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Fターム[5F088DA01]の内容

受光素子−共通事項、放射線検出 (20,668) | 素子構造一般 (560) | フォトダイオードの構造に関するもの (147)

Fターム[5F088DA01]に分類される特許

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【課題】接続信頼性を高めた光電変換装置を提供する。
【解決手段】本発明の光電変換装置は、複数の層20、244、291〜294からなる素子層と、素子層内に設けられた光電変換素子と、素子層内に設けられて光電変換素子から信号を読出す読出回路と、素子層の表層294に設けられて読出回路を外部に接続する外部接続端子211と、を備える。素子層は、読出回路の一部を構成する配線212の下地となる配線下地層20と、表層294と配線下地層20との間に配置された中間層291〜293と、を含む。中間層291〜293上に接続導電部282〜284が設けられている。配線212が接続導電部282〜284と導通接続されているとともに外部接続端子211が接続導電部282〜284と導通接続されている。 (もっと読む)


【課題】接続信頼性を高めた光電変換装置を提供する。
【解決手段】本発明の光電変換装置は、複数の層からなる素子層と、素子層内に設けられた光電変換素子と、前記素子層内に設けられた読出回路と、素子層の表層294に設けられて読出回路を外部に接続する外部接続端子211と、を備える。素子層には、読出回路の一部を構成する配線212上に、表層294を貫通して配線212の一部に通じるコンタクトホールH2が形成されている。外部接続端子211は、コンタクトホール内H2と表層294上とにわたって設けられて配線212と導通接続された導電膜を含む。導電膜において外部41に導通接続される接続領域A3が、コンタクトホールH2の開口と重ならない領域になっている。 (もっと読む)


【課題】容量結合が低減された光電変換装置を提供する。
【解決手段】本発明の光電変換装置は、第1電極251と第2電極252との間に配置された光電変換層を有する光電変換素子25と、第1電極251と導通するソース領域243を有するTFT24と、TFT24のドレイン領域242と導通する第1配線222と、TFT24のゲート電極241と導通する第2配線212と、第2電極252と導通し、第1配線222と第2配線212とのうちの一方の配線222と略平行に延設された第3配線23とを備える。第2電極252が、透明導電材料からなり、光電変換層に対する光入射側に配置されている。第3配線23が、透明電極材料よりも導電性が高いメタル材料からなり、面方向における第3配線23と一方の配線222との間隔d1、d2が、面方向に垂直な厚み方向における第3配線23と一方の配線222との間の間隔よりも長い。 (もっと読む)


【課題】固体撮像装置において、画素が微細化されても混色抑制する。
【解決手段】各画素に対応して形成された各色フィルタ成分36から成るオンチップカラーフィルタ38と、隣接する各色フィルタ成分36の境界に形成された遮光体37を有する。さらに、各色フィルタ成分36の直下に、セルフアラインにより形成された下凸レンズ39を有する。 (もっと読む)


【課題】光透過性基板を用いても、光リーク電流の発生による特性低下を確実に防止するとともに、安価で容易に大型化が可能な光電変換装置を提供する。
【解決手段】下電極41(第一電極)、ソース配線16、ゲート配線21は、それぞれ遮光性を有する導電性材料から形成される。これによって、下電極41(第一電極)、ソース配線16、及びゲート配線21は、本発明における遮光層を形成する。下電極41(第一電極)、ソース配線16、及びゲート配線21は、イメージセンサー1の厚み方向Tにおいて、互いに異なる2以上の位置(レベル)で広がるように形成されている。しかも、その一部は厚み方向Tにおいて互いに重なり合うように形成されている。 (もっと読む)


【課題】暗電流を低減でき、かつ、高速応答が可能な光検出器を提供する。
【解決手段】n型c−Ge層2、i型c−Ge層3およびp型c−Ge層4が光導波路30に近接してシリコン基板1上に積層される。光導波路30は、クラッド20に接してクラッド20上に形成されている。n型c−Ge層2の膜厚(0.6μm)がクラッド20の厚み(1.4μm)よりも薄く、かつ、n型c−Ge層2の膜厚とi型c−Ge層3の膜厚との合計(2.0μm)がクラッド20の厚みと光導波路30の厚みとの合計(1.7μm)よりも大きい。その結果、光導波路30中を伝搬する光は、光検出器10のi型c−Ge層3へ入射され、n型c−Ge層2およびp型c−Ge層4へ入射されない。 (もっと読む)


