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Fターム[5F152CE14]の内容

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Fターム[5F152CE14]に分類される特許

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【課題】基板裏面からの二次ビームを原因とする干渉の影響を抑え、被照射物を均一にレーザアニールすることができ、且つスループットが良好である半導体装置の作製方法を提供する。
【解決手段】基板上に形成された半導体膜に、少なくとも1つのガルバノミラーとfθレンズとを用いた光学系を用いてパルス発振のレーザビームを照射する半導体装置の作製方法であって、前記基板の屈折率をn、前記基板の厚さをd(メートル)、真空中の光速をc(メートル/秒)とした場合に、前記レーザビームのパルス幅であるt(秒)を、t<2nd/cという式により算出し、前記レーザビームのパルス幅を前記算出したtの範囲から選択して、前記レーザビームを照射する。 (もっと読む)


【課題】ビームスポットの面積を飛躍的に広げ、結晶性の劣る領域の占める割合を低減することができるレーザ照射装置の提供を課題とする。また連続発振のレーザ光を用いつつ、スループットをも高めることができる、レーザ照射装置の提供を課題とする。さらに本発明は、該レーザ照射装置を用いたレーザ照射方法及び半導体装置の作製方法の提供を課題とする。
【解決手段】高調波のパルス発振の第1のレーザ光により溶融した領域に、連続発振の第2のレーザ光を照射する。具体的に第1のレーザ光は、可視光線と同程度かそれより短い波長(890nm以下程度)を有する。第1のレーザ光によって半導体膜が溶融することで、第2のレーザ光の半導体膜への吸収係数が飛躍的に高まり、第2のレーザ光が半導体膜に吸収されやすくなる。 (もっと読む)


【課題】互いに異なる形態の薄膜トランジスタを効率よく作ること。
【解決手段】厚さ方向にシリコンの結晶化度が異なる第1領域と第2領域とを有する半導体層を有し、ボトムゲート構造の駆動トランジスタ6と、トップゲート構造のスイッチトランジスタ5とを形成する際、基板10と第1絶縁膜11の間に駆動トランジスタ6の第1ゲート電極6aを形成する工程と、第2絶縁膜12とパッシベーション膜14の間にスイッチトランジスタ5の第2ゲート電極5aを形成する工程を別工程にし、それ以外の薄膜トランジスタの構成を共通の工程によって形成する。こうして、駆動トランジスタ6の第1ゲート電極6aと、スイッチトランジスタ5の第2ゲート電極5aを形成する以外の工程を共通の製造工程とする製造方法によって、駆動トランジスタ6とスイッチトランジスタ5を作り分ける。 (もっと読む)


【課題】製造工程を簡略化するとともに、電気的特性のばらつきを少なくした半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁膜12の表面に結晶化を促進する金属粒子13を密度が均一になるように散布する。微細孔16の底部に露出した金属粒子13は、その周囲の非結晶シリコン膜20と反応し、微細孔16の内部に多結晶シリコン21を固相成長させる。次に、絶縁膜14上の非晶質シリコン膜20にレーザ光を照射することによって溶融させ、溶融したシリコンを、微細孔16の開口部に表われた多結晶シリコン21の結晶粒を種結晶として液相成長させることにより、微細孔16を基点とする擬似単結晶シリコン膜23を形成する。この擬似単結晶シリコン膜23を活性層28とするTFT10を製造する。 (もっと読む)


【課題】低温での固相エピタキシャル成長法を用いて、結晶性の高いシリコン層を厚く形成した半導体基板を提供することを課題の一とする。その際、従来の気相エピタキシャル成長法と比べ、結晶成長速度を大きくすることを課題の一とする。
【解決手段】絶縁層を介してベース基板に設けられた単結晶シリコン層上に、堆積初期の一部で、単結晶シリコン層と結晶面の配列の揃った針状シリコン層が気相エピタキシャル成長するようにシリコン層を形成し、針状シリコン層を種結晶として、シリコン層の他部を固相エピタキシャル成長させて、単結晶及び前記結晶シリコン層の厚さが厚い半導体基板を作製する。 (もっと読む)


