断ができ、また、制御装置内の複数個の被診断コンデンサを短時間に効率よく診断を自動的に行う電解コンデンサ劣化診断システムおよび電解コンデンサ劣化診断方法を提供する。
【解決手段】複数の異なる誘電正接の電解コンデンサ２ｓを用いて、単体での誘電正接ｔａｎδｓとそれぞれの構成回路３に搭載された状態での誘電正接ｔａｎδｓｍとの相関関係から推定式を構成回路３毎にそれぞれ予め求めて記憶し、構成回路３に搭載された状態で被診断電解コンデンサ２の静電正接ｔａｎδｍを測定し、測定値とその構成回路３を特定する情報から被診断電解コンデンサ２単体時の誘電正接ｔａｎδを推定式に基づいて推定し、予め記憶している劣化判定値と比較することにより劣化度を診断する。
【解決手段】複数の異なる誘電正接の電解コンデンサ２ｓを用いて、単体での誘電正接ｔａｎδｓとそれぞれの構成回路３に搭載された状態での誘電正接ｔａｎδｓｍとの相関関係から推定式を構成回路３毎にそれぞれ予め求めて記憶し、構成回路３に搭載された状態で被診断電解コンデンサ２の静電正接ｔａｎδｍを測定し、測定値とその構成回路３を特定する情報から被診断電解コンデンサ２単体時の誘電正接ｔａｎδを推定式に基づいて推定し、予め記憶している劣化判定値と比較することにより劣化度を診断する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電解コンデンサの劣化度を診断する電解コンデンサ劣化診断システムおよび電解コンデンサ劣化診断方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の電解コンデンサの劣化度診断は、電解コンデンサに流れる電流リップル、および電圧リップルの大小により劣化度を診断している（たとえば、特許文献１参照）。
また、電解コンデンサ単体の状態で、予め電解コンデンサの特性である静電容量、ｔａｎδ、インピーダンスのいずれかを時系列に測定したデータを準備し、被診断電解コンデンサの測定値と比較し、電解コンデンサの劣化度を診断するものもある（例えば、特許文献２参照）。
【０００３】
図５は、第１従来技術を示す電解コンデンサの劣化診断システムの機能ブロック図である。
図５において、５２は順変換回路、５３は逆変換回路、５４は電解コンデンサ、５５は電流検出用ホール素子、５６ａは電圧検出部、５６ｂは電流検出部、５７ａ、５７ｂは比較器、５８ａ、５８ｂはＡＮＤである。
以下、図５を用いて、第１従来技術である電解コンデンサの劣化診断システムの機能を説明する。
電圧検出部５６ａは、電圧リップルを検出し、電流検出部５６ｂは、電流リップルを検出している。比較器５７ａは、検出した電圧リップル値と電圧リップル判定値を比較し、比較器５７ｂは、検出した電流リップル値と電流リップル判定値を比較している。
【０００４】
図６は、第２従来技術を示す電解コンデンサの劣化診断システムの構成図である。
図６において、６２は被診断電解コンデンサ、６３は計測部、６４は劣化判定部、６５は時系列に測定された測定値のデータベース、６６は診断部、６７は判定結果の表示部である。
以下、図６を用いて、第２従来技術である電解コンデンサの劣化診断システムの動作を説明する。
計測部６３で単体の電解コンデンサ６２の静電容量、ｔａｎδ、漏れ電流、インピーダンスのいずれかの電気的特性値を計測した結果を時系列的にデータベース６５に記憶する。
劣化判定部６４は、被測定電解コンデンサ６２を単体の状態で測定し、測定値とデータベース６５に記憶された計測結果と比較して電解コンデンサの劣化を判定している。
【０００５】
このように、従来の電解コンデンサ劣化診断システムでは、電圧と電流のリップル値を判定値と比較して診断している。あるいは、電解コンデンサが単体の状態で測定し、時系列の記録されたデータと比較し、判定しているものもある。
【特許文献１】特開平７−２２２４３６号公報（第２−３頁、第１図）
【特許文献２】特開２００２−２６７７０８号公報（第３頁、第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、従来の電解コンデンサ劣化診断システムは、電解コンデンサ単体において診断するもので、制御装置に組み込まれている状態では、診断不可能であるという問題があった。
本発明はこのような問題点に鑑みてなされたものであり、制御装置に組み込まれた電解コンデンサを回路から取り外すことなく、制御装置の外部から劣化診断を可能とする電解コンデンサ劣化診断システムおよび電解コンデンサ劣化診断方法を提供することを目的とする。さらに、制御装置内の複数個の被診断コンデンサを短時間に効率よく自動的に診断を行う電解コンデンサ劣化診断システムおよび電解コンデンサ劣化診断方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記問題を解決するため、本発明は、次のようにしたのである。
請求項１に記載の発明は、被診断電解コンデンサを有する複数の構成回路を備えた制御装置と、前記被診断電解コンデンサの誘電正接を測定する計測器と、前記被診断電解コンデンサの誘電正接の劣化判定値を記憶し、前記被診断電解コンデンサの誘電正接と前記劣化判定値を比較して劣化度を判定するパーソナルコンピュータと、を備えた電解コンデンサ劣化診断システムにおいて、前記複数の構成回路が有する前記被診断電解コンデンサの誘電正接測定用の出力部を前記制御装置に有し、前記被診断電解コンデンサの誘電正接測定時に前記出力部と接続する測定専用治具と、前記測定専用治具を介して接続される前記複数の構成回路を切り替えて前記計測器の測定入力部に出力する入力切替装置と、を備える構成とし、前記パーソナルコンピュータは、予め、複数の異なる誘電正接の電解コンデンサについて単体で測定した誘電正接と前記複数の構成回路に装着して前記計測器で測定した誘電正接に基づいて、前記単体での誘電正接とそれぞれの前記構成回路に搭載された状態での誘電正接との相関関係から推定式を前記構成回路毎にそれぞれ求めて記憶し、前記計測器は、前記入力切替装置からの信号に基づいて前記構成回路に搭載された状態での前記被診断電解コンデンサの静電正接を測定し、前記パーソナルコンピュータは、前記計測器で測定した前記被診断電解コンデンサの誘電正接と測定時の前記構成回路を特定する情報から前記被診断電解コンデンサ単体時の誘電正接を前記推定式に基づいて推定し、前記劣化判定値と比較することにより劣化度を診断することを特徴としている。
【０００８】
また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の電解コンデンサ劣化診断システムにおいて、前記パーソナルコンピュータは、前記入力切替回路に対して前記測定器へ出力する前記構成回路を選択する動作と、前記測定器に誘電正接の測定開始及び終了の指示および選択した前記構成回路と誘電正接測定値から成るデータを送信する指令を行い前記データを記憶する動作と、前記データと前記推定式に基づいて前記被診断電解コンデンサ単体時の誘電正接を推定し、前記劣化判定値と比較して劣化判定する動作と、を自動的に前記構成回路の数だけ実行するプログラムを備えたことを特徴としている。
