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Fターム[5F157AA14]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 被洗浄物の形状、形態 (6,397) | 洗浄部位 (568) | 端面(側面) (102)

Fターム[5F157AA14]に分類される特許

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【課題】ガス管路118からウエハ端部に至るガス流路に活性化したクリーニングガスを供給して、ガス噴出部、ウエハのエッジ部分等に堆積する堆積物を除去する。
【解決手段】真空排気装置が接続可能で内部が減圧可能な真空容器と、該真空容器内にガスを供給するガス供給手段と、前記真空容器内に供給されたガスをプラズマ化するプラズマ生成手段と、前記真空容器内に配置され、その上面に試料を載置し保持する試料台と、該試料台の外周をリング状に被覆して試料台をプラズマから保護するサセプタを備えたプラズマ処理装置において、前記サセプタは、ガスを導入して蓄積するガス充填部113、ガス充填部に充填されたガスを試料載置面側に噴出するガス噴出部115と、前記プラズマの発光を前記充填部に導入する光透過窓111を備えた。 (もっと読む)


【課題】本発明は、樹脂及びワークの側面にエッチング液が付着することを低減し、樹脂のエッチング及びワークの表面のエッチングを防止することを目的とする。
【解決手段】エッチング装置1は、ワークセット2を保持して回転可能な保持テーブル3と、ワークセット2の上方に配設されエッチング液40を滴下するエッチングノズル4と、保持テーブル3に保持したワークセット2の周囲に配設されワークセット2の側面に向けて水を供給する水供給手段5とを備え、水供給手段5は、水供給源51と、水供給バルブ52と、水供給ノズル50とを少なくとも備え、水供給ノズル50は、リング形状に形成されワークセット2の周囲からワークセット2の側面に向かう方向に複数の水供給口50aを備えている。そして、水供給ノズル50から供給される水がエッチング液40を薄めて洗い流すことにより、樹脂21及びワークWの下面Waのエッチングを防止することができる。 (もっと読む)


【課題】基板Wの周縁部Eに形成された傾斜面Bf、Brに付着した汚染物質を、粘着ローラー84を用いて効果的に除去することを可能とする。
【解決手段】基板Wの周縁部Eに粘着剤層84aを介して当接する粘着ローラー84を、回転させながら基板Wの周縁部Wに沿って基板Wに対して相対的に移動させる(移動動作)。しかも、この移動動作の実行中に、基板Wの周縁部Eが粘着剤層84aに食い込んだ状態で、粘着剤層84aを基板Wに対して相対的に回転軸方向Df、Dbへ移動させ、これによって傾斜面Bf、Brに粘着剤層84aを接触させている。したがって、基板Wの周縁部Eに形成された傾斜面Bf、Brに付着したパーティクルを粘着ローラー84の粘着剤層84aで捕捉して、効果的に除去することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】単位時間当たりに多数のウェハを洗浄できる洗浄方法及び洗浄装置を提供する。
【解決手段】複数枚の半導体基板を一度に洗浄するバッチ方式の洗浄方法であって、複数枚の半導体基板を所定の間隔で保持した状態で搬送する第1の工程と、複数枚の半導体基板の表面及び裏面ごとに複数本ずつ設けられ、長手方向が表面及び裏面に対して平行に配置されたロールブラシで、複数枚の半導体基板を挟持する第2の工程と、表面及び裏面ごとに設けられた複数本のロールブラシを回転させて、複数枚の半導体基板を洗浄する第3の工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】基板の裏面から除去対象物を良好に除去して、除去対象物が残存することによる基板の表面の処理に与える悪影響を抑制すること。
【解決手段】本発明では、基板(5)の裏面の除去対象物を除去する基板処理方法(基板処理システム1)において、基板支持体(34)で基板(5)の外周端を支持し、基板(5)の裏面の内周部から基板支持体(34)の近傍までの所定の処理範囲(50)で除去対象物を除去する裏面処理工程(裏面処理装置10)と、基板(5)の裏面の外周端から内周側の所定の処理範囲(71)で除去対象物を除去する裏面周縁部処理工程(裏面周縁部処理装置11)とを有し、裏面処理工程(裏面処理装置10)での処理範囲(50)と裏面周縁部処理工程(裏面周縁部処理装置11)での処理範囲(71)とが重なる重畳処理範囲(72)を設けることにした。 (もっと読む)


【課題】薬液を使用することなく、基板から膜を剥離して製造コストおよび環境負荷を低減することができる技術を提供する。
【解決手段】界面BFでの超短パルスレーザービームのフルエンスが基板加工閾値よりも大きく、かつ膜加工閾値よりも小さくなるように設定された、超短パルスレーザービームが薄膜Fを介して界面BFに照射される。このため、当該界面BFでのレーザー照射部分で基板Wが選択的に加工されて基板Wと薄膜Fの結合が低下して薄膜Fが剥離される。このように薄膜Fに対して物理的あるいは化学的に作用させることなく、いわゆるドライ処理によってレーザー照射を行った部分の薄膜Fを選択的に剥離させることができる。したがって、薬液を使用することなく、薄膜Fを剥離させることができ、製造コストおよび環境負荷を低減することができる。 (もっと読む)


