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Fターム[5F038BH10]の内容

半導体集積回路 (75,215) | 保護、誤動作 (9,078) | 利用する効果 (5,116) | シールド (400)

Fターム[5F038BH10]に分類される特許

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【課題】多層配線構造を有する半導体デバイスにおいて、樹脂層の平坦性を容易に確保できるようにする。
【解決手段】集積回路を有する半導体基板11と、半導体基板11上に設けられた第1樹脂層12と、第1樹脂層12上に設けられた第1配線層13と、第1配線層13の一部を露呈する開口部15を有し第1樹脂層12及び第1配線層13を覆う第2樹脂層14と、第2樹脂層14上に設けられ開口部15を通じて第1配線層13と導通する第2配線層16とを少なくとも備える半導体デバイスにおいて、第1配線層13の近傍を除く半導体基板11の全域にわたり、第1配線層13と略同一の高さを有する構造体18を配する。 (もっと読む)


【課題】高耐圧デバイスにおいて、ボンディング・パッドが高耐圧構造となっているものが望まれていた。
【解決手段】ボンディング・パッド22を構成する3層の金属膜層37、38、39の下方の半導体領域25が、その周囲の半導体領域25から絶縁された状態となっている。そのために、ボンディング・パッド22の下方の半導体領域周囲は、DTI36により取り囲まれている。
【効果】ボンディング・パッド22の下方の半導体領域25の周囲をDTI36で取り囲むことにより、ボンディング・パッド22が周囲の半導体領域25に対して電気的に遮断されたフローティング状態になっており、ボンディング・パッドは高耐圧構造となっている。 (もっと読む)


【課題】集積回路を有する半導体デバイスにおいてICの直近でもEMI対策を行うことが可能な半導体デバイス及びその製造方法を提供する。
【解決手段】集積回路を有する半導体基板11と、半導体基板11上に設けられた第1の絶縁層14と、第1の絶縁層14上に設けられた渦巻き状のコイル10と、第1の絶縁層14上において渦巻き状のコイル10を覆う第2の絶縁層16とを備えた半導体デバイスであって、半導体基板11と第1の絶縁層14との間に第1のフェライト層12が設けられ、第1の絶縁層14及び第2の絶縁層16を覆う第2のフェライト層13が設けられ、渦巻き状のコイル10が、第1のフェライト層12と第2のフェライト層13との間に配置されている。 (もっと読む)


【課題】 半導体基板の平坦性を確保しつつ寄生抵抗を十分に低減した半導体装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 半導体基板100と、半導体基板100表面に形成されたダミーアクティブ層103と、ダミーアクティブ層103が形成された半導体基板100表面上に形成されたシールド絶縁膜109と、シールド絶縁膜109上に形成されたシールド層110と、半導体基板100上にシールド絶縁膜109及びシールド層110を覆うように形成された層間絶縁層111と、層間絶縁層111上に、シールド層110上方に位置するように形成された導体パッド114とを備えることにより、半導体基板100のCMPによる平坦化を安定させつつ寄生抵抗を十分に低減した半導体装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】複数の信号入力元の内、少なくとも1つ以上の電源電圧が変動した場合に、通信ドライバを不用意にアクティブ状態にすることを防止できる信号出力装置を提供する。
【解決手段】通信用ドライバ1に対し、2つのマイコンより入力される信号をANDゲート4を介して負論理の論理和条件で出力する場合に、2つのマイコンの1つは電源VCC1が供給され、他の1つは電源VCC2が供給されている状態から、電源VCC2側の供給が遮断されたとしても、通信用ドライバ1に対するANDゲート4の出力がインアクティブレベルを維持するように構成する。具体的には、電源VCC2が供給されて動作するNOTゲート12と電源VCC1が供給されて動作するNOTゲート13とを直列に接続し、NOTゲート13の入力端子を抵抗素子14でプルダウンする。 (もっと読む)


【課題】タイミング特性、配線性、素子面積に影響を与えることなく異なる電源領域に跨ってセル間の配線が容易に可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】電源電圧VDD−Aが供給される電源領域A内に設けられ、電源電圧VDD−Aを供給されて動作し信号を出力するセル101と、電源電圧VDD−Dが供給される電源領域D内に設けられ電源電圧VDD−Aを供給されて動作しセル101から出力された信号を与えられて出力する中継セル111〜113と、電源領域A内に設けられ電源電圧VDD−Aを供給されて動作し中継セル113から出力された信号を受信するセル102とを備える。 (もっと読む)


