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Fターム[5F046AA22]の内容

半導体の露光(電子、イオン線露光を除く) (57,085) | 半導体の露光の共通事項 (5,194) | 露光装置内の雰囲気 (451)

Fターム[5F046AA22]に分類される特許

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【課題】 部材に堆積された堆積物を効率的に除去する描画装置を提供する。
【解決手段】 エネルギービーム描画装置は、エネルギービーム源1と基板12との間に配置され、堆積物が堆積される部材6、11と、前記堆積物を除去する除去ユニットと、を備える。前記除去ユニットは、前記エネルギービームが照射されることによって、前記堆積物を分解する活性種を前記気体から生成するための触媒15、18と、前記部材に気体を供給する気体供給機構16、17と、前記堆積物の除去処理を行う場合に前記触媒を前記エネルギービームが照射される第1位置に移動し、前記基板に描画処理を行う場合に前記触媒を前記エネルギービームが照射されない第2位置に移動する移動機構13、5と、を含む。 (もっと読む)


【課題】EUV露光装置のチャンバ内で発生したコンタミネーションによるマスクや光学系の汚染を抑制する。
【解決手段】EUV露光装置10Aのチャンバ25内に設置されたウエハステージ24の近傍にエネルギー線発生源41を配置し、ウエハ23の表面に塗布されたレジストから発生する放出ガスをエネルギー線42で分解することにより、照明光学系13を構成する照明ミラー14〜16、投影系光学系37を構成する投影ミラー31〜36、マスク21などをコンタミネーションによる汚染から保護する。 (もっと読む)


【課題】露光量のきめ細かな監視および調整を可能にする。
【解決手段】実施形態の露光装置は、EUV光を発光し、パターンが作成された第1の基板に照射する光源と、光学素子を有し、前記第1の基板から発せられる光束を縮小して第2の基板に照射することにより前記パターンを前記第2の基板に転写する縮小光学系と、前記EUV光の照射により前記光学素子から発生する光電子を検出する光電子検出手段と、前記光電子検出手段の検出信号と前記光学素子表面の座標情報とから前記光学素子表面の状態分布を表す面内分布情報を作成する面内分布情報作成部と、を持つ。 (もっと読む)


【課題】液浸露光における露光不良の発生を抑制する。
【解決手段】第1の態様の液浸部材3は、液浸露光装置において、光学部材8と物体との間の液体LQを通過する露光光の光路Kの周囲の少なくとも一部に配置される液浸部材3である。第1面、第1面と異なる方向を向く第2面、及び前記第1面と第2面とを結ぶ孔32を有し、第1面と対向する物体上の液体の少なくとも一部を孔32から回収可能な第1部材31と、孔32を通った液体LQを含む流体F中の気泡の膨張を抑制する第2部材34と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 インプリント処理がなされる空間内の気体がインプリント装置外に流出することの防止とインプリント装置外のパーティクルが前記空間内に流入することの防止との両立。
【解決手段】 インプリント装置は、モールド11を保持するヘッド12と、基板13を保持するステージ14と、樹脂を前記基板に塗布する塗布機構20と、インプリント処理がなされる第1空間Aとその外側の第2空間Bとの境界を定める第1隔壁41と、前記第2空間とその外側の第3空間Cとの境界を定める第2隔壁40と、を備え、前記第2空間を経由した前記第1空間と前記第3空間との間の気体の流通を阻害するように前記第2空間の圧力を調節する。 (もっと読む)


【課題】光学機器の計測精度を向上するとともに、光学機器における光路を囲繞するカバー内を、迅速に温度調整し温度の安定化を行う。
【解決手段】光路4を備えた光学機器Fが収容されるブースKと、光路4を囲繞するカバー3と、ブースK内でカバー3外のブース内温度を検出するブース内温度検出手段2と、カバー3内のカバー内温度を検出するカバー内温度検出手段5と、ブースK内に温調空気Pを通流させ温調空気Pの温度を調整可能な第1温度調整手段と、ブース内温度を制御対象温度として制御対象温度が設定温度になるように第1温度調整手段の運転を制御する制御手段Ebとを備えた温度調整システムDにて、制御手段Ebが、カバー内温度の設定温度に対する温度差が所定の基準値以上となる状態を温度乖離状態として判定し、温度乖離状態では制御対象温度をブース内温度からカバー内温度に切り替えるように構成される。 (もっと読む)


