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Fターム[5F045AA15]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 成長法 (11,750) | 原子層エピタキシー (482)

Fターム[5F045AA15]に分類される特許

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【課題】真空容器内にて互いに反応する少なくとも2種類の反応ガスを順番に回転テーブル上の基板の表面に供給しかつこの供給サイクルを実行することにより反応生成物の層を積層して薄膜を形成するにあたり、基板の表面に形成された凹部内に薄膜を良好に埋め込むこと。
【解決手段】ウェハWを載置した回転テーブル2を鉛直軸回りに回転させることによって、ウェハWの表面に第1の反応ガスを供給してこの反応ガスを吸着させ、次いでこの第1の反応ガスと反応して流動性を持つ中間生成物を生成する補助ガス及びこの中間生成物と反応して反応生成物を生成する第2のガスをこの順番でウェハWの表面に供給し、その後ウェハWを加熱ランプ210により加熱して反応生成物を緻密化する。 (もっと読む)


本発明は、優れた安定性を持つデバイスを実現可能な安定性の高い酸化物半導体を提供する。本発明に係る酸化物半導体は、In(インジウム)、Zn(亜鉛)及びSn(錫)の少なくともいずれか一つと、アルカリ金属及びアルカリ土類金属の少なくともいずれか一方と、酸素とを含むアモルファス酸化物半導体であり、アルカリ金属及びアルカリ土類金属のイオン半径はGa(ガリウム)のイオン半径よりも大きい。
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【課題】回転テーブルに基板を載置し、この基板を回転させて基板の表面に互いに反応する複数の反応ガスを順番に供給して反応生成物の層を多数積層して薄膜を形成するにあたり、基板上にて複数の反応ガスが混合されることを防止して良好な処理を行うことができる技術を提供すること。
【解決手段】回転テーブルの回転方向において第1の反応ガス供給手段と第2の反応ガス供給手段との間に分離ガス供給手段を設け、この分離ガス供給手段の前記回転方向両側にて低い天井面を設けることで分離領域Dに前記反応ガスが侵入することを阻止すると共に、前記回転テーブルの回転中心部と真空容器とにより区画した中心部領域から回転テーブルの周縁に向けて分離ガスを吐出し、前記分離領域Dの両側に拡散する分離ガス及び前記中心部領域から吐出する分離ガスと共に前記反応ガスが回転テーブルの周縁と真空容器の内周壁との隙間を介して排気する。 (もっと読む)


【課題】良好な立方晶の炭化珪素膜を形成可能な半導体基板の製造方法を提供すること。
【解決手段】シリコン基板11上にバッファ層12を形成する第1の工程と、バッファ層12上にシリコン膜15を形成する第2の工程と、シリコン膜15を炭化して炭化珪素膜13を形成する第3の工程と、を含み、バッファ層12は、シリコンの格子定数と炭化珪素膜13の格子定数との間の格子定数を有する金属酸化物で構成され、第3の工程は、炭化水素系ガスの雰囲気下で行われる。 (もっと読む)


半導体処理用のデバイス、方法、及びシステムがここで述べられている。半導体処理の幾つかの方法の実施形態は、構造体上にシリコン層を形成することと、シリコン層を通って構造体内に開口部を形成することと、抵抗可変材料がシリコン層上に形成されないように抵抗可変材料を開口部内に選択的に形成することとを含むことができる。 (もっと読む)


【課題】シリコン化合物の合成物及びシリコン含有膜を堆積させるためにシリコン化合物を用いる方法を提供する。
【解決手段】シリコン化合物を基板表面に導入するステップとシリコン化合物の一部、シリコンモチーフをシリコン含有膜として堆積させるステップとを用いる。インサイチュエッチング剤は、選択的シリコンエピタキシーの成長を支持する。シリコン化合物は、SiRX6、Si2RX6、Si2RX8(ここで、Xは独立して水素又はハロゲンであり、Rはカーボン、シリコン又はゲルマニウムである。)を含んでいる。シリコン化合物は、また、3つのシリコン原子と、4つのカーボン、シリコン又はゲルマニウム原子と、水素又はハロゲンと少なくとも1つのハロゲン原子とを含む化合物、また、4つのシリコン原子と、5つのカーボンと、シリコン又はゲルマニウム原子と、水素又はハロゲンと少なくとも1つのハロゲン原子とを含む化合物を含んでいる。 (もっと読む)


反応器は、反応チャンバ(16)及び排気アッセンブリ(18)に作動的に接続されたガス供給システム(14)を含むハウジングを有する。ガス供給システムは、少なくとも一つのプロセスガスを反応チャンバに提供する複数のガスラインを含む。ガス供給システムは更に少なくとも一つのプロセスガスを収容するミキサ(20)を含む。ミキサは、プロセスガスを放散するように構成されたディフューザ(22)に作動的に接続される。ディフューザは、反応チャンバの上面(24)に直接的に取り付けられ、それによって、それらの間にディフューザ容積を形成する。ディフューザは、プロセスガスが反応チャンバに導入される前にディフューザ容積を通過する際にプロセスガスに流れ制限を提供するように構成された少なくとも一つの分配表面を含む。反応チャンバは、半導体基板が処理のために配置される反応空間を画定する。排気アッセンブリは、反応していないプロセスガスを引き込むために反応チャンバに作動的に接続され、反応空間から放出する。 (もっと読む)


