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Fターム[5F102GC08]の内容

接合型電界効果トランジスタ (42,929) | ゲート配置 (2,808) | 縦型FETの埋込みゲート (155)

Fターム[5F102GC08]に分類される特許

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【課題】 微小でしかも強磁場下でも高感度に磁気検出ができる縦型共鳴トンネル素子の製造方法を提供する。
【解決手段】 ソース電極12となる金属膜と導電層からなるドレイン電極13との間に変調ドープ構造を持つ柱状半導体11を有し、柱状半導体11のソース電極12とドレイン電極13との間に前記金属膜と略平行な多重障壁層14,15を備え、柱状半導体11の中心軸部分にソース電極12側から有底穴17が形成された縦型共鳴トンネル素子の製造方法において、有底穴17を形成するとき有底穴17の底部が多重障壁層14,15を貫通しない深さにすることにより生じる空乏層によって多重障壁層間の電子閉じ込め領域16が実効的にリング状になる深さにする。 (もっと読む)


【課題】p型半導体および低濃度n型半導体の再成長を行うことなく作製可能な構造を有する接合型III族窒化物トランジスタを提供する。
【解決手段】p型III族窒化物半導体からなる埋め込みゲート層15は第2〜第4のエリア27d〜27f上に設けられる。チャネル層17は、n型III族窒化物半導体からなり、また埋め込みゲート領域15上に設けられる。p型III族窒化物半導体からなる上部ゲート層19はチャネル層17上に設けられる。チャネル層17と埋め込みゲート層15とはpn接合29aを形成する。上部ゲート層19チャネル層17とはpn接合29bを形成する。n型III族窒化物半導体からなる電流経路領域21は、第4のエリア27f上に設けられる。電流経路領域21は、チャネル層17に接続されている。ソース電極31は、チャネル層17に電気的に接続される。ドレイン電極25は、導電性基板27の裏面27b上に設けられる。 (もっと読む)


【課題】流れる電流の大きさのバラツキを抑制するとともに、効率よく製造することが可能な半導体装置を提供すること。
【解決手段】アノード1およびカソード2と、アノード2に導通するドレイン領域およびカソード2に導通するソース領域を有するn型半導体層3と、カソード2に導通するゲート領域を有するp型半導体層4と、を備える定電流ダイオードA1であって、n型半導体層3には、その表面にカソード2が接続され、その裏面にアノード1が接続されており、p型半導体層4は、それぞれがn型半導体層3の表面から裏面に向かって延びる1対の壁部からなる複数の壁部対41aが、n型半導体層3の厚さ方向と直角である方向に配列された構成とされており、n型半導体層3の表面側部分のうち、複数の壁部対41aに挟まれた部分が、上記ソース領域となるn+型半導体層32とされている。 (もっと読む)


【課題】カーボンにより汚染されることなく、ステップバンチングによる表面荒れを安定して抑制することができるSiC半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】SiC単結晶の表面の少なくとも一部にドーパントをイオン注入する工程と、イオン注入後のSiC単結晶の表面上にSi膜を形成する工程と、Si膜が形成されたSiC単結晶をSi膜の溶融温度以上の温度に加熱する工程と、を含む、SiC半導体装置の製造方法である。 (もっと読む)


【課題】リーク電流や耐圧低下の防止された、トレンチ構造またはメサ構造を有するIII 族窒化物半導体装置。
【解決手段】C面サファイア基板1上にGaN層2を成長させ、GaN層2上にT字型のUSG膜3を、USG膜3の側面がGaN層2のA面とM面に平行となるように作製した。その後、USG膜3をマスクとしてGaN層2をドライエッチングした。図2a、bのように、A面よりもM面の方が荒れが少ないことが分かる。次に、TMAH水溶液でウェットエッチングした。図2c、dのように、A面、M面ともに荒れが解消されていて、特にM面は鏡面状になっている。したがって、トレンチ溝側面またはメサエッチング側面をM面とすれば、III 族窒化物半導体装置のリーク電流や耐圧低下を防止できる。 (もっと読む)


【課題】電界を緩和して耐圧を向上させることができる炭化珪素半導体装置を提供する。
【解決手段】N型ドレイン用SiC基板1の上に、N型SiCドリフト層2と、N型SiCソース層3とが順に形成され、ソース層3を貫通してドリフト層2に達するトレンチ4が形成されている。トレンチ4の内部にポリシリコンゲート電極5が配置されている。トレンチ4の内壁面にSiCよりなるP型エピタキシャル膜30が形成されている。トレンチ4底面におけるエピタキシャル膜30の下に、バナジウムイオンを拡散した半絶縁領域31が形成されている。 (もっと読む)


