説明

Fターム[5F031JA04]の内容

ウエハ等の容器、移送、固着、位置決め等 (111,051) | 検出 (10,411) | 手段(センサ) (4,555) | 光センサ (2,240) | エリアセンサ、カメラ (579)

Fターム[5F031JA04]に分類される特許

201 - 220 / 579


【課題】 ウエーハを確実に変質層に沿って個々のデバイスに破断可能な粘着テープの拡張方法を提供することである。
【解決手段】 粘着テープの拡張方法であって、ウエーハ保持テーブルを加熱してウエーハが貼着されている部分の粘着テープを柔軟にする粘着テープ第1柔軟化工程と、外筒を引き落として拡張位置に位置づけて粘着テープを拡張し、ウエーハを変質層に沿って破断する粘着テープ拡張工程と、ウエーハ保持テーブルに吸引力を作用させて粘着テープを吸引保持する粘着テープ保持工程と、外筒を上昇して待機位置に位置づけてから、ウエーハの外周と環状フレームとの間の粘着テープを加熱して柔軟にする粘着テープ第2柔軟化工程と、ウエーハの外周と環状フレームとの間の粘着テープを冷却して弛みを除去する弛み除去工程とを含んでいる。 (もっと読む)


【課題】基板上のマークの位置をより短い時間で検出し、基板へのパターンの転写のために要する時間を削減する。
【解決手段】原版のパターンを基板の複数のショット領域に順に転写する。各ショット領域は、チップ領域102aとそれを取り囲むスクライブライン領域S1とを含む。露光装置は、走査方向に駆動されている基板における隣接する第1スクライブライン領域S1、第2スクライブライン領域S2を同時に観察し、前記第1スクライブライン領域、前記第2スクライブライン領域にそれぞれ配置されている第1マーク104a、第2マーク104bからの光を検出する検出器と、前記検出器から出力される検出信号を処理して前記第1マーク、前記第2マークの位置を決定する処理部とを備える。前記基板は、前記第1マークおよび前記第2マークの位置に基づいて位置決めされ、露光される。 (もっと読む)


【課題】短時間で正確にウェハの位置合わせを行う。
【解決手段】ウェハアライメント装置は、1枚目のウェハの位置を基に2枚目以降のウェハを補正する補正処理と、予め定めた2つの低倍率アライメントパターンと基準位置とのズレ量から前記2枚目以降のウェハに対するXYθ方向の補正を行う低倍率補正処理と、予め定めた2つの高倍率アライメントパターンと基準位置とのズレ量から前記2枚目以降のウェハに対するXYθ方向の補正を行う高倍率補正処理とを具備する制御部を備える。ウェハアライメント方法は、ウェハアライメント装置の処理と同様の処理機能によって、複数のウェハを連続的に入れ替えて処理する際に当該ウェハの位置決めを行う。 (もっと読む)


【課題】矩形の基板がステージ上で傾いて載置されても、当該基板を位置決めし直すことのできる矩形基板の載置位置矯正方法を提供する。
【解決手段】基板Wの左辺Lに二点で接触可能な一対の第一部材11及び第二部材12を前後方向基準線X0に平行な直線X1上に位置させ、基板Wの前辺Fに一点で接触可能な第三部材13、及び、基板Wの後辺Bに一点で接触可能な第七部材17を、基板Wの前後方向寸法bよりも広い間隔でかつ左右方向基準線を中心として位置させる。左側の前記二点及び右側の第五部材15と第六部材16とで基板Wを左右方向に挟むと共に、この左右方向に挟む動作の間に、基板Wを第四部材14及び第八部材18で、左右方向基準線Y0を中心として前後方向に挟む。 (もっと読む)


【課題】本発明は、貼合部材を保護するとともに、貼合部材をしっかり保持できる真空貼合装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明に係る真空貼合装置は、貼合部材を貼合することに用いられ、前記貼合部材の位置を調整するアライメントアセンブリと、前記アライメントアセンブリに連接固定され、且つ少なくとも2つのチャック部材を備えるチャック機構と、前記チャック機構に対向して設置されるチャックヘッドと、前記チャック機構及び前記チャックヘッドを収容する密封室と、を備え、前記少なくとも2つのチャック部材が前記密封室内で相対運動することによって、前記貼合部材を保持又は解放する。 (もっと読む)


