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Fターム[5F048CB02]の内容

Fターム[5F048CB02]に分類される特許

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【課題】微細化しても高いオン電流を得ることができるトランジスタを用いた、半導体装置。
【解決手段】トランジスタが、絶縁表面上の一対の第1導電膜と、一対の第1導電膜上の半導体膜と、一対の第1導電膜にそれぞれ接続されている一対の第2導電膜と、半導体膜上の絶縁膜と、絶縁膜上において、半導体膜と重なる位置に設けられた第3導電膜とを有する。また、半導体膜上における第3導電膜の端部と、一対の第2導電膜が設けられた領域とは、離隔している。 (もっと読む)


【課題】高耐圧の能動素子を含む回路と低電圧で動作するロジック回路とが同一基板上に混載された半導体装置を低コストで実現する。
【解決手段】半導体装置が、ロジック回路50と、能動素子回路とを具備している。ロジック回路50は、半導体基板1に形成された半導体素子2を備えている。該能動素子回路は、半導体基板1の上方に形成された拡散絶縁膜7−1の上に形成された半導体層8−1、8−2を用いて形成されたトランジスタ21−1、21−2を備えている。この能動素子回路がロジック回路50により制御される。 (もっと読む)


【課題】トランジスタの電流駆動力増大を図りつつ、オフリーク電流を低減させる。
【解決手段】半導体突出部2は、半導体基板1上に形成されている。ソース/ドレイン層5、6は、半導体突出部2の上下方向に設けられている。ゲート電極7、8は、半導体突出部2の側面にゲート絶縁膜4を介して設けられている。チャネル領域3は、半導体突出部2の側面に設けられ、ドレイン層6側とソース層5側とでポテンシャルの高さが異なっている。 (もっと読む)


【課題】半導体装置において、少なくとも容量素子とトランジスタとを有する回路要素が占める面積を小さくする。
【解決手段】第1のトランジスタと第2のトランジスタと容量素子とを有する半導体装置において、第2のトランジスタよりも上方に第1のトランジスタ及び容量素子を配置する。そして、第1のトランジスタのソース又はドレインの一方と、容量素子の一方の電極とを兼ねる共通電極を設ける。さらに、容量素子の他方の電極を共通電極よりも上方に配置する。 (もっと読む)


【課題】縦型トランジスタの特性にばらつきが生じることを抑制する。
【解決手段】半導体基板100には縦型MOSトランジスタ20が形成されている。半導体基板100の表面上には、第1層間絶縁膜300及び第1ソース配線312が形成されている。第1ソース配線312は、第1層間絶縁膜300上に形成されており、平面視で縦型MOSトランジスタ20と重なっている。第1層間絶縁膜300にはコンタクト302が埋め込まれている。コンタクト302は、縦型MOSトランジスタ20のn型ソース層140と第1ソース配線312とを接続している。そして第1ソース配線312には、複数の開口316が形成されている。 (もっと読む)


【課題】多くの半導体装置に必要な低温処理と両立しない高温操作を必要とするような欠点がない、半導体構造を提供することを目的とする。
【解決手段】下部誘電層(151)へ接合された基板(103)、および、下部電極(121)を通じて前記下部誘電層(151)と接合される垂直方向半導体装置(111)を含む半導体構造であって、前記垂直方向半導体装置(111)は、n−p−n層(124)を有する隔離構造(135)を含む。 (もっと読む)


【課題】3次元積層ICデバイスにおいて、相互接続領域のコンタクトレベルのスタックへの電気接続形成工程を簡略化する製造方法を提供する。
【解決手段】各コンタクトレベルは導電層と絶縁層とを有する。コンタクト開口を作り出すために、第1のコンタクトレベルを露出させるように上部層の一部が除去される。N個のマスクを用いて、最大2個のコンタクトレベルまでコンタクト開口がエッチングされる。各マスクは、コンタクト開口のうちの実効的に半数をエッチングするために使用される。Nが3であるとき、第1のマスクにより1つのコンタクトレベルがエッチングされ、第2のマスクにより2つのコンタクトレベルがエッチングされ、第3のマスクにより4つのコンタクトレベルがエッチングされる。コンタクト開口の側壁に誘電体層が形成され得る。コンタクト開口内に導電体が形成され、前記誘電体層が該導電体を前記側壁から電気的に絶縁する。 (もっと読む)


【課題】新たな構成のチョッパ型のコンパレータを提供する。
【解決手段】コンパレータは、インバータと、容量素子と、第1のスイッチと、第2のスイッチと、第3のスイッチとを有し、インバータの入力端子と出力端子とは、第1のスイッチを介して電気的に接続され、インバータの入力端子は、容量素子の一対の電極のうちの一方と電気的に接続され、容量素子の一対の電極のうちの他方は、第2のスイッチを介して参照電位が与えられ、入力された信号電位は第3のスイッチを介して容量素子の一対の電極のうちの他方に与えられ、インバータの出力端子から出力される電位を出力信号とし、第1のスイッチは、チャネルが酸化物半導体層に形成されるトランジスタを用いて構成される。 (もっと読む)


