【課題】強度測定器具の間の誤差やレーザ光学系の熱的不安定さに起因して生じるレーザ光学系の照射ビーム間の強度の偏差等を吸収して、均一性の極めて高いアニール処理結果を実現できるようにする。
【解決手段】半導体装置を構成する半導体層１４について、非晶質シリコン膜を微結晶シリコン膜または多結晶シリコン膜に改質する結晶化にあたり、当該結晶化を行うためのアニール処理工程として、プレアニール処理およびアニール処理といった、複数回のアニール処理を行う。 （もっと読む）

【課題】静電気放電に起因する特性の不良を低減した半導体装置及びその作製方法を提供することを目的の一とする。
【解決手段】半導体装置が、（１）回路部の周辺領域において、第１及び第２の絶縁膜が直接接する構成、（２）第１及び第２の絶縁体が密着する構成、（３）第１及び第２の絶縁体の外側の面にそれぞれ第１及び第２の導電層が設けられ、第１及び第２の導電層は、周辺領域の外側の側面で導通をとっている構成の少なくとも一を備える。なお、側面での導通は、半導体装置分断の際に形成することができる。 （もっと読む）

【課題】レーザー光の照射条件に起因する半導体装置の特性のばらつきを低減することを目的の一とする。又は、基板の熱収縮に起因する半導体装置の特性ばらつきを低減することを目的の一とする。
【解決手段】貼り合わせによりベース基板上に設けられた単結晶半導体層にレーザー光を照射した後、第１の熱処理を施してその特性を向上させ、単結晶半導体層に導電型を付与する不純物元素を添加した後、第１の熱処理の温度より低い温度で第２の熱処理を行う。 （もっと読む）

【課題】ウェットエッチング処理工程を含まず、塩素系ガスの専用処理設備を必要としない、安価な装置構成で処理可能な、クロム膜のパターニング方法を提供する。
【解決手段】基材１０上にクロム膜１１’を形成するクロム膜形成工程と、クロム膜１１’の上に、後のパターニング工程における酸素プラズマ条件で除去されないマスク材料膜１２’を形成するマスク材料膜形成工程と、マスク材料１２’膜をパターニングして所定のマスクパターン１２を形成するマスクパターン形成工程と、マスクパターン１２が設けられていない部分のクロム膜を、載置されるステージを加熱して酸素プラズマ条件の温度範囲とし且つ塩素原子を含まない酸素プラズマに晒して酸化クロムとして昇華除去するパターニング工程と、を有するように構成して、所定のクロムパターン１１を得る。 （もっと読む）

【課題】半導体膜に混入する不純物濃度を制御した活性層を有する半導体回路を備えた半導体装置を提供するものである。
【解決手段】上記目的を解決するため、ガラス基板上に２００ｎｍ〜５００ｎｍの膜厚の第１の窒化珪素膜と、前記第１の窒化珪素膜上に第２の窒化珪素膜と、前記第２の窒化珪素膜上にチャネル形成領域となる領域を含む非晶質半導体膜と、を有する構成において、前記第１の絶縁膜と前記第２の絶縁膜との界面において、ボロンを有する。 （もっと読む）

【課題】結晶質シリコンを用いたＴＦＴを備えた、画質の良好なフレキシブル発光装置を提供する。
【解決手段】下地絶縁膜１０２と、下地絶縁膜１０２の第１の面に形成された薄膜トランジスタと、下地絶縁膜１０２の第１の面に、薄膜トランジスタを介して形成された層間絶縁膜１１１と、該第１の面の裏面である第２の面に形成された第１の画素電極１１６と、該第２の面に、第１の画素電極１１６を介して形成されたエレクトロルミネッセンス層と、該第２の面に、第１の画素電極１１６及びエレクトロルミネッセンス層を介して形成された第２の画素電極１１９と、層間絶縁膜１１１に設けられたコンタクトホールにおいて薄膜トランジスタの半導体層と電気的に接続し、且つ少なくとも層間絶縁膜１１１及び下地絶縁膜１０２を貫通する貫通孔１１２において第１の画素電極１１６と電気的に接続する配線１１３ｅと、を有するフレキシブル発光装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】良好な形状制御性を確保しつつ、銅配線層の酸化および銅の拡散を抑制できる配線を提供する。
【解決手段】金属拡散防止膜51上に形成したシード層52を、レジストを用いて選択的に除去する。レジストを除去した後、シード層52を覆って無電解めっき法により銅配線層53と、銅配線層53上に位置するメタルマスク層54とを形成する。メタルマスク層54を用いて金属拡散防止膜51を選択的に除去する。良好な形状制御性を確保しつつ、金属拡散防止膜51の形成時のエッチングなどによる銅配線層53の表面荒れなどを防止して、銅配線層53の酸化および銅の拡散を抑制できる。 （もっと読む）

