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Fターム[5F110HK35]の内容

薄膜トランジスタ (412,022) | ソース、ドレイン−低抵抗層 (42,553) | 低抵抗層の製法 (10,751) | 堆積 (8,750) | CVD (2,011) | プラズマCVD (871)

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【課題】TFT特性が良好であり、かつ信頼性も高い薄膜電界効果型トランジスタおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】薄膜電界効果型トランジスタは、基板上に、少なくともゲート電極、絶縁膜、活性層、エッチングストッパ層、ソース電極、およびドレイン電極が形成されており、活性層上にエッチングストッパ層が形成され、エッチングストッパ層上にソース電極およびドレイン電極が形成されている。エッチングストッパ層はZn濃度が20%未満のIn、GaおよびZnを含むアモルファス酸化物で構成されている。活性層はIn、GaおよびZnを含むアモルファス酸化物半導体で構成されており、Zn濃度がエッチングストッパ層のZn濃度よりも高い。 (もっと読む)


【課題】 容易に製造することができ、かつ信頼性の高い薄膜トランジスタおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】 薄膜トランジスタの製造方法は、基板上にゲート電極を形成する工程と、ゲート電極を覆って基板上にゲート絶縁膜を形成し、ゲート絶縁膜上に活性層となる酸化物半導体膜を形成する工程と、酸化物半導体膜において活性層のチャネル領域に相当する部分を覆うように、Gaの酸化物のチャネル保護膜を形成する工程と、酸化物半導体膜上にソース電極およびドレイン電極となる膜を形成し、膜上にレジストパターンを形成し、酸のエッチング液を用いて酸化物半導体膜、ソース電極およびドレイン電極となる膜をエッチングし、チャネル保護膜をエッチングストッパとして活性層ならびにソース電極およびドレイン電極を形成する工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】電力が供給されない状況でも記憶内容の保持が可能で、かつ、書き込み回数にも制限が無い、新たな構造の半導体装置を提供することを目的の一とする。また、新たな構造の半導体装置の高集積化を図り、単位面積あたりの記憶容量を増加させることを目的の一とする。
【解決手段】トランジスタのオフ電流を十分に小さくすることができる材料、例えば、ワイドギャップ半導体である酸化物半導体材料を用いて半導体装置を構成する。トランジスタのオフ電流を十分に小さくすることができる半導体材料を用いることで、長期間にわたって情報を保持することが可能である。また、半導体装置の各メモリセルを構成する、酸化物半導体を用いたトランジスタを直列に接続することにより、隣り合うメモリセルにおいて、酸化物半導体を用いたトランジスタのソース電極またはドレイン電極をお互いに接続させることができ、メモリセルの占有面積を低減することができる。 (もっと読む)


【課題】容易に製造することができ、かつ信頼性の高い薄膜トランジスタおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタの製造方法は、基板上にゲート電極、ゲート絶縁膜および活性層し、活性層上に第1の保護層となるGa酸化物膜を形成する。Ga酸化物膜上に第2の保護層となる感光性有機系絶縁膜を形成し、感光性有機系絶縁膜においてチャネル領域に整合する部分をパターン部とし、それ以外の部分を非パターン部とする。この非パターン部を除去し、この非パターン部の除去とともにパターン部をマスクとして非パターン部下のGa酸化物膜を除去して、第1の保護層および第2の保護層を形成しチャネル保護膜を得る。チャネル保護膜を覆うようにソース電極およびドレイン電極となる膜を形成し、この膜上にレジストパターンを形成し、チャネル保護膜をエッチングストッパとして膜をエッチングし、ソース電極およびドレイン電極を形成する。 (もっと読む)