【課題】マスク及びマスクホルダの温度制御を効果的に行う。
【解決手段】本体収容部70内で、基板1をチャック10により支持し、マスク2をマスクホルダ20により保持し、チャック10をステージによりマスクホルダ20の下方へ移動する。本体収容部70内へ横方向に温度調節された清浄な空気を供給し、本体収容部70の上方に本体収容部70とつなげて設けた照射光学系収容部30内の照射光学系から、マスクホルダ20に保持されたマスク2へ露光光を照射する。照射光学系収容部30に第1の排気装置72を設けて、第1の排気装置72により、本体収容部70内の空気を、照射光学系収容部30を介して取り込み、照射光学系収容部30外へ排気する。 (もっと読む)


【課題】ホイルトラップを交換するタイミングを適切に判断することが可能な光源装置を提供する。
【解決手段】プラズマによる光を発生するプラズマ生成部(1、2、3)と、プラズマ生成部で発生した光を集光する集光鏡(6)と、プラズマ生成部で発生したデブリが集光鏡に到達することを抑制するホイルトラップ(8)と、ホイルトラップと接地部との間に流れる電流を測定する電流測定部(11)とを備える。 (もっと読む)


【課題】加湿器の加湿能力過多による結露を抑制し、かつ、加湿能力不足による制御不良を抑制する露光装置を提供する。
【解決手段】加湿エア供給装置30は、気体32を加湿する気化式加湿器34と、気化式加湿器34を通過する第1の気体の流量を制御する第1の流体制御機器33aと、通過しない第2の気体の流量を制御する第2の流体制御機器33bと、気化式加湿器34の加湿能力を可変する加湿能力可変機器38、39と、湿度検出部45と、制御演算部46とを有し、制御演算部46は、湿度検出部45が検出した加湿エア41の湿度と、予め設定した目標湿度とに基づいて、第1及び第2の流体制御機器33a、33bを制御して第1及び第2の気体の流量比を調整し、第1の流体制御機器33aの操作量と、予め設定した目標湿度操作量に基づいて、加湿能力可変機器38、39を制御して気化式加湿器34に導入される第1の気体の流量を一定とする。 (もっと読む)


【課題】高精度な描画と、搬送部でのパーティクル散乱の防止とを同時に達成することができる露光装置を提供する。
【解決手段】ステージ160と光学ヘッド170のボックス172とに挟まれた空間SPの搬送ロボット120と反対側に気体吹出部190が配置されている。気体吹出部190は、空調器191で温調された空気を上記空間SPに向けて吹き出し、気体吹出部190から吹き出された温調気体は横向きに流れて空間SPを通過する。上記空間SPを通過した空気は搬送ロボット120に流れ込む。搬送ロボット120の下方部に排気口192が設けられるとともに、排気口192が配管193を介して空調器191に接続されている。排気口192を設けたことで搬送ロボット120を取り囲む雰囲気は排気されて、同雰囲気内で下向きの気流、つまりダウンフローが形成される。 (もっと読む)


【課題】液体の漏洩や浸入を抑えることのできる露光装置を提供する。
【解決手段】露光装置EXは、投影光学系PLと液体LQとを介して基板P上にパターンの像を投影することによって、基板Pを露光する。露光装置EXは、基板Pを保持する基板ホルダ52を有し、基板ホルダ52に基板Pを保持して移動可能な基板ステージPSTと、基板ホルダ52に基板Pもしくはダミー基板が保持されているか否かを検出する検出器と、検出器の検出結果に応じて、基板ステージPSTの可動領域を変更する制御装置CONTとを備える。 (もっと読む)


【課題】露光不良の発生を抑制できる露光装置を提供する。
【解決手段】露光装置は、液体を介して露光光で基板を露光する。露光装置は、露光光が射出される射出面を有する光学部材と、光学部材の周囲の少なくとも一部に配置され、基板の露光において射出面から射出される露光光の光路が液体で満たされるように基板との間に第1液浸空間を形成する液浸部材と、光路に対する放射方向に関して液浸部材の外側に配置され、基板の露光において第1吸引力で気体を吸引し、液浸部材のクリーニングの少なくとも一部において第1吸引力よりも小さい第2吸引力で気体を吸引する吸引口とを備える。 (もっと読む)


【課題】露光不良の発生を抑制できる液浸部材を提供する。
【解決手段】液浸部材は、物体に照射される露光光の光路が第1液体で満たされるように、物体との間で第1液体を保持して液浸空間を形成する。液浸部材は、物体上の第1液体の少なくとも一部を回収する回収口と、光路に対して回収口の外側に配置され、第1液体に面するときに第2液体を供給し、第1液体に面しないときに第2液体を供給しない供給口と、回収口から回収される第1液体の少なくとも一部が流れる回収流路と、供給口に供給される第2液体の少なくとも一部が流れる供給流路と、回収流路の少なくとも一部と供給流路とを結ぶ接続流路とを備えている。 (もっと読む)