【課題】搬送ロボットにより基板を搬送する際の基板のすべりや、搬送ロボットから基板保持台上への基板受け渡し時に生じる位置ずれを防止する。
【解決手段】処理室8内に設置された基板7の位置を検出するために搬送アーム4の先端に撮像部12を備えた搬送ロボット49を有する。処理室8への基板搬送完了後に再び処理室8へ搬送アーム4を伸ばし、基板7と基板保持台10の各外周縁部の位置を計測し、代数計算により基板7の各中心座標Osと基板保持台10の中心座標Obを求める。両中心座標Os、Obの位置が実質的に一致しなければ、基板7の位置ずれが生じているので、その位置ずれを補正する方向へ基板7を搬送ロボット49により再度移動する。 (もっと読む)


【課題】観察画像のコントラストを高くする。
【解決手段】顕微鏡で観察する被観察物を照明する照明装置であって、互いに波長の異なる複数の単波長光源と、照明された被観察物を観察した観察像のコントラストの大きさを検出するコントラスト検出部と、コントラスト検出部により検出されたコントラストに応じて、複数の単波長光源の強度比を設定する強度比設定部とを備える。上記照明装置は、強度比を変化させながら被観察物を照明した場合に、コントラスト検出部が検出したコントラストの大きさを監視して、前記コントラストがより大きくなる強度比を決定する強度比決定部を更に備えてもよい。 (もっと読む)


【課題】露光工程のスループットを高く維持して、アライメントを高精度に行う。
【解決手段】複数のウエハマークが形成されたウエハを露光する露光システムにおいて、計測対象のウエハマークに対応させてウエハW2上に複数の基準パターンを形成する簡易型露光装置4と、ウエハW2上の計測対象の複数のウエハマークとこれに対応する基準パターンとの位置ずれ量を計測するマーク検出装置10と、その位置ずれ量の計測結果に基づいてウエハW2の位置合わせを行って、ウエハW2上の複数のショット領域を露光する露光装置12と、を備える。 (もっと読む)


【課題】半導体チップのピックアップ処理の信頼性の向上を図る。
【解決手段】マップデータを用いてピックアップ処理を行う際に、第1配列6bの第1LCDチップ2jから第4LCDチップ2nまでをピックアップ処理した後に、第2配列6cの端部の第2LCDチップ2kと論理座標Xが同じことで改行チップが第3LCDチップ2mであることを検出し、この検出結果により、第1配列6bの第3LCDチップ2mから端部の第5LCDチップ2pまでをピックアップ処理せずに飛び越えながら各LCDチップ2の位置を検出、位置補正を行い、再び端部の第5LCDチップ2pから第3LCDチップ2mまでピックアップ処理して、第3LCDチップ2m上で隣の第2配列6cに改行することにより、ピックアップ時のチップ配列の改行時の移動距離を少なくして前記マップデータのチップ位置と実際のウェハ上でのチップ位置とのズレ量を低減できる。 (もっと読む)


【課題】時間短縮が可能な半導体チップピックアップ方法を提供する。
【解決手段】樹脂シート15上の複数個の半導体チップ17の画像(1)を取込み、画像(1)の良品チップ17a位置を算出しn番目良品チップ17aを選び、n番目良品チップ17aをピックアップ位置に向け樹脂シート15を移動し、n番目良品チップ17aを中心に画像(2)を取込み、画像(2)からn番目良品チップ17aの角度・位置を算出しn番目良品チップ17aの位置を必要なら補正し、n番目良品チップ17aがマウントヘッド31のピックアップ部33にピックアップされ、画像(2)の良品チップ17aの位置を算出しn+1番目良品チップ17aを選び、画像(2)からn+1番目良品チップ17aの角度・位置を算出しn+1番目良品チップ17aがピックアップ位置に向け樹脂シート15を移動し、n+1番目良品チップ17aが別のピックアップ部33にピックアップされる。 (もっと読む)


