【課題】自己診断する論理の範囲を比較回路以外の検査論理、更にはメイン論理に広げ、検査論理、メイン論理に異常がある場合、比較回路が不一致を発生する前に検出し装置の交換ができるようにする。
【解決手段】同じ入力が与えられ、同じ論理演算を実施する第１と第２の論理部、第１と第２の論理部のいずれかにエラー信号を与えるエラー注入回路、第１と第２の論理部の出力を入力し選択した信号を与える選択回路と第１と第２の論理部の出力を比較し、比較不一致信号を与える比較回路とを備えた比較補正回路から構成され、比較補正回路は、第１と第２の論理部のいずれかにエラー信号を与えた時、第１と第２の論理部の出力が不一致にならない場合、または、第１と第２の論理部にエラー信号を与えないときに、第１と第２の論理部の出力が不一致になる場合に異常があると判断する。 （もっと読む）

【課題】データ出力バッファの正確なインピーダンスキャリブレーション動作を行う。
【解決手段】電源ラインＶＬ１とデータ端子２４との間に接続されたＰ型トランジスタユニット２０１と、電源ラインＶＬ１とキャリブレーション端子ＺＱとの間に接続されたＰ型トランジスタユニット１１１〜１１４と、キャリブレーション端子ＺＱの電位が基準電位ＶＲＥＦと一致するよう、Ｐ型トランジスタユニット１１１〜１１４インピーダンスを調整し、一致した状態におけるＰ型トランジスタユニット１１１〜１１４の一つのインピーダンスをＰ型トランジスタユニット２０１に反映させるインピーダンス制御回路とを備える。これにより、基準電位ＶＲＥＦが電源電位ＶＤＤの半分のレベルからオフセットしたレベルに設定されている場合であっても、正確なキャリブレーション動作を行うことができる。 （もっと読む）

【課題】出力バッファ回路のインピーダンスを切り替えるためのタイミングマージンを拡大する。
【解決手段】制御期間Ｔ１においてはプルアップバッファ回路１００をオン、プルダウンバッファ回路２００をオフとし、制御期間Ｔ２においてはリードデータＤＱに基づいてプルアップバッファ回路１００及びプルダウンバッファ回路２００の一方をオン、他方をオフとする。制御期間Ｔ１においてはプルアップバッファ回路１００のインピーダンスをインピーダンスコードＯＤＴＣに基づいて設定し、制御期間Ｔ２においてはプルアップバッファ回路１００及びプルダウンバッファ回路２００の前記一方のインピーダンスをインピーダンスコードＲＯＮＣに基づいて設定する。制御期間Ｔ３中にプルアップバッファ回路１００のインピーダンスをコードＯＤＴＣに基づく値からコードＲＯＮＣに基づく値に変化させる。 （もっと読む）

【課題】消費電力を抑制する。
【解決手段】電源装置から印加された電源電圧により動作する対象回路の消費電流を補償する補償装置であって、電源装置から対象回路へと電源電圧を供給するための電源配線に接続され、電源配線に流れる電流を消費する電流消費部と、電流消費部に印加される電源電圧に応じて電流消費部により消費される電流を変化させる電流制御部と、電流消費部の基準電流量を変更する設定部と、を備え、設定部は、対象回路がスタンバイ状態において、基準電流量を低減する補償装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】外部装置に接続された所定の入出力端子の信号レベルに基づいて、外部装置に対応したシリアルインターフェースを接続する。
【解決手段】外部装置と接続された入出力端子から得られる信号に基づいて、前記外部装置に対応したシリアルインターフェースを接続するシリアルインターフェース装置であって、前記入出力端子に接続された切り離し可能なプルダウン回路と、前記プルダウン回路の接続又は切り離しを制御するプルダウン制御手段と、前記プルダウン制御手段により前記プルダウン回路が接続されているとき、前記入出力端子の信号レベルを検出する信号レベル検出手段と、前記信号レベル検出手段の検出結果に応じて、前記外部装置に対応したシリアルインターフェースに切り替える切替手段とを有することにより上記課題を解決する。 （もっと読む）

【課題】適宜繰り返し行われるキャリブレーションに要する時間を短縮する。
【解決手段】半導体装置は、入力コマンドに応じ、出力ドライバーのインピーダンスを調整するキャリブレーションを、設定値を用いて行うキャリブレーション回路と、温度センサーと、前記出力ドライバーの温度特性情報を記憶する記憶回路と、前記温度センサーからの検出信号と前記記憶回路から読み出した前記温度特性情報とに基づいて前記設定値を変更する設定信号を生成し、前記キャリブレーション回路へ出力する設定回路と、を備える。 （もっと読む）