【課題】本発明は低温ポリシリコン薄膜の製造方法に関する。
【解決手段】当該方法は、基板を予備する工程と、前記基板にバッファ層を形成する工程と、前記バッファ層に第1の非結晶シリコン薄膜を形成する工程と、前記第1の非結晶シリコン薄膜に触媒の粒子を形成する工程と、第2の非結晶シリコン薄膜で前記第1の非結晶シリコン薄膜及び触媒の粒子を覆うように第2の非結晶シリコン薄膜を形成する工程と、前記触媒の粒子を利用して前記第1の非結晶シリコン薄膜及び第2の非結晶シリコン薄膜に対して結晶化し,結晶することで低温ポリシリコン薄膜を形成する工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】アモルファスシリコン膜におけるトランジスタ形成予定領域のピッチと異なる大きなピッチでマイクロレンズアレイを構成することができ、また、マイクロレンズアレイの配列ピッチよりも小さいピッチでアモルファスシリコン膜にレーザアニールによる微小ポリシリコン膜領域を形成することができるレーザアニール方法、装置及びマイクロレンズを提供する。
【解決手段】第1群11,第2群12及び第3群13のマイクロレンズは、各群内で、3列が同一ピッチPで配列され、各群間でマイクロレンズはP+1/3Pだけ離隔している。第1工程で、第1群の3列のマイクロレンズから1回目のレーザ光を照射し、第2工程で、基板20を3Pだけ移動させた時点で2×3列分のマイクロレンズ5から2回目のレーザ光を照射し、以後同様にして、P/3ピッチでレーザアニール領域を形成する。 (もっと読む)


【課題】レーザー光を半導体膜に照射する半導体膜の作製方法を提供する。
【解決手段】発振器からレーザー光を発振させ、シリンドリカル凹レンズ及び第一のシリ
ンドリカル凸レンズを通過させることにより、レーザー光の断面の第一の方向に伸長させ
、第一のレンズアレイを通過させることにより、第一の方向におけるエネルギー密度の分
布を均一にし、第二のレンズアレイを通過させることにより、第一の方向と直交する第二
の方向におけるエネルギー密度の分布を均一にし、且つ第二の方向に伸長させ、第二のシ
リンドリカル凸レンズを通過させることにより、第一の方向に収束させ、第二のシリンド
リカル凸レンズを通過したレーザー光を、半導体膜に照射する。 (もっと読む)


【課題】本発明は非晶質シリコン膜の結晶化方法、またこれを適用した薄膜トランジスタの製造方法およびこれによって製造された薄膜トランジスタに関する。
【解決手段】本発明の実施形態に係る結晶化方法は、非晶質シリコン膜を形成する段階と、非晶質シリコン膜上に互いに離隔するように結晶化触媒粒子を位置させる段階と、非晶質シリコン膜で結晶化触媒粒子を選択的に除去する段階と、非晶質シリコン膜を熱処理によって結晶化する段階とを含む。 (もっと読む)


【課題】多結晶シリコン層、その製造方法、多結晶シリコン層を利用した薄膜トランジスタ及び薄膜トランジスタを備えた有機発光表示装置を提供する。
【解決手段】基板10上のバッファ層11上に非晶質シリコン層12を形成する工程と、非晶質シリコン層12上に触媒金属層を1011ないし1015原子/cmの密度を有するように形成する工程と、触媒金属層の触媒金属が非晶質シリコン層12に拡散して非晶質シリコン層12とバッファ層11との界面でピラミッド形態の結晶化シードを形成し、結晶化シードによってシリコン結晶が成長して多結晶シリコン層22を形成するように、非晶質シリコン層12を熱処理する工程と、を含むシリコン層の結晶化方法である。 (もっと読む)


