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Fターム[5F152FG23]の内容

再結晶化技術 (53,633) | 照射方法 (3,274) | 断面形状、大きさが規定 (718) | 断面形状、大きさ (622) | 線状、帯状 (556)

Fターム[5F152FG23]に分類される特許

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【課題】半導体膜の厚みを適当な範囲に制御することによって、大きいドレイン電流を有するとともに、所望の電気的特性を備える半導体装置の製造方法、を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、50nmを超え150nm以下の厚みを有し、第1の層7mと第2の層7nとを有する半導体膜7を形成する工程を備える。半導体膜7を形成する工程時、第1の層7mに含まれる水素の割合は、第2の層7nに含まれる水素の割合よりも小さい。半導体装置の製造方法は、半導体膜7を熱処理することによって、半導体膜7に含まれる水素を低減する工程と、ゲート絶縁膜17およびゲート電極21を形成する工程と、半導体膜7にソース領域9およびドレイン領域13を形成する工程と、半導体膜7を水素雰囲気中で熱処理することによって、半導体膜7に含まれる水素を0.5原子%以上10原子%以下に設定する工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】非単結晶半導体膜をレーザアニールする際に、適切な走査ピッチと照射回数によって前記半導体膜を結晶化することを可能にする。
【解決手段】非単結晶半導体膜上にラインビーム形状のパルスレーザを照射して結晶化を行う結晶半導体膜の製造方法において、パルスレーザは、走査方向のビーム断面形状に強度の均一な平坦部(ビーム幅a)を有し、パルスレーザ照射によって結晶化した半導体膜により形成されるトランジスタのチャンネル領域幅をbとして、パルスレーザは、非単結晶半導体膜に微結晶化が生じる照射パルスエネルギ密度よりも低い照射パルスエネルギ密度Eを有し、パルスレーザの照射回数nは、照射パルスエネルギ密度Eのパルスレーザの照射によって結晶粒径成長が飽和する照射回数n0として(n0−1)以上とし、パルスレーザの走査方向における移動量cをb/2以下とする。 (もっと読む)


【課題】強度分布の均一な矩形状の像を、結像光学系を用いて伝達するとき、収差が起こることで、強度分布の均一性に悪影響がでる。シリンドリカルレンズに代表される結像光学系による収差を低減し、照射面において強度分布の均一なビームスポットの面積を拡大し、照射面に均一なアニールを効率的に行うことができるレーザ照射装置並びに該レーザ照射装置を用いた半導体装置の作製方法を提供する。
【解決手段】軸外しシリンドリカルレンズアレイ101等の軸外しレンズアレイを用いることで、レーザビームの広がりを抑え、結像光学系のサイズを小型化する。小型化によってコストの削減、メンテナンス作業の煩雑さを低減し、さらには収差を低減させることができる。収差が低減されることによって、ビームスポットの強度分布の均一性を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】信頼性の高いTFT構造を用いた半導体装置を実現する。
【解決手段】TFTに利用する絶縁膜、例えばゲート絶縁膜、保護膜、下地膜、層間絶縁膜等として、ボロンを含む窒化酸化珪素膜(SiNX Y Z )をスパッタ法で形成する。その結果、この膜の内部応力は、代表的には−5ラ1010dyn/cm2 〜5ラ10
10dyn/cm2 、好ましくは−1010dyn/cm2 〜1010dyn/cm2 となり、高い熱伝導性を有するため、TFTのオン動作時に発生する熱による劣化を防ぐことが可能となった。 (もっと読む)


