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Fターム[5F043BB10]の内容

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Fターム[5F043BB10]に分類される特許

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【課題】初期故障や偶発故障の発生を低減する。
【解決手段】HFET1は、下層のGaN層13およびGaN層13の一部を露出させるトレンチT1が形成された上層のAlGaN層14よりなるIII族窒化物半導体層と、III族窒化物半導体層上に形成されたゲート絶縁膜15と、ゲート絶縁膜15上に形成されたゲート電極16と、を備える。少なくともゲート絶縁膜15と接触するトレンチT1底部のGaN層13上面には、原子層ステップが形成されている。原子層ステップのテラス幅の平均値は、0.2μm以上1μm未満である。 (もっと読む)


【課題】光取り出し効率を向上させることのできる半導体発光素子およびその製造方法を提供することを可能にする。
【解決手段】第1基板30上に、p型窒化物半導体層、窒化物半導体の多重量井戸構造を有する活性層、およびn型窒化物半導体層を、この順序で積層された第1積層膜を設ける工程と、n型窒化物半導体層の上面にn電極44を形成する工程と、n型窒化物半導体層の上面におけるn電極が形成された領域を除きアルカリ液を用いてウェットエッチングすることにより、n型窒化物半導体層の上面に凹凸を形成する工程と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】半導体薄膜を基板上に形成した後剥離する方法において、剥離のためのエッチング液の浸透速度が高く、エッチング速度の均一性を高め、短時間で良好な半導体薄膜を得ることができるようにする。
【解決手段】複数の半導体薄膜(20)が基板(11)上にあるときに、複数の半導体薄膜(20)を互いに連結して支持するための、感光性のシート状部分(101)を有する連結支持体(100)を設ける。連結支持体(100)のシート状部分(101)を半導体薄膜(20)の上に設けた後、シート状部分(101)に貫通孔(103)を形成する。貫通孔(103)が、エッチング液を少なくとも基板(11)の面に垂直な方向に通過させる。これにより、複数の半導体薄膜(20)を基板(11)から剥離する。 (もっと読む)


【課題】ノーマリオフ特性が安定的に得られる窒化物半導体装置を提供すること。

【解決手段】基板1と、基板1上に形成され、且つ、ヘテロ接合界面22aを有する窒化物半導体層2と、窒化物半導体層2に形成されたリセス3と、を備える窒化物半導体装置であって、
窒化物半導体層2は、基板1上に形成されたAlx1Inx2Ga1−x1−x2N(0≦x1<1、0≦x2≦1、0≦(x1+x2)≦1)からなるキャリア走行層22と、キャリア走行層22上に形成されたAlyGa1−yN(0<y≦1、x1<y)からなる第1の層231、第1の層231上に形成されたGaNからなる第2の層232、及び、第2の層上に形成されたAlzGa1−zN(0<z≦1、x1<z)からなる第3の層233を有するキャリア供給層23と、を備え、
凹部3は、第3の層233を貫通し、凹部底面31において第2の層232の主面が露出するように形成される。 (もっと読む)


本発明は、制御された孔径、孔密度及び多孔率を有する、大面積(1cm2より大きい)にわたってNP 窒化ガリウム(GaN)を生成する方法に関する。さらに、多孔質GaNに基づいた新規の光電子デバイスを生成する方法も開示される。さらに、基板の再利用を含む新しいデバイス製造のパラダイムを可能にする、自立型結晶GaN薄層を分離して作成するための層転写スキームが開示される。本発明の他の開示される実施形態は、GaNベースのナノ結晶の製造、並びに、電気分解、水分解、又は光合成プロセスの用途のためのNP GaN電極の使用に関する。 (もっと読む)


発光素子と該発光素子を作製する方法とを開示する。発光素子は、p型半導体層とn型半導体層との間に挟装された活性層を含む。活性層は、内部で、p型半導体層からの正孔がn型半導体層からの電子と結合するときに光を放出する。活性層は、複数の副層を含み、かつ複数の副層の側面がp型半導体材料と接触する複数のピットを有し、それにより、p型半導体材料からの正孔が、露出した側面を通ってそれらの副層内に、別の副層を通過することなく注入される。n型半導体層における転位を利用することと、部分的に製作された素子を取り除くことなく、半導体層を堆積させるために用いたものと同じチャンバー内で、エッチング雰囲気を用いて活性層をエッチングすることとにより、ピットを形成することができる。 (もっと読む)


エピタキシャルリフトオフを用いる、フレキシブル光電(PV)デバイス等の感光性デバイスの製造方法が開示される。同様に、成長用基板を有する構造を含むフレキシブルPVデバイスを製造する方法が開示され、この方法では、保護層の選択的エッチングにより、再利用に好適な平滑な成長用基板が得られる。 (もっと読む)


