説明

Fターム[5F045DA63]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 半導体成長層の構造 (3,415) | 半導体成長層の物性 (649) | バンドギャップ (149)

Fターム[5F045DA63]に分類される特許

61 - 80 / 149


本発明は、ガス分配装置およびこれを備える基板処理装置に関するものであり、少なくとも2種以上のプロセスガスを相異なるルートを介して基板の上に噴射する第1のガス分配部と、少なくとも2種以上のプロセスガスの分解温度の平均よりも高い分解温度を有するプロセスガスを基板の上に噴射する第2のガス分配部と、を備え、第1のガス分配部は少なくとも2以上に分割されて第2のガス分配部を中心として配置され、互いに結合および分離可能なガス分配装置およびこれを備える基板処理装置を提供する。
(もっと読む)


【課題】従来よりも結晶品質の優れたIII族窒化物結晶およびその形成方法を提供する。
【解決手段】III族窒化物結晶の形成方法が、所定の基材の上に全III族元素におけるAlの割合が80モル%以上である第1のIII族窒化物からなる下地層2をエピタキシャル形成する下地層形成工程と、下地層2を基材ともども下地層2の形成温度よりも高くかつ1250℃以上の加熱温度で加熱する熱処理により下地層2の表面形状を変換する表面形状変換工程と、表面形状変換工程を経た下地層2の上に第2のIII族窒化物からなる結晶層4をエピタキシャル形成する結晶層形成工程と、を備える。このような界面構造のもとでは、成長下地層2に元から存在する転位、あるいは界面で新たに発生した転位dが内部を貫通し、島状結晶2Iの側面2Sにまで達していたとしても、空隙5の存在ために該転位dはその場所が終端tとなり、結晶層4へは伝搬しない。 (もっと読む)


【課題】酸化ガリウム領域上に、良好な結晶品質の窒化ガリウム系半導体の堆積を可能にする、エピタキシャルウエハを形成する方法を提供する。
【解決手段】工程S107では、AlNバッファ層13を成長する。工程S108では、時刻t5において、窒素に加えて、水素、トリメチルアルミニウム及びアンモニアを含む原料ガスG1を成長炉10に供給して、主面11a上にAlNバッファ層13を成長する。AlNバッファ層13はいわゆる低温バッファ層と呼ばれる。バッファ層13の成膜が開始されて後に、工程S109で、時刻t6において水素(H)の供給を開始する。時刻t6では、H、N、TMA及びNHが成長炉10に供給される。時刻t6〜t7の間に水素の供給量を増加して、時刻t7において水素の増加を停止して一定量の水素を供給する。時刻t7では、H、TMA及びNHが成長炉10に供給される。 (もっと読む)


【課題】半極性面を有するGaN支持基体上に設けられた発光層を含みミスフィット転位による発光効率の低下を抑制できる窒化物半導体発光素子を提供する。
【解決手段】窒化物半導体発光素子11は、六方晶系窒化ガリウムからなる支持基体13と、InX1AlY1Ga1−X1−Y1N(0<X1<1、0<Y1<1、X1+Y1<1)層21を含むn型窒化ガリウム系半導体層15と、発光層17と、p型窒化ガリウム系半導体層19とを備える。このInAlGaN層21は半極性主面13aと発光層17との間に設けられる。InAlGaN層21のバンドギャップEが窒化ガリウムのバンドギャップE以上であるので、発光層17へのキャリアと光の閉じ込め効果が提供される。InAlGaN層21のc面Sc2が法線軸Axに対して傾斜しているけれども、c面を主とするすべり面によるミスフィット転位の密度がAlGaNに比べて低減される。 (もっと読む)


【課題】
成長中断による、Alを含むIII-V族化合物半導体層への酸素の取り込みを抑制した半導体装置を提供すること。
【解決手段】
Alを構成元素として含む第1のIII-V族化合物半導体によって半導体基板上に形成された第1の半導体層と、厚さが2原子層以上8原子層以下のAlを構成元素として含まない第2のIII-V族化合物半導体で形成され、且つ前記第1の半導体層の上面又は前記第1の半導体層の内部に配置された表面保護層とを有する半導体積層構造と、第3のIII-V族化合物半導体で形成され、且つ前記半導体積層構造の上面に形成された第2の半導体層を具備すること。 (もっと読む)


改良された特性を備えた半導体材料、基板、およびデバイスの製造方法および構造が開示される。歪みが低減された構造を形成するための構造および方法が、複数の実質的に歪み緩和されたアイランド構造を形成し、半導体材料の歪み緩和された実質的に連続した層を引き続きさらに成長するために、このようなアイランド構造を利用することを含む。 (もっと読む)


