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Fターム[5F045DA63]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 半導体成長層の構造 (3,415) | 半導体成長層の物性 (649) | バンドギャップ (149)

Fターム[5F045DA63]に分類される特許

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【目的】
基板上に結晶欠陥の少ない、単結晶性及び平坦性に優れた酸化亜鉛系半導体結晶の成長方法を提供する。また、高性能かつ高信頼性の半導体素子、特に、発光効率及び素子寿命に優れ、量産性に優れた高性能な半導体発光素子を提供する。
【解決手段】
MOCVD法において、酸素を含まない有機金属化合物と水蒸気を用い、(a)低成長温度かつ1kPa〜30kPaの範囲内の低成長圧力で結晶成長を行って第1の単結晶層を形成するステップと、(b)高成長温度かつ上記低成長圧力よりも高い圧力で結晶成長を行って上記第1の単結晶層上に第2の単結晶層を形成するステップと、を有する。 (もっと読む)


【課題】本発明によれば、結晶性が向上したIII族窒化物半導体積層構造体を生産性良く得ることができる。
【解決手段】サファイア基板表面に、シード層として、縦断面TEM(透過型電子顕微鏡)写真の200nm観察視野において結晶粒界が観察されないAlN結晶膜を形成させ、ついでIII族窒化物半導体からなる、下地層、n型半導体層、発光層およびp型半導体層を積層してなるIII族窒化物半導体積層構造体を反応炉を用いて製造するに際し、少なくとも下地層を成膜したIII族窒化物半導体積層構造体ウエハーを反応炉から取り出し、ついで次の成膜を別の反応炉で行なう。 (もっと読む)


【課題】基板上に結晶欠陥の少ない、単結晶性及び平坦性に優れた酸化亜鉛を成長する方法を提供する。
【解決手段】MOCVD法により酸素を含まない有機金属化合物と水蒸気を用い、成長温度が250℃から450℃の範囲内で、かつ、成長圧力が1kPaから30kPaの範囲内であって、酸素原子を含まない有機亜鉛化合物材料と水蒸気とを少なくとも含む材料ガスを基板10に吹き付けて酸化亜鉛の単結晶層11を成長させる。ZnO結晶層11の成長後、ZnO結晶層11の結晶性および平坦性の向上を目的として、ZnO結晶層11を1kPaから30kPaの圧力下で、700℃から1100℃の温度範囲内で熱処理を行う。熱処理は水蒸気雰囲気下で行うことが好ましい。 (もっと読む)


【課題】Si基板とその上に形成される窒化物半導体単結晶層との間に、SiNx層を生成することなく、低抵抗であり、窒化物半導体単結晶層の結晶性に優れた窒化物半導体基板およびその製造方法を提供する。
【解決手段】Si(111)基板1上に、TiおよびVのいずれか1種以上からなる金属膜を形成する工程と、前記金属膜を窒化して、TiN、VNおよび両者の化合物のいずれか1種以上からなる窒化物中間層2を形成する工程と、前記窒化物中間層上に、GaN(0001)、AlN(0001)およびInN(0001)のうちの少なくともいずれか1種以上からなる窒化物半導体単結晶層3を形成する工程とを経て、窒化物半導体基板を作製する。 (もっと読む)


【課題】高電子密度、高電子移動度のIII−V族化合物半導体を提供する。
【解決手段】化合物半導体を用いた半絶縁性の基板2上に、バッファ層3、電子供給層4、スペーサ層5、チャネル層6、スペーサ層7、電子供給層8、コンタクト層9を有するIII−V族化合物半導体1において、前記チャネル層6を境にして、一方のスペーサ層が前記チャネル層側からGaAsスペーサ層とAlGaAsスペーサ層との2層で構成され、他方のスペーサ層がAlGaAsスペーサ層の単層で構成されるものである。 (もっと読む)


【課題】下地基板の無極性面上に高品質のIII族窒化物半導体層を成長させ得る、III族窒化物半導体基板の製造方法を提供する。
【解決手段】m面の無極性面を主面とする下地基板10の当該無極性面上に炭素とアルミニウムとを含む中間層11を形成する工程と、中間層11の少なくとも一部を窒化して窒化膜11Nを形成する工程と、窒化膜11Nの上部にIII族窒化物半導体層12,13をエピタキシャル成長させる工程と、III族窒化物半導体層12,13から下地基板10を剥離させてIII族窒化物半導体層12,13を含むIII族窒化物半導体基板14を得る工程と、を含むIII族窒化物半導体基板の製造方法。 (もっと読む)


【課題】目的とする場所以外での反応を抑制した、複数の原料ガスを使用する気相成長装置及び気相成長方法を提供する。
【解決手段】第1原料ガスと、前記第1原料ガスと異なる第2原料ガスと、を用いて基板の上に成膜する気相成長装置であって、前記基板が設置される反応室と、前記反応室に連通し、前記第1原料ガスを導入する第1原料ガス導入路と、前記反応室に連通し、前記第2原料ガスを導入する第2原料ガス導入路と、前記第1原料ガス導入路と前記第2原料ガス導入路との間において前記反応室に連通し、前記第1原料ガスとの反応速度及び前記第2原料ガスとの反応速度が、前記第1原料ガスと前記第2原料ガスとの反応速度よりも遅い分離ガスを導入する分離ガス導入路と、を備えたことを特徴とする気相成長装置が提供される。 (もっと読む)


