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Fターム[5F152FG23]の内容

再結晶化技術 (53,633) | 照射方法 (3,274) | 断面形状、大きさが規定 (718) | 断面形状、大きさ (622) | 線状、帯状 (556)

Fターム[5F152FG23]に分類される特許

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【課題】ドーピング処理の条件の厳密な管理および新たな製造工程を追加することなく、良好なVg−Id特性を有する薄膜トランジスタを実現する。
【解決手段】基板25上に形成された薄膜トランジスタにおいて、島状の半導体層21は、略平坦な上面を有する中央部21aと、基板25に対して0度より大きく、且つ90度以下の傾斜角を有する端部21bとを有し、島状の半導体層21の中央部21aに含まれる半導体は、端部21bに含まれる半導体よりも結晶粒径が大きい、或いは島状の半導体層21の中央部21aは多結晶半導体を含み、且つ端部21bは非晶質半導体を含む。 (もっと読む)


【課題】段差部において膜厚の急激な変動が抑制された半導体膜を含む半導体基板、およびその製造方法、並びに、その半導体基板を備える半導体装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る半導体基板1は、下地基板10と、下地基板10上の一部に形成されている金属膜20と、金属膜20を覆うようにして下地基板10上に形成されている絶縁膜30と、絶縁膜30上に形成され、かつ結晶化された半導体膜40とを備えている。絶縁膜30は、金属膜20の端部において段差部を有し、当該段差部の下地基板10に対して垂直な断面形状が、外に膨らむ「R」形状を呈している。上記段差面は、その上端部から下端部に向かって、テーパー角度ψが略0°から徐々に大きくなって、略40°〜90°であるテーパー角度θになるように形成されている。 (もっと読む)


【課題】より均質な強度分布を有するレーザビームを安定して照射可能な照射装置を提供する。
【解決手段】レーザ光源11と、レーザ光源11からの射出レーザ光をP偏光(第1の直線偏光)とS偏光(第2の直線偏光)とに分離する偏光ビームスプリッタ13(偏光分離手段)と、第1もしくは第2の直線偏光を複数の光束に分割するシリンドリカルレンズアレイ対14(光束分割手段)と、光束を右旋回円偏光に変換する第1の1/4波長板15Aと、光束を左旋回円偏光に変換する第2の1/4波長板15Bとが光軸Zと直交するX軸方向(第1の方向)において交互に配列されてなる1/4波長板アレイ15と、右旋回円偏光および左旋回円偏光を集光し、表面3S(被照射面)へ向けて照射するコンデンサレンズ16(投影光学系)とを備える。 (もっと読む)


【課題】光センサーと遮光膜を有する半導体装置において、段切れや膜剥がれに起因にする歩留まりの低下を防止することができるとともに、暗電流の増大を防止して光センサーの性能の低下を防止することができる半導体装置及びその製造方法、並びに液晶表示装置を提供することを目的とする。
【解決手段】フォトダイオード15を構成するポリシリコン膜を形成する部分Bの非晶質シリコン膜30の厚みW1が、遮光膜28の周縁に対応した部分Aの非晶質シリコン膜30の厚みW2より薄くなるように、非晶質シリコン膜30を薄膜化する。そして、非晶質シリコン膜30にレーザー光を走査して、非晶質シリコン膜30を多結晶化させてポリシリコン膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】同一基板上に、結晶粒の平均粒径が互いに異なり、各々優れたキャリア移動度を有する2種類の結晶質半導体膜を形成し、それら2種類の結晶質半導体膜を用いて異なる電気特性が要求される各半導体素子に所望の電気特性を得る。
【解決手段】基板11上に非晶質半導体膜24を成膜する非晶質膜成膜工程と、非晶質半導体膜24の一部を溶融固化して結晶化することで第1結晶質半導体膜24Aを形成する第1結晶化工程と、残部の非晶質半導体膜24を固相成長させることで第1結晶質半導体膜24Aよりも結晶粒の平均粒径が大きい第2結晶質半導体膜24Bを形成する第2結晶化工程と、第1結晶質半導体膜24Aの結晶粒の平均粒径が第2結晶質半導体膜24Bの結晶粒の平均粒径よりも小さい状態を維持しながら第1及び第2結晶質半導体膜24Bを溶融固化することで再結晶化する再結晶化工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】連続発振又は擬似連続発振のレーザー光を用いて、結晶成長が連続で且つ表面が平坦な結晶質半導体膜を形成する。
【解決手段】絶縁基板に成膜された非晶質半導体膜12aに連続発振又は擬似連続発振のレーザー光のスポット形状が細長のビームBを、絶縁基板の一方側から他方側に向かって走査しながら照射する往路動作、及び絶縁基板の他方側から一方側に向かって走査しながら照射する復路動作を交互に繰り返して、先の動作で照射されたビームBの照射領域Rの側端部にオーバーラップするようにビームBを照射することにより、結晶質半導体膜12bを形成する半導体膜の製造方法であって、往路動作及び復路動作では、ビームBの長さ方向におけるビームBの照射領域Rの側端部にオーバーラップする側がビームBの走査方向S側に傾斜するようにビームBを照射する。 (もっと読む)