電子デバイスの間で電気信号を伝送するインターコネクトは、第2の結合要素に電磁気的に結合され且つその第2の結合要素と直に並列にされる第1の結合要素を有する。第1の結合要素は、第1の集積回路を有する第1の電子デバイスに実装され且つその第1の電子デバイスに電気的に接続される。第2の結合要素は、第1の電子デバイスに実装され且つその第1の電子デバイスに電気的に接続されるとともに、第2の電子デバイスのインターコネクトへ電気的に接続されてよく、あるいは、第2の結合要素は、第2の電子デバイスに実装され且つその第2の電子デバイスに電気的に接続されてよい。
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【課題】
本発明の課題は、スクライブライン領域を縮小化すると、ウエハ上に形成された半導体装置それぞれを分離するときに発生するクラックが、耐湿リングシールドに達することを防止することにある。
【解決手段】
本発明は、半導体基板上に形成された半導体装置であって、素子を有する素子領域と、前記素子領域を囲う耐湿リングと、前記耐湿リングと前記半導体装置の外周端との間であって前記半導体基板上に形成された絶縁層、前記絶縁層中に、前記外周端に沿って延在する第1金属線と、前記絶縁層に形成された溝とを有することを特徴とする半導体装置を提供する。
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【課題】複数の電源受給領域間での信号の行き来の発生を検出し、実デバイスにおいて、予測不能なタイミング違反が発生することを防止できるレイアウト設計方法およびレイアウト設計装置を提供する。
【解決手段】複数の電源受給領域のそれぞれに、対応する電源の供給を受けて動作する回路セルを配置し、回路セル間の接続の情報を含む第1のレイアウトデータを作成し、回路が動作タイミングの仕様を満たすように回路セル間に追加セルを配置し、回路セルおよび追加セル間の接続の情報、並びに、回路セルおよび追加セルのそれぞれが複数の電源受給領域のいずれに位置するかを示す電源受給領域情報を含む第2のレイアウトデータを作成し、第1のレイアウトデータと第2のレイアウトデータとを比較して追加セルを把握するとともに、追加セルの後段および前段に接続される回路セルであるレシーバセルとドライバセルとの間で異なる電源受給領域間の行き来が発生している箇所を抽出する。 (もっと読む)


【課題】小さい占有面積で急峻な減衰特性を有するフィルタを備える半導体装置を提供する。
【解決手段】インダクタ3,4は、シリコン基板9の上方から見た場合に、シリコン基板9の主表面の面内方向に沿って並べられる。インダクタ3,4は、シリコン基板9の上方から見た場合に、主表面の所定の領域RGを囲むように渦巻状に形成される。フィルタ50には複数のインダクタが含まれるので、急峻な減衰特性を得ることが可能になる。領域RGを囲むようにインダクタ3,4を渦巻状に形成することによって、インダクタ3,4をシリコン基板9の主表面の面内方向に単に並べて配置するよりもインダクタ3,4の占有面積を小さくできる。 (もっと読む)


【課題】LDMOSFETの出力電力および負荷効率を向上させる。
【解決手段】相対的に上層のソース配線である配線29Aは、RFパワーモジュールの電流容量を満たすために厚い膜厚で形成し、1層目のソース配線である配線24Aは、配線29Aの膜厚の半分以下の膜厚で形成し、相対的に膜厚の厚い配線29Aではゲート電極7上を覆わずに、相対的に膜厚の薄い配線24Aでゲート電極7上を覆ってゲート電極7とドレイン配線との間をシールドする構造としてソース、ドレイン間の寄生容量(Cds)を低減する。 (もっと読む)


【課題】 インダクタを組み込んだ改善された静電放電(ESD)回路構造体を提供する。
【解決手段】 回路(例えば、静電放電(ESD)回路)、設計方法、及び、設計システムの実施形態が開示される。回路において、ESDデバイスが第1の金属レベル(例えば、M1)に配線接続される。第1の金属レベルの上の第2の金属レベル(例えば、M5)内にインダクタが形成され、ESDデバイスの上に配置され、このESDデバイスに単一の垂直ビア・スタックによって並列に電気的に接続される。インダクタは、所与の適用周波数に対して、ESDデバイスのキャパシタンス値を無効化するように構成される。インダクタのクォリティ・ファクタは、第2の金属レベルと第1の金属レベルとの間の第3の金属レベル(例えば、M3)に、誘導結合を最小にするためのシールドを設けることにより最適化される。シールド内の開口部はビア・スタックがその中を貫通できるようにし、サイズ・スケーリング及びESDロバスト性の改善にたいしてQファクタの減少をトレードオフする。 (もっと読む)


【課題】配線間が抵抗で接続された回路を半導体基板上に有する半導体装置において、前
記抵抗を、半導体基板やこの抵抗に接続されていない配線から電界の影響を受け難いよう
に形成する。
【解決手段】この半導体装置は、第1の配線10と第2の配線20aが抵抗14で接続さ
れた回路を、n基板(半導体基板)1上に有する。第1の配線10と第2の配線20aが
絶縁膜12を挟んで層状に形成され、絶縁膜12に形成されたバイアホール13内に抵抗
14が形成されている。 (もっと読む)


