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Fターム[5F033PP28]の内容

半導体集積回路装置の内部配線 (234,551) | 導電膜の成膜方法 (14,896) | 塗布又は液体からの成膜 (5,037) | 無電解メッキ (1,413)

Fターム[5F033PP28]に分類される特許

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【課題】バリアメタル膜の表面に形成される自然酸化膜の膜厚を薄くし、ボイドの発生を防止した多層配線構造の製造方法を提供する。
【解決手段】埋め込み型の多層配線構造の製造方法において、絶縁層に孔部4を形成する工程と、少なくとも孔部の内壁を覆うように、タンタルと窒素を主成分とするバリアメタル膜5を形成する工程と、バリアメタル膜の表面に形成された酸化膜6を除去する工程と、銅を含むめっき液にバリアメタル膜を浸漬してバリアメタル膜上に無電解銅めっき膜7を形成する工程とを含み、バリアメタル膜に含まれる窒素とタンタルの元素組成比(N/Ta)を、0.3以上で、かつ1.5以下とする。 (もっと読む)


【課題】 高速情報処理用デジタル集積回路チップ内およびそのチップを搭載するためのパッケージ、モジュール、ボードなどの実装系内における多層配線の作製方法に関する新しい多層微細配線構造およびその作製方法を提案する。
【解決手段】 高解像感光性ポリイミドを絶縁層として、銅、銀、金、アルミニウム、パラジウム、ニオブなどの金属を配線層として用いて、ストリップライン、マイクロストリップライン、同軸ラインなどの伝送線路構造を有する多層微細配線構造を実現するため、広い周波数帯域について、インピーダンスが一定に制御され、デジタル高速信号伝送に適する線路を実現することができる。高解像特性を有する感光性ポリイミドを絶縁層として用いることにより、絶縁層へのビア穴加工がリソグラフィ工程のみで達成され、また、金属配線層をリフトオフ法によりパターン形成することにより、従来の多層配線技術に比べて、高密度の配線構造が実現でき、大幅に工程が簡略化される。 (もっと読む)


【課題】 Cuを含有する材料に代表されるような層間絶縁膜に対する易拡散性の材料を用いて配線を構成した場合に、前記易拡散性の材料の層間絶縁膜への拡散や材料の剥離を確実に防止するとともに、層間容量を低減させ、しかも高い耐酸化性を保持する。
【解決手段】 Cu配線に対応した保護膜として、当該Cuの拡散防止及びビア孔23形成時のエッチングストッパーとしての機能を有し、しかも低誘電率を示す構造の保護膜16を提案する。この保護膜16は、水素化シリコンカーバイド膜(SiC:H膜)21上にシリコン窒化膜(SiN膜)22が積層されてなる2層構成のものである。 (もっと読む)


【課題】製造プロセスを簡略化することが可能な伝送線路構造を含む配線構造を提供する。
【解決手段】この配線構造は、半導体基板10上の絶縁膜12に形成された溝13aと、溝13aの内面の少なくとも一部に沿って溝13aの延びる方向に形成された外側配線14と、外側配線14とともに信号を伝送するための伝送線路を構成し、絶縁膜15を介して外側配線14と対向するように形成された内側配線16と、半導体基板10上の絶縁膜12に形成され、溝13aと所定の間隔を隔てて形成された溝13bと、溝13bを充填するように形成された単一配線18とを備え、外側配線14、絶縁膜15および内側配線16は、溝13a内に埋め込まれている。 (もっと読む)


【課題】銅配線の寿命を増大させ、同時に、密着性を高め、ストレスマイグレーション耐性を向上させる。
【解決手段】Cu16とバリアメタル12、あるいはCu16とキャップ層19との界面近傍に、不純物15を固溶させる、不純物15を析出させる、非晶質Cu14を存在させるまたはCuとの化合物を形成することにより、界面近傍の空孔を減らし、Cuのエレクトロマイグレーション(EM)に対する界面拡散の寄与を減少させ、寿命を増大させ、同時に、密着性を高め、ストレスマイグレーション耐性を向上させた。 (もっと読む)


【課題】 低コストにて歩留まり,信頼性,電気的特性の高い半導体装置を作製する。
【解決手段】 絶縁膜60上の下層絶縁膜61に銅の下層配線62を形成(S61)した後、プラズマCVD法により層間絶縁膜63,ストッパ膜64を順次形成し、ストッパ膜64における下層配線62上に孔64aを形成してから、ドライエッチングして層間絶縁膜63にコンタクトホール63aを形成する(S62)。その後、上層絶縁膜65を形成しマスク66を介してドライエッチングすることにより、上層絶縁膜65に溝部65aを形成すると共に、コンタクトホール63a中の上層絶縁膜65を除去する(S63)。そして、バリア膜67を形成(S64)した後、Cu−Ni膜,Cu−Zn膜,Cu−Zn−Ni膜のうち何れかを堆積してシード膜68を形成する(S65)。 (もっと読む)