【課題】チップごとに適正な電源電圧を設定する。
【解決手段】チップのレイアウトデータ２０からクリティカルパスのゲート遅延と配線遅延の遅延比を抽出する（ステップＳ１，Ｓ２）。チップのモニタ回路で実測されたゲート遅延及び配線遅延を、その遅延比に基づき合成して第１遅延値を生成し（ステップＳ３）、モニタ回路のシミュレーションで得られるゲート遅延及び配線遅延を、その遅延比に基づき合成して第２遅延値を生成する（ステップＳ４，Ｓ５）。このようにゲート遅延、配線遅延、クリティカルパスでの遅延比が考慮された第１遅延値及び第２遅延値に基づいて、チップに適用するチップ電源電圧を設定する（ステップＳ７）。 （もっと読む）

【課題】製造プロセスの全ての受け容れられる変化及び全ての許容動作温度にわたって所与の周波数で正しい動作を保証する供給電圧を決定する。
【解決手段】集積回路は、テストに不合格となるまで、各々、より低い要求供給電圧大きさで集積回路のロジック回路のテストを繰り返すように構成された自己校正ユニットを備えている。テストに合格する最も低い要求供給電圧大きさを使用して、集積回路の要求供給電圧大きさを発生する。集積回路は、集積回路のエリアにわたって物理的に分布されたロジックゲートの直列接続体と、論理的遷移をその直列接続体へ送出し、そしてそれに対応する遷移をその直列接続体の出力において検出するように構成された測定ユニットとを備えている。送出と検出との間の時間量を使用して、集積回路の供給電圧大きさを要求する。 （もっと読む）

【課題】出力回路のインピーダンス調整の精度を向上する半導体装置を提供する。
【解決手段】各々が調整可能なインピーダンスを備える複数の単位バッファを含む出力回路（出力バッファ１０１）と、複数の単位バッファ回路のうちの１または複数個の単位バッファ回路を選択的に活性化する制御回路（出力制御回路１５０）と、複数の単位バッファのそれぞれのインピーダンスを調整するインピーダンス調整部であって、当該インピーダンス調整部は、制御回路によって選択的に活性化された１又は複数個の単位バッファ回路の個数が変化することに応じて複数の単位バッファのそれぞれのインピーダンスを調整する、インピーダンス調整部（インピーダンス調整部３０）と、を備える。 （もっと読む）

【課題】故障検査のために観測用フリップフロップ回路を配置することなく，故障検査を可能とする半導体集積回路，その検査方法を提供する。
【解決手段】第2の論理回路51の試験の際に試験モードを示す制御信号TSMが，故障検査用回路41に入力され，この試験モードに対応するテスト値が，論理回路51に入力されると，故障検査用回路41により，論理回路51の出力論理が，論理回路13に対応するフリップフロップ回路14に入力される。さらに，通常モード時に，論理回路13の出力論理が，故障検査用回路41により，論理回路13に対応するフリップフロップ回路14にそのまま入力される。 （もっと読む）

【課題】高い精度で所定の検査を行うことができる電子回路を提供する。
【解決手段】本実施の形態に係る電子回路１は、図１（ａ）に示すように、主に、主回路２への電圧Ｖ_ｃｃの供給を切り替えるスイッチ素子としてのｐ型トランジスタ３と、ｐ型トランジスタ３を駆動する第１の駆動信号を出力する駆動部４と、入力側が駆動部４に電気的に接続され、出力側がｐ型トランジスタ３に電気的に接続され、駆動部４から出力された第１の駆動信号に基づいて第２の駆動信号を出力する第１のインバータ部５と、入力側が駆動部４に電気的に接続され、駆動部４から出力された第１の駆動信号に基づいて検査のための検査信号を出力する第２のインバータ部６と、第２のインバータ部６の出力側に電気的に接続され、検査信号を出力する第１のパッドとしての検査パッド７と、を備えて概略構成されている。 （もっと読む）