【課題】電子ペーパー等の表示装置に適用した場合に、その消費電力を小さくでき、歩留まりを向上させることができるアクティブマトリクス型駆動基板及びその製造方法等を提供する。
【解決手段】第1絶縁膜2を表面に有する導電基材1上に設けられた薄膜トランジスタ10及び保持容量20と、薄膜トランジスタ10及び保持容量20を第2絶縁膜16,17を介して覆う画素電極30を有し、保持容量20が第1電極21と誘電体膜22と薄膜トランジスタ10のソース・ドレイン電極14,15に接続する第2電極23との積層体であるアクティブマトリクス型駆動基板50であって、導電基材1と第1電極21とが第1絶縁膜2の開口部4で接続されているように構成する。第2絶縁膜(16,17)が少なくとも層間絶縁膜17を有し、導電基材1が金属基材であり、第1絶縁膜2が金属基材1の表面粗さを低減する平坦化膜であることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】良好な特性を維持しつつ微細化を達成した半導体装置の提供を目的の一とする。さらに、これらの微細化を達成した半導体装置の良好な特性を維持しつつ、3次元高集積化を図ることを目的の一つとする。
【解決手段】絶縁層中に埋め込まれた配線と、絶縁層上の酸化物半導体層と、酸化物半導体層と電気的に接続するソース電極及びドレイン電極と、酸化物半導体層と重畳して設けられたゲート電極と、酸化物半導体層と、ゲート電極との間に設けられたゲート絶縁層と、を有し、絶縁層は、配線の上面の一部を露出するように形成され、配線は、その上面の一部が絶縁層の表面の一部より高い位置に存在し、且つ、絶縁層から露出した領域において、ソース電極またはドレイン電極と電気的に接続し、絶縁層表面の一部であって、酸化物半導体層と接する領域は、その二乗平均平方根粗さが1nm以下である半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】不良を抑制しつつ微細化を達成した半導体装置の提供を目的の一とする。または、良好な特性を維持しつつ微細化を達成した半導体装置の提供を目的の一とする。
【解決手段】絶縁層と、絶縁層中に埋め込まれたソース電極、およびドレイン電極と、絶縁層表面、ソース電極表面、およびドレイン電極表面、の一部と接する酸化物半導体層と、酸化物半導体層を覆うゲート絶縁層と、ゲート絶縁層上のゲート電極と、を有し、絶縁層表面の一部であって、酸化物半導体層と接する領域は、その二乗平均平方根(RMS)粗さが1nm以下であり、絶縁層表面の一部とソース電極表面との高低差、および絶縁層表面の一部とドレイン電極表面との高低差は、5nm以上の半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】 ソース/ドレイン電極と活性層との間に微結晶半導体からなるコンタクト層を設ける構成の薄膜トランジスタにおいて、直接堆積法によって形成されるコンタクト層の表面に凹凸ができ、凹部の膜厚が薄くなるためにオフリーク電流が生じ、電気特性が低下する。コンタクト層の凹部がオフリーク電流を抑制するのに必要な膜厚となるまで形成すると、コンタクト層表面の凹凸を活性層5で覆うことのできない部分が生じ、オン電流が流れる際の抵抗となる。
【解決手段】 コンタクト層4の凹部が、オフリーク電流を抑制するのに十分な膜厚になるまで形成した後、その表面を平坦化処理して活性層を形成する。これにより、コンタクト層4の表面を活性層5でほぼ均一に覆うことができ、オフリーク電流が低減され、オン電流の大きい特性のTFTを得ることができる。 (もっと読む)


【課題】不良を抑制しつつ微細化を達成した半導体装置の提供を目的の一とする。または、良好な特性を維持しつつ微細化を達成した半導体装置の提供を目的の一とする。
【解決手段】絶縁層と、絶縁層中に埋め込まれたソース電極、およびドレイン電極と、絶縁層表面、ソース電極表面、およびドレイン電極表面、の一部と接する酸化物半導体層と、酸化物半導体層を覆うゲート絶縁層と、ゲート絶縁層上のゲート電極と、を有し、絶縁層表面の一部であって、酸化物半導体層と接する領域は、その二乗平均平方根粗さ(RMS)が1nm以下であり、絶縁層表面の一部とソース電極表面との高低差、または絶縁層表面の一部とドレイン電極表面との高低差は、5nm未満の半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】再現性良く、高収率でフレキシブルデバイスとしての電界効果型トランジスタを作製することができ、下地層そのものに堅牢性を与えることによって後工程による破壊や傷による表面形状の異常が生じない電界効果型トランジスタ及びその製造方法、並びに画像表示装置を提供する。
【解決手段】第1の基板10と、下地第一層21及び下地第二層22と、ゲート電極30と、ゲート絶縁層40と、ソース電極50、ドレイン電極60、及び半導体層70とがこの順で形成された電界効果型トランジスタ1であり、下地第二層22は、下地第一層21に接する面と反対側の面22aの表面粗さRmsが0.3nm以下である。 (もっと読む)