【課題】基板の主面への処理液の飛散を抑制しつつ基板の端面を局所的に処理できる技術を提供する。
【解決手段】基板処理装置100は、硬脆性基板の一種であるガラス基板(基板90)の側端面91Sをエッチングする。基板処理装置100は、その外周面が基板90の側端面91に当接される当接面を形成するスポンジ体213(当接部材)と、スポンジ体213を回転させるスポンジ体回転駆動部240(回転駆動部)と、スポンジ体213に処理液を供給する処理液供給管251(処理液供給部)とを備える。搬送ローラー31により+y方向に搬送される基板90の側端面91Sに対して、z軸回りに回転するスポンジ体213の外周面が押し当てられることにより、基板90の側端面91Sのエッチングが行われる。 (もっと読む)


【課題】基板毎に外径寸法が変動した場合でも、基板の周辺部における塗布膜を除去する領域の幅寸法を一定にすることができる基板処理方法を提供する。
【解決手段】表面に塗布膜が形成された基板を回転させた状態で、基板の周辺部の表面にリンス液供給部80によりリンス液を供給することによって、リンス液を供給した位置の塗布膜を選択的に除去する基板処理方法において、基板を予め基板搬送部A3により搬送する際に、基板搬送部A3に設けられた検出部5により、基板の周辺部の位置を検出し、検出した位置に基づいて、周辺部の表面にリンス液を供給する時のリンス液供給部80の位置を決定する。 (もっと読む)


【課題】薬液の消費量を低減すると共に、スループットの減少を抑制または防止する。
【解決手段】エッチング成分と増粘剤とを含む薬液が、第1スピンチャック8によって第1チャンバ12で保持された基板Wに供給される。その後、薬液が基板Wに保持された状態で当該基板Wが第1チャンバ12から第2チャンバ25に搬送される。このような動作が繰り返し行われ、薬液が保持された複数枚の基板Wが、第2チャンバ25に搬入される。第2チャンバ25に搬入された複数枚の基板Wは、薬液を保持した状態で複数の基板保持部材24に保持される。そして、第2チャンバ25での滞在時間が所定時間に達したものから順に、複数の基板保持部材24に保持された複数枚の基板Wが第2チャンバ25から搬出される。 (もっと読む)


【課題】基板の端面を含む周縁部に付着した付着物をブラシにより効果的に除去することができる基板洗浄装置を提供すること。
【解決手段】基板洗浄装置は、周縁部にベベルが形成され、周縁部の状態が径方向で異なっている基板を回転可能に保持する基板保持機構と、基板保持機構に保持されている基板を回転する基板回転機構と、基板保持機構に保持されている基板に洗浄液を供給する洗浄液供給機構と、洗浄時に基板の周縁部に接触する周縁部洗浄部21cを有するブラシ21と、周縁部洗浄部21cを基板の周縁部に押しつける押しつけ機構とを有する洗浄機構とを具備する。周縁部洗浄部21cは、径方向で洗浄力分布が形成されるように径方向に沿って状態が変化している状態変化部分52を有し、状態変化部分52は、径方向に沿って、高さが変化するとともに、径方向に沿って複数の部分54a〜54cに分割されており、隣接する部分間で高さが異なっている。 (もっと読む)


【課題】円形の基板の周縁部の上面及び下面に各々吐出された洗浄液が飛散して基板に再付着することを防ぐことができる技術を提供すること。
【解決手段】円形の基板を鉛直軸回りに回転させる基板保持部と、基板の中心側から外側に向かう方向に第1の液流を形成するように基板の上面の周縁部に向けて洗浄液を吐出するための第1の洗浄液吐出口と、基板の中心側から外側に向かう方向に第2の液流を形成するように基板の下面の周縁部に向けて洗浄液を吐出するための第2の洗浄液吐出口と、を備え、前記基板の上面の周縁部における前記第1の液流の到達点と、前記基板の下面の周縁部における前記第2の液流の到達点と、が基板の回転方向に離れるように液処理装置を構成する。 (もっと読む)


【課題】表面に施されたパターニングを剥がすことなく、裏面に付着したポリマーやパーティクルを確実に除去し、それぞれの面に応じた押圧力でそれぞれの面に付着したパーティクルを確実に除去する。
【解決手段】処理装置は、被処理体Wの周縁部の一方の面に当接して洗浄する第一洗浄機構30と、周縁部の他方の面に当接して洗浄する第二洗浄機構40を備えている。処理装置は、周縁部の一方の面に加わる押圧力を調整する第一調整機構10と、周縁部の他方の面に加わる押圧力を調整する第二調整機構21,25と、をさらに備えている。第二洗浄機構40は、周縁部の他方の面に当接可能であり、横断面の中心部が硬質部からなり、中心部の周りを囲む外周部が硬質部よりも軟らかい軟質部からなる第二洗浄部を有する。被処理体Wの周縁部を洗浄する際、硬質部は被処理体Wの周縁部の側端面に当接され、軟質部は被処理体Wの周縁部の他方の面に当接される。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、ウエハ形状の物品、特にウエハの規定された領域に対する液体処理のための装置を提供する。
【解決手段】 マスク(2)は、毛管作用力によってマスクとウエハ形状の物品の規定された領域との間に液体が保持されるように、ウエハ形状の物品までの規定された短い距離で維持される。 (もっと読む)


