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Fターム[5F157BC64]の内容

Fターム[5F157BC64]に分類される特許

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【課題】処理槽に貯留される処理液から基板を直立姿勢で当該処理槽に貯留される処理液の液面より鉛直方向の上方の待機位置まで引き上げる際に、基板を自然乾燥させることなく、基板に付着している処理液の量を効率的に削減する。
【解決手段】処理槽1内でのリンス処理が完了した後に待機位置WPで置換処理を行うために、単に基板Wを待機位置WPに引き上げるのではなく、その引き上げ処理中にリンス処理で使用した処理液と同じ成分の蒸気、つまりDIW蒸気が基板Wに対して水平方向よりも下方向きに向けて供給される。このため、DIW蒸気の動圧によって基板Wに付着しているDIWが下方へ押し流されて基板Wに残存するDIW量が低下する。また、基板WのうちDIW蒸気供給を直接受ける領域では水蒸気の凝集によってDIWの凝集膜が形成されて当該表面領域の自然乾燥が防止される。 (もっと読む)


【課題】基板の表面にダメージを与えることなく良好に洗浄することができる基板洗浄装置及び基板洗浄方法並びに基板洗浄プログラムを提供すること。
【解決手段】本発明では、洗浄液の液層(52)を形成するノズル(40)を備えた液層保持手段(25)と、基板(2)の表面を洗浄液の沸点以上に加熱する基板加熱手段(24)と、ノズル(40)を基板(2)に近接させる昇降機構(41a)とを有し、ノズル(40)に形成した液層(52)を基板加熱手段(24)で加熱した基板(2)の表面の熱で沸騰させて基板(2)の表面と液層(52)との間に蒸気層(60)を形成するように昇降機構(41a)を制御して、基板(2)の表面を洗浄することにした。 (もっと読む)


【解決課題】 熱膨張係数が大きく異なる基板同士を接合する場合でも貼り合わせ強度を高めて基板破損を回避することができる貼り合わせ基板の製造方法を提供する。
【解決手段】 30%水溶液換算のHの容量に対する29%水溶液換算のNHOHの容量が、体積比で1を超え200以下となる溶液によりハンドル基板を洗浄し、然る後にドナー基板と貼り合わせる工程を含む貼り合わせ基板の製造方法。 (もっと読む)


【課題】基板を均一に処理することができる基板処理装置および基板処理方法を提供すること。
【解決手段】基板処理装置は、基板Wを非回転状態で保持する基板保持手段と、ノズル4と、処理液供給手段と、制御手段とを含む。ノズル4は、基板保持手段に保持された基板Wの主面の中央部に向けて流体を吐出する中央吐出口11、主面の中央部を取り囲む環状の中間領域T1に向けて外向きに流体を吐出する中間吐出口12、および中間領域T1を取り囲む環状の周縁領域T2に向けて外向きに流体を吐出する周縁吐出口13を有する。処理液供給手段は、中央吐出口11、中間吐出口12、および周縁吐出口13に個別に処理液を供給する。制御手段は、処理液供給手段を制御して、中央吐出口11、中間吐出口12、周縁吐出口13の順番で処理液を吐出させる。 (もっと読む)


本発明の目的は、ウエハの損傷を低減することができ、ガスの使用量を低減することができるウエハ乾燥装置およびこれを用いたウエハ乾燥方法を提供することである。本発明は、ウエハ乾燥装置およびこれを用いたウエハ乾燥方法に関する。当該装置は、側面に第1の回転軸が固定され、上部に移動可能な第2の回転軸が形成され、下部に第1の排水口が形成されているチャンバと、上記第1の回転軸と上記第2の回転軸に固定され、ウエハを実装するカセットが端部に固定されるチルトアームと、上記カセットにIPA/窒素ガスを供給する第1のノズルと、上記第2の回転軸を第1の方向または第2の方向に移動させるスクリューと、上記スクリューを回転させる駆動モータと、を備える。 (もっと読む)