【課題】チャネル形成領域の空乏化領域を増やし、電流駆動能力の高い半導体装置を提供する。
【解決手段】トランジスタを有する半導体装置であって、絶縁表面上に所定の間隔を隔てて互いに平行に配列された複数の短冊状の半導体膜と、前記複数の短冊状の半導体膜の上面及び側面に接するゲート絶縁膜と、前記ゲート絶縁膜を介して前記複数の短冊状の半導体膜の上面及び側面を覆うゲート電極を有する半導体装置である。半導体膜の上部及び側部をチャネル形成領域とすることで、電流駆動能力を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】基板処理の効率を高めることができ、また半導体膜の移動度を高めることができるレーザー結晶化法を用いた半導体製造装置を提供する。
【解決手段】半導体膜を成膜する成膜装置と、レーザー装置とを備えたマルチチャンバー方式の半導体製造装置であり、レーザー装置は、被処理物に対するレーザー光の照射位置を制御する第1の手段と、レーザー光を発振する第2の手段(レーザー発振装置1213)と、前記レーザー光を加工または集光する第3の手段(光学系1214)と、前記第2の手段の発振を制御し、なおかつ第3の手段によって加工されたレーザー光のビームスポットがマスクの形状のデータ(パターン情報)に従って定められる位置を覆うように前記第1の手段を制御する第4の手段とを有する。 (もっと読む)


一態様において、本開示は薄膜処理方法に関する。本方法は、第1の選択された方向に薄膜を進める間、第1レーザパルスと第2レーザパルスで薄膜の第1領域を照射し、各レーザパルスは成形ビームを供給し、薄膜を部分的に溶解するのに十分なフルエンスを持ち、第1領域は再凝固および結晶化して第1の結晶化領域を形成する。更に本方法は、第3レーザパルスと第4レーザパルスで薄膜の第2領域を照射し、各レーザパルスは形成ビームを供給し、薄膜を部分的に溶解するのに十分なフルエンスを持ち、第2領域は再凝固および結晶化して第2の結晶化領域を形成する。第1レーザパルスと第2レーザパルス間の時間間隔は、第1レーザパルスと第3レーザパルス間の時間間隔の半分未満である。 (もっと読む)


【課題】平坦性を確保しつつ、結晶性の高い半導体膜を有する、SOI基板の作製方法を提供することを、目的の一とする。
【解決手段】分離により絶縁膜上に単結晶の半導体膜を形成した後、該半導体膜の表面に存在する自然酸化膜を除去し、半導体膜に対して第1のレーザ光の照射を行う。第1のレーザ光の照射は、希ガス雰囲気下、窒素雰囲気下または減圧雰囲気下にて、半導体膜の任意の一点におけるレーザ光のショット数を7以上、より好ましくは10以上100以下とする。そして、第1のレーザ光の照射を行った後、半導体膜に対して第2のレーザ光の照射を行う。第2のレーザ光の照射は、希ガス雰囲気下、窒素雰囲気下または減圧雰囲気下にて、半導体膜の任意の一点におけるレーザ光のショット数を0より大きく2以下とする。 (もっと読む)


【課題】近接配置される半導体膜の一方のみを精度良く選択的に結晶化することができ、アモルファスTFTと微結晶シリコンTFTを同じ透明絶縁性基板上に同時に形成することや、非晶質シリコンと微結晶シリコンが一つの半導体層内で混在したTFTを得ることが可能となる。
【解決手段】本発明の非晶質半導体膜の結晶化方法においては、透明絶縁性基板上にゲート電極と、ゲート絶縁膜と、非晶質半導体膜と、透光性絶縁膜を順次形成する工程と、開口を有したメタル膜をこの透光性絶縁膜上にパターニング形成する工程と、メタル膜を遮光マスクとして機能させてレーザーを照射することにより、開口により露出する領域においてのみ非晶質半導体膜を結晶性半導体膜に変換するレーザーアニール工程とを備えるものである。 (もっと読む)


【課題】半導体膜への不純物の拡散を抑えつつ、歩留まりの低下を抑えることができるSOI基板の作製方法を提供することを、目的の一とする。
【解決手段】半導体基板の表面を熱酸化させることで、酸化膜が形成された半導体基板を形成する。そして、窒素原子を有するガス雰囲気下においてプラズマを発生させることにより、上記酸化膜の一部をプラズマ窒化させ、酸化膜上に窒素原子を含む絶縁膜が形成された半導体基板を得る。そして、窒素原子を含む絶縁膜とガラス基板を接合させた後、半導体基板を分離することで、ガラス基板上に窒素原子を含む絶縁膜、酸化膜、薄膜の半導体膜が順に積層されたSOI基板を形成する。 (もっと読む)