【課題】電気エネルギへの変換効率の向上が図られる化合物太陽電池とその製造方法を提供する。
【解決手段】GaAs基板1の表面に、エピタキシャル成長法によってトップセルTとなる各層が形成される。そのトップセルT上にミドルセルMとなる各層が形成される。そのミドルセルM上にボトムセルBとなる各層が形成される。次に、ボトムセルBの表面に裏面電極9が形成される。次に、ワックスによりガラス板と裏面電極とが張り合わされる。次に、ガラス基板に支持されたGaAs基板1をアルカリ溶液に浸漬することによって、GaAs基板1が除去される。その後、トップセルTの表面に表面電極が形成される。最後に、ガラス基板が裏面電極から分離される。 (もっと読む)


【課題】材料溶液を完全に気化し、基板に安定供給することができる成膜装置を提供する。
【解決手段】気化器409は、内部空間を有する容器900と、容器900内の空間を加熱し、霧状の材料溶液を気化させる加熱部907とを備える。霧化部408は、内部空間に向かって材料溶液と霧化支援ガスを噴出し、ヒーター908を内蔵するフィン907により霧化した材料溶液を加熱する。これにより、溶液材料を効率よく気化することができる。 (もっと読む)


【課題】材料溶液を完全に気化し、基板に安定供給することができる成膜装置を提供する。
【解決手段】内部に基板を保持する基板保持部を備えた反応容器420と、常温で液体の材料溶液を霧状にする霧化部408と、霧状の材料溶液を気化させて反応容器に供給する気化部409とを有する成膜装置とする。霧化部408は、材料溶液と、霧化を支援するための霧化支援ガスとを噴出することにより材料溶液を霧状にする。霧化部408には、霧化支援ガスを所定温度に加熱して供給する霧化支援ガス加熱部407が接続されている。これにより、加熱した霧化支援ガスにより材料を霧化させることができ、気化を効率よく行うことができる。 (もっと読む)


【課題】温度変更を迅速に行なうことが可能な気相成長装置および当該気相成長装置を用いた半導体基板の製造方法を提供する。
【解決手段】気相処理装置1は、処理室4と、サセプタ2と、ヒータ5と、壁部冷却部材52と、反応ガス供給部材9とを備える。サセプタ2は、処理室4の内部に表面が露出し、当該表面に基板8を搭載する。ヒータ5は、サセプタ2を加熱する。壁部冷却部材52は、処理室4の壁面を冷却する。反応ガス供給部材9は、処理室4の内部に反応ガスを供給する。ヒータ5の昇温速度は100℃/分以上であり、かつ、投入可能最大熱量は10kW以上である。壁部冷却部材52の冷却能力はヒータ5の投入可能最大熱量より大きい。反応ガス供給部材9は、水素ガスおよび窒素ガスの少なくともいずれか一方を含むガスを処理室4の内部に100sccm以上の流量で供給可能である。サセプタ2の熱容量は50J/K以上500J/K以下である。ヒータ5の熱容量は10J/K以上100J/K以下である。 (もっと読む)


【課題】 CVD法によりバンドギャップの大きさを制御して窒化珪素膜を製造する。
【解決手段】 複数の孔を有する平面アンテナ31により処理容器1にマイクロ波を導入するプラズマCVD装置100において、0.1Pa以上1333Pa以下の範囲内から選択される一定の処理圧力で、シリコン含有化合物ガスと窒素ガスとの流量比(シリコン含有化合物ガス流量/窒素ガス流量)を0.005以上0.2以下の範囲内から選択してプラズマCVDを行い、膜中に含まれるSi/N比をコントロールしてバンドギャップの大きさが2.5eV以上7eV以下の範囲内の窒化珪素膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】半導体層に生ずる格子歪みを効果的に緩和する。
【解決手段】Siからなり、面方位が(111)または(111)と等価な面方位である半導体結晶成長用基板11の半導体層を形成する表面に、凹凸の少ない表面状態を有する鏡面な部分12と、鏡面な部分12の表面粗さよりも大きい表面粗さを有する荒れた部分13とを形成する。この場合、荒れた部分13を周期的に形成し、荒れた部分13のパターン形状を四角形の格子状とする。また、荒れた部分13の中心間の寸法を5mmとし、荒れた部分13の幅を10μmとして、荒れた部分13が形成された周期xを5mmとし、また荒れた部分13と鏡面な部分12との面積比yを約0.004とする。 (もっと読む)


