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Fターム[5F152CE14]の内容

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Fターム[5F152CE14]に分類される特許

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【課題】フローティングゲート電極を備えた不揮発性メモリ素子の駆動電圧を高くすることなく、不揮発性メモリ素子、および厚いゲート絶縁膜を備えた高耐圧型トランジスタを同一基板上に形成する。
【解決手段】不揮発性メモリ素子の島状半導体領域とフローティングゲート電極間、および、トランジスタの島状半導体領域とゲート電極間には、第1の絶縁膜と第2の絶縁膜の積層膜が形成されている。第1の絶縁膜はフローティングゲート電極と重なる部分が除去されており、島状半導体領域とフローティングゲート電極間の絶縁膜が、トランジスタのゲート絶縁膜よりも薄くされている。トランジスタはフローティングゲート電極と同じ層に形成されている導電膜と、コントロールゲート電極と同じ層に形成されている導電膜とを有し、これら2つの導電膜は電気的に接続され、トランジスタのゲート電極として機能する。 (もっと読む)


【課題】高精彩・高解像度・高画質・低消費電力の小型半導体表示装置を提供すること。
【解決手段】本発明の半導体表示装置は、画素マトリクス回路、データ線駆動回路、および走査線駆動回路を有しており、これらの構成要素が多結晶TFTによって同一基板上に形成される。また、その製造方法における、触媒元素を用いた結晶性の助長化プロセス、および触媒元素のゲッタリングプロセスによって、小型にもかかわらず、高精細・高解像度・高画質の半導体表示装置が提供される。 (もっと読む)


【課題】多結晶シリコン層の製造方法を提供する。
【解決手段】基板上に、シリコン原子を含むガス及び水素ガスを用いて非晶質シリコン層を形成する工程と、前記非晶質シリコン層を、結晶化誘導金属を用いて多結晶シリコン層に結晶化させる工程とを含むことを特徴とする多結晶シリコン層の製造方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】 ゲルマニウム(Ge)半導体を自己組織的に実現するGe半導体製造方法。
【解決手段】 シリコン(Si)とゲルマニウム(Ge)からなるSiGe薄膜を融液成長により固化させ、結晶化されたSiGe薄膜中に自己組織的に出現したGe偏析に起因するGe高濃度構造を形成する。さらに酸化濃縮技術を利用してGe濃度を高めることを特徴としたGe半導体製造方法。 (もっと読む)


【課題】良好なトランジスタ特性を有する薄膜トランジスタ、その製造方法、表示装置、及び半導体装置を提供すること
【解決手段】本発明にかかる薄膜トランジスタは、基板上に形成されたゲート電極2と、ゲート電極を覆うゲート絶縁膜3と、ゲート絶縁膜3上に形成され、ゲート電極2の対面に配置された半導体層4と、半導体層4上に、n型不純物を含むn型オーミックコンタクト層6を介して形成された、ソース電極7及びドレイン電極8と、ソース電極7の下のn型オーミックコンタクト層6と半導体層4との間、ドレイン電極8の下のn型オーミックコンタクト層6と半導体層4との間にそれぞれ形成されたp型半導体層5と、を備えるものである。 (もっと読む)


【課題】
信頼性試験中に、キャリアが界面準位にトラップされることによって生じる電気的特性の変動を抑制することができる薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタのゲート絶縁膜50に含まれる酸化シリコン膜40、チャネル層61となるシリコン膜60、ソース/ドレイン層81a、81bを形成するときのエッチングストッパ層71となる酸化シリコン膜70を、大気に晒すことなく連続して成膜する。このように、酸化シリコン膜40、シリコン膜60および酸化シリコン膜70を大気に晒すことなく連続して成膜するので、製造プロセス時にそれらの界面に付着する不純物が少なくなり、界面準位の密度が低くなる。このため、信頼性試験中に、キャリアが界面準位にトラップされることによって生じる固定電荷が少なくなる。 (もっと読む)


【課題】ガラス上に高効率な薄膜多結晶シリコン(Si)太陽電池を実現することを目的とした半導体製造方法。
【解決手段】半導体励起(ダイオード励起)された固体連続波レーザーを利用して(110)と(111)に配向制御した大粒径多結晶シリコン(Si)薄膜をガラス上に形成し、このSi膜を種(シード)結晶として多結晶Si層を直接成長する。
その後、本薄膜に対してSi層が溶融しない条件でエネルギービームを照射してSiの固相成長を行うことを特徴とした太陽電池用半導体製造方法。 (もっと読む)


