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Fターム[5F047BA01]の内容

ダイボンディング (10,903) | 接合材 (3,801) | ロウ材 (781)

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【課題】作業ヘッドごとに別個の駆動源を設ける必要がないとともに、互いに異なる作業を行う複数の作業ヘッドの付け替え作業時の負担を軽減することが可能な基板作業装置を提供する。
【解決手段】この基板作業装置100は、基板に対して液状材の塗布作業を行うディスペンスヘッド10、および、基板に対して実装作業を行うマウントヘッド20を選択的に付け替え可能なヘッド装着部31と、ディスペンスヘッド10およびマウントヘッド20に共通に用いられ、ヘッド装着部31にディスペンスヘッド10が装着された場合には液状材が塗布されるようにディスペンスヘッド10を駆動し、ヘッド装着部31にマウントヘッド20が装着された場合にはマウントヘッド20を駆動するR軸モータ33とを備える。 (もっと読む)


【課題】減圧半田接合工程時に発生する溶融半田飛沫の飛散を防止し、前記飛沫による半導体チップの汚染や不良発生を抑制することのできる半導体チップの位置決め治具及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁回路基板の一面に載置される金属薄板に半導体チップを半田付けする際に用いられる半導体チップの位置決め治具3であって、位置決め治具3は、前記半導体チップを嵌め合わせる貫通孔2を有していて、貫通孔2の下端部に前記半導体チップに面して切り込まれた空間13を有する半導体チップの位置決め治具とする。 (もっと読む)


【課題】放熱効果及び層間熱膨張係数の差から発生する反り現象を防止できるとともに、層間熱膨張係数の差による内部変形率の差から発生する内部クラックを防止できる半導体パッケージ基板を提供する。
【解決手段】ベース基板110と、ベース基板110の上部に実装される実装材120と、ベース基板110と実装材120との間に形成される接着層140と、を含み、接着層140は、熱伝導性接着剤141と、熱伝導性接着剤141の外周に形成される軟性接着剤143と、を含むものである。 (もっと読む)


【課題】半導体パッケージ内における半導体素子の位置ずれを抑制することができる半導体装置を提供すること。
【解決手段】実施形態に係る半導体装置10は、凸部23が形成されたパッケージ基板11、導電性の接着剤25、およびパッケージ基板11上に実装された半導体素子14、を具備する。パッケージ基板11は、少なくとも2箇所に凸部23が形成された基板である。導電性の接着剤25は、凸部23を含むパッケージ基板11上に形成される。パッケージ基板11上に実装される半導体素子14は、各凸部23に係合する複数のバイアホール24を有している。さらに、半導体素子14は、少なくとも2箇所のバイアホール24が、各凸部23に接着剤25を介して係合するようにパッケージ基板11上に実装される。 (もっと読む)


【課題】はんだのボイドの発生を抑制し、パワー素子と基材との密着性を高めることができるパワーモジュールの製造方法を提供する。
【解決手段】固相状態の金属粉末を圧縮された搬送ガスと共に吹き付けることにより、パワー素子15をはんだ付けするための金属皮膜を、基材11の表面に成膜する成膜工程は、搬送ガスが内包されるような吹き付け圧で基材11の表面に金属粉末を吹き付けることにより、基材11の表面に、金属粉末からなる第1の金属皮膜12を成膜する第1成膜工程と、第1成膜工程における前記金属粉末の吹き付け圧よりも低い吹き付け圧で、金属粉末を前記第1の金属皮膜12の表面に吹き付けることにより、第1の金属皮膜の表面に、前記金属粉末からなる第2の金属皮膜13を成膜する第2成膜工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】
大気中で線はんだの表面に形成された酸化膜を除去することによりボイドの発生を抑え、常に一定の量のはんだを安定的に供給することが可能にする。
【解決手段】
試料上の所定の位置に所定の量のはんだを供給し、この試料上の所定の位置に供給されたはんだを成形し、この成形されたはんだ上に半導体チップを搭載することを試料を外気と遮断された雰囲気中に維持した状態で行うダイボンダを用いて半導体チップを接続する方法において、ダイボンダの接合材料を、試料上の所定の位置に所定の量のはんだを供給することを、線状のはんだを所定の量送り出し、大気圧中でプラズマを発生させて送り出された線状はんだの表面を発生させたプラズマで処理し、このプラズマで表面が処理された線状はんだを試料上の所定の位置に外気に晒すことなくガイドしてこの試料上に供給するようにした。 (もっと読む)