半導体受光素子が特定される。本半導体受光素子は、シリコンで形成され、光入射エリア(1a)を有する半導体ボディ(1)であって、前記光入射エリア(1a)を通過して前記半導体ボディ(1)内に入射する電磁波(10)が吸収される厚さ(d)が最大10μmである吸収ゾーン(2)を更に有する半導体ボディ(1)と、誘電材料から形成され、前記半導体ボディ(1)の前記光入射エリア(1a)を被覆するフィルター層(3)と、少なくとも前記光入射エリア(1a)において前記半導体ボディ(1)を被覆する、光吸収材(5)を含有するポッティングボディ(4)と、を有する。 (もっと読む)


【課題】クロストークを抑制しつつ、改質領域を形成することによる半導体基板の機械強度の低下を抑制することが可能なフォトダイオードアレイを提供する。
【解決手段】フォトダイオードアレイ1aは、半導体基板3と、半導体基板3の裏面側に並んで配置されていると共に、それぞれが半導体基板3とのpn接合によりフォトダイオードを構成する複数のp型半導体領域5と、を備え、隣接するp型半導体領域5間の領域37には、領域37の所定位置に集光点を合わせてレーザ光を照射することによって、隣接するp型半導体領域5の配置方向に交差する方向に延びて改質領域50が形成され、隣接する4つのp型半導体領域5に囲まれる領域38には、改質領域50が形成されていない。 (もっと読む)


【課題】改質領域を形成することによるノイズの発生を抑制すると共に、クロストークの抑制効果を向上させることが可能な裏面入射型フォトダイオードアレイを提供する。
【解決手段】フォトダイオードアレイ1は、互いに対向する表面3a及び裏面3bを有するn型の半導体基板3と、半導体基板3の裏面3b側に並んで配置されていると共に、それぞれが半導体基板3とのpn接合11によりフォトダイオード13を構成する複数のp型半導体領域5と、裏面3b側において、隣接するp型半導体領域5間に配置されていると共に、半導体基板3よりも不純物濃度が高く設定されているn型半導体領域7と、を備え、半導体基板3には、表面3aとn型半導体領域7との間の所定位置に集光点を合わせてレーザ光を照射することによって、表面3aに達すると共に、n型半導体領域7に達することなく改質領域50が形成されている。 (もっと読む)


一実施形態において、読み出し集積チップ等の集積チップとの酸化物結合に適した検出器の作製方法は、バンプを有する複数の検出素子を備える基板を準備する。前記バンプの上部を取り囲むフローティング酸化物層が形成される。前記フローティング酸化物層と前記集積チップの酸化物層との間に酸化物−酸化物結合が形成される。前記集積チップの酸化物層は、前記集積チップの対応バンプに備えられる。前記酸化物−酸化物結合によって、前記検出素子の前記バンプと前記集積チップの前記対応バンプとが互いに密接に接触でき、前記バンプへの機械的応力及び前記バンプ間の機械的応力を本質的に全て除去できる。他の実施形態においては、装置が相互接続インタフェースを有し、この相互接続インタフェースが、前記酸化物−酸化物結合、及び、前記検出素子の前記バンプと前記集積チップの前記対応バンプとの間の電気的接触を含む。
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【課題】多接合型光起電力発生装置においては、積層数が増加するので、光の結合損失からエネルギー変換効率が小さく、製造コストが高く、かつ製造が困難であった。
【解決手段】サファイア基板1上に横方向に異なるバンドギャップを有する複数のセル2−1、2−2、…、2−7が形成される。各セルは、各バンドギャップに対応する傾斜角の山型傾斜の凹凸面を有するn型GaN層21、n型GaNバッファ層21上に形成されたn型InAlGaN層22及びp型InAlGaN層23よりなる。InAlGaN層22、23の組成はその傾斜角に応じたバンドギャップを有するように決定される。各セル2−1、2−2、…、2−7は出力端子OUT1、OUT2間にボンディングワイヤ3−0、3−1、…、3−7によって直列に接続されて太陽電池として作用する。 (もっと読む)


【課題】 冷却機構なしで暗電流を減らし、受光感度を波長1.8μm以上に拡大したInP系フォトダイオードを用いて、食品の品質を高感度で検査することができる食品品質検査装置等を提供する。
【解決手段】 受光層3がIII−V族半導体の多重量子井戸構造を有し、pn接合15は、不純物元素を受光層内に選択拡散して形成したものであり、受光層における不純物濃度が、5×1016/cm以下であり、食品品質検査装置は、波長3μm以下の水の吸収帯に含まれる、少なくとも1つの波長の光を受光して、検査をすることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】位置ズレを生じることなく1回のX線の照射で異なるエネルギーのX線による放射線画像を得ることができるX線検出素子を提供する。
【解決手段】シンチレータ31を基板1の一方の面側のセンサ部26及びセンサ部29の外側に設け、シンチレータ30を基板1の他方の面側に設けて、基板1の一方の面側又は他方の面側から照射されたX線をシンチレータ30、31で光に変換し、センサ部29が、一方の面側のシンチレータ31から照射された光を検出し、センサ部26が、基板1の他方の面側のシンチレータ30から照射された光を検出する。 (もっと読む)