【課題】スループットの向上が可能な基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置100は、互いに並列に設けられたインデクサブロック10、第1の処理ブロック11および第2の処理ブロック12からなる。インデクサブロック10には、インデクサロボットIRが設けられている。第1の処理ブロック11には、第1のメインロボットMR1が設けられている。第2の処理ブロック12には、第2のメインロボットMR2が設けられている。インデクサブロック10と第1の処理ブロック11との間には、複数の基板Wを同時に反転させるための反転ユニットRT1aが設けられている。 (もっと読む)


【課題】基板のベベル部を簡便かつ効率的に洗浄することができ、省スペース化にも有利な基板洗浄装置、これを備える塗布現像装置、および基板洗浄方法を提供する。
【解決手段】本発明の実施形態による基板洗浄装置は、基板の裏面中心部を保持し、当該基板を回転する基板保持回転部と、第1の洗浄部、前記第1の洗浄部の周りに配置される第2の洗浄部、並びに前記第1の洗浄部および前記第2の洗浄部が取り付けられる台座を含む洗浄部材と、前記基板保持回転部に保持される前記基板の裏面に前記第1の洗浄部と前記第2の洗浄部とを接触可能に、前記基板保持回転部および前記洗浄部材を相対的に昇降する昇降部と、前記第2の洗浄部の一部を前記基板の外側に露出可能に、前記基板の裏面に沿った方向に、前記基板および前記洗浄部材を相対的に駆動する駆動部とを備える。 (もっと読む)


【課題】基板の厚みにかかわらず、その少なくとも一方表面の周縁領域および周端面を良好に洗浄することができる、基板処理装置および基板処理方法を提供することである。
【解決手段】ブラシ16は、略円板状の胴部27と、先端側に向けて拡がる略円錐台状の第1周端面当接部28と、先端側に向けて拡がる略円錐台状の第2周端面当接部72とを備えている。胴部27の先端側の端面における第1周端面当接部28の周囲の円環帯状の部分が、基板の一方表面の周縁領域に当接する第1洗浄面29Aとなっている。第1周端面当接部28の側面が、基板の周端面に当接する第2洗浄面29Bとなっている。第1周端面当接部28の大径側端面における第2周端面当接部72の周囲の円環帯状の部分が、基板の一方表面の周縁領域に当接する第3洗浄面74Aとなっている。第2周端面当接部72の側面が、基板の周端面に当接する第4洗浄面74Bとなっている。 (もっと読む)


【課題】複雑な機構を用いることなく液が基板の表面に到達することを阻止した状態で基板の裏面を液処理することができる液処理装置を提供すること。
【解決手段】液処理装置100は、ウエハ保持部2と、ウエハ保持部2をウエハWとともに回転させる回転機構3と、ウエハWの裏面に液を供給する裏面側液供給ノズル6と、排液カップ51と、裏面側液供給ノズル6からウエハW裏面に供給された液がウエハW表面側に回り込むことを阻止するように環状に設けられ、ウエハWから振り切られた液を排液カップ51に導く仕切り部材35とを具備する。仕切り部材35は、ウエハ保持部2およびウエハWとともに回転するとともに、ウエハWと連続するように設けられており、ウエハWの端面に対向する面が、その面とウエハ端面との間に液が保持されない形状を有しており、裏面側液供給ノズル6から供給された液によりウエハW裏面のみを液処理可能に構成されている。 (もっと読む)


【課題】基板表面の周縁部の処理幅を正確に制御することができる基板周縁処理装置および基板周縁処理方法を提供する。
【解決手段】この装置は、ウエハWを保持して回転するスピンチャック1と、スピンチャック1の上方に配置された遮断板10とを備えている。遮断板10は、ウエハWの上面の周縁部に対向する位置に、環状部材32を有している。環状部材32は、ウエハWの上面の周縁部に対向するウエハ対向面45を有する。中心軸ノズル5から、ウエハWの下面中央に向けてエッチング液が供給されると、このエッチング液は、ウエハWの周端面を回り込んで、その上面に至り、ウエハ対向面45に接触する液膜を形成する。この液膜は、環状部材32の内周縁付近から内方へ入りこむことができない。 (もっと読む)


【課題】基板とそれに対向する対向部材との間の気流の乱れを抑制できる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】基板処理装置1は、基板Wを水平に保持して回転させるスピンチャック3と、基板Wの上面周縁部の一部に向けて処理液を吐出するノズル5と、ノズル5を回転軸線L2まわりに自転させるノズル回転機構35と、ノズル5に処理液を供給する処理液供給機構6と、基板Wの上面に対向する対向面26、および対向面26で開口し、ノズル5が挿入されるノズル挿入孔29を有する遮断板4とを含む。ノズル5は、ノズル5の下面5aに形成された吐出口を有している。ノズル5の吐出口は、回転軸線L2から離れた位置に配置されている。 (もっと読む)


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