【課題】剥離面がナノオーダーの平坦性を持つ化合物半導体エピタキシャルフィルムを得る条件を備えた半導体ウェハ及びこれを用いた半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体ウェハ100は、半導体基板(例えば、GaAs基板101及びバッファ層102)と、この上に形成された剥離層103と、この上に形成された化合物半導体エピタキシャル層104とを有し、剥離層103の厚さを20nm以上200nm未満にしたものである。また、半導体装置の製造方法は、前記半導体ウェハを用意する工程と、エッチングマスクにより、化合物半導体エピタキシャル層をパターニングし、エッチング溝を形成する工程と、剥離層をエッチングし、化合物半導体エピタキシャル層を剥離することによって得られた化合物半導体エピタキシャルフィルムを基板上にボンディングする工程とを有するものである。 (もっと読む)


【課題】
半導体膜をパターニングする際に行われるウェットエッチングに対して十分な耐性を有するマスクを形成することにより、半導体膜のパターニングを適切に行うことができる半導体発光装置の製造方法を提供する。
【解決手段】
成長用基板の上に半導体膜を形成する。半導体膜の表面である−C面に凹凸を形成する。銀または銀を90%以上含む合金からなり、半導体膜の凹凸面の一部を覆う金属膜を形成する。金属膜から露出した半導体膜の少なくとも一部をウェットエッチングにより除去する。半導体膜の凹凸の深さ寸法は、前記金属膜の厚さよりも大きく設定する。 (もっと読む)


【課題】窒化物半導体基板から窒化物半導体エピタキシャル層を分離する際に窒化物半導体エピタキシャル層に与えるダメージが低く高品質な窒化物半導体エピタキシャル層の形成方法を提供する。
【解決手段】本窒化物半導体エピタキシャル層の形成方法は、転位密度が1×107cm-2以下の窒化物半導体基板10上に、ガスおよび電解液の少なくともいずれかにより化学的に分解する化学的分解層20を介在させて、少なくとも1層の窒化物半導体エピタキシャル層30を成長させる工程と、窒化物半導体エピタキシャル層30を成長させる工程中およびこの工程後の少なくともいずれかにおいて、ガスおよび電解液の少なくともいずれかを用いて化学的分解層20を分解させることにより、窒化物半導体基板10から窒化物半導体エピタキシャル層30を分離する工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】ゲートリセス構造を採用してノーマリーオフ動作を可能とするも、バラツキの小さい安定した閾値を有し、十分な高耐圧を実現する信頼性の高い化合物半導体装置を実現する。
【解決手段】電子走行層3と電子供給層4との間にi−AlNからなる中間層5を形成し、キャップ構造7上のゲート電極の形成予定部位に中間層5をエッチングストッパとして用いて開口11aを形成した後、中間層5の開口11aに位置整合する部位に熱リン酸を用いたウェットエッチングにより開口11bを形成して、開口11a,11bからなる開口11をゲート絶縁膜12を介して下部が埋め込み、上部がキャップ構造7上方に突出するゲート電極13を形成する。 (もっと読む)


【課題】閾値電圧(Vth)のばらつきの発生を抑制した、ゲートリセスの形成方法、ノーマリオフ型のAlGaN/GaN−HEMTの製造方法及びAlGaN/GaN−HEMTを提供する。
【解決手段】光電気化学エッチングにより、バンドギャップエネルギーが、ゲート開口部19から層方向に変化する半導体層の表面から前記半導体層内の所定の半導体層のバンドギャップエネルギーに相当するエネルギーを有するUV光を照射しながら、SiN表面保護層17の前記ゲート開口部から前記半導体層内の所定のバンドギャップエネルギーの半導体層をエッチングすることを特徴とするゲートリセス20の形成方法。 (もっと読む)


【課題】基板の付け替えに際して基板を適切に分離することができる化合物半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】基板の上方に、第1のバンドギャップのAlxGa1-xN(0≦x<1)を含む第1の化合物半導体層を形成する。前記第1の化合物半導体層上に、前記第1のバンドギャップよりも広い第2のバンドギャップのAlyInzGa1-y-zN(0<y<1、0<y+z≦1)を含む第2の化合物半導体層を形成する。前記第2の化合物半導体層の上方に、化合物半導体積層構造を形成する。前記第1のバンドギャップと前記第2のバンドギャップとの間のエネルギを有する光を前記第1の化合物半導体層に照射しながら前記第1の化合物半導体層を除去して、前記基板を前記化合物半導体積層構造から分離する。 (もっと読む)