【課題】ピックアップの対象となるチップと、ピックアップの対象とならないチップとが整列したウエハから良品の対象チップをピックアップするピックアップ方法を提供する。
【解決手段】ピックアップ対象である対象チップ2と、ピックアップ対象でない非対象チップ3とを備えたウエハ1から、良品の対象チップ2をピックアップする方法である。対象チップ2のアドレス及び対象チップ2が良品であるか否かが記録されたマップ10を記憶し、ウエハ1に設けられた目印5を記憶し、所定位置離れた位置の対象チップ2を基準チップ6として、マップ上の基準チップ6のアドレス及び目印5と基準チップ6との位置関係を記憶し、目印5を認識可能位置に合わせ、目印5と基準チップ6との位置関係に基づいてマップ上の基準チップ6のアドレスとウエハ上の基準チップ6とが一致するように対応させて、良品のチップ2のみをピックアップする。 (もっと読む)


【課題】カセットがカセットステージの所定の位置に設置されているか否かの判断を簡易に行う。
【解決手段】カセット検出システム202は、複数のウェハを収容するカセット240が設置されるカセットステージ210と、カセットステージ210上の所定の位置にカセット240が設置された場合にカセット240の存在を検知するカセットセンサ212と、カセットセンサ212と電気的に接続され、カセットセンサ212がカセット240の存在を検知した場合に点灯状態が変化するセンサランプ214と、センサランプ214を撮影可能に配置されたカメラ220と、カメラ220が撮影した画像におけるセンサランプ214の点灯状態に基づき、カセットステージ210上の所定の位置にカセット240が設置されているか否かを検出するカセット検出部250と、を含む。 (もっと読む)


【課題】予め突き上げピンに関するデータを持つことなく、突き上げピン先端部の中心位置を、自動的に計測することが可能な突き上げピンの位置決め方法およびそれを用いた電子部品供給装置を提供する。
【解決手段】エキスパンド台上のダイシングされたベアチップ等の部品Pを突き上げる突き上げピン45を、撮像装置25により上方より撮像し、撮像データに基づいて直交する2方向座標に対する輝度の累積値を表す累積ヒストグラムHX、HYを作成し、これら累積ヒストグラムの分布状態に基づいて各累積ヒストグラムの平均値をそれぞれ求め、これら平均値より突き上げピン先端部の中心位置を把握して位置決めする。 (もっと読む)


【課題】反りを含む半導体ウェーハを破損させることなく、チャックテーブルに精度よく位置合わせすることができる位置合わせ機構、加工装置および位置合わせ方法を提供すること。
【解決手段】半導体ウェーハの外径よりも大径に形成され、半導体ウェーハの少なくとも外周縁部を吸着する吸着面25を有する仮置きテーブル23と、吸着面25に吸着された半導体ウェーハの外周縁部を撮像する撮像機構24と、半導体ウェーハの外周縁部の画像データに基づいて、半導体ウェーハの中心の位置データを算出する制御部と、半導体ウェーハの中心の位置データに基づいて、半導体ウェーハが保持されるチャックテーブル52の保持面56の中心に対し半導体ウェーハの中心を位置合わせした状態で、半導体ウェーハを保持面56に載置するウェーハ供給部17とを備えた。 (もっと読む)


【課題】ウェーハの中心位置を回転ステージの実際の回転中心位置に正確に合わせることが可能なワークの中心位置合わせ装置を提供する。
【解決手段】ジグを用いて予め求められているアライメント用ステージ回転中心位置にウェーハ中心位置を合致させ得るようにウェーハを回転ステージ上に載せた状態で、アライメント用ステージ回転中心位置に対するウェーハの偏り量を測定するウェーハ偏り量測定手段52と、ウェーハの偏り量に基づいてアライメント用ステージ回転中心位置の補正量を算出するステージ回転中心位置補正量算出手段53と、アライメント用ステージ回転中心位置の補正量に基づいてアライメント用ステージ回転中心位置を補正するステージ回転中心位置補正手段54とを備えたウェーハ中心位置合わせ装置とした。 (もっと読む)


