【課題】微小放電電流でも感度よく測定できる電極間絶縁特性測定装置を提供すること。
【解決手段】電極間静電容量が大きな測定対象の絶縁検査を行う電極間絶縁特性測定装置であって、前記電極間に、可変高圧直流電源と直流電流計と高域阻止フィルタとパルス電流計が直列接続されるとともに、前記パルス電流計と測定対象の直列回路と並列に高耐圧キャパシタが接続されたことを特徴とするもの。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、短時間にコンデンサの絶縁抵抗を測定して良否を判定する検査装置および検査方法を提供することにある。
【解決手段】検査装置１０は、コンデンサ１２に直列接続される検査用抵抗ｒ、コンデンサ１２と検査用抵抗ｒに電圧を印加する電源Ｅ、検査用抵抗ｒの両端電圧を測定する電圧計１４、絶縁抵抗Ｒの良否を判定する判定手段１６を備える。検査装置２０は、コンデンサ１２に電圧を印加する電源Ｅ、コンデンサ１２の両端電圧を測定する電圧計２４、絶縁抵抗Ｒの良否を判定する判定手段２６を備える。 （もっと読む）

【課題】外部電極間で確実にサージ放電が生じるコンデンサを、絶縁抵抗の測定を行うことなく選別することができるセラミックコンデンサの選別方法および選別装置を提供する。
【解決手段】選別装置１は、概略、パルス供給回路２と、表面リーク電流検出端子２２と、沿面放電電流値測定回路２４と、判定回路２６と、を備えている。パルス供給回路２は、パルス状直流高電圧を被選別セラミックコンデンサ４０の一対の外部電極間に印加するものである。表面リーク電流検出端子２２は、被選別コンデンサ４０のセラミック素体４２の上面中央部（一対の外部電極４４，４６間の中央部）に接触される。沿面放電電流値測定回路２４は、表面リーク電流検出端子２２にて検出した沿面放電電流の電流値を測定する。判定回路２６は、沿面放電電流値測定回路２４で測定した沿面放電電流値が、所定の電流閾値に到達したか否かを判定する。 （もっと読む）

【課題】非破壊検査であって、電極抵抗及び電極容量について正負電極ごとに精度の高い評価が可能である電極性能評価装置を提供する。
【解決手段】電極性能評価装置は、擬似電池セル本体１１と、充放電装置と、電極評価装置と、から構成される。擬似電池セル本体１１は、正電極１５Ａ，１５Ｂ、負電極１６Ａ，１６Ｂ、及び基準電極１７Ａ，１７Ｂをそれぞれ支持する２つの電極支持体１４Ａ，１４Ｂから構成される。各電極支持体は、当接対向配置され、回転中心から等距離の円周上であって円周方向に沿った距離が均等となる位置に貫通孔２３Ａ，２３Ｂを備え、貫通孔の内部の電極設置部に各電極が接合され、貫通孔に挿入されて電極と充放電装置及び電極評価装置とを接続する電極ターミナル２５を有する。第２電極支持体１４Ｂが回転して擬似セル配置及び電極評価セル配置を形成するときに、各電極支持体の貫通孔が繋がり電解液溜めを形成する。 （もっと読む）

【課題】簡単な操作により短時間且つ高精度でコンデンサの絶縁性を検査する方法を提供すること。
【解決手段】検査対象のコンデンサに、このコンデンサの絶縁性の検査のために予め決められた電圧値Ｖ₀よりも高い電圧値Ｖ₁の直流電圧を付与してコンデンサに電流を発生させ、次いで時間ｔ₁が経過した時点で、直流電圧の電圧値をＶ₀に降下させることにより、前記コンデンサに流れる電流を電流値が継続的に変動しない電流に変え、その電流について測定される電流値ｉ₀を、前記コンデンサについて予め決められた漏れ電流の上限値と比較する操作を含むコンデンサの絶縁性の検査方法。 （もっと読む）

【課題】簡便な装置で３端子コンデンサの耐電圧試験の試験工数を大幅に削減し、かつ被試験３端子コンデンサを１回の耐電圧試験工程で耐電圧試験を完了させる技術を提供する。
【解決手段】第１外部端子１ａと第２外部端子１ｂとの間には抵抗や定電流ダイオード等でなるリーク電流制限素子５Ｂを介して試験電圧装置５Ａを接続している。この試験電圧装置５Ａは当該耐電圧試験器の中に組込まれており、前記第１外部端子１ａと前記第２外部端子１ｂとの間に直流電圧を印加する装置である。前記第１外部端子１ａと第３外部端子１ｃとの間にサージ吸収素子６を接続する。前記第２外部端子１ｂと前記第３外部端子１ｃとの間にサージ吸収素子７を接続する。 （もっと読む）