【課題】ノイズ信号を軽減し、入力信号を安定に増幅動作させることができる反転増幅回路対を提供する。
【解決手段】抵抗1,2と演算増幅回路3からなる反転増幅回路9,10を2段直列に接続し、反転増幅回路9のマスクレイアウト、反転増幅回路10のマスクレイアウトを半導体回路チップ8上に隣接配置することにより、反転増幅回路9の出力ノイズ信号VN1は反転増幅回路10では極性が、反転増幅回路10に進入するノイズ信号VN2と逆極性となって、また反転増幅回路9と反転増幅回路10に進入するノイズは、反転増幅回路9と反転増幅回路10が、隣接配置されることで相関を持ち、ノイズの大きさ、時間的位置がほぼ同等となるので、打ち消す作用が生じ、信号に含まれるノイズレベルを軽減することができる反転増幅回路対を得る。 (もっと読む)


【課題】容量素子の大容量化と半導体装置の小面積化の両立を図る。
【解決手段】互いに種類が異なる複数の容量素子を半導体基板1上に積み重ねて配置して並列に接続する。これらの容量素子は、同じ平面領域に配置し、平面寸法をほぼ同じにする。下側の容量素子は、半導体基板1に設けたn型半導体領域4と、n型半導体領域4上に絶縁膜5を介して設けた上部電極6とを両電極とするMOS型の容量素子C1とすることができる。容量素子C1の上部に配線M2〜M6の櫛型のパターンにより形成したMIM型の容量素子を配置し、これを容量素子C1と並列に接続する。 (もっと読む)


【課題】ポリシリコンからなる高抵抗素子において、抵抗値を安定して高く保ち、同時に高い相対精度特性を有する素子を形成することは困難であった。
【解決手段】第1の絶縁膜2上に形成されたポリシリコンからなる高抵抗素子3上に第2の絶縁膜を形成し、第2の絶縁膜4上に水素拡散係数が第2の絶縁膜4中の水素拡散係数より小さな物質からなる水素拡散防止膜5が高抵抗素子3の一部を覆う形状で形成されている。 (もっと読む)


【課題】単位面積当たりの容量を大きくする。
【解決手段】半導体集積回路であって、第1の電極と、半導体基板上に形成され、第2の電極を有するトランジスタと、同一の配線層に形成された第3及び第4の電極とを有する。前記第1の電極は、前記トランジスタを構成する拡散領域と接続されている。前記第2の電極は、前記トランジスタのゲートを構成している。前記第3及び第4の電極は、いずれも櫛形の形状を有しており、それぞれの少なくとも一部が前記トランジスタと重なるように形成されている。 (もっと読む)


【課題】実装基板の配線が半導体チップの高周波配線に及ぼす影響を小さく抑えることが可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置1は、半導体チップ10、および実装基板30を備えている。半導体チップ10は、半導体基板12、配線層14、および高周波配線16を有している。半導体基板12上には、配線層14が設けられている。配線層14中には、高周波配線16が形成されている。半導体チップ10は、実装基板30上にフェイスダウンで実装されている。高周波配線16と実装基板30の配線34との間には、電磁遮蔽層40が設けられている。 (もっと読む)


【課題】 トランジスタ回路とブリーダー抵抗回路とを備えた半導体装置において、ブリーダー抵抗の抵抗値変動を抑制することを目的とする。
【解決手段】 トランジスタ構造の上に層間絶縁膜107を介して金属膜としてバリアメタル膜104及び配線膜103を積層してなるトランジスタ回路と、ポリシリコン膜よりなるブリーダー抵抗102の上に層間絶縁膜107を介して金属膜として配線膜103を積層するか、ブリーダー抵抗102と接合する部分のみをバリアメタル膜104としたブブリーダー抵抗回路とを備えるので、ポリシリコン膜であるブリーダー抵抗102に及ぶ応力が少なくなり、ブリーダー抵抗102の抵抗値変動を抑えることができる。また、トランジスタ回路の配線として用いられる金属膜についてはバリアメタル膜が存在するので、配線の信頼性を損なう事もない。 (もっと読む)


【課題】接地能力を強めて、アンテナを内蔵する3D電子パッケージ構造を提供する。
【解決手段】パッケージユニット300はユニットの上部および下部表面上の信号接触302,314,315,316を通してマルチチップスタックを成し遂げることができる。単一または複数の接地層311は、半導体素子のための接地を容易にするためにパッケージユニット300の基板の裏にあり、ウェーハレベルパッケージングプロセスに適用される。前記接地層311は電子素子の信号伝送路である。また、電子素子層313の周囲の単一または複数のビアホールは、パッケージ構造の上部および下部表面の間の電気信号接続を可能にし、パッケージユニット300のさらなる機能性を可能にする。さらに、接地層311はアンテナを内蔵した3Dスタックパッケージ構造を構成するための円形の信号通信路を有しうる。 (もっと読む)


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