【０００９】
また、請求項３に記載の発明は、各仕様の電解コンデンサについて単体での誘電正接の劣化判定値を記憶し、被診断電解コンデンサの誘電正接と前記劣化判定値を比較して劣化度を判定する手順を備え、前記被診断電解コンデンサを有する複数の構成回路を備えた制御装置における電解コンデンサ劣化診断方法において、予め、複数の異なる誘電正接の電解コンデンサをサンプルとして用い単体で第１の誘電正接を測定するステップと、予め、前記複数の異なる誘電正接の電解コンデンサを前記構成回路に装着した状態で第２の誘電正接を測定するステップと、予め、全ての前記構成回路について、前記第１の誘電正接と前記第２の誘電正接との相関関係から推定式を求めて記憶するステップと、前記被診断電解コンデンサの誘電正接を前記構成回路に装着されたままの状態で測定するステップと、測定した前記被診断電解コンデンサの誘電正接および測定時の前記構成回路を特定する情報から前記被診断電解コンデンサ単体時の誘電正接を前記推定式に基づいて推定するステップと、推定した前記被診断電解コンデンサ単体時の誘電正接と前記劣化判定値と比較することにより劣化度を診断するステップと、を備えたことを特徴としている。
【００１０】
また、請求項４の発明は、請求項３に記載の電解コンデンサ劣化診断方法において、前記被診断電解コンデンサの誘電正接を前記構成回路に装着されたままの状態で測定する前記ステップ、測定した前記被診断電解コンデンサの誘電正接および測定時の前記構成回路を特定する情報から前記被診断電解コンデンサ単体時の誘電正接を前記推定式に基づいて推定する前記ステップ、推定した前記被診断電解コンデンサ単体時の誘電正接と前記劣化判定値と比較することにより劣化度を診断する前記ステップ、を予め定めた順番に従って、前記被診断電解コンデンサを搭載した前記構成回路の数だけ自動的に繰り返すステップを有することを特徴としている。
【発明の効果】
【００１１】
請求項１に記載の発明によると、制御装置に組み込まれた電解コンデンサを回路から取り外すことなく、制御装置の外部から劣化診断を可能とする電解コンデンサ劣化診断システムが得られる。
【００１２】
また、請求項２に記載の発明によると、請求項１に記載の発明の効果に加え、制御装置内の複数個の被診断コンデンサを短時間に効率よく自動的に診断を行う電解コンデンサ劣化診断システムが得られる。
【００１３】
また、請求項３に記載の発明によると、制御装置に組み込まれた電解コンデンサを回路から取り外すことなく、制御装置の外部から劣化診断を可能とする電解コンデンサ劣化診断方法が得られる。
【００１４】
また、請求項４に記載の発明によると、請求項３に記載の発明の効果に加え、制御装置内の複数個の被診断コンデンサを短時間に効率よく自動的に診断を行う電解コンデンサ劣化診断方法が得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明の方法の具体的実施例について、図に基づいて説明する。
【実施例１】
【００１６】
図１は、本発明の第１実施例を示す電解コンデンサ劣化診断システムの構成図である。
図１において、１は制御装置、２は 被診断電解コンデンサ、３は構成回路、４は測定用専用治具、５は入力切替装置、６は電解コンデンサの誘電正接を測定するＬＣＲメータなどの測定器、７は パーソナルコンピュータ、８は出力端子、９は測定ケーブル、１０はＲＳ２３２Ｃの通信ケーブル、１１は通信用端子、１５は出力部である。
以下、図１を用いて、本実施例の電解コンデンサ劣化診断システムの構成を説明する。
制御装置１は、被診断電解コンデンサ２が組み込まれた構成回路３を複数備えている。
測定用専用治具４は、複数の構成回路３と入力切替装置５の接続を容易にするものである。
入力切替装置５の出力端子８は測定ケーブル９により測定器６に入力するようになっている。
パーソナルコンピュータ７は、ＲＳ２３２Ｃの通信ケーブル１０により、測定器６の通信用端子１１と、入力切替装置５の通信用端子１１に繋がっている。また、パーソナルコンピュータ７は、仕様の異なる被診断電解コンデンサ２毎に、それぞれ単体での誘電正接ｔａｎδの劣化判定値を記憶している。
【００１７】
図２は、本発明の第１実施例を示す電解コンデンサ劣化診断方法のフローチャートであり、制御装置１内に組み込まれた被診断電解コンデンサ２の誘電正接ｔａｎδを推定する処理手順を示すフローチャートである。
以下、図１、２を用いて本発明の電解コンデンサ劣化診断方法について順を追って説明する。尚、誘電正接の記号として、被診断電解コンデンサ２の単体時の誘電正接をｔａｎδ、被診断電解コンデンサ２を構成回路３に搭載した状態で測定した誘電正接をｔａｎδｍ、複数の異なる誘電正接の電解コンデンサをサンプルとして用いその単体時の誘電正接をｔａｎδｓすなわち、ｎ個の時はそれぞれｔａｎδｓ１、ｔａｎδｓ２・・・ｔａｎδｓn、複数の異なる誘電正接の電解コンデンサをサンプルとして用い構成回路３に搭載した状態で測定した誘電正接をｔａｎδｓｍすなわち、ｎ個の時はそれぞれｔａｎδｓｍ１、ｔａｎδｓｍ２・・・ｔａｎδｓｍnとする。
先ず、予め、ステップＳＴ１で、複数の異なる誘電正接の電解コンデンサをサンプルとして用い単体で誘電正接ｔａｎδｓを測定し、ステップＳＴ２で、測定用専用時具４で制御装置１と入力切替装置５を接続し、全ての構成回路３に対してそれぞれ、入力切替装置５の端子出力８から測定器６で、複数の異なる誘電正接の電解コンデンサについて誘電正接ｔａｎδｓｍを測定し、ステップＳＴ３で、全ての構成回路３各々について、誘電正接ｔａｎδｓと誘電正接ｔａｎδｓｍとの相関関係からｔａｎδの推定式を求めて記憶する。すなわち、予め、サンプル電解コンデンサ単体の ｔａｎδsと構成回路３の容量、抵抗と 測定専用治具４と入力切替装置５の抵抗の影響を受けた制御装置１の外部の測定結果であるｔａｎδｓｍを複数個測定し、その相関関係から被診断電解コンデンサ２のｔａｎδと制御装置外部の測定結果ｔａｎδｓｍに関するｔａｎδの推定式を次式のように作成する。
ｔａｎδの推定式＝（ｔａｎδｓｍ−Ｄ）／Ａ、但し、ＤおよびＡは定数である。
尚、このようにして作成した推定式は、実験によって、寄与率が１に近い（通常０．９８以上）ことを確認しており、統計的に信頼できる推定式である。
次に、ステップＳＴ４で、測定用専用時具４で制御装置１と入力切替装置５を接続し、入力切替装置５の端子出力８から測定器６で、被診断電解コンデンサ２の誘電正接を構成回路３に装着されたままの状態で測定する。この被診断電解コンデンサ２単体の ｔａｎ δは、構成回路の容量、抵抗と 測定専用治具４と入力切替装置５の抵抗の影響をうけて、制御装置外部の測定結果であるｔａｎδmとなる。