【課題】直流コンデンサの劣化予測の信頼性の高い直流コンデンサ試験装置を提供すること。
【解決手段】高周波インバータ３の電力を出力する耐圧トランス４の２次コイルと供試直流コンデンサ１および２を直列に接続し、その供試直流コンデンサ１および２の各コンデンサに直流電源を接続し、供試直流コンデンサ１および２に直流電圧を印加した状態で高周波インバータ３による高周波電圧を印加する。これにより供試直流コンデンサ１および２に使用状態に則したリップル分を含む直流電圧を印加して試験することができる。 （もっと読む）

【課題】 電子部品を破壊することなく内部クラックを簡便に検出することができ、製造歩留まりを向上させることができる電子部品の製造方法を提供すること。
【解決手段】 本発明の電子部品の製造方法は、誘電体層と電極層とが積層されてなる略直方体の積層体に端子電極が形成されて得られる被検査体７のクラックを検査するクラック検査工程を有し、クラック検査工程は、被検査体７に電圧を印加しながら被検査体７の上面の所定位置における積層方向の変位量を測定する工程と、基準電子部品を準備して、当該基準電子部品に被検査体７と同一条件で電圧を印加しながら基準電子部品の被検査体７の測定位置に対応する位置における積層方向の変位量を測定する工程と、被検査体７の変位量と基準電子部品の変位量とを比べることによりクラックの有無を判断しスクリーニングする工程とを有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】内部電極の厚みや内部電極間の絶縁層の厚みが微小化された場合でも、内部電極間短絡を確実に高精度で検出しえる電子部品の不良検出方法を提供すること。
【解決手段】絶縁体１１の内部に、絶縁体層を介して対向する内部電極１１、１３を埋設した電子部品の欠陥を検出するにあたり、内部電極１３の一端を、絶縁体１１の端面１１１に露出させた電子部品１を準備する。上述した電子部品１の端面１１１を電解質溶液２２に接触させ、電解質溶液２２を介して、内部電極１２、１３に電圧を印加する。これにより、内部電極１３（又は１２）、短絡部Ｄ１を、電気分解反応によって、電解質溶液２２中に溶出させる。 （もっと読む）

【課題】ＳＭＤ型受動素子を試験する際の傷の減少方法を提供する。
【解決手段】伝動装置１１０と可動式検知装置１２０とを有する試験機器を提供し、伝動装置１１０は複数個のＳＭＤ型受動素子１０を連続的に積み込んで移動させ、可動式検知装置１２０はそれらのＳＭＤ型受動素子１０の電極１１に電気接触することによって、ＳＭＤ型受動素子１０群は連続的に多種の試験を受けることになる。試験を行う際に、伝動装置１１０と可動式検知装置１２０とは分類作業まで同時に移動して試験による傷を低減することが可能である。 （もっと読む）

【課題】リップル電流を用いるキャパシタ等の素子の試験に関し、各キャパシタ等の素子のリップル電流を等しくすること、交流電源の電流を必要最小限にすること、バイアス電圧を必要最小限にすること、素子に印加されるバイアス電圧を等しくすること、電圧バランス抵抗を除去することから選択された１又は２以上の課題を解決する。
【解決手段】素子（例えば、キャパシタＣ１〜Ｃ６）にリップル電流を付与する第１の電源（交流電源６）と、前記素子にバイアス電圧を付与する第２の電源（直流バイアス電源８）と、直流電流を通過させ交流電流を阻止するバイアス素子とを備え、前記第１の電源に対して前記素子を直列に接続し、前記第２の電源に前記バイアス素子を介して前記素子を並列に接続した構成である。 （もっと読む）

【課題】 導電部を形成する際に、導電部を構成する成分がセラミックグリーンシート中に染み込むことがなく、セラミックグリーンシートや導電部が変形したり破壊したりすることなく、かつ、積層セラミックコンデンサの製造に用いた場合にデラミネーションの発生を防止することが可能な転写フィルム及び積層セラミックコンデンサを提供する。
【解決手段】 基材フィルム、粘着剤層、及び、導電部と該導電部が形成されていない部分に形成された誘電部とからなる転写層がこの順に積層された転写フィルムであって、前記粘着剤層は刺激を与えることにより気体を発生する気体発生剤を含有することを特徴とする転写フィルム。 （もっと読む）

【課題】十分に高い誘電率を発現可能な誘電体膜を備えたコンデンサを提供すること。また、誘電体膜を、十分に高い誘電率が発現されるように、金属層の酸化を十分に抑制しながら製造することが可能な誘電体膜の製造方法を提供すること。
【解決手段】誘電体膜１と、これを挟んで対向するように設けられた第１の電極２及び第２の電極３と、を備え、誘電体膜１が、格子定数に基づいて算出される理論密度の７２％を超える密度を有し、第１の電極２及び第２の電極３の少なくとも一方が、Ｃｕ、Ｎｉ、Ａｌ、ステンレス鋼及びインコネルからなる群より選ばれる少なくとも１種の金属を含有する、コンデンサ１００。 （もっと読む）