【課題】スループットを改善することのできる基板処理装置、及び基板処理装置の温調方法、及びこれら基板処理装置や温調方法を用いるデバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】大気圧下にあるウエハWの雰囲気を減圧して減圧雰囲気に変更する第1チャンバ16と、減圧雰囲気に維持され、第1チャンバ16から搬送されたウエハWに所定の処理を施す第2チャンバ12とを備える。そして、第2チャンバ12内の温度を、第1チャンバ16内で大気圧から減圧雰囲気への変更に伴って変化するウエハWの温度に対応する設定温度に調整する温調機構を備える。 (もっと読む)


【課題】液浸液中の洗浄液の濃度を確実に規定値以下とすることが可能な液浸露光装置を提供する。
【解決手段】投影光学系14下端部の鉛直下方に配設可能で、露光対象膜を有する半導体基板を載置し、退避可能な基板ステージ17、投影光学14系下端部と露光対象膜との間に液浸液を満たすように供給する液浸液供給部32及び液浸液を排出する液浸液排出部36と液浸液排出管37、基板ステージ17を置き換えて、投影光学系14下端部の鉛直下方に配設可能で、供給口から排出口へ流れる洗浄液25または液浸液を保持し、退避可能な洗浄ステージ15、洗浄ステージ15中に、液浸液と接した接触領域を含むように洗浄液25を供給する洗浄液供給部21及び洗浄液を排出する洗浄液排出管28、並びに、液浸液排出管37に配設され、液浸液中の洗浄液25の濃度を測定する濃度測定器30を備える。 (もっと読む)


【課題】投影光学系と液体とを介して基板にパターンを投影して露光する際、不要な液体を除去して所望のデバイスパターンを基板上に形成可能な露光装置を提供する。
【解決手段】露光装置は、投影光学系と液体とを介して基板上にパターンの像を投影し、基板を露光する露光装置であって、投影光学系の像面付近に配置された部品上に残留した液体を除去する液体除去機構を備えている。 (もっと読む)


【課題】露光ユニットを大気開放することなくレチクルステージを洗浄することができる洗浄用レチクル、レチクルステージの洗浄方法及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】極端紫外線露光装置のレチクルステージの洗浄方法において、基板上にパーティクル取込層が形成された洗浄用レチクルのパーティクル取込層をレチクルステージに押し付ける工程と、洗浄用レチクルをレチクルステージから剥離する工程と、基板上からパーティクル取込層を除去する工程と、パーティクル取込層が除去された基板上に新たにパーティクル取込層を形成する工程と、を設ける。 (もっと読む)


【課題】レーザ干渉計システムの計測精度を向上させる。
【解決手段】基板ステージ装置には、基板Pが載置された微動ステージ21の位置情報を計測するためのX干渉計60Xから照射されるレーザビームL1、L2の光路の上方にエアガイド装置70が設けられている。エアガイド装置70は、X干渉計60Xから照射されるレーザビームL1,L2の上方に沿って配置されたガイド部材71の下面に気体を噴出し、その気体は、コアンダ効果によりガイド部材71の下面に付着した状態で、高速でレーザビームに平行に流れる。そして、高速で流れる気体に光路近傍の気体がベルヌーイ効果により引き寄せられることにより、その光路近傍の空気ゆらぎが抑制される。 (もっと読む)


【課題】コンタミナントがリソグラフィ装置の投影系に侵入するのを防ぐ効果を改善する。
【解決手段】リソグラフィ装置は、パターン形成された放射ビームを基板上に投影するよう構成された投影系を備える。投影系は、パターン形成された放射ビームが通過可能な開口部を備える。開口部の少なくとも一部は、投影系の壁の傾斜面と、投影系のミラーの傾斜面とを備える。 (もっと読む)


【課題】レジスト膜を露光する工程において生産性の低下を招くことなくバブル欠陥の発生を防ぐ。
【解決手段】レジスト膜4aを露光する工程では、液膜17の中央を中心とした直径が異なる2種類の内側エアナイフ8及び外側エアナイフ9における、露光光の走査方向に対する前方側半周部分と後方側半周部分の一方側を用いて、レジスト膜4aの上に液膜17を保持しながら、露光光の走査方向に対する前方側半周部分に生じさせる内側エアナイフ8の直径を、後方側半周部分に生じさせる外側エアナイフ9の直径よりも小さくした状態で露光を行う。 (もっと読む)


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