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Fターム[5F102GJ09]の内容

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【課題】単一基板上にソース・ドレインを同一工程で同時形成したIII−V族半導体のnMISFETおよびIV族半導体のpMISFETのソース・ドレイン領域抵抗または接触抵抗を小さくする。
【解決手段】第1半導体結晶層104に形成された第1チャネル型の第1MISFET120の第1ソース124および第1ドレイン126が、第1半導体結晶層104を構成する原子と、ニッケル原子との化合物、または、コバルト原子との化合物、またはニッケル原子とコバルト原子との化合物からなり、第2半導体結晶層106に形成された第2チャネル型の第2MISFET130の第2ソース134および第2ドレイン136が、第2半導体結晶層106を構成する原子と、ニッケル原子との化合物、または、コバルト原子との化合物、または、ニッケル原子とコバルト原子との化合物からなる。 (もっと読む)


【課題】下地基板の導電性を問わずに非破壊でHEMT構造のシート抵抗を評価する方法を提供する。
【解決手段】HEMT構造を備えるエピタキシャル基板のシート抵抗評価方法が、障壁層におけるIII族元素の組成比を除いて評価対象エピタキシャル基板と同一の構造を有する複数のエピタキシャル基板のそれぞれについてフォトルミネッセンス測定を行い、得られたスペクトルからバンド端ピーク強度値を取得する第1予備測定工程と、複数のエピタキシャル基板のそれぞれについてシート抵抗値を測定する第2予備測定工程と、取得したバンド端ピーク強度値とシート抵抗値とから検量線を作成する検量線作成工程と、評価対象エピタキシャル基板についてフォトルミネッセンス測定を行ってバンド端ピーク強度値を取得する実測工程と、得られたバンド端ピーク強度値と検量線とに基づいて評価対象エピタキシャル基板のシート抵抗値を算出する工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】本発明は、SBD、HEMT等のデバイスに逆方向電圧をかけたときの電極端部に生じる電界集中を緩和して電流コラプス、及び長期信頼性の問題を解決した半導体装置を提供する。
【解決手段】窒化物化合物半導体層を有する電子走行層11と、前記電子走行層11に形成された窒化物化合物半導体からなる電子供給層12と、前記電子供給層12上に形成された第1電極13と、前記電子供給層12上に前記第1電極13と離間して形成された第2電極14と、前記電子走行層11および前記電子供給層12を挟んで前記第1電極13に対向して形成された、前記第1電極13と同電位の第1導電体14と、前記電子走行層11および前記電子供給層12を挟んで前記第2電極14に対向して形成された、前記第2電極14と同電位の第2導電体16とを有する半導体装置1を提供する。 (もっと読む)


【課題】高いしきい値電圧と低いリーク電流のノーマリーオフの半導体素子を提供する。
【解決手段】基板2の上に少なくともAlを含むIII族窒化物からなる下地層(バッファー層)3を設けた上で、III族窒化物、好ましくはGaNからなる第1の半導体層(チャネル層)4と、少なくともAlを含むIII族窒化物、好ましくはAlxGa1−xNであってx≧0.2である第2の半導体層(電子供給層)6が積層されてなる半導体層群からなるHEMT構造の半導体素子の上に、Al2O3−Ga2O3の混晶からなる絶縁膜7を形成し、その上にゲート電極9を形成した。 (もっと読む)


【課題】ノーマリーオフ半導体素子のための高品質の酸化物からなる絶縁膜を提供する。
【解決手段】半導体積層構造を有する基板3の上に、酸化物を含む絶縁膜を形成する工程において、酸化物を構成する元素単体ないしは元素の化合物を半導体積層構造を有する基板3の上に付着させる際に、水素ガス中に高純度水を加熱ないしは冷却することにより水蒸気圧を精密制御して混入させることにより、元素単体ないしは元素の化合物を酸化させる酸素分圧を精密に制御して、酸化物の組成を精密制御し、もって半導体積層構造を有する基板3と物理化学的に整合する絶縁膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】高いしきい値電圧と低いリーク電流のノーマリーオフの半導体素子を提供する。
【解決手段】基板2の上に少なくともAlを含むIII族窒化物からなる下地層(バッファー層)3を設けた上で、III族窒化物、好ましくはGaNからなる第1の半導体層(チャネル層)4と、少なくともAlを含むIII族窒化物、好ましくはAlxGa1−xNであってx≧0.2である第2の半導体層(電子供給層)6が積層されてなる半導体層群からなるHEMT構造の半導体素子の上に、AlN−Al2O3の混晶からなる絶縁膜7を形成し、その上にゲート電極9を形成した。 (もっと読む)


【課題】高い入力電力耐性と、低い雑音指数の両者を達成する低雑音増幅器を提供すること。
【解決手段】低雑音増幅器は、第一のIII族窒化物系トランジスタと、第一のIII族窒化物系トランジスタに結合された第二のIII族窒化物系トランジスタとを含んでいる。第一のIII族窒化物系トランジスタは、入力信号に対する第一増幅段を提供するように構成され、第二のIII族窒化物系トランジスタは、入力信号に対する第二増幅段を提供するように構成される。 (もっと読む)


