説明

Fターム[5F043AA27]の内容

ウェットエッチング (11,167) | 被エッチング体 (2,299) | 半導体以外の導電層 (575) | 金属 (484) | 多層構造 (81)

Fターム[5F043AA27]に分類される特許

41 - 60 / 81


【課題】薄膜トランジスタ液晶表示装置用として、優れたプロファイルが形成できるゲート配線材料薄エッチング組成物を提供する。
【解決手段】エッチング組成物は、同一組成物を使用して、薄膜トランジスタ液晶表示装置の画素電極を構成する非晶質ITO及びTFTを構成するゲート配線材料であるMo/Al−Nd二重膜を単一工程によって、下部膜であるAl−Ndのアンダーカット現象なしにエッチングして、優れたテーパーを得ることができると同時に、ソース/ドレイン配線材料であるMo単一膜でも優れたプロファイルが形成できる効果がある。 (もっと読む)


【課題】 銀又は銀合金からなる金属膜と透明導電膜とを一液で、かつ工業的に満足できる速さでエッチングできるエッチング液及びエッチング方法を提供する。
【解決手段】 銀又は銀合金からなる金属膜と透明導電膜とを一液でエッチングするための組成物として、銅イオン、硝酸、及びフッ素化合物を含有する組成物を使用する。 (もっと読む)


【課題】薄膜トランジスタ液晶表示装置用の金属配線形成のためのエッチング液組成物を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタ液晶表示装置(TFT−LCD)の電極用金属層のエッチングに使われるエッチング液組成物に係り、全体エッチング液組成物重量に対して、リン酸45〜70重量%、硝酸1.5〜6重量%、酢酸10〜30重量%、Moエッチング調整剤0.01〜3重量%、スルホン酸化合物0.1〜1.999重量%及び組成物総重量を100重量%にする量の水を含むエッチング液組成物。 (もっと読む)


【課題】ウエットエッチングに近い金属を溶解するエッチング方法でありながら、微細なエッチングを正確且つ効率的に行うことができるエッチング方法を提供する。
【解決手段】基板の表面上の所定部位に、エッチング剤を内包するマイクロカプセルを配してパターニングを行った。マイクロカプセルの外殻体は、乳化重合により製造された高分子材料で構成されている。次に、基板の表面上にパターニングされたマイクロカプセルに熱又は圧力を加えると、マイクロカプセルが破壊してエッチング剤が放出され、基板の表面に接触する。すると、基板の表面の金層のうちマイクロカプセルが付着していた部分の金層が酸化溶解してエッチングされ、マイクロカプセルが付着していなかった部分に金からなる電極配線が形成された。 (もっと読む)


【課題】 チタンを主成分とする層とアルミニウムを主成分とする層とを含んでなる積層体中のチタンを主成分とする層及びアルミニウムを主成分とする層をエッチングするのに好適なエッチング液及びエッチング方法を提供する。
【解決手段】 珪フッ化水素酸、水、及び珪フッ化水素酸塩を含有するエッチング液。及び、珪フッ化水素酸、水、及び珪フッ化水素酸塩を含有するエッチング液により、チタンを主成分とする層とアルミニウムを主成分とする層とを含んでなる積層体を一括エッチングする方法。チタンを主成分とする層とアルミニウムを主成分とする層とを含んでなる積層体中のチタンを主成分とする層及びアルミニウムを主成分とする層を珪フッ化水素酸、水、及び珪フッ化水素酸塩を含有することを特徴とするエッチング液により同時にエッチングする方法。 (もっと読む)


【課題】化学機械研磨(CMP)に代わる新たな銅層エッチング方法を提供する。
【解決手段】1価の銅イオンと錯体を形成し、1価の銅イオンとの錯化定数が1×103より高い値を示し、且つ使用環境下において1価の銅イオンと形成する錯体の溶解度が0.5g/L以上の銅錯化剤、若しくは、1価の銅イオンと錯体を形成し、1価の銅イオンとの錯化定数が1×103より高い値を示し、且つ2価の銅イオンとの錯化定数が1×1020以下の値を示す銅錯化剤、例えばアセトニトリルを1wt%以上と、水を1wt%以上とを含むエッチング処理液は、特に銅を溶解する効果があるため、かかる水溶液を強制攪拌させながら銅層表面に接触させることにより余分な銅層を除去することができる。 (もっと読む)


【課題】アルミニウム膜のウェットエッチングは、等方性のエッチング特性が知られているが、ウエハを高速回転させているため、回転に伴う異方性が現れるため、ウエハ外周部の配線形状を管理することが困難であった。
【解決手段】アルミニウム膜のウエット・エッチングにおいて、フルコーンノズルを2本搭載し、1本のノズルをウエハ全面へ薬液が塗布可能な位置に設置し、もう1本のノズルを薬液濃度が薄くなるウエハ中心部(ウエハ直近の位置)に設置し同時に薬液を塗布することにより、回転数依存が少なくエッチングレート均一性を向上することが可能とするものである。 (もっと読む)


