説明

Fターム[5F045AE01]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 成膜条件−成膜時の圧力 (3,707) | 減圧(圧力が明示されていない) (3,333)

Fターム[5F045AE01]の下位に属するFターム

P<10^−9Torr(P<1.33×10^−7Pa) (11)
10^−9≦P<10^−8Torr(1.33×10^−7≦P<1.33×10^−6Pa) (8)
10^−8≦P<10^−7Torr(1.33×10^−6≦P<1.33×10^−5Pa) (15)
10^−7≦P<10^−6Torr(1.33×10^−5≦P<1.33×10^−4Pa) (20)
10^−6≦P<10^−5Torr(1.33×10^−4≦P<1.33×10^−3Pa) (26)
10^−5≦P<10^−4Torr(0.01≦P<0.1mTorr 1.33×10^−3≦P<1.33×10^−2Pa) (32)
10^−4≦P<10^−3Torr(0.1≦P<1mTorr 0.0133≦P<0.133Pa) (77)
10^−3≦P<10^−2Torr(1≦P<10mTorr 0.133≦P<1.33Pa) (173)
10^−2≦P<0.1Torr(10≦P<100mTorr 1.33≦P<13.3Pa) (334)
0.1≦P<1Torr(100≦P<1000mTorr 13.3≦P<133Pa) (640)
1≦P<7.6Torr(0.0013≦P<0.01気圧 133≦P<1013Pa) (585)
7.6≦P<76Torr(0.01≦P<0.1気圧 10.13≦P<101.3hPa) (552)
76≦P<760Torr(0.1≦P<1気圧 101.3≦P<1013hPa) (540)
Torr、気圧、Pa以外の単位 (14)

Fターム[5F045AE01]に分類される特許

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SiCの高品質単結晶ウェハが開示される。このウェハは、少なくとも直径約3インチ(75mm)と、4°オフ軸のウェハに対して、約500cm−2未満の底面転位密度を有する少なくとも1平方インチ(6.25cm)の連続した表面領域とを有する。また、本発明は、SiCの高品質単結晶のウェハを形成する方法を提供し、該方法は、3インチよりわずかに大きい直径を有するSiCブールを形成するステップと、0001平面に対して約2°と12°の間の角度で、該ブールをスライスして、ウェハにするステップであって、該ウェハは、各ウェハ上に、500cm−2未満の底面転位密度を有する少なくとも1平方インチの連続した表面領域を有する、ステップとを包含する。 (もっと読む)


プラズマ加速原子層成膜(PEALD)処理を用いて、基板上に膜を設置する方法であり、当該方法は、前記PEALD処理を行うことができるように構成された処理チャンバ内に、前記基板を配置するステップと、前記処理チャンバ内に第1の処理材料を導入するステップと、前記処理チャンバ内に第2の処理材料を導入するステップとを有する。さらに当該方法は、前記基板の表面での前記第1および第2の処理材料の間の還元反応を助長させるプラズマを発生させるため、前記第2の処理材料の導入の間、前記処理チャンバに電磁力を結合するステップを有する。前記処理チャンバ内に、反応性ガスが導入され、該反応性ガスは、前記処理チャンバ内で汚染物質と化学的に反応して、処理チャンバ構成部材または前記基板のうちの少なくとも一つから、前記汚染物質を放出する。
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サセプタに装着された多数の基板上に薄膜を形成するための反応チャンバを有する薄膜蒸着装置及びこれを用いる薄膜蒸着方法を開示する。この装置は、外部から反応チャンバの内部に、反応ガスを含む多数のガスを供給するガス供給手段、ガス供給手段から供給されるガスを工程目的に合うように分配して噴射するガス分配手段、ガス分配手段から分配されたそれぞれのガスを区画して収容し、ガスを滞留させる多数の反応セルを備えるガス滞留手段、ガス滞留手段を回転駆動させることにより、それぞれの反応セルで滞留するガスを基板に順次接触させる回転駆動手段、及び前記ガス滞留手段により滞留するガスを反応チャンバの外部に吸引するガス排出手段を含む。

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【課題】均一で高品質な絶縁膜を作成、特に300℃以下の低温プロセスのみで高品質な絶縁膜を作成する。
【解決手段】基板100を保持するヒーターユニット14を格納した反応炉10と、有機シリコンまたは有機金属を含有する原料ガスを反応炉10内に導入する原料ガス導入バルブV1を備えた配管11と、オゾン含有ガスを反応炉10内に導入するオゾン含有ガス導入バルブV2を備えた配管12と、反応炉10内のガスを排出する排気バルブV3を備えた配管13とを備え、前記原料ガスとオゾン含有ガスを交互に反応炉10内に供給するように原料ガス導入バルブV1とオゾン含有ガス導入バルブV2と排気バルブV3が開閉動作する際、オゾン含有ガス導入バルブV3は前記オゾン含有ガスのオゾン濃度が0.1〜100vol%となるように動作する共に、ヒーターユニット14は基板100の温度を室温から400℃までの範囲で調整する。 (もっと読む)


励起された、および/またはイオン化された粒子をプラズマ内でプロセスガスから発
生するための装置が提供され、この装置は円筒状に形成され、内部でプラズマ帯域が発
生可能な内部空間(3)、同軸内側導体(10)、同軸外側導体(11)、プロセスガ
スが内部空間(3)へ供給可能な入口(14)、プロセスガスが内部空間(3)から排
気可能な出口(15)を有し、同軸内側導体(10)が少なくとも部分的に曲がった形
状を有することを特徴とする。
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【課題】 プラズマ処理をおこなうチャンバ全体としては、電気的高周波的な特性が考慮されていなかった。
【解決手段】 プラズマを励起するための電極を有するプラズマチャンバCNと、この電極4,8に接続された高周波電源1と、プラズマチャンバCNと高周波電源1とのインピーダンス整合を得るための整合回路2とを具備し、整合回路2Aをその出力端PRから切り離し、給電板3で測定したプラズマチャンバCNの第1直列共振周波数f0 の3倍が、高周波電源1からプラズマチャンバCNに供給される電力周波数fe より大きな値の範囲に設定されてなる。 (もっと読む)


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