【課題】イオン注入したダイヤモンドの高温高圧アニールにより起こるダイヤモンド表面のエッチングを防ぎ、従来の方法では得られない高品質P型、N型ダイヤモンド半導体を得るダイヤモンド半導体の作製方法を提供すること。
【解決手段】ダイヤモンド基板5−11を用意し、そのダイヤモンド基板5−11上にマイクロ波プラズマCVD装置を用い、メタンを反応ガスとして基板温度700℃でダイヤモンド薄膜5−12を1μm積層する。上記ダイヤモンド薄膜5−12にイオン注入装置を用い、加速電圧60kV、ドーズ量1×1014cm−2でドーパントを打ち込む。その後、イオン注入ダイヤモンド薄膜5−13上に保護層(白金)5−14を形成する。表面に保護層5−14が形成されたイオン注入ダイヤモンド薄膜5−13を、超高温高圧焼成炉内に配置し、3.5GPa以上、600℃以上の圧力、温度下でアニールする。 (もっと読む)


【課題】 金属キャリアを有する半導体デバイス及び製造方法を提供する。
【解決手段】 金属キャリア基板を含む半導体デバイス。キャリア基板の上には、Alx1Gay1Inz1N(x1+y1+z1=1、x1≧0、y1≧0、z1≧0)の第1の半導体層が形成される。第1の半導体層の上にはAlx2Gay2Inz2N(x2+y2+z2=1、x2>x1、y2≧0、z2≧0)の第2の半導体層が配され、第2の半導体層の上にはゲート領域が配置される。半導体デバイスはさらに、ソース領域およびドレイン領域を含み、これらの領域のうちの一方が金属キャリア基板と電気的に接続され、第1の半導体層を介して延在する導電性領域を含む。 (もっと読む)


【課題】放熱性に優れ、高周波高出力で使用可能な、化合物半導体高電子移動度トランジスタを提供する。
【解決手段】支持基板20の第1の主表面20a上に、チャネル層40及びバリア層50が積層されて構成される、化合物半導体高電子移動度トランジスタであって、ソース電極62が形成された領域を含む、支持基板の領域部分が金属部22であり、ドレイン電極64が形成された領域を含む、支持基板の他の領域部分がシリコン部24で構成される。 (もっと読む)


【課題】温度変化に伴うチャネル抵抗の変化が小さいトランジスタを実現できるようにする。
【解決手段】トランジスタは、トランジスタ本体100と、トランジスタ本体に応力を印加する応力印加部200とを備えている。トランジスタ本体100は、形成基板101と、形成基板101の上に順次積層された第1の半導体層105及び第1の半導体層105と比べてバンドギャップが大きい第2の半導体層107とを有している。応力印加部200は、第2の半導体層107に印加される引っ張り応力が温度の上昇に従って大きくなるように、トランジスタ本体100に応力を印加する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、複数の縦型有機トランジスタを用いた、インバータ特性を示す半導体デバイスを提供することを課題とする。
【解決手段】第一の電極21と、第一の電極上21の第一の半導体層22、24と、第一の半導体層22、24上の第三の電極25と、第一の半導体層22、24の導電型と導電型が同一である第三の電極25上の第二の半導体層26、28と、第二の半導体層26、28に挿入された第五の電極29と、第一の半導体層22、24に挿入された第二の電極23と、第二の半導体層26、28中に挿入された第四の電極27とを有することを特徴とする半導体デバイス。 (もっと読む)


本発明は、導電性または半導性ナノワイヤのアレイを製造する方法に関する。この方法は一般に、基板上に階段状原子テラスの微斜面を形成し、ドーパント材料の部分層を堆積させて、原子テラスの幅より狭い幅を有するナノストライプを形成し、好ましくはナノストライプおよび露出テラス面をオーバー層で被覆して多層構造体を形成し、場合によりこの多層構造体をアニールし、ドーパントナノストライプの原子を基板およびオーバー層のいずれか又は両方の内部へ拡散させてナノワイヤを形成する工程を含む。この方法は、規則的トポグラフィーパターンを備えた他の基板にも適用できる。本発明は、これらのナノワイヤを用いて作製した各種エレクトロニクスデバイスにも関する。
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金属半導体電界効果トランジスタの形態の薄膜半導体は、紙シート材料の基材10および基材上の層に蒸着された多くの薄膜活性無機層を含む。活性層は、オフセット印刷プロセスを用いて印刷される。第1の活性層は、紙基材上に直接印刷されるコロイド銀インクのソース12.1およびドレイン12.2伝導体を含む。第2の活性層は、第1の層上に印刷されるコロイドナノ結晶シリコンインクの固有の半導体層14である。第3の活性層は、第2の層上に印刷されて、ゲート電極を形成するコロイド銀の金属伝導体16を含む。本発明は、光電池のような他の薄膜半導体および半導体の製法にまで拡大される。
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