【課題】一定の上昇傾斜を有する駆動信号をメモリセルアレイに提供することによって、読出しマージン減少による信頼性の下落を防止できる不揮発性メモリ装置が提供される。
【解決手段】本発明の実施形態による不揮発性メモリ装置は、基板と直交する方向に積層された複数のメモリセルを含むメモリセルアレイと、ワードラインを通じて前記メモリセルアレイに連結された行選択回路と、前記ワードラインに提供される電圧を発生する電圧発生回路と、を含み、前記電圧発生回路は、目標電圧レベルまで段階的に増加させる方式に前記電圧を発生する。本発明の実施形態による不揮発性メモリ装置は、一定の上昇傾斜を有する駆動信号をメモリセルアレイに提供できる。したがって、読出しマージン減少による信頼性の下落が防止され得る。 (もっと読む)


【課題】高い集積密度を有するデバイス及び集積化方法の提供。
【解決手段】第1および第2の加工物の表面を各々約5〜10Åの表面粗さまで研磨し、第1および第2の加工物の研磨された表面は、互いに接合される。第3の加工物の表面は、前記表面粗さまで研磨される。第3の加工物の表面は、第1および第2の加工物に接着される。第1、第2および第3の加工物は、各々好ましくはウエハ形態にある1つの表面上に形成される薄い材料を有する半導体デバイスであり得る。薄い材料は、所望の表面粗さまで研磨され、その後、互いに接合される。薄い材料は、各々この薄い材料が上に形成される材料の表面非平面度の約1〜10倍の厚さを有する。多数のデバイスが互いに接合され得、デバイスは、異なるタイプのデバイスまたは異なる技術であり得る。 (もっと読む)


【課題】多くの半導体装置に必要な低温処理と両立しない高温操作を必要とするような欠点がない、堆積可能なアッド‐オン層形成方法を提供することを目的とする。
【解決手段】堆積可能なアッド‐オン層形成方法であって、第一半導体基板の取り外し層の形成、取り外し層の上の第一半導体基板に多くのドーピング領域の形成、ここで多くのドーピング層の形成は、第一電導型を有するように、ドーピングされ、取り外し層の上の第一半導体基板の第一ドーピング層の形成、第一電導型に対する第二電導型を有するようにドーピングされ、第一ドーピング層の上の第一半導体基板に最低中間ドーピング層の形成、及び中間ドーピング層上の第一半導体基板に最低第三ドーピング層の形成からなり、第三ドーピング層上に第一の電導性ブランケット層の形成、第一電導ブランケット層上に第二の電導性ブランケット層の形成、及び第二電導性ブランケット層が第二半導体基板の対応する電導性上部層と接触するように、第一半導体基板を第二半導体基板への取り付け、からなる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、接続不良を抑制したコンタクト形成方法を備える半導体装置を提供するものである。
【解決手段】半導体装置は、配線層を備える第1の回路領域と、第1の回路領域の上に形成された絶縁膜と、絶縁膜の上に形成され、シリサイド膜を備える第2の回路領域と、配線層上に設けられ、配線層と電気的に接続された下部コンタクトと、下部コンタクト上に設けられ、下部コンタクトと前記シリサイド膜とを電気的に接続する上部コンタクトとを有する。 (もっと読む)


【課題】半導体領域に酸化物半導体を用いた、高耐圧で、大電流の制御が可能であり、かつ量産性に優れた半導体素子を提供することを課題の一とする。また、該半導体素子を用いた半導体装置を提供することを課題の一とする。また、該半導体素子の作製方法を提供することを課題の一とする。
【解決手段】半導体領域に酸化物半導体を用いたトランジスタと、トランジスタのゲート電極層、ソース電極層及びドレイン電極層の各々と電気的に接続した貫通電極を備えた半導体チップを積層し、トランジスタを電気的に並列接続することによって、実質的にW長の長い半導体素子を提供する。 (もっと読む)


【課題】縦型のトランジスタにおいてゲートからシリサイドの位置を精度よく制御できるようにする。
【解決手段】柱状半導体14の中央部には、その周囲を囲むように、ゲート絶縁膜9が形成され、さらに、ゲート絶縁膜9の周囲を囲むように、ゲート層6が形成されている。この柱状半導体14の中央部、ゲート絶縁膜9、ゲート層6により、MIS構造が形成されている。ゲート層6の上下には、第1絶縁膜4が形成されている。第1絶縁膜4は、柱状半導体14にも接している。柱状半導体14の側面には、シリサイド18及びn型拡散層(不純物領域)19が形成されている。シリサイド18は、第1絶縁膜4によってセルフ・アラインされた位置に形成されている。 (もっと読む)