【課題】プラズマエッチングによりパターニングするとき、半導体膜のチャネル領域が放射ダメージを受けないようにする。
【解決手段】窒化シリコンからなる第1のチャネル保護膜5および遮光性金属からなる第2のチャネル保護膜6を含む真性アモルファスシリコンからなる半導体膜形成用膜21の上面にn型アモルファスシリコンからなるオーミックコンタクト層形成用膜25を成膜する。そして、レジストパターン26、26および第2のチャネル保護膜6をマスクとしたプラズマエッチングで、オーミックコンタクト層形成用膜25および半導体膜形成用膜21をパターニングする。この時、エッチング源のプラズマからの紫外線やX線等の放射は、遮光性金属からなる第2のチャネル保護膜6によって防ぐことができ、半導体膜4のチャネル領域が放射ダメージを受けることはない。なお、遮光性金属からなる第2のチャネル保護膜6は、後工程で2つに分離される。 (もっと読む)


【課題】昇圧効率を向上させた昇圧回路を提供することを課題の一とする。または、昇圧効率を向上させた昇圧回路を用いたRFIDタグを提供することを課題の一とする。
【解決手段】単位昇圧回路の出力端子に当たるノード、または当該ノードに接続されたトランジスタのゲート電極をブートストラップ動作により昇圧することで、当該トランジスタにおけるしきい値電位と同等の電位の低下を防ぎ、当該単位昇圧回路の出力電位の低下を防ぐことができる。 (もっと読む)


【課題】薄膜トランジスタの閾値電圧を調整する。
【解決手段】薄膜トランジスタの作製に際して、処理室内に半導体材料ガスを導入し、ゲート電極を覆って設けられたゲート絶縁層上に前記処理室内で半導体膜を形成し、前記処理室内の前記半導体材料ガスを排気し、前記処理室内に希ガスを導入し、前記処理室内で前記半導体膜にプラズマ処理を行い、前記半導体膜上に不純物半導体膜を形成し、前記半導体膜と前記不純物半導体膜を島状に加工して半導体積層体を形成し、前記半導体積層体が有する不純物半導体層に接してソース電極及びドレイン電極を形成し、前記半導体膜の形成と前記希ガスプラズマ処理は、好ましくは前記処理室内の圧力及び温度を変化させずに行い、前記処理室内のガス種のみを異ならせる。希ガスとしてはアルゴンが好ましく、前記半導体膜には希ガス元素を2.5×1018cm−3以上含ませることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】電力が供給されない状況でも記憶内容の保持が可能で、かつ、書き込み回数にも制限が無い、新たな構造の半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】酸化物半導体を用いた書き込み用トランジスタ、該トランジスタと異なる半導体材料を用いた読み出し用トランジスタ及び容量素子を含む不揮発性のメモリセルを有する半導体装置を提供する。メモリセルへの情報の書き込みは、書き込み用トランジスタをオン状態とすることにより、書き込み用トランジスタのソース電極(またはドレイン電極)と、容量素子の電極の一方と、読み出し用トランジスタのゲート電極とが電気的に接続されたノードに電位を供給した後、書き込み用トランジスタをオフ状態とすることにより、ノードに所定量の電荷を保持させることで行う。また、読み出し用トランジスタとして、しきい値電圧を正に制御したトランジスタを用いることで、読み出し電位を正の電位とする。 (もっと読む)