【課題】結晶性に優れた結晶質半導体層を有するSOI基板を提供する。
【解決手段】支持基板上に、バッファ層を介して単結晶半導体基板から分離させた単結晶半導体を部分的に形成する。単結晶半導体基板は、加速されたイオンの照射とそれに伴う脆化層の形成、及び熱処理により、単結晶半導体を分離する。単結晶半導体上に非単結晶半導体層を形成し、レーザビームを照射することにより、非単結晶半導体層を結晶化させて、SOI基板を作製する。 (もっと読む)


【課題】マスク数の少ない薄膜トランジスタの作製方法を提供する。
【解決手段】第1の導電膜102と、絶縁膜104と、半導体膜106と、不純物半導体膜108と、第2の導電膜110とを積層し、この上に多階調マスクを用いて凹部を有するレジストマスク112を形成し、第1のエッチングを行って薄膜積層体を形成し、第1の導電膜102がエッチングされた膜113に対してサイドエッチングを伴う第2のエッチングを行ってゲート電極層116Aを形成し、その後ソース電極及びドレイン電極等を形成することで、薄膜トランジスタを作製する。半導体膜としては結晶性半導体膜106を用いる。 (もっと読む)


【課題】遮光層上に設けられ、光センサ等の用途に適した半導体素子と、高速駆動が可能な高性能の半導体素子とが同一の基板上に搭載されており、従来よりも部品点数が削減され、薄型化や軽量化が可能であるとともに、遮光層の有無による結晶性への影響が無い半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、絶縁基板1上に形成されたTFT21とTFD22とを備えている。TFD22と絶縁基板1との間には、遮光層2が選択的に形成されている。TFT21およびTFD22における各半導体層5・6は、ラテラル成長結晶からなり、TFD22の半導体層6の表面には、TFT21の表面粗さよりも大きな凹凸が設けられている。 (もっと読む)


【課題】液晶分子を駆動するための画素電極と共通電極が、平面視上、重畳領域を有するTFTアレイ基板において、製造工程の短縮化を実現する。
【解決手段】本発明に係るTFTアレイ基板は、ドレイン領域10Dから延在される画素電極11を備える島状の結晶性半導体層3と、結晶性半導体層3の上層に形成されたゲート絶縁膜21と、ゲート絶縁膜上21であって、チャネル領域10Cと対向配置されるゲート電極12と、ゲート電極12より上層に配置され、絶縁層25に形成されたコンタクトホールCHを介してソース領域10Sと電気的に接続されたソース電極13と、絶縁層25より上層に形成され、画素電極11と重畳する領域を有する共通電極14とを備える。 (もっと読む)


【課題】アモルファス薄膜を溶融加熱により結晶化させる際に、結晶薄膜の表面に突起が形成されるのを防止する。
【解決手段】アモルファス薄膜4の下層に、溶融結晶化に際し、少なくとも表層側が溶融してアモルファス薄膜4が結晶化されて凝固する際の体積変化を緩和するバッファ層3を設ける。バッファ層成膜という単純な1工程を追加するだけで、結晶化した時点で既に突起の高さが十分低いものにすることができ、絶縁膜を十分薄くする。さらには突起が形成された際の研磨・エッチングなどという無駄なプロセスを導入する必要がなくなり、コンタミネーションの発生防止や歩留まりの向上、製造効率の向上などの効果が得られる。 (もっと読む)


【課題】非晶質の絶縁層上に任意の位置に単結晶半導体層を成長させることにより高性能半導体素子の積層化あるいは3次元化を可能にし、高機能な半導体集積システムを実現する。
【解決手段】絶縁層上に非晶質半導体薄膜を堆積し、その一部に単結晶半導体層を接触させ、熱処理によって単結晶半導体層の結晶性を反映させ非晶質半導体薄膜を単結晶化する半導体薄膜の結晶化方法。 (もっと読む)


【課題】ガラス基板上に薄膜半導体層を形成した3次元集積回路装置を提供する。
【解決手段】ガラス基板11上に、単結晶もしくは準単結晶の2層の薄膜半導体層13,16が層間絶縁層14を介して積層され、2層の薄膜半導体層13,16は、下層の第1層の薄膜半導体層13と上層の第2層の薄膜半導体層16とが異なる材料であり、2層の薄膜半導体層13,16が、層間絶縁層14に形成された開口内を埋めて形成された、エピタキシャル層15によって接続され、エピタキシャル層15の表面部は、第2層の薄膜半導体層16と同じ材料の層であり、第1層の薄膜半導体層13及び第2層の薄膜半導体層16のうち、1層以上に能動素子Tr21,Tr22が形成されている3次元集積回路装置10を構成する。 (もっと読む)