【課題】 ハンプ特性を低減し、回路の低消費電力化等を実現することが可能な薄膜トランジスタ及び表示装置を提供する。
【解決手段】 画素領域と周辺回路領域とを有する表示装置の周辺回路領域に形成される薄膜トランジスタである。チャネルを構成する多結晶シリコン薄膜１３のゲート幅方向両端部において、ゲート電極１５のゲート長が拡大され突出部１５Ａが形成されている。薄膜トランジスタのゲート長は２μｍ以下であり、ゲート幅は１０μｍ以上である。突出部１５Ａの突出長は２μｍ以上であり、突出幅は０．５μｍ以上である。 （もっと読む）

【課題】半導体膜からなるダイオードを適用した保護回路の性能を向上させる。
【解決手段】２つの入出力端子の間に保護回路が挿入されている。保護回路は、絶縁表面上に形成される半導体膜からなるダイオードを含む。ダイオードのＮ型不純物領域およびＰ型不純物領域を保護回路の１層目の導電膜と接続するためのコンタクトホールは、各不純物領域全体に分布して形成される。また、保護回路の１層目の導電膜と２層目の導電膜とを接続するためのコンタクトホールは、半導体膜上に存在し、かつ分散して形成される。このようにコンタクトホールを形成することで、ダイオードと端子間の配線抵抗を低減し、かつダイオードの半導体膜全体を整流素子として有効に機能させることができる。 （もっと読む）

【課題】基板が設置されたステージをＸ方向やＹ方向に移動させるレーザー照射装置は、基板が大型化した場合、比例してフットプリント（処理に必要とされる平面での面積）が格段に大きくなり、装置全体の巨大化を招く問題が生じてしまう。
【解決手段】本発明のレーザ照射装置は、ガルバノミラーやポリゴンミラーによりレーザー光を半導体膜に照射して走査させ、さらにレーザー光照射の際は、常に半導体膜への入射角度θをある角度に一定に保つ。 （もっと読む）

【課題】低電圧で書き込み、読み出しを行うことができる、消費電力の小さい安価な記憶素子と、その製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁性基板１００上の第１の導電体１０１上に、０．１μｍ以上１０μｍ以下の大きさの導電性を有する粒子、溶媒及び樹脂を含む導電性ペースト１０２を配置し、溶媒を気化させて導電性ペースト１０２中に含まれる導電性を有する粒子１０３同士を接触させ、導電性ペースト１０２の導電性を向上させる。一方、第１の導電体１０１と導電性を有する粒子１０３の間には、薄い樹脂の層１０５が残存し、樹脂の層１０５は、電圧印加によって絶縁破壊させることが可能である。そのため、樹脂の層１０５は、メモリ層として機能させることが可能である。このように、メモリ層を有する第２の導電体１０６を形成することができる。 （もっと読む）

【課題】集積回路の高性能化、小型化を妨げることなく、集積回路のＥＳＤ（静電気放電）に対する耐性を向上する。
【解決手段】２つの入出力端子の間に保護回路１０４が挿入されている。ＥＳＤが発生したとき、保護回路によって２つの入出力端子を短絡して、回路１０３に過電圧が印加されることを防ぐ。回路は、接続配線１１０，１２０を介して、入出力端子に電気的に接続されている。回路は、接続配線との複数の電気的な接続部を有しており、各接続部と入出力端子間の配線抵抗が等しくなるように、接続配線を形成する。これにより、ＥＳＤが発生しても、１つの接続部に電圧が集中して印加することが回避されるため、ＥＳＤによって回路が破壊される確率が低減される。 （もっと読む）

【課題】絶縁膜中の貫通配線が、絶縁膜よりも下層に配置されている配線層あるいは半導体素子層の配線と剥離するのを防ぐ。
【解決手段】マイクロカプセルと、前記マイクロカプセルが分散された絶縁性樹脂と、前記マイクロカプセルの空孔が接する貫通孔と、前記貫通孔中に形成され、前記絶縁性樹脂の両面に露出している貫通配線を有する配線基板及びその作製方法に関する。また、マイクロカプセルと、前記マイクロカプセルが分散された絶縁性樹脂と、前記マイクロカプセルの空孔が接する貫通孔と、前記貫通孔中に形成され、前記絶縁性樹脂の両面に露出している貫通配線を有する配線基板と、絶縁膜の表面に配線が露出した半導体素子層とを有し、前記配線が前記貫通配線と接触するように、前記半導体素子層が前記配線基板と密接している半導体装置及びその作製方法に関する。 （もっと読む）

【課題】 特性のばらつきを抑制した半導体素子を備える半導体装置を製造するための製造方法を提供する。
【解決手段】本発明による半導体装置の製造方法は、半導体層（Ｓｅ）の第１領域（Ｓａ）と第２領域（Ｓｂ）との間の少なくとも一部にスリット（ＳＬ）を形成する工程と、第１開口部（Ｏａ）および第２開口部（Ｏｂ）の設けられたマスク層（Ｍ）を形成する工程と、半導体層（Ｓｅ）の第１領域（Ｓａ）および第２領域（Ｓｂ）に触媒元素（Ｃｔ）を導入し、半導体層（Ｓｅ）の第１領域（Ｓａ）および第２領域（Ｓｂ）のそれぞれの結晶化を行う工程と、半導体層（Ｓｅ）の第１領域（Ｓａ）および第２領域（Ｓｂ）をパターニングした第１島状半導体層（１２２）および第２島状半導体層（１４２）を用いて半導体素子（１２０）および半導体素子（１４０）を作製する工程と包含する。 （もっと読む）