【課題】タクトタイムの増大による生産性の低下を生じることなく、被洗浄物の表面にシミのない清浄な乾燥状態を得る。
【解決手段】搬送治具13aに載置された被洗浄物13をIPA蒸気雰囲気4に浸漬して蒸気乾燥を行うIPA蒸気乾燥槽2の後段に余熱乾燥槽6を設け、IPA蒸気乾燥槽2で蒸気乾燥を終え、IPA蒸気雰囲気4の潜熱によって所定の温度まで加熱された状態にある被洗浄物13および搬送治具13aを、余熱乾燥槽6に搬入し、当該被洗浄物13および搬送治具13a自体が持つ余熱によって乾燥を加速させ、IPA蒸気乾燥槽2におけるIPA蒸気雰囲気4への反復浸漬等の煩雑な操作を必要とすることなく、被洗浄物13や搬送治具13aの表面における液滴の残留に起因する被洗浄物13のシミ等の欠陥の発生を確実に防止する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、不揮発性記憶装置の表面に形成された壁体間に残留する液体の表面張力の影響を抑制することができるとともに、ガルバニック腐食を抑制することができる不揮発性記憶装置の製造方法を提供する。
【解決手段】第1の状態と第2の状態との間を可逆的に遷移可能な記憶層を有する不揮発性記憶装置の製造方法であって、壁体が形成された基体の表面に水よりも表面張力が小さくかつ水と実質的に相溶性のない液体を供給し、前記基体の洗浄を行う工程を有すること、を特徴とする不揮発性記憶装置の製造方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】簡単な装置構成で実施可能であり、微細パターンが形成されている基板をその微細パターンに悪影響を与えることなく短時間で洗浄するための基板洗浄方法を提供する。
【解決手段】微細パターンが表面に形成された基板としてのウエハWの洗浄処理を、ウエハWの表面に所定の加工を施す処理チャンバからウエハWの洗浄を行う洗浄チャンバへ搬送する搬送ステップと、洗浄チャンバ内においてウエハWを所定温度に冷却する冷却ステップと、超流動体としての超流動ヘリウムをウエハWの表面に供給し、ウエハWの表面から超流動ヘリウムを流し出すことによって微細パターン内の汚染成分を押し流す超流動洗浄ステップにより行う。 (もっと読む)


【課題】洗浄等の半導体ウェーハの処理方法は大口径化に従って、エッジ部分のダメージ増加、洗浄品質維持、洗浄装置の巨大化、スループットの点で十分とは言えない。
【解決手段】半導体ウェーハの表面を撥水化する撥水工程と、酸化性ガスにより表面を親水化する親水工程とを含む半導体ウェーハの処理方法を提供する。該半導体ウェーハの例としてのシリコンウェーハの撥水化処理は、表面の酸化膜除去を行うことを含んでよい。上記親水化の際に若しくはその前にウェット化又は湿潤化工程を含んでもよい。酸化性ガスは、酸素を含むガス、水蒸気を含むガス、その他半導体ウェーハの表面を酸化できるものを含んでよい。 (もっと読む)


【課題】半導体基板等の基板の洗浄には、少なくとも5工程からなる洗浄を行う必要があった。
【解決手段】オゾンを含有する超純水によって洗浄する第1工程、界面活性剤を含む超純水によって洗浄する第2工程、及び、超純水と2−プロパノールを含む洗浄液によって界面活性剤由来の有機物を除去する第3工程とを含む洗浄方法が得られる。第3工程後、クリプトン等の希ガスのプラズマを照射して、界面活性剤由来の有機物を更に除去する。 (もっと読む)


【課題】洗浄効率が高く、被洗浄物に与えるダメージが小さい洗浄方法及び洗浄装置を提供する。
【解決手段】洗浄装置1には、熱交換部材8と、熱交換部材8内に挿通された一次冷却ライン11と、熱交換部材8内に挿通された二次冷却ライン12と、二次冷却ライン12から噴射された二次冷媒が接触する位置に被洗浄物である半導体基板Sを保持する保持部材9と、が設けられている。そして、一次冷却ライン11に一次冷媒である液体窒素を流通させ、二次冷却ライン12に二次冷媒であるヘリウムガスを流通させる。これにより、液体窒素により熱交換部材8を介してヘリウムガスを冷却し、十分に冷却され且つ液体飛沫を含まないヘリウムガスを真空雰囲気中で半導体基板Sに向けて噴射して、半導体基板Sを冷却する。 (もっと読む)


【課題】ウォーターマークの発生を抑制することができる液処理装置を提供すること。
【解決手段】洗浄処理装置1は、ウエハWを保持するスピンチャック59と、ウエハWに処理液および乾燥ガスを吐出口から吐出方向に吐出する吐出ノズル75と、吐出口よりも上流側で吐出ノズル75に接続された吐出ノズルへ処理液を供給する処理液供給機構と、吐出口よりも上流側で吐出ノズル75に接続された吐出ノズルへ乾燥ガスを供給する乾燥ガス供給機構と、吐出口よりも上流側で吐出ノズルに接続され、ウエハWに処理液を吐出させた後で乾燥ガスを吐出する前に、吐出ノズルの内部に残留する処理液を吐出方向と逆方向に吸引する処理液吸引機構103aと、処理液吸引機構に接続され、処理液供給機構と乾燥ガス供給機構から処理液および前記乾燥ガスの一方が吐出ノズルへ供給されるように、処理流体を切り替える開閉バルブ102a・102b・102dとを具備する。 (もっと読む)


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