【課題】出力安定性、保守性に優れ、かつ、省スペース化、低ランニングコスト化が実現可能なレーザ照射装置及びレーザ照射方法を提供する。
【解決手段】レーザ波長が390nm〜470nmのレーザ光を発光する単一のレーザ発光素子又は複数のレーザ発光素子を配置したレーザ発光素子群と、前記レーザ発光素子又は素子群から発光されるレーザ光を線状レーザスポットに集光する集光手段と、前記集光手段により集光された線状レーザスポットの総照射パワー値が6W〜200Wとなるよう前記レーザ発光素子の各々の発光量を調整するレーザ発光素子制御手段とを有するレーザ照射装置。 (もっと読む)


【課題】可視光領域の波長のレーザーを用いて、結晶性の安定した結晶シリコン膜を形成する結晶シリコン膜の形成方法を提供する。
【解決手段】金属膜を形成する第1工程と、前記金属膜上に絶縁膜を形成する第2工程と、前記絶縁膜に多結晶Siからなる結晶シリコン膜を形成する第3工程とを含み、前記第2工程において、前記絶縁膜を160nm〜190nmの膜厚範囲で形成し、前記第3工程は、前記絶縁膜にa−Siからなる非晶質シリコン膜を30nm〜45nmの膜厚範囲で形成する工程と、前記非晶質シリコン膜に可視光領域の波長のレーザーの光を照射することにより、前記結晶シリコン膜を形成する工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】照射面またはその近傍におけるレーザ光の端部は、レンズの収差などにより、エネルギー密度が徐々に減衰しているこのような領域(減衰領域)は被照射体のアニールにおけるエネルギー密度が十分でないので前記被照射体に対して均一なアニールを行うことを提供する。
【解決手段】複数のレーザ光のうちの1つのレーザ光のスポットを切断して2つに分割し、分割されたレーザ光のそれぞれの切断面が外側となるように入れ替える手段と、複数のレーザ光を1つに重ね合わせ線状に形成する手段とを有し、重ね合わせ線状に形成する手段により重ね合わされた線状のレーザー光の長尺方向において、減衰領域を除いたエネルギー密度の平均値は±10%以内であり、重ね合わされた線状のレーザ光は、分割された
レーザ光の切断面を長尺方向の両端部とし、かつ分割されたレーザ光同士は重なり合わない。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、曲面を有する基材に被剥離層を貼りつけた半導体装置およびその作製方法を提供することを課題とする。特に、曲面を有するディスプレイ、具体的には曲面を有する基材に貼りつけられた有機発光素子を有する発光装置の提供を課題とする。
【解決手段】 金属層または窒化物層からなる第1の材料層と酸化物層からなる第2の材料層との積層を利用して基板に設けられた有機発光素子を含む被剥離層をフィルムに転写し、フィルム及び被剥離層を湾曲させることによって曲面を有するディスプレイを実現する。 (もっと読む)


【課題】熱プラズマジェットを用いて粒径の異なる結晶シリコンを製造する半導体製造装置を提供する。
【解決手段】圧電素子2によって噴出口18と基板60との距離が1mmに設定されると、プラズマ源10は、熱プラズマジェットを発生し、直径が300μmφである噴出口18から熱プラズマジェットTPJをa−Si:H膜61に照射する。これによって、a−Si:H膜61の一部が溶融結晶化する。その後、圧電素子2によって噴出口18と基板60との距離が5mmに設定されると、プラズマ源10は、熱プラズマジェットを発生し、噴出口18から熱プラズマジェットTPJをa−Si:H膜61に照射する。これによって、a−Si:H膜61の一部が固相結晶化する。 (もっと読む)