【課題】結晶性が改善され、高輝度且つ長時間安定動作が可能な半導体発光素子及びその製造方法、エピタキシャルウェーハを提供する。
【解決手段】 キャリア濃度が3×1017乃至1×1018cm−3の範囲のGaP基板と、第1の面側が前記GaP基板に対して接着された接着層と、前記接着層の前記第1の面側と対向する第2の面側に形成され、前記接着層との間の格子のずれが前記GaP基板と前記接着層との間の格子のずれより小さく、前記GaP基板を透過する光を放出可能な発光層を含む上部成長層と、を備えたことを特徴とする半導体発光素子及びその製造方法、エピタキシャルウェーハが提供される。 (もっと読む)


【課題】基板保持部材をサセプタから取り外しても転動部材が落下することを防止するとともに、原料ガスや反応生成物がサセプタの裏面側に極力流れないようにした気相成長装置を提供する。
【解決手段】サセプタ13の外周部に設けられた複数の収容孔20の内周下部に内フランジ20aを周設する。基板保持部材14の外周上部に内フランジ20aに対向する外フランジ14bを周設し、内フランジ20aの内周側に外フランジ方向に突出するリング状の上向き突片20bを設ける。外フランジ14bの外周側に内フランジ方向に突出するリング状の下向き突片14dを設ける。内フランジ20a、外フランジ14b、上向き突片20b及び下向き突片14dに囲まれた部分に、転動部材21を回転可能に配設する。 (もっと読む)


【課題】GaAs基板の替わりにGaP層がエピタキシャル成長されて形成された化合物半導体基板において、発光素子に通電する際の電気伝導度が良好な化合物半導体基板を提供する。
【解決手段】少なくとも、AlGaInPからなる第一導電型クラッド層と活性層と第二導電型クラッド層とを有する発光層と、該発光層の片方の主表面側に形成された第一の電流拡散層と、前記発光層のもう一方の主表面側に形成された第二の電流拡散層とを有する化合物半導体基板であって、前記発光層と前記第二の電流拡散層の間に、前記第一導電型クラッド層よりバンドギャップの小さい(AlGa1−xIn1−yP(0≦x≦1、0<y≦1)層が形成されたものであることを特徴とする化合物半導体基板。 (もっと読む)


【課題】誘導加熱により加熱対象物を加熱する加熱装置において、加熱対象物の温度分布を制御すること。
【解決手段】加熱対象物をその内部に収容する処理容器と、処理容器を囲むように設けられたコイルと、前記コイルに高周波を供給し、加熱対象物の周囲に誘導磁界を形成して、電磁誘導により加熱対象物を誘導加熱するための高周波電源と、コイルにより形成される前記誘導磁界中に設けられ、その周囲の誘導磁界を緩和して加熱対象物の温度分布を制御するための導体により構成される温度分布制御部材と、を備えるように加熱装置を構成する。例えば前記温度分布制御部材を、コイルに対して任意の位置に移動することができるように構成し、処理条件に応じてその位置を調整することで容易に温度制御を行うことができる。 (もっと読む)


【課題】ベース・エミッタをエピタキシャル成長により形成するバイポーラトランジスタにおいて、真性ベースを薄くして遮断周波数を向上すると同時に、厚い外部ベースを形成することでベース抵抗を低減する。
【解決手段】具体例を述べれば、ベース層をエピタキシャル成長した後に、低温アニールを行うことで、開口部周辺部分のシリコン・ゲルマニウム層に凸部ができるように変形させ、真性ベースのキャリア走行時間を増大させずにベース抵抗を低減する。 (もっと読む)


【課題】 二硼化物単結晶上に成長させる窒化ガリウム系化合物半導体の極性を制御することによって、高品質、低転位の窒化ガリウム系化合物半導体を得ること。
【解決手段】 窒化ガリウム系化合物半導体は、XB(ただし、XはZr,Ti及びHfから選択される1種以上の元素である。)から成る基板10の主面上に形成されたXBから成る膜11上に形成されたGa1−x−yAlInN単結晶層(ただし、0<x+y≦1、0≦y<0.1)12と、その上に形成されたGa極性の窒化ガリウム系化合物半導体層13とを有している。 (もっと読む)


【課題】埋め込み再成長型の端面窓構造を形成する工程における不純物の拡散を抑制して、半導体レーザの出力特性の向上、及び出射端面の劣化を回避する。
【解決手段】基板11の上に第1クラッド層12、第1光ガイド層13、活性層14、第2光ガイド層15、及び第2クラッド層16を含む積層構造を結晶成長させる工程と、積層構造の一部をエッチングにより除去して開口部を形成する工程と、開口部に活性層より禁制帯幅が大きな材料からなる結晶を埋め込み成長させて埋め込み成長部19bを形成する工程と、光導波路を形成する工程と、埋め込み成長部をへき開面が通るようにへき開することにより、出射端面を形成する工程とを含む。埋め込み成長部を形成する工程において、結晶の成長を、開口部の側壁面から進行し、且つ開口部を除く領域の表面から進行し難い条件により行う。 (もっと読む)


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