【課題】電界効果トランジスタを有する半導体装置のトランジスタ性能を向上させることのできる技術を提供する。
【解決手段】ゲート絶縁膜５およびゲート電極６ｎ，６ｐの側面にサイドウォール９を形成した後、サイドウォール９の両側の半導体基板１に不純物をイオン注入して不純物領域を形成する。続いて、半導体基板１の主面上に第１絶縁膜１４、第２絶縁膜１５、および第３絶縁膜１６を順次形成した後、イオン注入された上記不純物を活性化する熱処理を行う。ここで、第１絶縁膜１４は、第２絶縁膜１５よりも被覆性のよい膜であり、かつ、第２絶縁膜１５とエッチング選択比が異なる膜である。第２絶縁膜１５は、第１絶縁膜１４よりも水素の拡散を阻止する機能が高い膜である。第３絶縁膜１６は、第１絶縁膜１４および第２絶縁膜１５よりも内部応力の変化が大きい膜である。 （もっと読む）

【課題】サリサイドプロセスにより金属シリサイド層を形成した半導体装置の信頼性を向上させる。
【解決手段】部分反応方式のサリサイドプロセスによりゲート電極８ａ、８ｂ、ｎ^＋型半導体領域９ｂおよびｐ^＋型半導体領域１０ｂの表面に金属シリサイド層４１を形成する。金属シリサイド層４１を形成する際の第１の熱処理では、熱伝導型アニール装置を用いて半導体ウエハを熱処理し、第２の熱処理では、マイクロ波アニール装置を用いて半導体ウエハを熱処理することにより、第２の熱処理を低温化し、金属シリサイド層４１の異常成長を防ぐ。これにより金属シリサイド層４１の接合リーク電流を低減する。 （もっと読む）

【課題】触媒層の凝集を抑制し、また炭素の拡散性を制御して、欠陥の無いグラファイト膜を形成することができるグラフェン構造を含むグラファイト膜による配線パターンの形成方法の提供。
【解決手段】触媒層の凝集を抑制し、また炭素の拡散速度を適切に速度に調節することができる合金層又は積層体からなる触媒層を利用して、グラフェン構造を有するグラファイト膜で構成された配線パターンの形成方法を提供する。 （もっと読む）

【目的】Ｃｕ配線寿命の劣化と絶縁膜の絶縁性劣化を共に低減する半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。
【構成】本発明の一態様の半導体装置の製造方法は、チャンバ内面にシリコン（Ｓｉ）膜を表面層とする多層膜を形成する工程（Ｓ１０２）と、前記多層膜が内面に形成されたチャンバ内に、表面に銅（Ｃｕ）配線と絶縁膜とが形成された基板を配置して、希ガスプラズマ処理を行なう工程（Ｓ１０６）と、を備えたことを特徴とする。 （もっと読む）

半導体材料（１）上に少なくとも１つの導体を形成する方法は、（Ｅ１）−シルクスクリーン印刷によって第１の高温ペーストを堆積させるステップと、（Ｅ２）−前のステップの間に堆積された第１の高温ペーストに少なくとも部分的に重ねて、シルクスクリーン印刷によって、低温ペーストを堆積させるステップとを有する。 （もっと読む）

【課題】 金属の微粒子の分散体を用いて絶縁基板上に低体積抵抗率の導電層を得ることができる、金属薄膜の形成方法を提供する。
【解決手段】 銅粒子表面のＣｕ（Ｉ）とＣｕ（II）の比が１００対０〜３０対７０モル比の範囲にある銅粒子の分散体からなる塗膜に過熱水蒸気による加熱処理を施す工程を含む、銅薄膜の製造方法およびこの方法で製造された銅薄膜。前記塗膜は銅粒子分散体を絶縁性基板に塗布または印刷されたものであることが好ましい。 （もっと読む）