【課題】 放熱性がよく、ボンディング強度およびボンディング精度を損なうことのない半導体レーザ装置を提供する。
【解決手段】 半導体レーザ装置1は、少なくとも1つ以上のレーザ発光部12を含む半導体レーザ素子10と、半導体レーザ素子10が実装されるサブマウント20と、サブマウント20が搭載される搭載面31aを有するパッケージ30とを含み、サブマウント20の厚み方向Z2の一方の表面部は、半導体レーザ素子10が実装される平坦な実装面21aを有し、他方の表面部である接合側表面部21bは、その周縁の部分であって、平坦な表面を有する枠状の平坦部分25aと、平坦部分25aに囲繞される部分であって、平坦部分25aの表面よりも窪んだ凹部26を有する凹凸部分25bとから成り、接合側表面部21bを介して、サブマウント20がパッケージ30に接合される。 (もっと読む)


【課題】熱によるチップ及びワークの性能劣化を抑えることができるチップをワークに接合する接合方法及び接合装置を提供する。
【解決手段】チップ1及びワーク2をハンダ3の融点Tm未満の予熱温度T1に保持し、チップ1及びワーク2のいずれか一方のみを予熱温度T1から昇温し、チップ1をワーク2に接触させた状態で、チップ1とワーク2との間に設けられたハンダ3を融解してワーク2にチップ1を接合する。 (もっと読む)


【課題】陽炎の影響を受けることなく位置精度良くチップをワークに接合することができる接合方法及び接合装置を提供する。
【解決手段】第2カメラ40が撮像する画像から検出したチップ1及びワーク2の位置に基づいてチップ1をワーク2上のボンディング位置に搬送し、ボンディング位置でチップ1及びワーク2の間に設けられたハンダ3を融解してチップ1をワーク2に接合するにあたり、第2カメラ40によるチップ1及びワーク2の撮像後にチップ1及びワーク2の少なくとも一方をハンダ3の融点Tm以上に昇温してハンダ3を融解することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】余剰半田による半田ボールの発生を抑制しつつ、半導体チップ搭載精度のより高い半導体モジュールを実現する。
【解決手段】半導体チップをマウントする部品搭載領域の外周に沿って、前記部品搭載領域と比べ半田濡れ性の低い、あるいは半田が濡れない低半田濡れ性領域が形成され、前記低半田濡れ性領域の少なくとも一部に余剰半田を流出させるに十分な開口部として半田の濡れやすい領域を設けるように構成する。 (もっと読む)


【課題】実装基板に半導体チップを半田付けする際に、組立治具と実装基板面の隙間寸法が半導体チップの厚みと半田の厚みを合わせた寸法以下にできる半導体装置の組立治具および半導体装置の組立方法を提供することである。
【解決手段】半田が溶融する温度で実装基板21が凹状に湾曲した場合でもチップコマ1の底面2aの一部が実装基板面22に常に自重で接触させることで、組立治具100と実装基板21の間の隙間寸法T1を半導体チップ31の厚さW1と溶融半田32aの厚さW2aを合わせた寸法T2以下にできる。その結果、半田溶融時に半導体チップ31が横方向にズレしてチップコマ1の開口部5からはみ出ることがなく、半導体チップ31の実装基板21への位置決めを精度よく行なうことができる。 (もっと読む)


【課題】半導体素子と基板とのダイボンディング接合において、半導体素子が実装される装置の大型化を引き起こすことなく、接合部位からのダイボンド剤の溢れ出しを起こりにくくし、かつ半導体素子から基板への放熱が効率良く起こるようにする。
【解決手段】半導体素子(LED)3が載置される素子載置面2aに、複数の環状凸条部2bが設けられる。LED3と素子載置面2aとをダイボンディング接合する際に、環状凸条部2bがダイボンド剤4の広がりを抑制するため、ダイボンド剤4は素子載置面2aの周辺部へ溢れ出しにくくなる。また、環状凸条部2bは、LED3と素子載置面2aとの接合面面積を大きくするため、LED3の放熱効率を向上することができる。更に、環状凸条部2bは、素子載置面2aの直下に設けられるため、LED3が実装される装置の大型化を引き起こさない。 (もっと読む)


【課題】サイズの小型化が可能な半導体装置を提供すること。
【解決手段】半導体素子12および半導体素子12に電気的に接続される電極14を有する半導体装置10において、電極14上の所定位置には、金属膜20が設けられ、金属膜20上の所定位置には、半導体素子12が嵌め込まれる凹部22が設けられ、凹部22の内底面には、半田層32を介して、半導体素子12が固定される半導体装置10を提供する。 (もっと読む)