次に、ステップＳＴ５で、測定した被診断電解コンデンサ２の誘電正接ｔａｎδｍおよび測定時の構成回路３を特定する構成回路番号などの情報から被診断電解コンデンサ２単体時の誘電正接ｔａｎδをｔａｎδの推定式に代入して求める。
次に、ステップＳＴ６で、推定した被診断電解コンデンサ２単体時の誘電正接ｔａｎδと予め記憶している対象とするコンデンサの劣化判定値と比較することにより劣化度を診断する。
次にステップＳＴ７で、診断結果を画面表示あるいは印刷出力する。
以上のステップＳＴ４からステップＳＴ７を、被診断電解コンデンサ２を搭載している構成回路３の数だけ繰り返す。
【００１８】
図３は、本発明の第１実施例を示す電解コンデンサ劣化診断システムにおける推定式作成方法の説明図である。
図３において、２ｓはサンプル電解コンデンサ、１３はサンプル電解コンデンサ単体で測定した誘電正接ｔａｎδｓのデータ、１４は入力切替装置５の出力端子８で測定したサンプル電解コンデンサ２ｓの誘電正接ｔａｎδｓｍのデータ、１６は誘電正接ｔａｎδの構成回路毎の推定式である。尚、図１と同じ説明符号のものは図１と同じ構成要素を示すものとし、その説明は省略する。
以下、図３を用いて本実施例の電解コンデンサ劣化診断システムにおける誘電正接ｔａｎδの推定式の作成方法を説明する。
先ず、異なる誘電正接ｔａｎδsのサンプル電解コンデンサ２ｓを複数個（例えば、ｎ個のＣ１、Ｃ２、・・・Ｃｎ）用意し、測定器６で誘電正接を測定し、サンプル電解コンデンサ２ｓ単体の誘電正接ｔａｎδsのデータ１３を複数個（ｔａｎδｓ１、ｔａｎδｓ２、・・・ｔａｎδｓｎ）を得る。
次に、制御装置１の被診断電解コンデンサ２を有する構成回路３の被診断電解コンデンサ２の取付位置に、先に単体で誘電正接ｔａｎδsを測定したサンプル電解コンデンサ２ｓ（Ｃ１、Ｃ２、・・・Ｃｎ）を順に取付け、制御装置１の構成回路３の出力部と入力切替装置５を接続する測定用専用治具４を装着し、測定器６により制御装置１に実装した状態で測定した誘電正接ｔａｎδｓｍのデータ１４を複数個（ｔａｎδｓｍ１、ｔａｎδｓｍ２、・・・ｔａｎδｓｍｎ）得る。
サンプル電解コンデンサ２ｓ単体のｔａｎδsのデータ１３（ｔａｎδｓ１、ｔａｎδｓ２、・・・ｔａｎδｓｎ）と、測定器６により制御装置１に実装した状態で測定したｔａｎδｓｍのデータ１４（ｔａｎδｓｍ１、ｔａｎδｓｍ２、・・・ｔａｎδｓｍｎ）の相関関係から、被診断電解コンデンサ２を制御装置に実装した状態で測定した誘電正接ｔａｎδｍから被診断電解コンデンサ２単体時での誘電正接ｔａｎδを推定する推定式１６を求める。これを構成回路３の数だけ繰り返し、構成回路３の識別番号とともにその推定式を記憶する。
このように、本実施例に係る電解コンデンサ劣化診断システムは、サンプルコンデンサ２ｓ単体でのｔａｎδｓと構成回路３および測定用専用ケーブル４を介して実測したｔａｎδｍにより推定式１６を求めているので、いかなる構成回路３においても被診断電解コンデンサ２のｔａｎδを推定することができ、前述したように寄与率が１に近いので、信頼度の高い推定が可能になるのである。
尚、本実施例では、複数の異なる誘電正接の電解コンデンサをサンプルとして用いたが、１つの電解コンデンサに直列に抵抗、例えば０．１オーム〜１オーム程度を接続して、単体のｔａｎδを変更したものをサンプルとして用いてもよい。
【実施例２】
【００１９】
本実施例は第１実施例における電解コンデンサ劣化診断の処理手順のうち、ステップＳＴ４からステップＳＴ７を被診断電解コンデンサ２を搭載した構成回路３の数だけ自動的に繰り返し実施するようにしたものである。
図４は、本発明の第２実施例を示す電解コンデンサ劣化診断方法の処理手順の説明図である。
図４において、１２は記憶装置、１８は被診断電解コンデンサのｔａｎδ推定部、２０は劣化判定部、２１は出力部、２２はプログラム、２３は回路切替制御部、２４は測定オン／オフおよびデータ送信の指令、２６は構成回路と測定データ、２７は構成回路毎の推定式、２８は電解コンデンサの仕様毎の劣化判定値である。尚、図１と同じ説明符号のものは、図１と同じ構成要素を示すものとし、その説明は省略する。
以下、図４を用いて本実施例の電解コンデンサ劣化診断方法の処理手順を説明する。
先ず、診断をスタートすると、パーソナルコンピュータ７の プログラム２２により、回路切替制御がなされ最初の構成回路３を選択し、測定器６に測定オン／オフおよびデータ送信の指令２４ を行う。測定器６により測定された誘電正接のデータは、構成回路３毎に付けられた構成回路番号２５とともに構成回路と測定データ２６として、パーソナルコンピュータ７の記憶装置１２に記憶される。
次に、被診断電解コンデンサｔａｎδ推定部１８は、構成回路と測定データ２６と予め第１実施例で述べた手順で作成され記憶している構成回路毎の推定式２７を読み出し、被診断電解コンデンサ２のｔａｎδを推定する。
次に、劣化判定部２０は、記憶装置１２より電解コンデンサの仕様毎の劣化判定値２８を読み出し、被診断電解コンデンサ２の劣化判定を行う。
以上の動作を自動的に被診断電解コンデンサを搭載した構成回路３の数だけ実行し、出力部２１は、判定結果を画面表示または印刷出力する。
【００２０】
このように、本実施例に係る電解コンデンサ劣化診断システムおよび電解コンデンサ劣化診断方法は、自動的に被診断電解コンデンサ２を搭載した構成回路３の数だけ診断する手順をとるので、短時間に診断することができる。
【産業上の利用可能性】
【００２１】
本発明の電解コンデンサ劣化診断システムおよび電解コンデンサ劣化診断方法は、被診断電解コンデンサと測定点までの様々な測定値を変化させる要因をことごとく含めた条件で推定式を作るという手順をとるため、いかなる構成回路に組み込まれた電解コンデンサにも適用することができて、統計的に高い寄与率を有する推定式を作成可能なため、新製品や既設の制御盤の電解コンデンサに寿命劣化診断機能を組み込むという用途にも適用できる。電解コンデンサを有する新設および既設いずれの制御盤の予防診断装置にも好適である。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の第１実施例を示す電解コンデンサ劣化診断システムの構成図
【図２】本発明の第１実施例を示す電解コンデンサ劣化診断方法のフローチャート
【図３】本発明の第１実施例を示す電解コンデンサ劣化診断システムにおける推定式作成方法の説明図
【図４】本発明の第２実施例を示す電解コンデンサ劣化診断方法の処理手順の説明図
【図５】第１従来技術を示す電解コンデンサの劣化診断システムの機能ブロック図
【図６】第２従来技術を示す電解コンデンサの劣化診断システムの構成図