【課題】印刷塗布して形成された絶縁膜の絶縁特性を良好に保持した状態で、生産性を向上することが可能なアクティブマトリックスアレイ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】下地層３４上に絶縁膜インクを印刷塗布する。印刷塗布された絶縁膜インクに含まれる溶媒が所定の絶縁特性が得られるまで十分に揮発させる前に終了するように絶縁膜インクを焼成して絶縁膜３２を形成する。下地層３４上に形成された絶縁膜３２上に１つ以上の開口部３３を有する導電層３１を形成する。それにより、導電層３１に設けられた開口部３３から絶縁膜３２内に残っている溶媒を揮発させることができるので、導電層３１におおわれた絶縁膜３２の絶縁特性を良好にすることができる。また、絶縁膜３２が十分に揮発する前に、絶縁膜３２上に導電層３１を形成することができるので、生産性を良くすることができる。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の性能を向上させる。
【解決手段】半導体基板１上に複数のロジック用ｐチャネル型ＭＩＳＦＥＴＱｐ１と、複数のロジック用ｎチャネル型ＭＩＳＦＥＴＱｎ１と、複数のメモリ用ｐチャネル型ＭＩＳＦＥＴＱｐ２と、複数のメモリ用ｎチャネル型ＭＩＳＦＥＴＱｎ２とが混載されている。複数のロジック用ｐチャネル型ＭＩＳＦＥＴＱｐ１のうちの少なくとも一部は、シリコンゲルマニウムで構成されたソース・ドレイン領域を有し、複数のロジック用ｎチャネル型ＭＩＳＦＥＴＱｎ１の全ては、それぞれシリコンで構成されたソース・ドレイン領域を有している。複数のメモリ用ｐチャネル型ＭＩＳＦＥＴＱｐ２の全ては、それぞれシリコンで構成されたソース・ドレイン領域を有し、複数のメモリ用ｎチャネル型ＭＩＳＦＥＴＱｎ２の全ては、それぞれシリコンで構成されたソース・ドレイン領域を有している。 （もっと読む）

本発明は、厚膜金属層１４を有する集積回路１０を製造する装置に関する。金属ペースト１４の層は、熱伝導基板１２上に適用手段２４によって適用される。金属ペースト１４は、予め決められたサイズの金属粒子を含む。ＲＦ生成器１６は、金属ペースト１４にＲＦエネルギー１８を選択的に誘導結合させる。金属粒子を加熱するために、金属ペースト１４の金属粒子の予め決められたサイズは、ＲＦエネルギー１８の結合周波数に対応する。このようにして、金属ペースト１４の金属粒子は、従来のプロセスのパワーの何分の一かのパワーで、金属ペースト１４を予備焼結する必要なく、加熱される。
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【課題】ワークの全面にわたって均一なＵＶキュア処理を長期間にわたって施すことが可能な半導体ウェハ処理装置を提供する。
【解決手段】炉体１５は、シャッタ１３および蓋部１８を有する。ホットプレート１６は、炉体１５の内部における蓋部１８の下方に配置され、ワーク２４を下から支持しつつ加熱するように構成される。エキシマランプ２０は、蓋部１８に設けられた、ホットプレート１６上のワーク２４を露光する紫外線を照射可能である。石英ガラス２２は、板状を呈しており、エキシマランプ２０とワーク２４とを隔てるように支持部１５２に支持される。第１の第１のパージ管２８および第２の第２のパージ管２６は、石英ガラス２２に昇温されたパージガスを吹き付けるように構成される。 （もっと読む）