【課題】窒化物半導体デバイス層がエッチングされないようにしながら、窒化物半導体デバイス層を基板から剥離することができるようにする。
【解決手段】半導体装置の製造方法を、基板12上に、エッチング犠牲層13を形成する工程と、エッチング犠牲層13上に、エッチングストッパ層2を形成する工程と、エッチングストッパ層2上に、窒化物半導体デバイス層1を形成する工程と、エッチング犠牲層13を、光電気化学エッチングによって除去する工程とを含むものとし、エッチングストッパ層2を、窒化物半導体デバイス層1に正孔が蓄積することを防止する層とする。 (もっと読む)


【課題】発光層で発光した光の光取り出し層表面での反射率を従来より減らすことができる程度に表面を粗面化することができる、すなわち従来よりも更に光取り出し効率を向上させることが可能な発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】少なくとも、光取り出し層がGaP、GaAsP、GaAlAsのいずれかからなる発光素子基板をダイシングして発光素子チップを形成し、該発光素子チップの表面を、少なくともヨウ素酸を含む第1エッチング液でエッチングした後、少なくともフッ酸を含む第2エッチング液で順次エッチングして粗面化する粗面化エッチング工程を有することを特徴とする発光素子の製造方法。 (もっと読む)


【課題】窒化物半導体層を有する半導体装置を低コストで製造する。
【解決手段】基板上に第1の窒化物半導体の犠牲層を形成する犠牲層形成工程と、前記犠牲層上に第2の窒化物半導体層を形成し、前記第2の窒化物半導体層上に窒化物半導体層を積層した積層窒化物半導体層を形成する積層半導体形成工程と、前記犠牲層の表面が露出するまで、前記第2の窒化物半導体層及び前記積層窒化物半導体層をエッチングすることによりトレンチを形成し、前記トレンチ及び前記積層窒化物半導体層表面に接続電極を形成する接続電極形成工程と、前記接続電極の形成された前記基板を電解液に浸漬させ、前記電解液に対し前記接続電極に電位を印加し、前記犠牲層を除去し前記基板を剥離する犠牲層除去工程とを有することを特徴とする半導体装置の製造方法により上記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】結晶方位に関し反対向きの構造を取る異なる極性A、Bを混在させた結晶において少なくとも表面において極性Aの単結晶としてデバイスをその上に製造するに適した単結晶基板およびその製造方法を提供する。
【解決手段】結晶方位に関し反対向きの構造を取る異なる極性A、Bを持つ部分が混在する結晶において、一方の極性Bの部分をエッチングして表面部分を除去し、あるいは除去せずそのままに極性Bの上を異種物質(マスク)Mで被覆し、さらに同じ結晶の成長を行い極性Aの結晶によって表面を覆うようにする。 (もっと読む)


【課題】選択性が高い光誘導性のエッチングを達成するために、電解質に対する半導体構造の局部的電気化学的ポテンシャルを戦略的に改変することを含む、III−窒化物半導体構造を製造するための方法を提供すること。
【解決手段】上記方法は、電気的抵抗層または半導体構造の中の電子のフローを妨げる層の適切な配置によって、および/またはPECエッチングの間に、半導体構造の特定の層と接触するカソードを配置することによって、半導体構造または半導体デバイスの電気的ポテンシャルを局部的に制御し、水平方向および/または垂直方向の光電気化学(PEC)的エッチング速度を局部的に制御する。 (もっと読む)


【課題】発光素子表面を粗面化して光出力を向上させるとともに、静電気による故障発生率を低減させた発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】GaAsと格子整合し、AlGaInPにて表される組成を有する化合物にて各々構成された第一導電型クラッド層、活性層及び第二導電型クラッド層がこの順序で積層されたダブルへテロ構造を有し、第二導電型クラッド層上に積層された透明半導体層とを有する発光素子ウェーハをダイシングすることで発光素子チップを形成し、その表面を、酢酸と弗酸と硝酸とヨウ素と水とを、その合計が90質量%以上となるように含有し、酢酸と弗酸と硝酸とヨウ素との合計質量含有率が水の質量含有率よりも高い第一のエッチング液にて第一のエッチング工程を行い、その後、等方性エッチング液を用いて発光素子チップ表面のエッチング取り代が0.12μm以下の第二のエッチング工程を行うことを特徴とする発光素子の製造方法。 (もっと読む)


【課題】基板上に化合物半導体層を平坦でかつ不純物分布が均一になるように成長させることができるIII−V族窒化物系半導体基板を提供する。
【解決手段】自立したIII−V族窒化物系半導体基板の表面の任意の位置においてフォトルミネッセンスを測定してそのバンド端ピークの発光強度をN1とし、前記測定位置に対応する同一基板上の裏面側のバンド端ピークの発光強度をN2としたときに、その強度比α=N/Nが0.01≦α≦0.98となるときに良品歩留のIII−V族窒化物系半導体基板とする。 (もっと読む)


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