【課題】繊維体に貫通孔を空けることなく、プリプレグの内部に導電領域を形成することを課題とする。
【解決手段】シート状繊維体の両面に、該シート状繊維体の内部まで含浸した絶縁性樹脂層と、前記絶縁性樹脂層に囲まれる領域に設けられた貫通配線を有し、前記貫通配線は、前記シート状繊維体を挟んで前記絶縁性樹脂層の両面に導電性材料が露出し、該導電性材料は、前記シート状繊維体の内部まで含浸している配線基板及びその作製方法、並びに、さらに、絶縁層の表面にバンプが露出した集積回路チップとを有し、前記バンプが前記貫通配線と接触するように、前記集積回路チップが前記樹脂含浸繊維体複合基板に密接している半導体装置及びその作製方法に関する。 （もっと読む）

【課題】薄型化及び小型化を達成しながら、外部ストレス、及び静電気放電に耐性を有する信頼性の高い半導体装置を提供することを目的の一とする。また、作製工程においても外部ストレス、又は静電気放電に起因する形状や特性の不良を防ぎ、歩留まり良く半導体装置を作製することを目的の一とする。さらに低コストで生産性高く半導体装置を作製することを目的の一とする。
【解決手段】半導体集積回路を囲いこむように覆う導電性遮蔽体により、半導体集積回路の静電気放電による静電気破壊（回路の誤動作や半導体素子の損傷）を防止する。導電性遮蔽体はめっき法により電気的に接続するように形成する。また、導電性遮蔽体の形成にめっき法を用いるために、低コストで生産性高く半導体装置を作製することができる。 （もっと読む）

【課題】高集積化を妨げずに、多結晶ＴＦＴのオン電流及び移動度を高めることができる半導体装置の作製方法と、それによって得られる半導体装置の提供を課題とする。
【解決手段】半導体膜に触媒元素を添加して加熱することで、結晶性が高められた第１の領域と、第１の領域と比較して結晶性が劣っている第２の領域とを形成し、第１の領域に第１のレーザー光を照射することで、第１の領域よりも結晶性が高められた第３の領域を形成し、第２の領域に第２のレーザー光を照射することで、第２の領域よりも結晶性が高められた第４の領域を形成し、第３の領域と第４の領域をパターニングして、第１の島状の半導体膜と、第２の島状の半導体膜をそれぞれ形成し、第１と第２のレーザー光は、互いにエネルギー密度が同じであり、第１のレーザー光の走査速度は第２のレーザー光の走査速度より速い半導体装置の作製方法。 （もっと読む）

【課題】薄型化及び小型化を達成しながら、外部ストレス、及び静電気放電に耐性を有する信頼性の高い半導体装置を提供することを目的の一とする。または、作製工程においても外部ストレス、又は静電気放電に起因する形状や特性の不良を防ぎ、歩留まり良く半導体装置を作製することを目的の一とする。
【解決手段】互いに対向するように設けられた第１の絶縁体及び第２の絶縁体と、対向する第１の絶縁体と第２の絶縁体との間に設けられた半導体集積回路及びアンテナと、第１の絶縁体の一表面に設けられた導電性遮蔽体と、第２の絶縁体の一表面に設けられた導電性遮蔽体とを設け、第１の絶縁体の一表面に設けられた導電性遮蔽体と、第２の絶縁体の一表面に設けられた導電性遮蔽体を電気的に接続する。 （もっと読む）

【課題】表示むらおよび消費電力を抑制し、かつ、高速駆動が可能な液晶パネルを提供する。
【解決手段】少なくとも酸化物半導体により形成した活性層33cを備えたｎチャネル型の複数の画素駆動用ＴＦＴ33を備える。非酸化物半導体により形成した活性層45cを備えた複数の駆動回路用ＴＦＴ45を備える。活性層33cの欠陥密度のばらつきを抑制しかつ閾値電圧が相対的に低い画素駆動用ＴＦＴ33によって副画素を駆動するので、表示むらおよび消費電力を抑制できる。ドライバを電界効果移動度が高い非酸化物半導体によって形成した活性層45cを有する駆動回路用ＴＦＴ45により駆動できるので、高速駆動が可能になる。 （もっと読む）

【課題】外部ストレス、及び静電気放電による形状不良や特性不良などの半導体装置の不良を低減することを目的の一とする。よって、信頼性の高い半導体装置を提供することを目的の一とする。また、作製工程中においても上記不良を低減することで半導体装置の製造歩留まりを向上させることを目的の一とする。
【解決手段】外部ストレスに対する耐衝撃層、又はその衝撃を拡散する衝撃拡散層とで挟持された半導体集積回路と、半導体集積回路を覆う導電層とを有する。半導体集積回路を覆う導電層により、半導体集積回路の静電気放電（ＥＳＤ：Ｅｌｅｃｔｒｏ Ｓｔａｔｉｃ Ｄｉｓｃｈａｒｇｅ）による静電気破壊（回路の誤動作や半導体素子の損傷）を防止する。 （もっと読む）