【課題】 Al層上にCu層を接続性よく形成することができる、多層配線構造又は電極取り出し構造、電気回路装置、及びこれらの製造方法を提供することにある。
【解決手段】 アルミニウムの電極パッド56、57及び電極層77上に絶縁層79を形成する工程と、電極パッド56、57及び電極層77上において絶縁層79にビアホール70’を形成する工程と、ビアホール70’内に無電解Niメッキ層81を形成する工程と、無電解Niメッキ層81上にCu配線86を形成する工程とを有する、多層配線構造又は電極取り出し構造の製造方法。 (もっと読む)


【課題】 導体層の研磨中に導体層の剥がれを防止できる配線基板の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 基板10の一方の面10aに少なくとも孔10bを形成する工程と、基板10の一方の面10a上、他方の面10e上及び側面10f上と、孔10bの内面上とに、めっき給電層14を形成する工程と、電解めっきにより、めっき給電層14を介して、基板10の一方の面10a上、他方の面10e上及び側面10f上に形成され、かつ孔10bを埋め込む金属層18を形成する工程と、金属層18を研磨することにより、孔10bに金属層18が埋め込まれた金属層のパターン17a,17bを形成する工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】エミッタ配線からバイアホール、サーマルビアを介して多層配線基板下面につながる放熱経路の熱抵抗を低減し、半導体装置全体の熱抵抗を低減すること。
【解決手段】厚さ方向に貫通孔4を有する多層配線基板3において、多層配線基板3に実装される半導体基板1がその厚さ方向に貫通孔5を有し、かつ、多層配線基板3及び半導体基板1の厚さ方向と直交する平面内において、半導体基板の貫通孔5の占める領域全体が多層配線基板内貫通孔4の占める領域に含まれている多層配線基板。 (もっと読む)


【課題】 上層配線層と下層配線層とを、アスペクト比の高いビアコンタクトで接続した多層配線構造を提供する。
【解決手段】 多層配線構造のビアコンタクト形成工程が、ビアホールの底面上に触媒層を設け、触媒層上にビアホールの上方に向ってめっき金属層を成長させ、めっき金属層でビアホールを充填する無電解めっき工程からなる。 (もっと読む)


【課題】 絶縁層及びヴィア形成において、形成された絶縁層の表面が非常に平滑となり、薄膜素子等を信頼性及び歩留り良く、高い自由度を以って形成でき、さらには微小なヴィア形成が可能である絶縁層及びヴィア(接続孔)の形成方法、及びそれを用いた多層配線基板並びにモジュール基板等の配線構造及びその形成方法を提供する。
【解決手段】 台座20を介してマスク基板21を配置し、この基板21とコア基板1との間に感光性エポキシ樹脂などの感光性絶縁材料3Aを介在させ、これをパターン露光して現像してヴィアホール7を形成する。この現像により、微小なヴィアホール7を形成できると同時に、マスク基板21のコア基板対向面21aによって絶縁材料(従って、絶縁層3)を平坦かつ滑らかな表面に、しかも常に設定された厚みに形成することができる。 (もっと読む)


【課題】 電気的特性のみならず耐環境性にも優れた配線を実現し、ひいては当該配線を内装した半導体装置や配線基板等の信頼性の向上に寄与することを目的とする。
【解決手段】 絶縁層11,13に形成されたビア・ホールを介して下層の導体層12に電気的に導通するように絶縁層13と下層の導体層12とを覆って形成された金属薄膜14上に形成された配線層17の表面を、耐環境性に優れた材料からなる被覆層18で覆うように構成する。この被覆層18を構成する耐環境性に優れた材料としては、好適には、ニッケル/金、ニッケル/パラジウム、又はニッケル/パラジウム/金が用いられる。 (もっと読む)


【課題】その中にマイクロトレンチを含まない低誘電体層間絶縁膜金属導体配線構造およびそのような構造の形成方法を提供する。
【解決手段】導体抵抗に対する制御は、第1の原子組成を有する多孔性の低誘電体層間絶縁膜の線とバイア誘電体層との間に位置する第2の原子組成を有する埋込みエッチング停止層により行われる。本発明の配線構造は、また、二重波形模様タイプの配線構造を形成する際に助けになるハードマスクを含む。第1および第2の組成は、エッチング選択性が少なくとも10:1またはそれ以上になるように選択され、特定の原子組成および他の発見できる量を有する多孔性の低誘電体層間絶縁膜有機材料または無機材料の特定のグルーブから選択される。 (もっと読む)


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