【課題】オン電流が大きく、かつ電気的特性のばらつきが小さな薄膜トランジスタおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】周辺TFT110のチャネル層141を形成するシリコンの結晶粒径は、微結晶シリコンによって形成されているので、閾値電圧のばらつきをある程度抑えながら、オン電流を大きくすることができる。しかし、多結晶シリコンからなるチャネル層を有する周辺TFTと比べて、小さなオン電流しか流すことができない。そこで、周辺TFT110のゲート電極125と対向する窒化シリコン膜180の表面に、さらにゲート電極195を形成する。この結果、チャネル層341を流れるオン電流は、2つのゲート電極125、195によって制御されるので、オン電流の不足分を補うことができる。 (もっと読む)


【課題】単結晶シリコン層を貼り付けた高価な基板や、触媒金属を拡散させたシリコン膜を用いなくても、トランジスター特性の優れた薄膜トランジスターを備えた半導体装置の製造方法、半導体装置、および電気光学装置を提供すること。
【解決手段】半導体装置の製造工程では、非晶質のシリコン膜1の一部の領域にゲルマニウムを導入して熱処理を行う。その結果、核形成用元素導入領域1sに結晶核が生成するとともに、かかる結晶核を起点として結晶粒が成長する。このため、シリコン結晶粒の位置制御が可能となり、チャネル領域1hに含まれる粒界の量を制御することができる。また、ゲルマニウムは、チャネル領域形成予定領域1iやその周辺の領域1k、1mなどに拡散しない。 (もっと読む)


【課題】大きなオン電流を維持したままオフ電流を低減するとともに、製造が容易なLDD領域を備える薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】平面視において、ドレイン電極171をゲート電極121から所定の距離だけ離して形成することによって、LDD領域165となるオーミックコンタクト層161を水平方向に形成する。この場合、LDD領域165は、ゲート電極121の電位に基づく電界の影響を受けにくくなり、実質的にドレイン電極171の電位に基づく電界による電界集中のみを緩和する。したがって、TFT100は、結晶性シリコン膜からなるチャネル領域141cを形成することにより、大きなオン電流を維持することができると同時に、オフ電流を十分低減することができる。 (もっと読む)


【課題】生産性及びトランジスタ特性を向上することができるバックチャネルエッチ型の薄膜トランジスタ、半導体装置、及びこれらの製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明にかかるバックチャネルエッチ型のTFT108は、ゲート電極11と、ゲート電極11上に形成されたSiN膜12と、SiN膜12上にパターニング形成されたSiO膜13とを有する。さらに、TFT108は、SiO膜13上においてSiO膜13に接し、全てのパターン端がSiO膜13のパターン端近傍に配置されるようにパターニング形成された多結晶半導体膜14を有する。 (もっと読む)


【課題】工程を簡単にしながらも、多結晶化された半導体層の厚みの変動を低減する。
【解決手段】半導体装置1は、基板11の平坦な表面に形成された遮光膜14と、遮光膜14を直接に覆って基板11に形成されると共に、平坦化された表面を有する平坦層15と、遮光膜14に重なるように平坦層15上に形成され、多結晶化された半導体層16とを備えている。 (もっと読む)


【課題】基板上に高品質の単結晶半導体層を形成する。
【解決手段】基板上に単結晶の半導体材料の層を形成する方法に関し、この方法は、基板1を準備する工程と、基板上に少なくとも1つの半導体材料の単分子層2を含むテンプレートをエピタキシャル成長する工程と、テンプレート上に半導体材料のアモルファス層3を堆積する工程と、熱処理またはレーザアニールを行い、半導体材料のアモルファス層を、半導体材料の単結晶層に完全に変える工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】液晶表示装置などの平面表示装置に適用できるTFT用の多結晶シリコンの製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る多結晶シリコンの製造方法は、(a)非晶質シリコン上に有機金属化合物の蒸気または気体を含む原料気体を供給する段階; (b)吸着圧力、吸着時間及び吸着温度のうち少なくとも一つを調節することによって前記非晶質シリコン上に原料気体を被覆率1未満に吸着させる段階; (c)前記(b)で前記非晶質シリコン上に吸着されていない原料気体を除去する段階;(d)前記金属の吸着された非晶質シリコンを熱処理する段階を含むので、非晶質シリコンの薄膜上に吸着される金属の量を適切に且つ微細に調節でき、金属誘導結晶化方式によるシリコンの結晶化時,結晶化温度を下げながらも金属による汚染が防止される。 (もっと読む)