【課題】300〜500℃といった低温での成膜が可能であり、さらに、反応性が良好なプロセスを与える有機シリコン含有化合物を含有してなる化学気相成長用原料を提供すること。
【解決手段】HSiCl(NR12)(NR34)(R1、R3は炭素数1〜4のアルキル基または水素を表し、R2、R4は炭素数1〜4のアルキル基を表す)で表される有機シリコン含有化合物を含有してなる化学気相成長用原料。該化学気相成長用原料は、基体上に化学気相成長法により窒化シリコン薄膜を形成する原料として特に好適である。 (もっと読む)


【課題】高々300℃程度の低温処理を前提とされた例えばアルミナ膜を形成する原子層成長装置において、装置内部に堆積する堆積物を、高温にすることなく容易に除去できるようにする。
【解決手段】下部電極102,上部電極103,および絶縁シール部104とを備え、これらで密閉可能な成膜室101を構成している。下部電極102には、高周波供給部109が接続され、上部電極103にも高周波供給部110が接続されている。また、下部電極102にはバイアス印加部111が接続され、上部電極103にもバイアス印加部112が接続されている。 (もっと読む)


【課題】オゾンガスの酸化力低下を防止し、効率的に基板の酸化処理を行うことができるようにすることにある。
【解決手段】基板処理装置は、ウエハ200を収容する処理室201と、処理室201内に設けられ、噴出孔248bを有するノズル233bと、ノズル233bの内側であって噴出孔248bの近傍に設けられる貴金属系触媒104と、ノズル233bにオゾンガスを供給するオゾンガス供給系252と、を備える。 (もっと読む)


【課題】半導体デバイスの小型化要求を満たす寸法の開口パターンを形成する際に、マスク層のエッチング耐性を増強させ、処理対象層の加工の自由度を向上させることができる基板処理方法を提供する。
【解決手段】処理対象基板であるウエハWのマスク層としての、例えばフォトレジスト膜53からなる有機膜を無機化する無機化ステップは、フォトレジスト膜53の表面に1価のアミノシランを吸着させる吸着ステップと、吸着したアミノシランを、酸素をプラズマ励起した酸素ラジカルを用いて酸化し、これによってフォトレジスト膜53をSi酸化膜に改質する酸化ステップを有する。 (もっと読む)


【課題】表面平坦性を大きく改善し、さらに良好な電子移動度を有するインジウム系化合物半導体薄膜を備えた半導体素子及びそれを備えた半導体装置を提供すること。
【解決手段】本発明の半導体素子は、ガリウム砒素からなる基板1上に形成されるインジウム系化合物半導体薄膜を備えている。ガリウム砒素の表面が、ガリウム砒素(100)面又はこのガリウム砒素(100)面と結晶学的に等価な面に対して(0−1−1)方向、又はガリウム砒素(100)面と結晶学的に等価な方向に、0.2度以上2.4度以下の角度で傾斜している。インジウム系化合物半導体薄膜は、p型インジウム系化合物半導体薄膜3とn型インジウム系化合物半導体薄膜2との積層構造を有する。この半導体素子は各種の光デバイスに適用可能である。 (もっと読む)


【課題】液体原料の気化不足による材料供給に起因するパーティクルの発生を低減し、気化器内のパーティクルやノズルの詰りの発生を抑制する事で当該詰りを原因とする装置稼働率の低下を防止する。
【解決手段】基板を収容する処理室203と、液体原料を収容する液体原料収容部300と、前記液体原料を気化する気化機構304と、前記気化機構と前記処理室を接続する液体原料ガス供給配管250h,250jと、前記液体原料収容部と前記気化機構を接続する液体原料供給配管250e,250f,250gと、前記液体原料供給配管に設けられ、前記液体原料を加熱しつつ収容する予備加熱部302とを有する。 (もっと読む)


【課題】原子層堆積法により、簡易な構成で均一な膜質の薄膜を形成する。
【解決手段】基板上に薄膜を形成する原子層堆積装置10であって、第1の内部空間を形成する容器であって、基板を搬入又は搬出するための基板搬入出口28と、基板上に薄膜を形成するガスを内部に導入するためのガス導入口29とを異なる位置に備える第1の容器20と、第1の容器20の内部に設けられ、第1の内部空間と隔てられる第2の内部空間を形成し、第1の開口を備える第2の容器60と、第2の容器60を所定の方向に移動する第1の移動機構36と、基板を搬入又は搬出する場合、基板搬入出口と第1の開口とが対向する第1の位置に第2の容器60を移動し、基板上に薄膜を形成する場合、ガス導入口と第1の開口とが対向する第2の位置に第2の容器60を移動するように第1の移動機構を制御する制御部100と、を有する。 (もっと読む)