【課題】基板に形成したトレンチ溝の内壁面にエピタキシャル成長する際にファセット面の形成を抑制することができるようにする。
【解決手段】SiC基板90に{11−20}面を主表面とする六方晶SiC基板が用いられるとともにSiC基板90にトレンチ溝91が形成されている。トレンチ溝91は、断面形状において側壁面が{0001}面から1度以上傾いている。トレンチ溝91の内壁面にはSiCエピ層が形成されている。 (もっと読む)


【課題】平面サイズの縮小化を図ることができる、接合型電界効果トランジスタおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】この接合型電界効果トランジスタ1では、半導体基板2上に、n型エピタキシャル層3が積層されている。n型エピタキシャル層3には、複数のゲート領域4が間隔を隔てて形成されるとともに、互いに隣り合うゲート領域4の間に、それらのゲート領域4と間隔を隔ててソース領域6が形成されている。互いに隣り合うゲート領域4の深部間の間隔は、それらの表層部間の間隔よりも狭く形成されている。ゲート領域4およびソース領域6には、それぞれゲート電極5およびソース電極7が接続されている。ドレイン電極8は、半導体基板2の裏面に接続されている。 (もっと読む)


【課題】 ショットキーゲート電極で制御する半導体装置において、ゲートリーク電流を低減することができる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、半導体層と、半導体層に接しているソース電極Sと、半導体層に接しているとともに、ソース電極Sから絶縁されているドレイン電極Dと、半導体層に接しており、ソース電極Sとドレイン電極Dの双方から絶縁されているとともに、ソース電極Sとドレイン電極Dの間に伸びるチャネル領域に対向しているショットキーゲート電極50と、絶縁膜80を介してショットキーゲート電極50に対向している絶縁ゲート電極60を備えている。 (もっと読む)


【課題】本発明は、複数の縦型有機トランジスタを用いた、インバータ特性を示す半導体デバイスを提供することを課題とする。
【解決手段】第一の電極21と、第一の電極上21の第一の半導体層22、24と、第一の半導体層22、24上の第三の電極25と、第一の半導体層22、24の導電型と導電型が同一である第三の電極25上の第二の半導体層26、28と、第二の半導体層26、28に挿入された第五の電極29と、第一の半導体層22、24に挿入された第二の電極23と、第二の半導体層26、28中に挿入された第四の電極27とを有することを特徴とする半導体デバイス。 (もっと読む)


【課題】本発明は、縦型有機トランジスタ及び縦型無機トランジスタを用いたインバータ特性を示す半導体デバイスを提供することを課題とする。
【解決手段】第一の電極31と、第一の電極上31の第一の半導体層32、34と、第一の半導体層32、34上の第三の電極35と、第一の半導体層32、34の導電型と導電型が異なる第三の電極上35の第二の半導体層36、38と、第二の半導体層36、38に挿入された第五の電極39と、第一の半導体層32、34に挿入された第二の電極33と、第二の半導体層36、38中に挿入された第四の電極37とを有することを特徴とする半導体デバイス。 (もっと読む)


【課題】始動時や瞬低、瞬時停電の発生時には通常時の電力を大幅に超える電力を供給できる電力変換装置を提供する。
【解決手段】瞬時大電力供給装置1のコンバータ4は、制御電極による制御によってユニポーラ半導体素子として動作させるかバイポーラ半導体素子として動作させるかが選択される複合機能を有するワイドギャップ複合機能半導体素子を備える。コンバータ4は、ワイドギャップ複合機能半導体素子をスイッチング素子として用いて、通常時は、変圧器5から交流を直流に変換して二次電池2出力して充電する一方、瞬時大電力を必要とするときは、二次電池2からの直流電力を交流電力に変換して変圧器5に出力する。 (もっと読む)


【課題】 単一のマスク構造を、溝エッチングプロセス、又は、溝エッチングと注入プロセスの両方のために採用することができ、4Hシリコンカーバイドを含む、SiC基板や、シリコンやそれと同様のその他の基板とともに用いることができるマスクプロセスを実現すること。
【解決手段】 シリコンカーバイド又はその他のウエハに溝を形成するための、及び、薄いアルミニウム層とパターン形成されたハードフォトレジストマスクとを含む同様のマスクを用いて溝の壁に対して不純物を注入するためのマスク構造及び方法。薄いLTO酸化物が金属層とハードフォトレジストマスクとの間に配置されてもよい。 (もっと読む)


【課題】ダイオード内蔵型の接合FETにおいて、低いゲートバイアスでもブロッキング状態を維持でき、かつ大きな飽和電流を実現する。
【解決手段】nSiC基板10をドレイン層、ドレイン層に接するnSiC層11をドリフト層、ドリフト層上に形成されたnSiC層12をソース層、ソース層からドリフト層の所定深さまでトレンチ溝を形成してドリフト層の一部をチャネル領域とし、トレンチ溝を充填するp型多結晶Siをゲート領域とする接合FETにおいて、チャネル片側のゲート領域をソース電極と短絡させてダイオードのpエミッタとする。 (もっと読む)