【課題】 バッファ領域の漏れ電流を低減する共に、半導体領域の転位密度を低減した窒化物半導体装置形成用基板を提供し、高周波特性に優れた窒化物半導体装置を提供する。
【解決手段】 多層構造体のバッファ領域の一部にp型不純物をドーピングし、二次元電子ガス層の発生を抑制することで、転位、漏れ電流を低減する。また二次元電子ガス層の発生を抑制することで寄生容量が低減され、高周波特性を大きく改善した窒化物半導体装置を提供することができる。 (もっと読む)


半導体素子、発光素子及びこれの製造方法が開示される。半導体素子は、基板と、前記基板上に配置される多数個の柱と、前記柱の間及び前記基板上に配置される多数個の粒子と、前記柱上に配置される第1半導体層と、を含む。また、半導体素子の製造方法は、基板を提供する段階と、前記基板上に多数個の第1粒子を配置する段階と、前記第1粒子をエッチングマスクとして前記基板の一部をエッチングし、多数個の柱を形成する段階と、を含む。半導体素子は、粒子によって、発生される光を上方に効率的に反射させ、これによって向上された光効率を有する。また、第1粒子によって。柱が容易に形成され得る。
(もっと読む)


【課題】固定電極での生成物の落下による欠陥の発生の無い、高品質なダイヤモンド等の気相成長膜を得ることができる直流プラズマCVD装置及びその装置を用いた高品質ダイヤモンドの製造方法を提供する。
【解決手段】少なくとも、固定電極と、基板を載置するための電極を兼ねる基板ステージと、を有する直流プラズマCVD装置であって、前記固定電極の中心から鉛直方向に延ばした線上に前記基板ステージが位置せず、かつ前記基板ステージ中心と前記固定電極中心とを結ぶ直線と、前記鉛直方向に延ばした線との成す角が、90°以下であることを特徴とする直流プラズマCVD装置。 (もっと読む)


【課題】性能を確保しながらコストを低減することができる化合物半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】基板1上に、外部に連通する開口部が設けられたn−GaN層4を形成し、その後、n−GaN層4上に、GaN層5、AlGaN層6、i−GaN層7、i−AlGaN層8、n−AlGaN層9及びn−GaN層10を形成する。次いで、KOH水溶液中において、n−GaN層4に紫外線を照射して、光電気化学エッチングによりn−GaN層4を溶解させる。 (もっと読む)


【課題】ゲルマニウムからなるドットの密度を向上可能な半導体製造装置を提供する。
【解決手段】半導体製造装置600は、石英管610と、反応室620と、石英管610内へHガスを供給する配管650と、石英管610内にリモート水素プラズマを生成するアンテナ670、マッチング回路680および高周波電源690と、反応室620内で基板800を保持する基板ホルダー630と、基板800を加熱するヒーター640と、ゲルマンガスを基板800の近傍に供給する噴出器700および配管710とを備える。 (もっと読む)


【課題】基材の導電層との密着性に優れた多孔質の酸化亜鉛膜を容易に、かつ、効率よく形成する。
【解決手段】酸化亜鉛膜形成装置1では、析出部2において電解析出により樹脂基板9の導電層上に酸化亜鉛を含む析出物が形成され、樹脂基板9は塗布部4へと搬送される。そして、導電層上に酸化亜鉛の微粒子および溶媒を含む液状またはペースト状の膜形成材料が塗布され、その後、導電層上の膜形成材料から溶媒が揮発により除去される。これにより、樹脂基板9の導電層との密着性に優れた多孔質の酸化亜鉛膜を容易に、かつ、効率よく形成することができる。 (もっと読む)


【課題】LLO法によらず、より簡便な方法で成長用基板の剥離を行うことが可能な半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】
半導体エピタキシャル層の成長温度よりも低い成長温度で、V/III比が3000以上となるようにV族原料とIII族原料を供給して、成長用基板上にIII族窒化物からなる下地層を形成する。次に下地層上に互いに異なる成長速度でIII族窒化物の成長を行う第1ステップおよび第2ステップを交互に複数回実施して内部に複数の空孔を含む空洞含有層を長用基板上に形成する。次に空洞含有層の上に半導体エピタキシャル層をエピタキシャル成長させる。次に半導体エピタキシャル層に支持基板を接着する。空洞含有層を起点として成長用基板を剥離する。 (もっと読む)


【課題】性質の揃った複数の単結晶ダイヤモンド基板を比較的簡単な操作によって接合して良質な大面積の単結晶基板を製造する方法を提供する。
【解決手段】(1)単結晶ダイヤモンドからなる親基板にイオン注入により分離層を形成する。(2)親基板から1個又は2個以上の単結晶ダイヤモンド層を分離する。(3)分離された複数の単結晶ダイヤモンド層を、平坦な支持台上に、互いの側面が接触し、且つ親基板から分離された面が該支持台面に接する状態で載置する工程、(4)支持台上に載置された複数の単結晶ダイヤモンド層の上に、気相合成法で単結晶ダイヤモンドを成長させて、複数の単結晶ダイヤモンド層を接合する。(5)接合された単結晶ダイヤモンド層を支持台上で反転させた後、気相合成法で単結晶ダイヤモンドを成長させて、親基板から分離された面上に単結晶ダイヤモンドを成長させる工程を含む単結晶ダイヤモンドからなる大面積基板の製造方法。 (もっと読む)