【符号の説明】
【００２３】
１ 制御装置
２ 被診断電解コンデンサ
２ｓ サンプル電解コンデンサ
３ 構成回路
４ 測定用専用治具
５ 入力切替装置
６ 測定器
７ パーソナルコンピュータ
８ 出力端子
９ 測定ケーブル
１０ 通信ケーブル
１１ 通信用端子
１２ 記憶装置
１３ サンプル電解コンデンサ単体で測定したｔａｎδｓのデータ
１４ 入力切替装置５の出力端子８で測定したｔａｎδｓｍのデータ
１５ 出力部
１６、２７ 構成回路毎の推定式
１８ 被診断電解コンデンサのｔａｎδ推定部
２０、６４ 劣化判定部
２１ 出力部
２２ プログラム
２３ 回路切替制御部
２４ 測定オン／オフおよびデータ送信の指令
２６ 構成回路と測定データ、
２８ 電解コンデンサの仕様毎の劣化判定値
５２ 順変換回路
５３ 逆変換回路
５４ 電解コンデンサ
５５ 電流検出用ホール素子
５６ａ 電圧検出部
５６ｂ 電流検出部
５７ａ、５７ｂ 比較器
５８ａ、５８ｂ ＡＮＤ
６２ 被診断電解コンデンサ
６３ 計測部
６５ データベース
６６ 診断部
６７ 判定結果の表示部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電解コンデンサの劣化度を診断する電解コンデンサ劣化診断システムおよび電解コンデンサ劣化診断方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の電解コンデンサの劣化度診断は、電解コンデンサに流れる電流リップル、および電圧リップルの大小により劣化度を診断している（たとえば、特許文献１参照）。
また、電解コンデンサ単体の状態で、予め電解コンデンサの特性である静電容量、ｔａｎδ、インピーダンスのいずれかを時系列に測定したデータを準備し、被診断電解コンデンサの測定値と比較し、電解コンデンサの劣化度を診断するものもある（例えば、特許文献２参照）。
【０００３】
図５は、第１従来技術を示す電解コンデンサの劣化診断システムの機能ブロック図である。
図５において、５２は順変換回路、５３は逆変換回路、５４は電解コンデンサ、５５は電流検出用ホール素子、５６ａは電圧検出部、５６ｂは電流検出部、５７ａ、５７ｂは比較器、５８ａ、５８ｂはＡＮＤである。
以下、図５を用いて、第１従来技術である電解コンデンサの劣化診断システムの機能を説明する。
電圧検出部５６ａは、電圧リップルを検出し、電流検出部５６ｂは、電流リップルを検出している。比較器５７ａは、検出した電圧リップル値と電圧リップル判定値を比較し、比較器５７ｂは、検出した電流リップル値と電流リップル判定値を比較している。
【０００４】
図６は、第２従来技術を示す電解コンデンサの劣化診断システムの構成図である。
図６において、６２は被診断電解コンデンサ、６３は計測部、６４は劣化判定部、６５は時系列に測定された測定値のデータベース、６６は診断部、６７は判定結果の表示部である。
以下、図６を用いて、第２従来技術である電解コンデンサの劣化診断システムの動作を説明する。
計測部６３で単体の電解コンデンサ６２の静電容量、ｔａｎδ、漏れ電流、インピーダンスのいずれかの電気的特性値を計測した結果を時系列的にデータベース６５に記憶する。
劣化判定部６４は、被測定電解コンデンサ６２を単体の状態で測定し、測定値とデータベース６５に記憶された計測結果と比較して電解コンデンサの劣化を判定している。
【０００５】
このように、従来の電解コンデンサ劣化診断システムでは、電圧と電流のリップル値を判定値と比較して診断している。あるいは、電解コンデンサが単体の状態で測定し、時系列の記録されたデータと比較し、判定しているものもある。
【特許文献１】特開平７−２２２４３６号公報（第２−３頁、第１図）
【特許文献２】特開２００２−２６７７０８号公報（第３頁、第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、従来の電解コンデンサ劣化診断システムは、電解コンデンサ単体において診断するもので、制御装置に組み込まれている状態では、診断不可能であるという問題があった。
本発明はこのような問題点に鑑みてなされたものであり、制御装置に組み込まれた電解コンデンサを回路から取り外すことなく、制御装置の外部から劣化診断を可能とする電解コンデンサ劣化診断システムおよび電解コンデンサ劣化診断方法を提供することを目的とする。さらに、制御装置内の複数個の被診断コンデンサを短時間に効率よく自動的に診断を行う電解コンデンサ劣化診断システムおよび電解コンデンサ劣化診断方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記問題を解決するため、本発明は、次のようにしたのである。
請求項１に記載の発明は、被診断電解コンデンサを有する複数の構成回路を備えた制御装置と、前記被診断電解コンデンサの誘電正接を測定する計測器と、前記被診断電解コンデンサの誘電正接の劣化判定値を記憶し、前記被診断電解コンデンサの誘電正接と前記劣化判定値を比較して劣化度を判定するパーソナルコンピュータと、を備えた電解コンデンサ劣化診断システムにおいて、前記複数の構成回路が有する前記被診断電解コンデンサの誘電正接測定用の出力部を前記制御装置に有し、前記被診断電解コンデンサの誘電正接測定時に前記出力部と接続する測定専用治具と、前記測定専用治具を介して接続される前記複数の構成回路を切り替えて前記計測器の測定入力部に出力する入力切替装置と、を備える構成とし、前記パーソナルコンピュータは、予め、複数の異なる誘電正接の電解コンデンサについて単体で測定した誘電正接と前記複数の構成回路に装着して前記計測器で測定した誘電正接に基づいて、前記単体での誘電正接とそれぞれの前記構成回路に搭載された状態での誘電正接との相関関係から推定式を前記構成回路毎にそれぞれ求めて記憶し、前記計測器は、前記入力切替装置からの信号に基づいて前記構成回路に搭載された状態での前記被診断電解コンデンサの静電正接を測定し、前記パーソナルコンピュータは、前記計測器で測定した前記被診断電解コンデンサの誘電正接と測定時の前記構成回路を特定する情報から前記被診断電解コンデンサ単体時の誘電正接を前記推定式に基づいて推定し、前記劣化判定値と比較することにより劣化度を診断することを特徴としている。
【０００８】
また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の電解コンデンサ劣化診断システムにおいて、前記パーソナルコンピュータは、前記入力切替回路に対して前記測定器へ出力する前記構成回路を選択する動作と、前記測定器に誘電正接の測定開始及び終了の指示および選択した前記構成回路と誘電正接測定値から成るデータを送信する指令を行い前記データを記憶する動作と、前記データと前記推定式に基づいて前記被診断電解コンデンサ単体時の誘電正接を推定し、前記劣化判定値と比較して劣化判定する動作と、を自動的に前記構成回路の数だけ実行するプログラムを備えたことを特徴としている。