【課題】良好な特性を維持しつつ、微細化を達成した、酸化物半導体を用いた半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】酸化物半導体層と、酸化物半導体層と接するソース電極及びドレイン電極と、酸化物半導体層と重なるゲート電極と、酸化物半導体層とゲート電極との間に設けられたゲート絶縁層と、を有し、ソース電極またはドレイン電極は、第1の導電層と、前記ゲート電極と一部が重畳するように第1の導電層の端部よりチャネル長方向に伸長した領域を有する第2の導電層と、を含み、第2の導電層の伸長した領域の上にサイドウォール絶縁層を有し、サイドウォール絶縁層は異なる複数の材料層が積層される半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】電気特性が良好な薄膜トランジスタを、生産性高く作製する方法を提供する。
【解決手段】第1のゲート電極と、第1のゲート電極とチャネル領域を挟んで対向する第2のゲート電極とを有するデュアルゲート型の薄膜トランジスタのチャネル領域の形成方法において、結晶粒の間に非晶質半導体が充填される微結晶半導体膜を形成する第1の条件で第1の微結晶半導体膜を形成した後、結晶成長を促進させる第2の条件で、第1の微結晶半導体膜上に第2の微結晶半導体膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】ソース・ドレイン電極に、剥離やストレスマイグレーションによるボイドが発生するのを抑制する。
【解決手段】複数の薄膜トランジスタが配列された基板を有する表示装置であって、薄膜トランジスタは、半導体層6と、半導体層6上に形成されるコンタクト層7と、コンタクト層7上に形成されるソース電極10及びドレイン電極9とを有し、ソース電極10およびドレイン電極9は、コンタクト層7の上側に形成される第1の導電層9a,10aと、第1の導電層9a,10aの上側に形成される第2の導電層9b,10bとを有し、第2導電層9b,10bは、第1添加元素と、銅とを含有する銅合金層であり、前記第1添加元素は、ジルコニウム、チタン、銀、インジウム、金、錫、クロム、ケイ素から選ばれた少なくとも1種類の元素である、ことを特徴とする表示装置。 (もっと読む)


【課題】オフ領域におけるゲート電圧−ドレイン電流特性(Vg−Id特性)の劣化を抑制した薄膜トランジスタを備えたトランジスタ基板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタTFTに設けられるチャネル保護層15の下層に形成された半導体層14のうち、ソース、ドレイン電極17間に側壁部が露出する領域(及びその近傍領域)が、酸素プラズマ処理により酸化処理されている。これにより、当該領域に酸化膜20が形成され、非導体化又は高抵抗化する。 (もっと読む)


【課題】現状では、製造プロセスにスピンコート法を用いる成膜方法が多く用いられている。今後、さらに基板が大型化すると、スピンコート法を用いる成膜方法では、大型の基板を回転させる機構が大規模となる点、材料液のロスおよび廃液量が多い点で大量生産
上、不利と考えられる。
【解決手段】本発明は、半導体装置の製造プロセスにおいて、液滴吐出法で感光性の導電膜材料液を選択的に吐出し、レーザー光などで選択的に露光した後、現像することによって微細な配線パターンを実現する。本発明は、導体パターンを形成するプロセスにおいて、パターニング工程が短縮でき、材料の使用量の削減も図れるため大幅なコストダウン
が実現でき、大面積基板にも対応できる。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体を用いたトランジスタと、酸化物半導体以外の半導体材料を用いたトランジスタとを積層して、新たな構造の半導体装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】第1のトランジスタと、第1のトランジスタ上に絶縁層と、絶縁層上に第2のトランジスタと、を有し、第1のトランジスタは、第1のチャネル形成領域を含み、第2のトランジスタは、第2のチャネル形成領域を含み、第1のチャネル形成領域は、第2のチャネル形成領域と異なる半導体材料を含んで構成され、絶縁層は、二乗平均平方根粗さが1nm以下の表面を有する半導体装置。 (もっと読む)


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