【課題】Cu又はCu合金とMo又はMo合金を含んだ積層金属層のエッチングにおいて、従来技術では困難であったサイドエッチが入らずに好ましいテーパー角のエッチング断面形状を得ることが可能なエッチング組成物を提供する。
【解決手段】必須成分として、水溶液がアルカリ性のリン酸塩及び水溶液がアルカリ性のカルボン酸塩からなる群から選択された少なくとも一種の塩と過酸化水素と水を含有してなる、Cu又はCu合金の1層又は複数層とMo又はMo合金の1層又は複数層とからなる多層積層金属層のCu又はCu合金及びMo又はMo合金を一度にエッチングするためのエッチング組成物。 (もっと読む)


【課題】表面がTiN膜であるバリアメタルが露出した部分の耐湿性を向上すると共に、パッシベーション膜を一層としても、クラックに起因する不良を無くし、また、アルミニウム合金中のSiノジュールの成長に起因する不良増加を抑えることのできる積層金属電極配線を有する半導体装置およびその製造方法を提供すること。
【解決手段】半導体基板上に所要の配線パターンで形成される金属電極配線膜として、下地のバリアメタル膜とその上に積層されるアルミニウムまたはアルミニウム合金膜2を有し、さらに、前記アルミニウムまたはアルミニウム合金膜2上に被覆される有機系パッシベーション膜7を備える半導体装置において、前記バリアメタル膜が、チタン膜3、10で挟まれた窒化チタン膜4からなる三層の積層膜を有する半導体装置とする。 (もっと読む)


【課題】遮断板を使用せずに薬液処理を可能とする裏面洗浄方法であり、容易な装置構成にて、ベベル部および基板裏面に付着したルテニウムのエッチングを行う。
【解決手段】上ノズル1と下ノズル2から基板3の上面および下面に次亜塩素酸ナトリウム水溶液を供給し、下面のルテニウム膜を除去すると同時に、上面のルテニウム膜6をパターンニングする工程と、前記ノズル1,2から基板3の上面および下面に純水を供給して次亜塩素酸ナトリウム水溶液を除去する工程と、この工程の後に、前記ノズル1,2から基板3の上面および下面に弗酸を供給して不純物を除去する工程と、この工程の後に、前記ノズル1,2から基板3の上面および下面に純水を供給して弗酸を除去する工程と、この工程の後に、スピンベース5により基板3を回転させて乾燥させる工程とを有する。 (もっと読む)


本発明は、金属Cu/Moをエッチングするのに適したエッチング剤組成物であって、該組成物の全質量に対して、1〜25質量%の過酸化水素;該組成物の全質量に対して、0.1〜15質量%のアミノ酸;該組成物の全質量に対して、0.1〜15質量%のpH安定剤;該組成物の全質量に対して、0.01〜2質量%のフッ素含有酸;該組成物の全質量に対して、0.01〜3質量%の酸性pH調整剤と、水性媒体とを含む組成物を提供する。本発明は、また、本発明のエッチング剤組成物を用いて金属Cu/Moをエッチングする方法を提供する。
(もっと読む)


【課題】CuとMoの積層金属膜のみならず従来技術では困難であったCuとMo合金の積層金属層を一度にエッチングするとともに、従来技術では困難であったサイドエッチが入らずに好ましいテーパー角のエッチング断面形状を得ることが可能なエッチング溶液を提供する。
【解決手段】必須成分として、(a)水溶液が中性又は酸性のリン酸塩及び水溶液が中性又は酸性のカルボン酸塩からなる群から選択された少なくとも一種と(b)過酸化水素と(c)水を含有してなる、銅又は銅合金の1層又は複数層とモリブデン又はモリブデン合金の1層又は複数層とからなる多層積層金属層の銅又は銅合金及びモリブデン又はモリブデン合金を一度にエッチングするためのエッチング溶液。 (もっと読む)


【課題】TFT−LCD用金属配線形成のためのエッチング液組成物を提供する。
【解決手段】組成物全体の質量に対してリン酸55〜75質量%、硝酸0.75〜1.99質量%、酢酸10〜20質量%、Moエッチング調整剤0.05〜0.5質量%、含ホウ素化合物0.02〜3質量%、及び残量の水を含むエッチング液組成物。ゲート及びソース/ドレイン配線材料であるMo/AlNd二重膜またはMo/Al/Mo三重膜を単一工程でウェットエッチングして、アンダーカット及び突出現象なしに優秀なテーパ状のエッチングプロファイルを収得でき、ドライエッチング工程を排除することによって、工程を円滑にして生産性を向上させ、生産コストを低減できる。また、過塩素酸のような環境有害物質、エッチング液の寿命を短縮させる不安定な成分、または基板のガラスを腐蝕させるフッ素系化合物が不要となる。 (もっと読む)


【課題】窒化チタン被膜を剥離するための窒化チタン剥離液であって、特にタングステン又はタングステン合金を含む層を有する半導体多層積層体においても、この層が浸食されることなく、窒化チタン被膜が剥離できる窒化チタン剥離液を提供すること。
【解決手段】過酸化水素、フッ酸、水溶性有機溶剤、及び防食剤を含有し、前記防食剤が環内に窒素原子を2個有する含窒素5員環化合物である、窒化チタン剥離液。本発明によれば、窒化チタン剥離液が、環内に窒素原子を2個有する含窒素化合物を含むので、半導体多層積層体がタングステン又はタングステン合金を含む層を有する場合においても、窒化チタン剥離液がこの層を浸食することなく、窒化チタン被膜を剥離することができる。 (もっと読む)