【課題】静電気防止素子のノーマルコンタクトと半導体素子のブランケットコンタクトを同時に形成する。
【解決手段】本発明の半導体素子の製造方法は、基板上に静電気防止素子に対するアクティブ領域と、第１ポリゲート及び半導体素子に対するアクティブ領域と、ブランケットトレンチ形態の第２ポリゲートとを形成する段階と、前記基板上に第１絶縁膜と第２絶縁膜を含む層間絶縁層を形成する段階と、前記層間絶縁層に平坦化工程を行う段階と、前記第１ポリゲート上に形成された層間絶縁層の一部を開口させたコンタクトパターンを形成する段階と、前記コンタクトパターンの下の第２絶縁膜を第１エッチングして第１ポリゲート上のトレンチを形成する段階と、第２エッチングを行って前記第１ポリゲート上のトレンチ内部の第１絶縁膜を除去し、前記第２ポリゲートを除いた前記半導体素子のアクティブ領域上の第１絶縁膜を除去する段階とを含む。 （もっと読む）

【課題】塗布プロセス（印刷やＩＪ）により製造が可能であって、電磁波照射による異常放電がなく、生産効率及び生産安定性が高く、かつキャリア移動度及びｏｎ／ｏｆｆ比が向上した電子デバイス及びその製造方法を提供することにある。
【解決手段】基板上に、電極を有し、少なくとも１部に熱変換材料または熱変換材料を含むエリアと、前記熱変換材料または熱変換材料を含むエリアに隣接もしくは近接して電磁波吸収能を持つ物質または電磁波吸収能を持つ物質を含むエリアを配置し、電磁波を照射して、該電磁波吸収能を持つ物質が発生する熱により、熱変換材料を機能材料に変換する電子デバイスの製造方法において、前記電極の辺が形成する角が全て９０°より大きく１８０°より小さい、または、曲面であることを特徴とする電子デバイスの製造方法。 （もっと読む）

【課題】透明導電性微粒子を含む流動性材料の塗布により、ゲート電極を形成する方法において、従来よりも低抵抗、かつ充分な表面平滑性をもった透明導電膜の製造方法を提供する。
【解決手段】ガラス基板１０６上に、金属酸化物微粒子（ＩＴＯ）及び金属酸化物の前駆体を含む薄膜１０４”を塗布する。この薄膜にマイクロ波を照射することにより、前駆体が発熱体として作用し、焼成され、導電性薄膜を形成する。これをパターンニングしゲート電極１０４とする。ついで、ゲート絶縁膜１０５を形成し、半導体前駆体を塗布、乾燥し、半導体前駆体材料薄膜１０１’を得る。これにマイクロ波を照射することにより、ゲート電極が発熱し、この熱により半導体前駆体材料薄膜が加熱され、酸化物半導体膜に変換され半導体層１０１が形成される。マスクを介して金を蒸着し、ソース、ドレイン電極１０２，１０３を形成し、薄膜トランジスタとする。 （もっと読む）

【課題】Ａｌ系薄膜と導電膜が直接接続する構造を備えたものであって、該Ａｌ系薄膜と導電膜の接触抵抗の安定的低減が可能な表示装置の製造方法を提供する。
【解決手段】基板上にて、純ＡｌまたはＡｌ合金からなる薄膜（以下「Ａｌ系薄膜」という）と導電膜が直接接続する構造を有する表示装置の製造方法であって、前記Ａｌ系薄膜を形成する工程、該Ａｌ系薄膜上に絶縁膜を形成する工程、該絶縁膜にコンタクトホールを形成する工程、および前記導電膜を形成する工程を含み、前記コンタクトホールを形成する工程の後であって前記導電膜を形成する工程の前に、または、前記導電膜を形成する工程において、前記Ａｌ系薄膜の急速加熱および／または急冷を行って該Ａｌ系薄膜上の自然酸化膜に亀裂を生じさせる工程を含むようにする。 （もっと読む）

【課題】金属微粒子分散体の基板への塗布と加熱処理による焼結とにより基板上に形成される金属膜からなる金属膜パターンの焼結性を向上させ、さらに金属膜パターンと基板との密着性を向上させることができる金属膜パターンの製造方法を提供する。
【解決手段】基板表面上に金属微粒子分散体を塗布する工程と、前記金属微粒子分散体を乾燥して金属膜前駆体を形成する工程と、前記金属膜前駆体にエネルギー線を照射して金属膜化領域を形成する工程と、誘導加熱法による加熱により前記金属膜化領域の近傍の前記金属膜前駆体をさらに金属膜化する工程と前記金属膜前駆体を除去する工程とからなる。 （もっと読む）