【課題】結晶粒界の方向とチャネル領域の方向とが直交しているトランジスタの性能を向上させるとともに、各トランジスタの特性のバラツキを少なくする。
【解決手段】本発明の結晶性半導体膜の形成方法は、基板11上にアモルファスシリコン膜(非晶質半導体膜)12を形成する工程と、第1のレーザ光20aおよび基板11のうちの少なくとも一方を移動させながら、アモルファスシリコン膜12に対して第1のレーザ光20aを照射し、その移動方向に沿って半導体膜の結晶を成長させてアモルファスシリコン膜12から多結晶シリコン膜(結晶性半導体膜)13を得る工程と、多結晶シリコン膜13に対して、第1のレーザ光20aよりもエネルギー量の小さい第2のレーザ光30aを照射して、半導体膜の厚さ方向に対して結晶を成長させて、再結晶化後の多結晶シリコン膜(結晶性半導体膜)14を得る工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】量産性に優れた薄膜トランジスタを提供する。また半導体装置の作製において有
用な半導体薄膜を提供する。
【解決手段】プラズマCVD法により作製された希ガス元素を1×1020/cm〜1
×1021/cmで含む半導体膜を形成し、前記半導体膜の一部を除去して、活性層を
形成し、トップゲート型薄膜トランジスタまたはボトムゲート型薄膜トランジスタを作製
する。また、プラズマCVD法により作製された希ガス元素を1×1020/cm〜1
×1021/cmで含む半導体膜を剥離層として用いた半導体装置を作製する。また、
プラズマCVD法により作製された希ガス元素を1×1020/cm〜1×1021
cmで含む半導体膜をゲッタリングサイトとして用いた半導体装置を作製する。 (もっと読む)


【課題】被照射物内に厚さのばらつきが存在する場合であっても、被照射物に対してレーザ光の照射を均一に行うレーザ光の照射方法を提供する。
【解決手段】厚さのばらつきが存在する被照射物にレーザ光を照射する際に、オートフォーカス機構を用いることによって、被照射物の表面にレーザ光を集光するレンズと被照射物間との距離を一定に保ちながらレーザ光の照射を行う。特に、レーザ光に対して被照射物を被照射物の表面に形成されたビームスポットの第1の方向および第2の方向に相対的に移動させて、被照射物にレーザ光の照射を行う場合に、第1の方向および第2の方向のいずれかの方向に移動させる前にオートフォーカス機構によってレンズと被照射物間との距離を制御する。 (もっと読む)


【課題】チャネル保護層に対するソース、ドレイン電極及び不純物層のアライメントずれが生じた場合であっても、オン電流特性のばらつきを抑制することができる半導体装置及びその製造方法を提供する。また、製品の歩留まりを向上させることができるとともに、良好な画質を有する発光装置、並びに、該発光装置を実装した電子機器を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタTFTの半導体層14上に設けられるチャネル保護層15と、ソース、ドレイン電極18及び不純物半導体層17との間に、カーボン絶縁膜16が設けられている。半導体層14は、例えば非晶質シリコンをレーザーアニール処理することにより結晶化された微結晶シリコンにより形成されている。カーボン絶縁膜16は、このレーザーアニール処理において適用される光熱変換層であり、当該光熱変換層の一部を残したものである。 (もっと読む)


【課題】現状では、製造プロセスにスピンコート法を用いる成膜方法が多く用いられている。今後、さらに基板が大型化すると、スピンコート法を用いる成膜方法では、大型の基板を回転させる機構が大規模となる点、材料液のロスおよび廃液量が多い点で大量生産
上、不利と考えられる。
【解決手段】本発明は、半導体装置の製造プロセスにおいて、液滴吐出法で感光性の導電膜材料液を選択的に吐出し、レーザー光などで選択的に露光した後、現像することによって微細な配線パターンを実現する。本発明は、導体パターンを形成するプロセスにおいて、パターニング工程が短縮でき、材料の使用量の削減も図れるため大幅なコストダウン
が実現でき、大面積基板にも対応できる。 (もっと読む)