【０００９】
また、請求項３に記載の発明は、各仕様の電解コンデンサについて単体での誘電正接の劣化判定値を記憶し、被診断電解コンデンサの誘電正接と前記劣化判定値を比較して劣化度を判定する手順を備え、前記被診断電解コンデンサを有する複数の構成回路を備えた制御装置における電解コンデンサ劣化診断方法において、予め、複数の異なる誘電正接の電解コンデンサをサンプルとして用い単体で第１の誘電正接を測定するステップと、予め、前記複数の異なる誘電正接の電解コンデンサを前記構成回路に装着した状態で第２の誘電正接を測定するステップと、予め、全ての前記構成回路について、前記第１の誘電正接と前記第２の誘電正接との相関関係から推定式を求めて記憶するステップと、前記被診断電解コンデンサの誘電正接を前記構成回路に装着されたままの状態で測定するステップと、測定した前記被診断電解コンデンサの誘電正接および測定時の前記構成回路を特定する情報から前記被診断電解コンデンサ単体時の誘電正接を前記推定式に基づいて推定するステップと、推定した前記被診断電解コンデンサ単体時の誘電正接と前記劣化判定値と比較することにより劣化度を診断するステップと、を備えたことを特徴としている。
【００１０】
また、請求項４の発明は、請求項３に記載の電解コンデンサ劣化診断方法において、前記被診断電解コンデンサの誘電正接を前記構成回路に装着されたままの状態で測定する前記ステップ、測定した前記被診断電解コンデンサの誘電正接および測定時の前記構成回路を特定する情報から前記被診断電解コンデンサ単体時の誘電正接を前記推定式に基づいて推定する前記ステップ、推定した前記被診断電解コンデンサ単体時の誘電正接と前記劣化判定値と比較することにより劣化度を診断する前記ステップ、を予め定めた順番に従って、前記被診断電解コンデンサを搭載した前記構成回路の数だけ自動的に繰り返すステップを有することを特徴としている。
【発明の効果】
【００１１】
請求項１に記載の発明によると、制御装置に組み込まれた電解コンデンサを回路から取り外すことなく、制御装置の外部から劣化診断を可能とする電解コンデンサ劣化診断システムが得られる。
【００１２】
また、請求項２に記載の発明によると、請求項１に記載の発明の効果に加え、制御装置内の複数個の被診断コンデンサを短時間に効率よく自動的に診断を行う電解コンデンサ劣化診断システムが得られる。
【００１３】
また、請求項３に記載の発明によると、制御装置に組み込まれた電解コンデンサを回路から取り外すことなく、制御装置の外部から劣化診断を可能とする電解コンデンサ劣化診断方法が得られる。
【００１４】
また、請求項４に記載の発明によると、請求項３に記載の発明の効果に加え、制御装置内の複数個の被診断コンデンサを短時間に効率よく自動的に診断を行う電解コンデンサ劣化診断方法が得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明の方法の具体的実施例について、図に基づいて説明する。
【実施例１】
【００１６】
図１は、本発明の第１実施例を示す電解コンデンサ劣化診断システムの構成図である。
図１において、１は制御装置、２は 被診断電解コンデンサ、３は構成回路、４は測定用専用治具、５は入力切替装置、６は電解コンデンサの誘電正接を測定するＬＣＲメータなどの測定器、７は パーソナルコンピュータ、８は出力端子、９は測定ケーブル、１０はＲＳ２３２Ｃの通信ケーブル、１１は通信用端子、１５は出力部である。
以下、図１を用いて、本実施例の電解コンデンサ劣化診断システムの構成を説明する。
制御装置１は、被診断電解コンデンサ２が組み込まれた構成回路３を複数備えている。
測定用専用治具４は、複数の構成回路３と入力切替装置５の接続を容易にするものである。
入力切替装置５の出力端子８は測定ケーブル９により測定器６に入力するようになっている。
パーソナルコンピュータ７は、ＲＳ２３２Ｃの通信ケーブル１０により、測定器６の通信用端子１１と、入力切替装置５の通信用端子１１に繋がっている。また、パーソナルコンピュータ７は、仕様の異なる被診断電解コンデンサ２毎に、それぞれ単体での誘電正接ｔａｎδの劣化判定値を記憶している。
【００１７】
図２は、本発明の第１実施例を示す電解コンデンサ劣化診断方法のフローチャートであり、制御装置１内に組み込まれた被診断電解コンデンサ２の誘電正接ｔａｎδを推定する処理手順を示すフローチャートである。
以下、図１、２を用いて本発明の電解コンデンサ劣化診断方法について順を追って説明する。尚、誘電正接の記号として、被診断電解コンデンサ２の単体時の誘電正接をｔａｎδ、被診断電解コンデンサ２を構成回路３に搭載した状態で測定した誘電正接をｔａｎδｍ、複数の異なる誘電正接の電解コンデンサをサンプルとして用いその単体時の誘電正接をｔａｎδｓすなわち、ｎ個の時はそれぞれｔａｎδｓ１、ｔａｎδｓ２・・・ｔａｎδｓn、複数の異なる誘電正接の電解コンデンサをサンプルとして用い構成回路３に搭載した状態で測定した誘電正接をｔａｎδｓｍすなわち、ｎ個の時はそれぞれｔａｎδｓｍ１、ｔａｎδｓｍ２・・・ｔａｎδｓｍnとする。
先ず、予め、ステップＳＴ１で、複数の異なる誘電正接の電解コンデンサをサンプルとして用い単体で誘電正接ｔａｎδｓを測定し、ステップＳＴ２で、測定用専用時具４で制御装置１と入力切替装置５を接続し、全ての構成回路３に対してそれぞれ、入力切替装置５の端子出力８から測定器６で、複数の異なる誘電正接の電解コンデンサについて誘電正接ｔａｎδｓｍを測定し、ステップＳＴ３で、全ての構成回路３各々について、誘電正接ｔａｎδｓと誘電正接ｔａｎδｓｍとの相関関係からｔａｎδの推定式を求めて記憶する。すなわち、予め、サンプル電解コンデンサ単体の ｔａｎδsと構成回路３の容量、抵抗と 測定専用治具４と入力切替装置５の抵抗の影響を受けた制御装置１の外部の測定結果であるｔａｎδｓｍを複数個測定し、その相関関係から被診断電解コンデンサ２のｔａｎδと制御装置外部の測定結果ｔａｎδｓｍに関するｔａｎδの推定式を次式のように作成する。
ｔａｎδの推定式＝（ｔａｎδｓｍ−Ｄ）／Ａ、但し、ＤおよびＡは定数である。
尚、このようにして作成した推定式は、実験によって、寄与率が１に近い（通常０．９８以上）ことを確認しており、統計的に信頼できる推定式である。
次に、ステップＳＴ４で、測定用専用時具４で制御装置１と入力切替装置５を接続し、入力切替装置５の端子出力８から測定器６で、被診断電解コンデンサ２の誘電正接を構成回路３に装着されたままの状態で測定する。この被診断電解コンデンサ２単体の ｔａｎ δは、構成回路の容量、抵抗と 測定専用治具４と入力切替装置５の抵抗の影響をうけて、制御装置外部の測定結果であるｔａｎδmとなる。