【課題】Ｎチャネル領域内、およびＰチャネル領域内のチャネルに印加するストレスを制御でき、面積の増加抑制および歩留まりの低下を実現できる半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】Ｎチャネル領域２０１内のコンタクトライナー５１３にＳｉより大きな元素イオンを注入して構成原子の結合を切断する。Ｐチャネル領域２０２内のコンタクトライナー５１３にＳｉより大きな元素イオンを注入して構成原子の結合を切断後、酸素などをイオン注入する。その後、熱処理を加えてＮチャネル領域２０１内のコンタクトライナー５１３を収縮させてｎチャネルコンタクトライナー５１８を形成し、Ｐチャネル領域２０２内のコンタクトライナー５１３を膨張させてｐチャネルコンタクトライナー５１９を形成する。 （もっと読む）

【課題】金属シリサイド層の電気的特性のばらつきを低減することにより、半導体素子の信頼性および製造歩留まりを向上させることのできる技術を提供する。
【解決手段】半導体基板１上にニッケル−白金合金膜を形成した後、熱処理温度が２１０〜３１０℃の１回目の熱処理をヒータ加熱装置で行うことで、ニッケル−白金合金膜とシリコンとを反応させて（ＰｔＮｉ）_２Ｓｉ相の白金添加ニッケルシリサイド層３３を形成する。続いて未反応のニッケル−白金合金膜を除去した後、１回目の熱処理よりも熱処理温度が高い２回目の熱処理を行い、ＰｔＮｉＳｉ相の白金添加ニッケルシリサイド層３３を形成する。１回目の熱処理の昇温速度は１０℃／秒以上（例えば３０〜２５０℃／秒）とし、２回目の熱処理の昇温速度は１０℃／秒以上（例えば１０〜２５０℃／秒）とする。 （もっと読む）

【課題】 光アニールされる際の半導体基板の昇温時間を遅らせることなく温度ムラを低減することができ、回路性能の向上に寄与する。
【解決手段】 主波長が１．５μｍ以下の照射光による光アニール工程を経る半導体装置であって、半導体基板上に形成された、回路動作に関与する集積回路パターン２１，２２を有する回路パターン領域２０と、基板上に回路パターン領域２０と離間して形成され、集積回路パターンに用いられるゲートパターン２１と同じ構造で回路動作に関与しないダミーゲートパターン３１が主波長の０．４倍以下のピッチで周期的に配置されたダミーパターン領域３０とを備えた。 （もっと読む）

【課題】ＳＯＩ構造を有する半導体装置において、高性能化、低消費電力化を目的の一とする。また、より高集積化された高性能な半導体素子を有する半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】絶縁表面を有する基板上に複数の電界効果トランジスタがそれぞれ層間絶縁層を介して積層している半導体装置とする。複数の電界効果トランジスタの有する半導体層は半導体基板より分離されており、該半導体層は絶縁表面を有する基板、又は層間絶縁層上にそれぞれ設けられた絶縁層に接して接合されている。複数の電界効果トランジスタはそれぞれ前記半導体層に歪みを与える絶縁膜で覆われている。 （もっと読む）

【課題】埋め込まれた金属の酸化、及びパターン欠損の発生を抑制しつつ、低誘電率絶縁膜自体の電気的特性を十分に回復できる低誘電率絶縁膜のダメージ回復方法を提供すること。
【解決手段】低誘電率絶縁膜の表面に加工処理によって生じたダメージ性官能基を、疎水性官能基に置換し（ＳＴ．２）、低誘電率絶縁膜の表面に置換処理によって生じたデンス層の下に存在するダメージ成分を、紫外線加熱処理を用いて回復させる（ＳＴ．３）。 （もっと読む）