【課題】優れたオン電流特性と、優れたオフ電流特性を兼ね備え、かつ歩留まりの向上が可能な薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】本発明に係る薄膜トランジスタは、下層半導体層11と、上層半導体層12の間には、ソース領域10S/ドレイン領域10Dに開口部を有する絶縁膜4が形成され、開口部H1,H2を介して、下層半導体層11と上層半導体層12が接続される。下層半導体層11のうち、少なくともソース領域10S/ドレイン領域10Dの間に配置されるチャネル領域10C、及び開口部H1,H2と対向する領域のうちの前記チャネル領域から延設される少なくとも一部の領域は、多結晶半導体層であり、上層半導体層は、非晶質半導体層である。 (もっと読む)


【課題】 非晶質シリコン上にシリコン結晶の成長のための金属触媒を吸着させる装置を提供する。
【解決手段】 金属誘導結晶化方式でシリコンを結晶化させるために非晶質シリコン上に金属または金属化合物を吸着する装置であって、有機金属化合物の蒸気または気体を含有する原料気体を供給する原料気体供給部、前記原料気体を前記非晶質シリコン上に金属成分を吸着させるチャンバー、及び吸着圧力、吸着時間及び吸着温度のうち少なくとも一つを調節することによって前記非晶質シリコン上に金属または金属化合物が被覆率1未満に吸着されるように制御する制御部を含む金属または金属化合物の吸着装置。 (もっと読む)


【課題】a−Siプロセスと、ポリ−Siプロセスとを組み合わせることが可能なプロセスを提供することである。
【解決手段】プロセス800は、アモルファスシリコン又はアモルファスシリコンに適合可能なプロセスを用いて、ディスプレイパネル用のポリ−最終構造を形成する(ブロック810)。ポリ−最終構造は、チャネルシリコン前駆体を有する。次に、プロセス800は、ポリシリコン固有のプロセスを用いて、ポリ−最終構造からディスプレイパネルを形成する(ブロック820)。 (もっと読む)


【課題】小粒径の多結晶シリコン層と、大粒径の多結晶シリコン層を同時に作る手法として、シリコン層の堆積時に小粒径の多結晶シリコン層を形成し、所望の領域のみにCWレーザーを照射し大粒径化する技術が知られている。しかし、この技術を用いる場合、小粒径の多結晶シリコン層中に不対電子を埋める水素を残しての処理が必要となり、製造工程にかかる時間が長くなるという課題がある。
【解決手段】一部に金属層311がある基板310上に窒化珪素層312を形成し、窒化珪素層312上に、酸化珪素層313を形成し、パルスレーザーを照射する。酸化珪素層313の層厚により小粒径の多結晶シリコン層と大粒径の多結晶シリコン層とが入れ替わるように形成されるため、小粒径の多結晶シリコン層と、大粒径の多結晶シリコン層を同時に形成することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の作製工程において、高調波のCWレーザを半導体膜上に相対的に走査させながら照射すると、走査方向に延びた長い結晶粒がいくつも形成される。このようにして形成された半導体膜は前記走査方向においては実質的に単結晶に近い特性のものとなるが、高調波のCWレーザの出力が小さくアニールの効率が悪い。
【解決手段】第2高調波に変換されたCWレーザと同時に基本波のCWレーザを半導体膜の同一部分に照射することで、出力の補助を行う。通常、基本波は1μmあたりの波長域に入り、この波長域では半導体膜に対する吸収が低い。しかしながら、可視光線以下の高調波を基本波と同時に半導体膜に照射すると、高調波により溶かされた半導体膜に基本波はよく吸収されるため、アニールの効率が著しく上がる。 (もっと読む)


【課題】工程数の増加を伴うことなく、結晶の異方性が異なる複数の領域を有する結晶化半導体膜を形成することができる結晶化半導体膜の製造方法を提供する。
【解決手段】レーザビーム6を走査している最中に、レーザビーム6の単位時間当たりの照射量を複数の領域3・4・5に応じた照射量に連続して変えることにより、結晶の異方性の異なる複数の領域3・4・5からなる結晶化半導体膜を形成する。 (もっと読む)


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