次に、ステップＳＴ５で、測定した被診断電解コンデンサ２の誘電正接ｔａｎδｍおよび測定時の構成回路３を特定する構成回路番号などの情報から被診断電解コンデンサ２単体時の誘電正接ｔａｎδをｔａｎδの推定式に代入して求める。
次に、ステップＳＴ６で、推定した被診断電解コンデンサ２単体時の誘電正接ｔａｎδと予め記憶している対象とするコンデンサの劣化判定値と比較することにより劣化度を診断する。
次にステップＳＴ７で、診断結果を画面表示あるいは印刷出力する。
以上のステップＳＴ４からステップＳＴ７を、被診断電解コンデンサ２を搭載している構成回路３の数だけ繰り返す。
【００１８】
図３は、本発明の第１実施例を示す電解コンデンサ劣化診断システムにおける推定式作成方法の説明図である。
図３において、２ｓはサンプル電解コンデンサ、１３はサンプル電解コンデンサ単体で測定した誘電正接ｔａｎδｓのデータ、１４は入力切替装置５の出力端子８で測定したサンプル電解コンデンサ２ｓの誘電正接ｔａｎδｓｍのデータ、１６は誘電正接ｔａｎδの構成回路毎の推定式である。尚、図１と同じ説明符号のものは図１と同じ構成要素を示すものとし、その説明は省略する。
以下、図３を用いて本実施例の電解コンデンサ劣化診断システムにおける誘電正接ｔａｎδの推定式の作成方法を説明する。
先ず、異なる誘電正接ｔａｎδsのサンプル電解コンデンサ２ｓを複数個（例えば、ｎ個のＣ１、Ｃ２、・・・Ｃｎ）用意し、測定器６で誘電正接を測定し、サンプル電解コンデンサ２ｓ単体の誘電正接ｔａｎδsのデータ１３を複数個（ｔａｎδｓ１、ｔａｎδｓ２、・・・ｔａｎδｓｎ）を得る。
次に、制御装置１の被診断電解コンデンサ２を有する構成回路３の被診断電解コンデンサ２の取付位置に、先に単体で誘電正接ｔａｎδsを測定したサンプル電解コンデンサ２ｓ（Ｃ１、Ｃ２、・・・Ｃｎ）を順に取付け、制御装置１の構成回路３の出力部と入力切替装置５を接続する測定用専用治具４を装着し、測定器６により制御装置１に実装した状態で測定した誘電正接ｔａｎδｓｍのデータ１４を複数個（ｔａｎδｓｍ１、ｔａｎδｓｍ２、・・・ｔａｎδｓｍｎ）得る。
サンプル電解コンデンサ２ｓ単体のｔａｎδsのデータ１３（ｔａｎδｓ１、ｔａｎδｓ２、・・・ｔａｎδｓｎ）と、測定器６により制御装置１に実装した状態で測定したｔａｎδｓｍのデータ１４（ｔａｎδｓｍ１、ｔａｎδｓｍ２、・・・ｔａｎδｓｍｎ）の相関関係から、被診断電解コンデンサ２を制御装置に実装した状態で測定した誘電正接ｔａｎδｍから被診断電解コンデンサ２単体時での誘電正接ｔａｎδを推定する推定式１６を求める。これを構成回路３の数だけ繰り返し、構成回路３の識別番号とともにその推定式を記憶する。
このように、本実施例に係る電解コンデンサ劣化診断システムは、サンプルコンデンサ２ｓ単体でのｔａｎδｓと構成回路３および測定用専用ケーブル４を介して実測したｔａｎδｍにより推定式１６を求めているので、いかなる構成回路３においても被診断電解コンデンサ２のｔａｎδを推定することができ、前述したように寄与率が１に近いので、信頼度の高い推定が可能になるのである。
尚、本実施例では、複数の異なる誘電正接の電解コンデンサをサンプルとして用いたが、１つの電解コンデンサに直列に抵抗、例えば０．１オーム〜１オーム程度を接続して、単体のｔａｎδを変更したものをサンプルとして用いてもよい。
【実施例２】
【００１９】
本実施例は第１実施例における電解コンデンサ劣化診断の処理手順のうち、ステップＳＴ４からステップＳＴ７を被診断電解コンデンサ２を搭載した構成回路３の数だけ自動的に繰り返し実施するようにしたものである。
図４は、本発明の第２実施例を示す電解コンデンサ劣化診断方法の処理手順の説明図である。
図４において、１２は記憶装置、１８は被診断電解コンデンサのｔａｎδ推定部、２０は劣化判定部、２１は出力部、２２はプログラム、２３は回路切替制御部、２４は測定オン／オフおよびデータ送信の指令、２６は構成回路と測定データ、２７は構成回路毎の推定式、２８は電解コンデンサの仕様毎の劣化判定値である。尚、図１と同じ説明符号のものは、図１と同じ構成要素を示すものとし、その説明は省略する。
以下、図４を用いて本実施例の電解コンデンサ劣化診断方法の処理手順を説明する。
先ず、診断をスタートすると、パーソナルコンピュータ７の プログラム２２により、回路切替制御がなされ最初の構成回路３を選択し、測定器６に測定オン／オフおよびデータ送信の指令２４ を行う。測定器６により測定された誘電正接のデータは、構成回路３毎に付けられた構成回路番号２５とともに構成回路と測定データ２６として、パーソナルコンピュータ７の記憶装置１２に記憶される。
次に、被診断電解コンデンサｔａｎδ推定部１８は、構成回路と測定データ２６と予め第１実施例で述べた手順で作成され記憶している構成回路毎の推定式２７を読み出し、被診断電解コンデンサ２のｔａｎδを推定する。
次に、劣化判定部２０は、記憶装置１２より電解コンデンサの仕様毎の劣化判定値２８を読み出し、被診断電解コンデンサ２の劣化判定を行う。
以上の動作を自動的に被診断電解コンデンサを搭載した構成回路３の数だけ実行し、出力部２１は、判定結果を画面表示または印刷出力する。
【００２０】
このように、本実施例に係る電解コンデンサ劣化診断システムおよび電解コンデンサ劣化診断方法は、自動的に被診断電解コンデンサ２を搭載した構成回路３の数だけ診断する手順をとるので、短時間に診断することができる。
【産業上の利用可能性】
【００２１】
本発明の電解コンデンサ劣化診断システムおよび電解コンデンサ劣化診断方法は、被診断電解コンデンサと測定点までの様々な測定値を変化させる要因をことごとく含めた条件で推定式を作るという手順をとるため、いかなる構成回路に組み込まれた電解コンデンサにも適用することができて、統計的に高い寄与率を有する推定式を作成可能なため、新製品や既設の制御盤の電解コンデンサに寿命劣化診断機能を組み込むという用途にも適用できる。電解コンデンサを有する新設および既設いずれの制御盤の予防診断装置にも好適である。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の第１実施例を示す電解コンデンサ劣化診断システムの構成図
【図２】本発明の第１実施例を示す電解コンデンサ劣化診断方法のフローチャート
【図３】本発明の第１実施例を示す電解コンデンサ劣化診断システムにおける推定式作成方法の説明図
【図４】本発明の第２実施例を示す電解コンデンサ劣化診断方法の処理手順の説明図
【図５】第１従来技術を示す電解コンデンサの劣化診断システムの機能ブロック図
【図６】第２従来技術を示す電解コンデンサの劣化診断システムの構成図
【符号の説明】
【００２３】
１ 制御装置
２ 被診断電解コンデンサ
２ｓ サンプル電解コンデンサ