【課題】(110)面の配向度が向上した他結晶シリコン膜を、ニッケル等を添加することなく得る。
【解決手段】基板1上に堆積された非晶質半導体膜3の被照射領域10にレーザー4を照射して、被照射領域10の一部を溶融領域20とした後、溶融領域20の中心方向へ向けて溶融状態にある非晶質半導体膜3の再結晶化させる第1工程と、被照射領域10を短軸方向に移動させる第2工程と、を交互に繰り返して行う結晶性半導体膜32の製造方法であって、第1工程は溶融された非晶質半導体膜3が両端部より結晶成長が進行して交わる前に固化した非多結晶領域36が該照射領域10の長軸方向に間欠的に存在するようにレーザー4を照射する工程で、第2工程はN回目の第1工程で形成された非多結晶領域36がN+1回目の第1工程で形成される溶融領域22に含まれるように被照射領域10を移動させる工程である、ことを特徴とする結晶性半導体膜32の製造方法。 (もっと読む)


【課題】良好なトランジスタ特性を有する薄膜トランジスタ、その製造方法、表示装置、及び半導体装置を提供すること
【解決手段】本発明にかかる薄膜トランジスタは、基板上に形成されたゲート電極2と、ゲート電極を覆うゲート絶縁膜3と、ゲート絶縁膜3上に形成され、ゲート電極2の対面に配置された半導体層4と、半導体層4上に、n型不純物を含むn型オーミックコンタクト層6を介して形成された、ソース電極7及びドレイン電極8と、ソース電極7の下のn型オーミックコンタクト層6と半導体層4との間、ドレイン電極8の下のn型オーミックコンタクト層6と半導体層4との間にそれぞれ形成されたp型半導体層5と、を備えるものである。 (もっと読む)


【課題】大きなオン電流を維持したままオフ電流を低減するとともに、製造が容易なLDD領域を備える薄膜トランジスタを提供する。
【解決手段】平面視において、ドレイン電極171をゲート電極121から所定の距離だけ離して形成することによって、LDD領域165となるオーミックコンタクト層161を水平方向に形成する。この場合、LDD領域165は、ゲート電極121の電位に基づく電界の影響を受けにくくなり、実質的にドレイン電極171の電位に基づく電界による電界集中のみを緩和する。したがって、TFT100は、結晶性シリコン膜からなるチャネル領域141cを形成することにより、大きなオン電流を維持することができると同時に、オフ電流を十分低減することができる。 (もっと読む)


【課題】工程を簡単にしながらも、多結晶化された半導体層の厚みの変動を低減する。
【解決手段】半導体装置1は、基板11の平坦な表面に形成された遮光膜14と、遮光膜14を直接に覆って基板11に形成されると共に、平坦化された表面を有する平坦層15と、遮光膜14に重なるように平坦層15上に形成され、多結晶化された半導体層16とを備えている。 (もっと読む)


【課題】生産性及びトランジスタ特性を向上することができるバックチャネルエッチ型の薄膜トランジスタ、半導体装置、及びこれらの製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明にかかるバックチャネルエッチ型のTFT108は、ゲート電極11と、ゲート電極11上に形成されたSiN膜12と、SiN膜12上にパターニング形成されたSiO膜13とを有する。さらに、TFT108は、SiO膜13上においてSiO膜13に接し、全てのパターン端がSiO膜13のパターン端近傍に配置されるようにパターニング形成された多結晶半導体膜14を有する。 (もっと読む)


【課題】多結晶半導体をレーザアニール法によって形成する方法に於いて、多結晶半導体膜の表面ラフネスを低減する。
【解決手段】レーザアニール装置の光学系に非晶質シリコン半導体薄膜を成膜した基板1の走査方向における照射光強度分布を、高エネルギの光強度側の微結晶しきい値以上のエネルギ領域と表層のみ融合するエネルギ領域を有する分布として制御する透過率分布フィルタ6を設置し、通常のラインビームを利用するエキシマレーザアニール法または位相シフトストライプマスク法またはSLS法に適用する事によって、それぞれの方法で得られる多結晶の表面突起の高さを低減する。 (もっと読む)


【課題】トランジスタの役割に応じて能動層を構成する結晶シリコン層の結晶粒の粒径を
異ならせることが可能な表示装置を提供する。
【解決手段】このEL装置100(表示装置)は、金属層21および基板1の表面上に形
成されるバッファ膜22および23と、金属層21が形成されない領域上のバッファ膜2
3の表面上に形成される能動層24を有する画素選択用トランジスタ7と、金属層21が
形成される領域上のバッファ膜23の表面上に形成される能動層25を有する駆動電流制
御用トランジスタ8とを備え、駆動電流制御用トランジスタ8の能動層25を構成する結
晶シリコン層50(結晶シリコン領域50b)の結晶粒の平均粒径は、画素選択用トラン
ジスタ7の能動層24を構成する結晶シリコン層50(結晶シリコン領域50a)の結晶
粒の平均粒径よりも小さい。 (もっと読む)


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