【課題】板状基体の搬送方向からの位置ずれの補正が可能であり、安定した高精度の搬送が可能であって、かつ静電気の発生、およびパーテイクルの発生を、低減することができる浮上搬送装置および浮上搬送方法を得る。
【解決手段】板状基体の搬送路を形成する基台10と、前記基台10を覆う囲い板20と、前記基台10に配置された複数の噴射ノズルおよび複数の吸引ノズルと、板状基体の搬送時のずれを検出する手段とで構成される浮上搬送装置100であって、前記複数の噴射ノズルは、板状基体を前記基台10の面に沿って浮上搬送させ、前記複数の吸引ノズルは、前記噴射ノズルの列の外側に配置されて、板状基体の搬送時のずれを検出する手段からの信号によって、前記複数の吸引ノズルのいずれかの吸引力が調整されて、前記板状基体30の搬送のずれが補正される浮上搬送装置100とする。 (もっと読む)


【課題】 積層された半導体ウエハと保護シートとを取り違えることなく吸着して搬送することができるようにする。
【解決手段】 可撓性アーム26の先端部下面で保護シート22を吸着して持ち上げる。この場合、保護シート22の重さは1〜2gと比較的小さい。このため、保護シート22を持ち上げた可撓性アーム26の撓み量は比較的小さい。一方、可撓性アーム26の先端部下面で半導体ウエハ23を吸着して持ち上げた場合には、半導体ウエハ23の重さが保護シート22の重さの数十倍とかなり大きいので、可撓性アーム26の撓み量は比較的大きい。可撓性アーム26の撓み量は歪みゲージ27で検出される。そして、半導体ウエハ23と保護シート22との重さの相違から、今、可撓性アーム26で持ち上げているものが保護シート22および半導体ウエハ23のいずれであるか判別される。この後、保護シート22または半導体ウエハ23を吸着部材で吸着して別の箇所に搬送する。 (もっと読む)


【課題】 流体量や流体圧の増加を必要とせずに、短時間で効率的に被洗浄物の全面を洗浄可能なスピンナ洗浄装置を提供することである。
【解決手段】 被洗浄物を保持する保持面を有し回転可能なスピンナテーブルと、該スピンナテーブルに保持された被洗浄物に洗浄流体を供給する洗浄流体供給手段とを備えたスピンナ洗浄装置であって、前記洗浄流体供給手段は、洗浄流体供給源に接続されたアームと、前記アームの先端に配設されて洗浄流体を前記保持面に向かって噴射する洗浄流体噴射ノズルと、前記スピンナテーブルに保持されて所定速度で回転される被洗浄物に対して、該アームの先端が該スピンナテーブルの回転中心を通るように該アームを揺動させる揺動手段とを含み、該洗浄流体噴射ノズルは、該アームの先端にロータリージョイントを介して配設され、該保持面と平行な面において該ロータリージョイントを中心に回転可能であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】レーザー測長系によるチャックの位置検出を中断させることなく、基板をチャックに対してθ方向の回転が無い姿勢でチャックに搭載する。
【解決手段】基板1をチャックへ搬送する前に、基板1を温度調節装置50に搭載して基板1の温度を調節する。温度調節装置50に基板1をθ方向へ回転する回転機構80を設け、温度調節装置50に搭載された基板1のθ方向の傾きを検出し、検出結果に基づき、基板1を温度調節装置50からチャック10へ搬送する前に、基板1をθ方向の傾き分だけ逆方向へ回転して、基板1のθ方向の傾きを補正する。基板1をチャック10に搭載する前にチャック10をθ方向へ回転する必要がないので、レーザー測長系によるチャック10の位置検出が中断されない。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、半導体ウエハの下面の外観異常箇所が、何れの半導体素子領域に存在しているかを正確に識別することができる外観検査方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 複数の半導体素子領域52が形成された半導体ウエハ50の下面50bの外観異常を検査する方法であって、半導体ウエハ50の下面50bに各半導体素子領域52を示す映像を投影した状態で、半導体ウエハ50の下面50bの外観異常箇所56を目視で特定する検査工程を有する外観検査方法。 (もっと読む)


201 - 220 / 579