【課題】位置ズレを生じることなく1回のX線の照射で異なるエネルギーのX線による放射線画像を得ることができるX線検出素子を提供する。
【解決手段】基板1にX線の照射方向にX線検出部22AとX線検出部22Bとを積層して設け、照射されたX線をX線検出部22Aで検出すると共に、X線検出部22Aを透過したX線をX線検出部22Bで検出する。 (もっと読む)


【課題】光子及び/又は荷電粒子の位置及び/又はエネルギーを測定するための検出器を提供すること。
【解決手段】上記検出器は半導体材料でできている複数のダイオードとn−接点(1)とp−接点(4)を有し、上記n−接点はn−層を個々のセグメントに細分化することにより得られる。n−層の上記セグメントは幅が20〜500μmである。上記検出器は半導体材料の一面にイオンを分散してn−層を作ることによって作られる。金属層はその上に蒸着される。リソグラフィーによってセグメント化されたセグメント間をエッチングして溝を形成する。本発明の検出器は高性能でとりわけ高い位置分解能と高い計測速度を可能にする。 (もっと読む)


【課題】残像の発生を抑制することができる検出素子を提供する。
【解決手段】センサ部103は、光が照射されることにより電荷が発生する半導体層6、半導体層6に対してバイアス電圧を印加する上部電極7、及び半導体層6に発生した電荷を収集する下部電極14を備え、下部電極14によって半導体層6に発生した電荷が収集して蓄積しており、半導体層6に発生した電荷が収集されて下部電極14の電圧レベルが飽和防止電圧レベルVsとなると蓄積された電荷が流れ出す飽和防止回路(ダイオード5A、第2バイアス配線109)を設ける。 (もっと読む)


【課題】不純物層を特性よく形成し、更に合わせ位置を正確に形成し、更にノイズ低減が可能な固体撮像装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】第1主面4aと第1主面4aと相対向する第2主面4bを有し、かつ撮像素子領域100aと周辺領域200とを有する第1導電型の半導体層4と、撮像素子領域100aにおける半導体層4の第1主面に形成され、光電変換により電荷を蓄積する受光部10と、受光部10を囲んで、半導体層4の第1主面4aから半導体層4の途中にまで延びる素子分離領域用の第2導電型の第1不純物層12と、半導体層4の第2主面4bから第1不純物層12の底部に達する素子分離用の第2導電型の第2不純物層13とを具備する。 (もっと読む)


【課題】光バリア性能を確保しながら平坦化を図ることができる光電変換装置及び放射線検出装置を提供する。
【解決手段】複数の画素20を備え、前記複数の画素20の各々が基板11上に形成された光電変換素子23を備えた光電変換装置において、前記光電変換素子23は光入射側に受光面を備え、前記複数の画素20間の領域には受光面を露出させて光バリア層46が配置されており、前記受光面は、前記光バリア層46から露出しており、前記光バリア層46は、前記光電変換素子23と前記基板11とで形成される段差に配置されている。 (もっと読む)


【課題】簡易な構成で外部からの電磁波ノイズの入射によって信号配線に発生する外部ノイズを低減させた電磁波検出素子を提供する。
【解決手段】基板1の裏面のセンサ部103が設けられた領域に対応する対応領域一面に金属膜35を設け、スルーホール30を介して金属膜35とセンサ部103とを接続する。 (もっと読む)


【課題】クロストークを防止でき、部品点数の増加を回避でき、小型化を図れ、光の結合効率の低下を回避できる安価な光通信装置および光通信システムを提供する。
【解決手段】この光通信システムが備える第1の光通信装置11は、受光素子としてSi製のPINフォトダイオード22を有し、このSi製PINフォトダイオード22は電極間方向のP領域52の厚さL1とI領域53の厚さL2との和Lを薄くして、赤外領域以上の長波長光では動作しないものとなっている。よって、第1の光通信装置11では、レーザダイオード21からの光信号を赤外領域以上の長波長光とすることで、この長波長光が光ファイバ13の端部で反射してSi製PINフォトダイオード22に入射してもSi製PINフォトダイオード22が動作しないので、クロストークの問題を回避することが可能となる。 (もっと読む)


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