３ 構成回路
４ 測定用専用治具
５ 入力切替装置
６ 測定器
７ パーソナルコンピュータ
８ 出力端子
９ 測定ケーブル
１０ 通信ケーブル
１１ 通信用端子
１２ 記憶装置
１３ サンプル電解コンデンサ単体で測定したｔａｎδｓのデータ
１４ 入力切替装置５の出力端子８で測定したｔａｎδｓｍのデータ
１５ 出力部
１６、２７ 構成回路毎の推定式
１８ 被診断電解コンデンサのｔａｎδ推定部
２０、６４ 劣化判定部
２１ 出力部
２２ プログラム
２３ 回路切替制御部
２４ 測定オン／オフおよびデータ送信の指令
２６ 構成回路と測定データ、
２８ 電解コンデンサの仕様毎の劣化判定値
５２ 順変換回路
５３ 逆変換回路
５４ 電解コンデンサ
５５ 電流検出用ホール素子
５６ａ 電圧検出部
５６ｂ 電流検出部
５７ａ、５７ｂ 比較器
５８ａ、５８ｂ ＡＮＤ
６２ 被診断電解コンデンサ
６３ 計測部
６５ データベース
６６ 診断部
６７ 判定結果の表示部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被診断電解コンデンサ（２）を有する複数の構成回路（３）を備えた制御装置（１）と、
前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδ）を測定する計測器（６）と、
前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδ）の劣化判定値を記憶し、前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδ）と前記劣化判定値を比較して劣化度を判定するパーソナルコンピュータ（７）と、
を備えた電解コンデンサ劣化診断システムにおいて、
前記複数の構成回路（３）が有する前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδ）測定用の出力部（１５）を前記制御装置（１）に有し、
前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδ）測定時に前記出力部（１５）と接続する測定専用治具（４）と、
前記測定専用治具（４）を介して接続される前記複数の構成回路（３）を切り替えて前記計測器（６）の測定入力部に出力する入力切替装置（５）と、を備える構成とし、
前記パーソナルコンピュータ（７）は、予め、複数の異なる誘電正接の電解コンデンサ（２ｓ）について単体で測定した誘電正接（ｔａｎδｓ）と前記複数の構成回路（３）に装着して前記計測器（６）で測定した誘電正接（ｔａｎδｓｍ）に基づいて、前記単体での誘電正接（ｔａｎδｓ）とそれぞれの前記構成回路（３）に搭載された状態での誘電正接（ｔａｎδｓｍ）との相関関係から推定式を前記構成回路（３）毎にそれぞれ求めて記憶し、
前記計測器（６）は、前記入力切替装置（５）からの信号に基づいて前記構成回路（３）に搭載された状態での前記被診断電解コンデンサ（２）の静電正接（ｔａｎδｍ）を測定し、
前記パーソナルコンピュータ（７）は、前記計測器（６）で測定した前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδｍ）と測定時の前記構成回路（３）を特定する情報から前記被診断電解コンデンサ（２）単体時の誘電正接（ｔａｎδ）を前記推定式に基づいて推定し、前記劣化判定値と比較することにより劣化度を診断することを特徴とする電解コンデンサ劣化診断システム。
【請求項２】
前記パーソナルコンピュータ（７）は、
前記入力切替回路（５）に対して前記測定器（６）へ出力する前記構成回路（３）を選択する動作と、
前記測定器（６）に誘電正接の測定開始及び終了の指示および選択した前記構成回路（３）と誘電正接測定値から成るデータを送信する指令を行い前記データを記憶する動作と、
前記データと前記推定式に基づいて前記被診断電解コンデンサ（２）単体時の誘電正接（ｔａｎδ）を推定し、前記劣化判定値と比較して劣化判定する動作と、を自動的に前記構成回路（３）の数だけ実行するプログラム（２２）を備えたことを特徴とする請求項１に記載の電解コンデンサ劣化診断システム。
【請求項３】
各仕様の電解コンデンサについて単体での誘電正接（ｔａｎδ）の劣化判定値を記憶し、
被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδ）と前記劣化判定値を比較して劣化度を判定する手順を備え、
前記被診断電解コンデンサ（２）を有する複数の構成回路（３）を備えた制御装置（１）における電解コンデンサ劣化診断方法において、
予め、複数の異なる誘電正接の電解コンデンサ（２ｓ）をサンプルとして用い単体で第１の誘電正接（ｔａｎδｓ）を測定するステップ（ＳＴ１）と、
予め、前記複数の異なる誘電正接の電解コンデンサ（２ｓ）を前記構成回路（３）に装着した状態で第２の誘電正接（ｔａｎδｓｍ）を測定するステップ（ＳＴ２）と、
予め、全ての前記構成回路（３）について、前記第１の誘電正接（ｔａｎδｓ）と前記第２の誘電正接（ｔａｎδｓｍ）との相関関係から推定式を求めて記憶するステップ（ＳＴ３）と、
前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδｍ）を前記構成回路（３）に装着されたままの状態で測定するステップ（ＳＴ４）と、
測定した前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδｍ）および測定時の前記構成回路（３）を特定する情報から前記被診断電解コンデンサ（２）単体時の誘電正接（ｔａｎδ）を前記推定式に基づいて推定するステップ（ＳＴ５）と、
推定した前記被診断電解コンデンサ（２）単体時の誘電正接（ｔａｎδ）と前記劣化判定値と比較することにより劣化度を診断するステップ（ＳＴ６）と、を備えたことを特徴とする電解コンデンサ劣化診断方法。
【請求項４】
前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδｍ）を前記構成回路（３）に装着されたままの状態で測定する前記ステップ（ＳＴ４）、測定した前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδｍ）および測定時の前記構成回路（３）を特定する情報から前記被診断電解コンデンサ（２）単体時の誘電正接（ｔａｎδ）を前記推定式に基づいて推定する前記ステップ（ＳＴ５）、推定した前記被診断電解コンデンサ（２）単体時の誘電正接（ｔａｎδ）と前記劣化判定値と比較することにより劣化度を診断する前記ステップ（ＳＴ６）、を予め定めた順番に従って、前記被診断電解コンデンサ（２）を搭載した前記構成回路（３）の数だけ自動的に繰り返すステップを有することを特徴とする請求項３に記載の電解コンデンサ劣化診断方法。