【課題】半導体膜の表面に優れた光閉じ込め効果を有する凹凸形状を形成して光電変換素子の感度を向上させる。
【解決手段】多結晶半導体膜10は、基板1上に形成されており、ラテラル結晶を含む。多結晶半導体膜の表面に自己組織化的に形成されたテクスチャ構造を有し、その表面の二乗平均粗さが4nm以上である。 (もっと読む)


【課題】半導体膜の結晶性若しくは表面の平坦性、又は結晶性及び表面の平坦性を高めることのできるレーザ照射装置を提供することを目的の一とする。
【解決手段】レーザ発振器と、レーザ発振器から射出されたレーザ光を線状に成形する光学系と、光学系によって成形された線状のレーザ光が照射される被照射物を載置するステージと、を有し、ステージは、支持台上に、ヒータ、不純物吸着材及び被照射物を載置する載置台が順に固定されているレーザ照射装置を用いて、絶縁表面上に設けられた半導体膜にレーザ光を照射し、半導体膜を結晶化する。 (もっと読む)


【課題】 広範囲にわたって全導電性領域に、断切れ及び上層配線層との間のリーク電流の発生のない、均一な膜厚の銅配線層を形成することが可能な半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】 ガラス基板上に薄膜トランジスタ及び配線を有する半導体装置を製造する方法において、ガラス基板上に下地絶縁層を形成する工程と、前記下地絶縁層上に下地バリア層を形成する工程と、前記下地バリア層上にシード層を形成する工程と、前記シード層を前記配線に対応する形状にパターニングしてシード層パターンを形成する工程と、前記シード層パターンの表面に銅配線層を無電解めっき法で形成する工程と、前記銅配線層マスクとして前記下地バリア層をパターニングする工程と、前記銅配線層を被覆するように絶縁層を形成する工程とを備えたことを特徴する半導体装置の製造方法。 (もっと読む)


基板平面(14)内に配置した基板を処理するための光ビームを生成する光学システムであって、光ビームは、光ビームの伝播方向(Z)に対して垂直な第1次元(X)内のビーム長(L)と第1次元(X)及び光伝播方向(Z)に対して垂直な第2次元(Y)内の光ビーム幅(B)とを有し、ビーム長(L)はビーム幅(B)よりも大きい、光学システムは、複数の光チャネル(26;28)を画定する第1光学構成体を備え、複数の光チャネルは第1次元(X)内で相互に並んで配置されて第1次元(X)内の光ビームを複数の部分視野(30,32,34)に分割し、部分視野(30,32,34)記第1次元(X)内で相互に重畳して基板平面(14)に入射する。第2光学構成体(20)が、光伝播方向で第1光学構成体(18)の上流に配置され、第2光学構成体の第1次元(X)内の範囲と、第1次元(X)内記第2光学構成体(18)に入射する光ビームの角度スペクトルの広がりとは、第1次元(X)内の第2光学構成体(20)のエテンデューが第1次元(X)内の光学システムの全エテンデューの50%〜100%となることで、記第1光学構成体(18)の光チャネル(26;28)のほぼ全部が光で均一に照明されるようなものであることを特徴とする、光学システム。 (もっと読む)


基板平面(14)内に配置した基板を処理するための光ビームを生成する光学システムであって、光ビームは、光ビームの伝播方向(Z)に対して垂直な第1次元(X)内のビーム長(L)と第1次元(X)及び光伝播方向(Z)に対して垂直な第2次元(Y)内の光ビーム幅(B)とを有する、光学システムは、第1次元及び第2次元の少なくとも一方における光ビームを相互に重畳して基板平面(14)に入射する複数の光路(24a〜24c)に分割する少なくとも1つの混合光学構成体(18)を備える。少なくとも1つのコヒーレンスに影響する光学構成体が、光ビームのビーム経路内に存在し、少なくとも1つの他の光路からの1つの光路の少なくとも1つの光路間隔に関する光のコヒーレンス度を少なくとも低減するよう光ビームに作用する。 (もっと読む)


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