【課題】成長用基板上に選択成長用のマスクを配した後、横方向成長法を用いて半導体層を形成する工程を含む半導体発光装置の製造方法において、従来よりも成長過程の早い段階で平坦な膜を得ることができる半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】
成長用基板上を部分的に覆う選択成長用のマスクを成長用基板上に形成する。次に、成長用基板上のマスクで覆われていない非マスク部から半導体膜を横方向成長させてマスクを覆う貫通転位遮断層を形成する。次に、貫通転位遮断層の上に発光層を含むデバイス機能層をエピタキシャル成長させる。貫通転位遮断層を形成する工程は、常圧且つデバイス機能層の成長温度よりも低い温度雰囲気の下、互いに異なる成長速度で半導体膜の成長を行う第1ステップおよび第2ステップを交互に複数回実施する。 (もっと読む)


【課題】成長用基板の剥離をウェットエッチング処理によって容易に行うことができ、更に、光取り出し効率向上と半導体膜の機械的強度の確保を両立させた半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】
複数の第1の空洞を含む第1空洞含有層を成長用基板上に形成する工程と、複数の第2の空洞を含み、互いに隣接する第2の空洞間の隔壁部の各々が第1の空洞の各々の上部に設けられた第2空洞含有層を第1空洞含有層上に形成する工程と、第2空洞含有層上に半導体層をエピタキシャル成長させる工程と、半導体層上に支持基板を接着する工程と、第1および第2の空洞の各々にエッチャントを流入させて、第1の空洞の各々と第2の空洞の各々とを結合させて成長用基板を半導体層から除去する工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】溶液法により得られるIII族窒化物結晶基板を用いたHVPE(ハイドライド気相成長)法による大型のIII族窒化物結晶の成長方法を提供する。
【解決手段】アルカリ金属元素の濃度が1.0×1018cm-3未満の第1のIII族窒化物結晶10を準備する工程と、HVPE法により、1100℃より高い雰囲気温度で、第1のIII族窒結晶10の主面10m上に、第2のIII族窒化物結晶20を成長させる工程と、を備える。 (もっと読む)


【目的】基板上に、平坦性及び結晶性に優れた高品質な酸化亜鉛系半導体、特に酸化亜鉛(ZnO)単結晶の成長方法を提供することにある。また、平坦で結晶性に優れた半導体層を有し、高性能、高信頼かつ量産性に優れた半導体素子を提供することにある。
【解決手段】
亜鉛を含むケトン化合物有機金属材料の材料溶液を気化させた材料ガスと極性酸化ガス及び無極性酸化ガスの混合ガスとを供給する工程を有するMOCVD法により、基板上に酸化亜鉛系半導体層を結晶成長する。上記混合ガスにおける上記極性酸化ガス及び上記無極性酸化ガスの混合比率は1対4ないし4対1の範囲内である。 (もっと読む)


【課題】高純度で光学特性に優れた窒化アルミニウム単結晶基板を提供する。
【解決手段】無機ベース基板11上に、第一の窒化アルミニウム単結晶層12を成長させて、第一の積層体15を製造し、第一の積層体15から無機ベース基板11を分離して窒化アルミニウム単結晶自立基板16を準備する。前記窒化アルミニウム単結晶自立基板16は、酸素濃度を、例えば、2.5×1017atom/cmを超え2.0×1019atom/cm以下とする。続いて、前記窒化アルミニウム単結晶自立基板16の温度を1400〜1900℃の範囲に制御し、かつ、該窒化アルミニウム単結晶自立基板16の窒素極性を有する面14上に、ハロゲン化アルミニウムガス、および窒素源ガスを供給し、窒化アルミニウム単結晶層17を成長させて積層体18を製造し、該窒化アルミニウム単結晶自立基板16を分離することにより、窒化アルミニウム単結晶基板19を製造する。 (もっと読む)


【課題】シリコン単結晶基板上に、欠陥密度が低く高品質なエピタキシャル層を形成することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】バッファ層12は、シリコン基板11の格子定数と、エピタキシャル層13の格子定数との間の格子定数をもつ、第3族元素と第5族元素との化合物が選択されればよい。例えば、エピタキシャル層13が上述した3C−SiCから形成される場合、シリコン基板11の格子定数0.543nmと、エピタキシャル層13の格子定数0.435nmとの間の、0.469nmの格子定数をもつ砒化ホウ素が好ましく選択される。 (もっと読む)


61 - 80 / 149