【課題】 コンデンサ素子１の部分を合成樹脂製のパッケージ体５にて密封して成る固体電解コンデンサにおいて，この製造中における熱スクリーニングによって，前記パッケージ体が割れることを低減する。
【解決手段】 前記パッケージ体５に，前記コンデンサ素子１に到達する通孔６を設け，この状態で前記した熱スクリーニングを行ったのち，前記通孔６を塞ぐ。 （もっと読む）

【課題】 従来より静電容量密度が高くなる電気二重層キャパシタの製造方法を提供すること。
【解決手段】 黒鉛類似の微結晶性炭素を有する炭素材を分極性電極として含む電気二重層キャパシタの製造方法であって、該炭素材に電解液を接触させた状態で該炭素材を所定の時間保存し、その後該炭素材の厚さ方向における充電時の膨張を抑制するに必要な圧力を充電開始時に該電極に加えた状態で、室温より高い温度において、該キャパシタの使用予定電圧より高い電圧を充電終止電圧とする充電を少なくとも１回施すことを特徴とする方法。 （もっと読む）

【課題】 製造および使用において刺激性、有毒性のガス等が発生することなく、優れた性質を有し、安定して製造することが出来、耐加水分解性に極めて優れるポリエステルフィルムを提供する。
【解決手段】 ポリエステルと耐加水分解剤とから成るポリエステルフィルムであって、耐加水分解剤が、エポキシ基を有する脂肪酸グリセリンエステルであるポリエステルフィルム及びその製造方法。 （もっと読む）

【課題】高電圧を印加して電子部品の耐圧試験などを行った場合にも、測定値に異常を生じたり、電子部品の表面に変質や破壊が発生したりすることを防止できるようにする。
【解決手段】外部電極１４ａ，１４ｂ間に電圧を印加することにより電子部品の特性を測定する電子部品の特性測定装置において、電子部品１０が保持される保持穴１と、該保持穴１に保持された電子部品の両端部に、その端面から側面にまで回り込むように配設された一対の外部電極１４ａ，１４ｂの、側面にまで回り込んだ部分の先端部１６ａ，１６ｂに対応する領域を覆うように、保持穴１を取り囲むような態様で配設された一対の補助電極２ａ，２ｂとを備えた搬送テーブル３と、搬送テーブル３を駆動する駆動手段と、搬送テーブル３の両主面３ａ，３ｂ側から、電子部品の両端部に配設された外部電極と接触して一対の外部電極間に電圧を印加する一対の接触電極５ａ，５ｂとを備えた構成とする。 （もっと読む）

【課題】電気二重層キャパシタの各セルの分担電圧を高い精度で推定する。
【解決手段】キャパシタセルの課電履歴電圧によって変化する漏れ抵抗の変化特性を求めておく（Ｓ１）。各キャパシタセルの漏れ抵抗を測定する（Ｓ２）。測定した漏れ抵抗と漏れ抵抗の変化特性を基に各キャパシタセルのｎ時間後の漏れ抵抗を推定する（Ｓ３）。この推定した漏れ抵抗の比を基に各キャパシタセルの分担電圧を推定する（Ｓ４）。
分担電圧推定方法を基に耐電圧を設定および管理する電気二重層キャパシタの耐電圧設定・管理方法、および分担電圧推定方法を基にして分担電圧のバラツキを小さくした組成構造のキャパシタセルをもつ電気二重層キャパシタを含む。 （もっと読む）

【課題】 ＥＳＲおよびＥＳＬが十分に低減され、熱応力や機械的応力にも強いチップコンデンサを提供する。
【解決手段】 チップコンデンサ１０は、ブロック状のコンデンサ本体１１と、コンデンサ本体１１の底面に設けられた第１の外部電極１２と、コンデンサ本体の４つの側面のうち対向する２つの側面に形成された第２の外部電極１３Ａ，１３Ｂとを備えている。コンデンサ本体１１内には金属平板である第１の内部電極（奇数番目の電極）と第２の内部電極（偶数番目の電極）とが平行かつ交互に配置されており、第１の内部電極の一端は第１の外部電極１２と接続されており、第２の内部電極の両端は第２の外部電極１３Ａ，１３Ｂと接続されている。このように平板電極が誘電体を介して交互に配置されることによって積層コンデンサが構成される。 （もっと読む）

【課題】磁器コンデンサの誘電体の分極を解放して容量回復するのに、熱戻し工程を不要にして工数の削減化とそれに伴なう製造コストの低減および製造時間の短縮化を図る。
【解決手段】磁器コンデンサ１０に直流電圧を印加した後に、磁器コンデンサの内部電極に残留する電荷を減じる場合において、直流電圧を印加することにより磁器コンデンサ内部に発生した分極と逆方向の分極を電気的手段によって発生させる。 （もっと読む）