【課題】導電性発熱体の電流印加配線に電流を流して半田層のみを局所的に加熱して半導体を接合することにより、熱応力の減少および基板の変形を防止することができる半導体パッケージ基板の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の半導体パッケージ基板の製造方法は、(A)上部に半田層120が形成された接続部110を一面に備えたベース基板100を準備する段階と、(B)半田層120の上部に、電流印加配線310の備えられた導電性発熱体300を配置する段階と、(C)電流印加配線310に電流を印加して半田層120を加熱することにより、半導体チップ200を接続部110と接合する段階と、(D)導電性発熱体300の電流印加配線310を除去する段階とを含んでなる。 (もっと読む)


【課題】はんだにより半導体チップを板状のダイパッドに接合した構成の半導体装置において、その信頼性の向上及び小型化・薄型化を図ることができるようにする。
【解決手段】はんだ4により半導体チップ2を接合するダイパッド3を備え、ダイパッド3の平坦な上面3aのうち半導体チップ2の配置領域に、前記上面3aから窪んではんだ4を収容する凹部12が形成されたリードフレームを提供する。また、前記凹部12が、前記ダイパッド3の上面3aよりも低く位置して当該上面3aに平行する平坦な底面12aと、当該底面12aの周縁から前記ダイパッド3の上面3aに向かうにしたがって前記配置領域から離れるように延びる傾斜面12bとによって構成されているリードフレームを提供する。 (もっと読む)


【課題】回路基板のダイパッドに対して、電子部品を隙間なく確実に、かつ容易に実装することが可能な電子部品の実装方法、および電子部品の実装構造を提供する。
【解決手段】半導体チップ21の接合面21aの一部分だけがハンダチップ13と接するように、ダイパッド11の一面11aに対して、半導体チップ21の接合面21aを傾斜させるように、半導体チップ21をダイパッド11に載置する(電子部品載置工程)。これによって、半導体チップ21は、例えば、四隅のうちのいずれかの角部分がハンダチップ13に乗り上げるように傾斜する。同時に、半導体チップ21は、ハンダチップ13に接している部分以外の一端(端部)が、ダイパッド11の一面11aに接するように傾斜する。 (もっと読む)


【課題】櫛形タイプの冷却フィンを備えた熱交換器であっても、パワーモジュールに使用して、X線検査によりボイドを正確に検出すること。
【解決手段】パワーモジュール2の熱交換器1は、ケース3と、ケース3に収容された櫛形タイプの冷却フィン4と、ケース3の上面に接合剤10により接合されたヒートスプレッダとを備える。IGBT6は、ヒートスプレッダの上面に接合剤10により固定される。冷却フィン4は、平板状のベース部4aの下面から複数のフィン部4dが互いに隙間9を置いて平行かつ斜めに突き出している。冷却フィン4は、複数のフィン部4dにつき、隣り合う一方のフィン部4d1の先端4eと他方のフィン部4d2の基端4fとが同じ幅W2を有すると共に、ベース部4aの上面及び下面と直交する方向に重なるように配置される。 (もっと読む)


【課題】基板と電子部品の間から食み出す液状材料の食み出し状態を安定化させる。
【解決手段】食み出し情報抽出手段Cによって抽出された情報と食み出し情報記憶手段Dに記憶された情報とに基いて、新たに電子部品搭載手段Aで搭載される電子部品8と其の周辺状況を撮像手段Bで撮像した際に食み出し情報抽出手段Cによって抽出される情報と食み出し情報記憶手段Dに記憶された情報との類似の度合いが増大するように、つまり、液状材料5の実際の食み出し状態と理想的な食み出し状態との乖離が解消されるように電子部品搭載手段Aにおける電子部品8の押圧時間tまたは電子部品8の押圧圧力である搭載荷重を調整する。 (もっと読む)


【課題】良好な信頼性を維持しつつ、レーザバーとサブマウントを面接合させることができる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、基板18と、該基板の表面に形成されたエピタキシャル層20と、該エピタキシャル層の表面に形成された表面電極22と、該表面電極に形成されたエピタキシャル面めっき24と、該基板の裏面に形成された裏面電極26と、該裏面電極に形成された基板面めっき28と、を有するレーザバー12と、該エピタキシャル面めっき又は該基板面めっきにはんだにより固定されたサブマウント16と、を備える。該エピタキシャル面めっき24は該基板面めっき28よりも厚く形成され、該エピタキシャル面めっき又は該基板面めっきの全面が、該はんだ14により該サブマウントと面接合する。 (もっと読む)


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