【課題】キャリアの移動度が高く、特性ばらつきが少ない半導体装置の製造方法、これを適用した半導体装置を備えた電気光学装置、電子機器を提供すること。
【解決手段】本適用例の半導体装置の製造方法は、基板上に第1多結晶質シリコン膜としての第1半導体層を形成する工程と、第1半導体層上に非結晶質シリコン膜を形成して、該非結晶質シリコン膜に対して、不活性ガス雰囲気中で第1半導体層上における該非結晶質シリコン膜の結晶核発生速度よりも結晶成長速度の方が速くなる温度で熱処理を施して該非結晶質シリコン膜を結晶化して第2多結晶質シリコン膜としての第2半導体層を形成する工程と、第1半導体層および第2半導体層をパターニングして半導体層を形成するエッチング工程と、を備えた。 (もっと読む)


【課題】薄膜トランジスタ及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】薄膜トランジスタは基板上に形成されたゲート電極、ゲート電極と重なり、第12族元素と第16族元素(但し、酸素元素は除く)または第13族元素と第15族元素を含む非結晶質の多元系化合物(multi−elements compound)を含んで、電子移動度が約0.8cm/Vs以上の半導体パターン、半導体パターンの第1端部と重なるソース電極、及び半導体パターンの第2端部と重なってソース電極と離隔されたドレイン電極を含む。非結晶質の多元系化合物を半導体パターンに適用することによって薄膜トランジスタの駆動特性を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】最大発振周波数fmaxを高くしてダイヤモンド電界効果トランジスタの特性を大きく向上させ、かつ電圧降下を小さく抑えることにより実用レベルに到達させること。
【解決手段】「ソース・ゲート電極間隔dSG、ゲート・ドレイン電極間隔dGDを狭くすること」と「ソース電極の厚さt、ドレイン電極の厚さtを厚くすること」とを両立させるために、ソース電極およびドレイン電極を、エッチング溶液を用いてエッチングする層とレジストを用いてリフトオフする層とに分けて形成する。これにより電極の逆メサ部を小さくすることができるため、ソース電極とゲート電極との間隔を小さくして最大発振周波数fmaxを上げ、かつソース電極およびドレイン電極の厚みを厚くして電圧降下を小さく抑えることができる。 (もっと読む)


【課題】ダイヤモンド薄膜内に存在する結晶欠陥、不純物等を減少させ、高品質なダイヤモンド薄膜を作製可能なダイヤモンド薄膜作製方法を提供すること。
【解決手段】ダイヤモンドが安定な高圧力下でアニールを行う。これにより、結晶中に含まれる格子欠陥等が回復、除去され、ダイヤモンド結晶薄膜を高品質化する事ができる。「(ダイヤモンドが)安定な、安定に」とは、ダイヤモンドがグラファイト化せずにダイヤモンドの状態を保つ状態を指す。ダイヤモンドが安定にアニール出来る領域内でアニールを行う温度(アニール温度、とも呼ぶ)Tおよびアニールを行う圧力(アニール圧力、とも呼ぶ)Pが決定される。この領域は、図21に示される、P>0.71+0.0027TまたはP=0.71+0.0027Tを満たし、なおかつP≧1.5GPaの領域である。このような領域は、図21中の斜線部分である。 (もっと読む)


【課題】本発明は、多結晶シリコン層の製造方法を開示する。
【解決手段】本発明の一実施形態に係る多結晶シリコン層(22)の製造方法は、非晶質シリコン層(20)と金属混入層(30)とをコンタクトした後、非晶質シリコン層(20)を結晶化熱処理して多結晶シリコン層(22)を製造することを特徴とする。本発明によれば、金属触媒の量を少なく導入しながらも、結晶化温度を低くすることができる多結晶シリコン層の製造方法を提供することができる。 (もっと読む)


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