【課題】低抵抗値のアルミニウム系導電性薄膜、あるいは該アルミニウム系導電性薄膜やモリブデン系導電性薄膜を備えた積層導電性薄膜を、効率よくエッチングして、良好な順テーパ形状の側面が形成されるようにする。
【解決手段】アルミニウム系導電性薄膜12と、モリブデン系導電性薄膜11,13を備えた積層導電性薄膜15を、(a)リン酸と、(b)硝酸塩と、(c)有機酸と、(d)水とを含有するエッチング液、またはさらに硝酸を含有するエッチング液と接触させる。
硝酸塩としては、硝酸のアンモニウム塩、アミン塩、第4級アンモニウム塩、アルカリ金属塩などを用いる。
また、有機酸としては、ギ酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、グルタル酸、アジピン酸、ピメリン酸、マレイン酸、フマル酸、安息香酸、フタル酸、トリメリット酸、ヒドロキシ酢酸、乳酸、リンゴ酸、酒石酸、クエン酸などを用いる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、基板上にチタン膜/銅膜またはチタン合金膜/銅膜が形成された2重積層膜や、チタン膜/銅膜/チタン膜またはチタン合金膜/銅膜/チタン合金膜が形成された3重積層膜などの多重積層膜をパターニングする際、エッチング処理される基板の枚数増加に伴うエッチング性能の低下を最少にして、積層膜のパターンプロファイルが均一で、収率を増大させ、製造費用が節減できるエッチング液、及びそのエッチング液を用いた薄膜トランジスタを含む電子素子の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明は、エッチング液及び薄膜トランジスタを含む電子素子の製造方法に関し、前記エッチング液は、フッ素イオン供給源、過酸化水素、硫酸塩、リン酸塩、アゾール系化合物、及び溶媒を含む。 (もっと読む)


【課題】積層膜をウェットエッチングする場合のサイドエッチング量を制御し、膜端を均一化する。
【解決手段】提供される積層膜のエッチング方法は、基板31上に順次成膜された、互いに膜質の異なるAl膜(Al合金膜)32とMo膜(Mo合金膜)33とを少なくとも含む積層膜を、複数種類のウェットエッチング手法を組み合わせて、一括エッチングするウェットエッチング方法であって、複数種類のウェットエッチング手法には、Al膜(Al合金膜)32のサイドエッチングをMo膜(Mo合金膜)33のサイドエッチングよりも促進させるスプレーエッチングと、Mo膜(Mo合金膜)33のサイドエッチングをAl膜(Al合金膜)32のサイドエッチングよりも促進させるパドルエッチングとが、少なくとも含まれている。 (もっと読む)


【課題】銅積層膜をエッチングする際のアンダーカットを防止するトランジスタの配線膜エッチング技術を提供する。
【解決手段】エッチング液は、硝酸と、塩酸と、燐酸とを含有する水溶液で構成されており、銅酸化物の含有量の異なる膜をエッチングする際の、エッチング速度の差が小さい。従って、銅酸化物を含有する第一の銅薄膜51と、第一の銅薄膜51よりも銅酸化物の含有量の少ない第二の銅薄膜52をエッチングする際に、オーバーエッチングが起こらず、アンダーカットと呼ばれる現象が起こらない。 (もっと読む)


【課題】積層構造の金属膜を湿式エッチングする際に、テーパ角度が極端な低角度とならないようにして、断線が生じ難いパターンが得られるエッチング液組成物及びこのエッチング液組成物を使用した基板上に所定のパターンを形成する方法を提供する。
【解決手段】基板上に形成されたアルミニウム又はアルミニウム合金膜の表面にモリブデン膜が積層された積層構造の金属膜をエッチングして所定のパターンを形成するためのエッチング液組成物であって、リン酸濃度40〜70質量%、硝酸濃度0.5〜10質量%、酢酸濃度50〜15質量%、残部が水からなる。
(もっと読む)


【課題】p型MOSFETとn型MOSFETとの間で異なる所望のしきい値を得ることが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る半導体装置の製造方法は、半導体基板上にHf、 Zrの少なくとも1つと、Si、O、Nを含むゲート絶縁膜を形成し、第1、第2のゲート電極層を形成し、第1のゲート電極層上および第2のゲート電極層上に、第1の金属含有層を形成し、第2の金属含有層を形成し、保護膜を形成し、保護膜を選択的に除去し、残存する保護膜をマスクとして、第1の金属含有層および第2の金属含有層を選択的に除去し、第1の金属含有層および第2の金属含有層が選択的に除去された第2のゲート電極層上に、第3の金属含有層を成膜し、加熱処理により、第1のゲート電極層を合金化するとともに、第2のゲート電極層を合金化し、異なる組成のゲート電極を形成する。 (もっと読む)


41 - 60 / 81