【課題】トレンチ構造のJ−FETが形成されるセル領域の一部に、ダイオードを内蔵する炭化珪素半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】炭化珪素半導体で構成されたN型ドレイン層11、N型ドリフト層12およびN型ソース層13が下から順に配置されている半導体基板1と、ソース層13の表面からドリフト層12に到達する深さのトレンチ14の側面14aに沿って配置されたP型ゲート層15と、トレンチ14の内部でゲート層15を覆う絶縁膜17と、ソース層13と電気的に接続されたソース電極19とを備える炭化珪素半導体装置において、少なくともトレンチ14の内部もしくは真下に、ソース電極19と電気的に接続され、ドリフト層12と接合してダイオード6を構成するショットキー電極18もしくはP型層のダイオード構成部を設ける。 (もっと読む)


【課題】on特性と耐圧性に優れた半導体素子を実現すること。
【解決手段】半導体層1,2の上面には膜厚0.1μm〜0.3μm程度のAl2 3 結晶からなる保護被膜3が積層されている。この膜厚は、不純物の拡散バリアあるいはキャリアの注入バリアとして機能する膜厚であれば良い。この保護被膜3は、Al2 3 結晶の結晶成長によって成膜することができ、更にこの上には、厚いGaN結晶層を広く容易に結晶成長させることができる。広面積に形成された厚膜の耐圧絶縁膜4は、その様な結晶成長によって積層された半導体結晶層であり、膜厚約20μmの真性GaN結晶から形成されている。さらにその上部に、Al2 3 結晶からなる保護被膜5を0.1μm程度形成する。この保護被膜5は、キャリアの注入バリア層あるいは耐圧絶縁膜4への不純物の拡散(侵入)を防止する保護被膜として機能する。 (もっと読む)


【課題】ワイドギャップ半導体素子の損失の温度依存性を低減する駆動回路を提供すること。
【解決手段】本発明の電圧駆動型のパワー半導体スイッチング素子のゲート駆動回路は、パワー半導体スイッチング素子と、該スイッチング素子のエミッタ制御端子或いはソース制御端子を基準として、該スイッチング素子のゲート端子に駆動信号を与える駆動回路と、該スイッチング素子の温度を検出する手段を有するパワー半導体スイッチング素子のゲート駆動回路において、前記パワー半導体スイッチング素子の温度を検出し、その検出値に基づいて、ゲート駆動電圧或いはゲート駆動抵抗を可変させる。 (もっと読む)


【課題】単位セルあたりにより多くの電流を流すことが可能な炭化珪素半導体装置、すなわちオン抵抗をより低減可能な炭化珪素半導体装置を提供すること。
【解決手段】N型の炭化珪素半導体からなるドレイン領域3と、ドレイン領域3に接し、P型の炭化珪素半導体からなる第一ベース領域4と、第一ベース領域4に接し、N型の炭化珪素半導体からなるソース領域5と、ソース領域5に接し、ドレイン領域3の所定領域を介して第一ベース領域4に対向する、P型の炭化珪素半導体からなる第二ベース領域6と、少なくともソース領域5とドレイン領域3とに挟まれる第一ベース領域の表面にゲート絶縁膜を介して接するゲート電極9とを有することを特徴とする炭化珪素半導体装置を構成する。 (もっと読む)


【課題】 チャネル幅の均等性が高い縦型JFETを提供する
【解決手段】 本発明の縦型JFETは、半導体基体、第1導電型のソース領域、第1導電型のチャネル領域と、第2導電型のゲート領域とを備える。第1導電型のソース領域は、半導体基体の素子表面に設けられる。第1導電型のチャネル領域は、ソース領域から、半導体基体の深さ方向に延び、半導体基体の第1導電型の下層域に繋がる。第2導電型のゲート領域は、チャネル領域を挟んで深さ方向に形成される。以上の構成において、ゲート領域は、第2導電型不純物の濃度ピークが深さ方向に複数存在することを特徴とする。 (もっと読む)


本発明は、製作中に追加の注入物を受け取るJFETを提供する。この注入物は、JFETのドレイン領域をそのソース領域の方へ延ばし、かつ/またはそのソース領域をそのドレイン領域の方へ延ばす。注入物は、ドレイン/チャネル(および/またはソース/チャネル)接合部で所与のドレイン電圧および/またはソース電圧に対して普通なら生じるはずの電界の大きさを低減させ、それによって電界に関連するゲート電流および降伏の問題の重大度を軽減する。JFETのゲート層は、各注入物に対して、ゲート層の横方向の境界とドレイン領域および/またはソース領域との間にそれぞれ間隙を設ける幅を有するように寸法設定され、各注入物がそれぞれの間隙内に注入されることが好ましい。 (もっと読む)


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