【請求項１】
被診断電解コンデンサ（２）を有する複数の構成回路（３）を備えた制御装置（１）と、
前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδ）を測定する計測器（６）と、
前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδ）の劣化判定値を記憶し、前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδ）と前記劣化判定値を比較して劣化度を判定するパーソナルコンピュータ（７）と、
を備えた電解コンデンサ劣化診断システムにおいて、
前記複数の構成回路（３）が有する前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδ）測定用の出力部（１５）を前記制御装置（１）に有し、
前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδ）測定時に前記出力部（１５）と接続する測定専用治具（４）と、
前記測定専用治具（４）を介して接続される前記複数の構成回路（３）を切り替えて前記計測器（６）の測定入力部に出力する入力切替装置（５）と、を備える構成とし、
前記パーソナルコンピュータ（７）は、予め、複数の異なる誘電正接の電解コンデンサ（２ｓ）について単体で測定した誘電正接（ｔａｎδｓ）と前記複数の構成回路（３）に装着して前記計測器（６）で測定した誘電正接（ｔａｎδｓｍ）に基づいて、前記単体での誘電正接（ｔａｎδｓ）とそれぞれの前記構成回路（３）に搭載された状態での誘電正接（ｔａｎδｓｍ）との相関関係から推定式を前記構成回路（３）毎にそれぞれ求めて記憶し、
前記計測器（６）は、前記入力切替装置（５）からの信号に基づいて前記構成回路（３）に搭載された状態での前記被診断電解コンデンサ（２）の静電正接（ｔａｎδｍ）を測定し、
前記パーソナルコンピュータ（７）は、前記計測器（６）で測定した前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδｍ）と測定時の前記構成回路（３）を特定する情報から前記被診断電解コンデンサ（２）単体時の誘電正接（ｔａｎδ）を前記推定式に基づいて推定し、前記劣化判定値と比較することにより劣化度を診断することを特徴とする電解コンデンサ劣化診断システム。
【請求項２】
前記パーソナルコンピュータ（７）は、
前記入力切替回路（５）に対して前記測定器（６）へ出力する前記構成回路（３）を選択する動作と、
前記測定器（６）に誘電正接の測定開始及び終了の指示および選択した前記構成回路（３）と誘電正接測定値から成るデータを送信する指令を行い前記データを記憶する動作と、
前記データと前記推定式に基づいて前記被診断電解コンデンサ（２）単体時の誘電正接（ｔａｎδ）を推定し、前記劣化判定値と比較して劣化判定する動作と、を自動的に前記構成回路（３）の数だけ実行するプログラム（２２）を備えたことを特徴とする請求項１に記載の電解コンデンサ劣化診断システム。
【請求項３】
各仕様の電解コンデンサについて単体での誘電正接（ｔａｎδ）の劣化判定値を記憶し、
被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδ）と前記劣化判定値を比較して劣化度を判定する手順を備え、
前記被診断電解コンデンサ（２）を有する複数の構成回路（３）を備えた制御装置（１）における電解コンデンサ劣化診断方法において、
予め、複数の異なる誘電正接の電解コンデンサ（２ｓ）をサンプルとして用い単体で第１の誘電正接（ｔａｎδｓ）を測定するステップ（ＳＴ１）と、
予め、前記複数の異なる誘電正接の電解コンデンサ（２ｓ）を前記構成回路（３）に装着した状態で第２の誘電正接（ｔａｎδｓｍ）を測定するステップ（ＳＴ２）と、
予め、全ての前記構成回路（３）について、前記第１の誘電正接（ｔａｎδｓ）と前記第２の誘電正接（ｔａｎδｓｍ）との相関関係から推定式を求めて記憶するステップ（ＳＴ３）と、
前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδｍ）を前記構成回路（３）に装着されたままの状態で測定するステップ（ＳＴ４）と、
測定した前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδｍ）および測定時の前記構成回路（３）を特定する情報から前記被診断電解コンデンサ（２）単体時の誘電正接（ｔａｎδ）を前記推定式に基づいて推定するステップ（ＳＴ５）と、
推定した前記被診断電解コンデンサ（２）単体時の誘電正接（ｔａｎδ）と前記劣化判定値と比較することにより劣化度を診断するステップ（ＳＴ６）と、を備えたことを特徴とする電解コンデンサ劣化診断方法。
【請求項４】
前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδｍ）を前記構成回路（３）に装着されたままの状態で測定する前記ステップ（ＳＴ４）、測定した前記被診断電解コンデンサ（２）の誘電正接（ｔａｎδｍ）および測定時の前記構成回路（３）を特定する情報から前記被診断電解コンデンサ（２）単体時の誘電正接（ｔａｎδ）を前記推定式に基づいて推定する前記ステップ（ＳＴ５）、推定した前記被診断電解コンデンサ（２）単体時の誘電正接（ｔａｎδ）と前記劣化判定値と比較することにより劣化度を診断する前記ステップ（ＳＴ６）、を予め定めた順番に従って、前記被診断電解コンデンサ（２）を搭載した前記構成回路（３）の数だけ自動的に繰り返すステップを有することを特徴とする請求項３に記載の電解コンデンサ劣化診断方法。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【公開番号】特開２００８−２２４５３３（Ｐ２００８−２２４５３３Ａ）
【公開日】平成２０年９月２５日（２００８．９．２５）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００７−６５４９７（Ｐ２００７−６５４９７）
【出願日】平成１９年３月１４日（２００７．３．１４）
【出願人】（０００００６６２２）株式会社安川電機 (2,482)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２０年９月２５日（２００８．９．２５）
【国際特許分類】
【出願日】平成１９年３月１４日（２００７．３．１４）
【出願人】（０００００６６２２）株式会社安川電機 (2,482)
【Ｆターム（参考）】
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