【課題】3次元デバイスのような多層配線を有する半導体装置をより簡単な工程で作製する製造方法を提供する。
【解決手段】第1層10と第2層20とを、それぞれのTSV6が略一直線上になるように積層する半導体装置の製造方法で、基板の上面に入出力回路を構成するトランジスタ3を形成し、トランジスタ3を覆うように絶縁層4を形成し、絶縁層中にTSV6を形成する工程を含む第1層の製造工程と、基板20を準備し、基板の上面に論理回路を構成するトランジスタ13を形成し、トランジスタ13を覆うように絶縁層4を形成し、絶縁層中にTSV6を形成する工程を含む第2層の製造工程と、第1層のTSV6と第2層のTSV6とが略一直線上になるように、第1層と第2層の、基板の反対側面を接続する接続工程と、第1層の基板1を除去する工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】複数の基板を貼り合わせる積層半導体装置を効率よく製造できる方法を提供する。
【解決手段】複数の基板を貼り合わせて積層半導体装置を製造する半導体装置製造方法であって、回路が形成された複数の基板のうちの一の基板に凹部を形成する凹部形成ステップと、一の基板を複数の基板のうちの他の基板に重ね合わせる重ね合わせステップと、重ね合わせステップの後に、一の基板の凹部に導電性材料を導入することにより、一の基板の回路と他の基板の回路との間の電気的な導通路を形成する導通形成ステップとを備える半導体装置製造方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】シリコンウェハからなるICチップは厚いため商品容器自体に搭載する場合、表
面に凹凸が生じ、デザイン性が低下してしまった。そこで非常に膜厚の薄い薄膜集積回路
、及び薄膜集積回路を有するICチップ等を提供する。
【解決手段】薄膜集積回路を有するICチップは、従来のシリコンウェハにより形成され
る集積回路と異なり、半導体膜を能動領域(例えば薄膜トランジスタであればチャネル形
成領域)として備えることを特徴とする。このようなICチップは非常に薄いため、カー
ドや容器等の商品へ搭載してもデザイン性を損ねることがない。 (もっと読む)


【課題】ゲート電極7作製後にチャネル部12を作製する縦型MISFETの製造方法において、ゲート絶縁膜10に損傷を与えたり移動度を劣化させたりすることなく、孔底面に形成された絶縁膜や、自然酸化膜を除去する。
【解決手段】単結晶半導体基板1または単結晶半導体層に形成された不純物領域8の上に、第一絶縁層4、5と、ゲート電極層7と、第二絶縁層5、4と、をこの順に積層した積層体を形成し、前記積層体に不純物領域8が露出する孔を形成し、少なくとも前記孔の側壁に露出しているゲート電極層7、および、前記孔の底面に露出している不純物領域8の上に絶縁膜10を形成し、ゲート電極層7の露出部分の上に形成された絶縁膜10の上に半導体膜を重ねて形成し、不純物領域8の上に形成された絶縁膜を除去し、孔の底面に露出している不純物領域8に接し、孔底面から孔の開口部までつながる半導体部を形成する半導体装置の製造方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】結晶欠陥が少なく結晶性の高い単結晶シリコン層が絶縁膜上に形成されてなる半導体装置の製造方法及び半導体装置を得るという課題があった。
【解決手段】基板1の一面1aに絶縁膜2を形成する工程と、絶縁膜2を開口して基板1を露出させる穴2cを形成する工程と、穴2cの内壁面を覆うように結晶成長補助膜3を形成する工程と、穴2cを充填するとともに、絶縁膜2の前記基板と反対側の面2aを覆うように非結晶シリコン層を形成する工程と、前記非結晶シリコン層を、レーザーアニール法により単結晶シリコン層5とする工程と、を有する半導体装置101の製造方法を用いることにより、上記課題を解決できる。 (もっと読む)


【課題】面積効率やレイアウト設計の自由度を向上させた半導体装置及び半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】複数の外部端子VDD、VSS、Pin1、Pin2を有し、複数の半導体基板10、20、30を積層して含む半導体装置であって、半導体基板のうち少なくとも1つを貫通し、半導体装置のいずれかの外部端子と電気的に接続する貫通電極51、52、53、54と、いずれか1つの半導体基板に設けた複数の静電放電保護回路41、42、43とを含み、貫通電極51、52、53、54は、複数の静電放電保護回路41、42、43のいずれかと電気的に接続され、複数の静電放電保護回路41、42、43は、貫通電極51、52、53、54のいずれかと電気的に接続されている静電放電保護回路41、42、43が設けられる半導体基板は、最下層又は最上層に積層された半導体基板であってもよい。 (もっと読む)


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