【課題】従来のように薄膜が基板以外の広範囲な領域に形成されず、したがって容易にクリーニングすることのできる原子層成長装置を提供する。
【解決手段】原子層成長装置は、基板Sを、成膜容器12内の第1の内部空間22内に設けられた筒形状のリアクタ容器14内の第2の内部空間15内に配置する。リアクタ容器14には、筒形状の内側の空間を筒形状の長手方向に沿って第1の層の空間と第2の層の空間とに区分けするための仕切板15cが設けられ、2層構造となっている。原料ガス供給ヘッド20は、リアクタ容器の一方の端の側に設けられ、リアクタ容器の一方の端から他方の端に向けて筒形状の長手方向に沿って、原料ガスを第1層の空間内に流す。ガス排気部は、リアクタ容器の他方の端で原料ガスの流れを折り返して第2の層の空間中を筒形状の長手方向に沿って一方の端に向けて流れるように原料ガスを吸引する。 (もっと読む)


【課題】より高い誘電率を有する高誘電率絶縁膜を形成する半導体装置の製造方法及び基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板上に高誘電率絶縁膜を形成する工程S106と、前記高誘電率絶縁膜に対し真空下で熱処理を施す工程S110と、熱処理後の前記高誘電率絶縁膜が室温となるまでの間、前記高誘電率絶縁膜が存在する空間の酸素分圧を、前記熱処理時に前記高誘電率絶縁膜が存在する空間の酸素分圧と同等もしくはそれ以下に保持する。 (もっと読む)


【課題】原子層成長装置の洗浄がより容易に行えるようにする。
【解決手段】成膜容器上部101の上部には、洗浄液を成膜室に導入するための洗浄液導入配管110を備え、洗浄液導入配管110にはバルブ111が設けられている。また、排出配管107は、排気配管108に加えて洗浄液排出配管112も接続している。排出配管107と排気配管108との接続および排出配管107と洗浄液排出配管112との接続は、切り替えバルブ113により切り替え可能としている。また、切り替えバルブ113により、排出配管107を閉じた状態とすることを可能としている。 (もっと読む)


【課題】真空容器内にて互いに反応する少なくとも2種類の反応ガスを順番に基板の表面に供給しかつこの供給サイクルを実行することにより反応生成物の層を積層して薄膜を形成するにあたり、面内均一性高く成膜処理を行える成膜装置及び成膜方法を提供する。
【解決手段】夫々複数の反応ガスが供給される複数の処理領域91、92と、これらの処理領域91、92の間に設けられ、分離ガスが供給される分離領域Dと、を基板が順番に位置するように、夫々複数の反応ガスを供給するための複数の反応ガス供給手段31、32及び分離ガスを供給するための分離ガス供給手段41、42と、基板を載置する回転テーブルと、を鉛直軸回りに相対的に回転させて基板上に反応生成物の層を積層した後、回転テーブル上の基板を鉛直軸回りに自転させ、次いで再び基板が各領域91、92、Dを順番に位置させることによって反応生成物の層からなる薄膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】原子層堆積法により均一な膜質の薄膜を基板上に成膜する原子層堆積装置を提供する。
【解決手段】基板上に薄膜を形成する原子層堆積装置であって、第1の内部空間を形成する第1の容器と、第1の容器の内部に設けられ、第2の内部空間を形成する筒形状の容器であって、第2の内部空間内に向けて、基板上に薄膜を形成する原料ガスが流れる第1の開口を筒形状の一端に備える第2の容器と、原料ガスを、第1の開口を通して第2の内部空間に供給するガス供給口を備え、かつ、第2の容器の筒形状の長手方向に第2の容器を押えることにより、第1の内部空間に対して第2の内部空間を隔てる押え部材と、を有する。 (もっと読む)


【課題】基板以外に薄膜が広範囲に形成されずクリーニングおよびメンテナンスの容易な原子層成長装置を提供する。
【解決手段】原子層成長装置は、所定の圧力を維持する第1の内部空間22を形成する成膜容器12と、この第1の内部空間内22に設けられ、設定された圧力を維持する、第1の内部空間22と隔離された第2の内部空間15を形成するリアクタ容器14と、第1の内部空間22内に設けられ、リアクタ容器14に隣接して設けられたヒータ16a,16bと、第2の内部空間15内に設けられ、薄膜を形成する基板Sを載置する載置機構18と、載置される基板Sの上方に対向するように第2の内部空間15内に設けられ、薄膜を形成する原料ガスを、ヒータ16aの加熱を受けた状態で、基板Sに向けて供給する原料ガス供給ヘッド20と、を有する。 (もっと読む)


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