【課題】ソースが共通接続されそれぞれのゲートが二つの入力端子に接続さた二つのトランジスタを有する差動対を備える差動入力回路において、より適正に入力オフセットをより小さくする。
【解決手段】トランジスタＴｉｎ１，トランジスタＴｉｎ２のドレインに高電圧印加回路６０を接続し、トランジスタＴｉｎ１のソースおよびトランジスタＴｉｎ２のソースと接地電圧印加点ＧＮＤとの間にトランジスタＴｓｅｎを設け、論理ローレベルの電圧の制御信号ＳＥＮをスイッチング回路７０に入力すると共に制御信号Ｔｃとしてクロック信号を入力して入力端子ＩＮ１に電圧Ｖ１を印加すると共に入力端子ＩＮ２に電圧Ｖ２を印加し、検出した出力端子ＯＵＴ，ＯＵＴＢの電圧に応じてトランジスタＴｉｎ１，Ｔｉｎ２のドレインに高電圧印加回路６０により電源電圧Ｖｄｄｈを印加する （もっと読む）

【課題】 本実施形態は、出力ドライバのドライブ能力のキャリブレーション精度を向上することが可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】 第１、第２のプルアップドライバユニットPUDUa、PUDUbは、プルアップドライバを調整する。プルダウンドライバユニットPDDUbは、プルダウンドライバを調整する。キャリブレーション回路CBCは、プルアップドライバのキャリブレーション時、基準電圧Ｖ_ＲＥＦと、基準抵抗RZQに基づく第１のプルアップドライバの出力電圧を比較して第１、第２のプルアップドライバユニットのドライブ能力を決定し、プルダウンドライバのキャリブレーション時、基準電圧と、第２のプルアップドライバとプルダウンドライバの接続ノードの電圧を比較してプルダウンドライバのドライブ能力を決定する単一の比較器COMPを有している。 （もっと読む）

【課題】ウエハーテストにおいて、キャリブレーション動作の評価を、容易、かつ高精度に行うことができる半導体装置を提供する。
【解決手段】キャリブレーション端子ＺＱを駆動するレプリカバッファ（１３１）と、レプリカバッファの出力インピーダンスを変化させる際に目標となるインピーダンスが設定され、キャリブレーション端子ＺＱに接続される可変インピーダンス回路（１７０）と、を備える。 （もっと読む）

【課題】不良回路ブロックを特定する時間を短くでき、また、各回路ブロックの信頼性加速試験での特性劣化を精度良く測定できる半導体集積回路を提供することを目的とする。
【解決手段】複数の回路ブロックＢ１、Ｂ２、・・・Ｂｎと、複数の回路ブロックに対応し、回路ブロックと電源端子２との接続を制御する複数のスイッチ回路Ｓａ１、Ｓａ２、・・・Ｓａｎと、複数のスイッチ回路に対応し、スイッチ回路へ回路ブロック選択信号を出力する複数のフリップフロップ回路ＤＦＦ１、ＤＦＦ２、・・・ＤＦＦｎとを備え、複数のフリップフロップ回路は、シフトレジスタ回路を構成し、外部信号の入力に基づいて、２以上のスイッチ回路を選択して回路ブロック選択信号を出力し、当該回路ブロック選択信号を入力された２以上のスイッチ回路は、当該２以上のスイッチ回路それぞれに対応する回路ブロックと電源端子とを接続する半導体集積回路１００。 （もっと読む）

【課題】容量性負荷が外部端子に接続されている場合でも、出力バッファのドライブ能力の診断が可能な出力回路とテスト方法を提供する。
【解決手段】外部負荷が接続される第１、第２の外部端子と、前記第１、第２の外部端子に接続される前記外部負荷を駆動する出力バッファ部と、第１の制御信号に応じてオン状態となることで、前記第１、第２の外部端子を導通させるスイッチ部と、テスト時において、前記出力バッファ部により、前記第１、第２の外部端子に対して互いに逆相の信号を出力させ、且つ、前記第１の制御信号により前記スイッチ回路をオン状態とするテスト制御部と、を有する出力回路。 （もっと読む）

【課題】 動作試験用の外部抵抗素子を用意することなくＺＱキャリブレーション回路の動作試験を行える半導体装置を提供する。
【解決手段】 半導体装置は、外部端子と、外部端子に接続され、当該外部端子に接続される外部抵抗素子を利用してキャリブレーションを行うキャリブレーション回路と、内部抵抗素子と、内部抵抗素子と外部端子との間に設けられたスイッチと、を備える。外部端子に外部抵抗素子が接続されていない状態で、スイッチを導通状態にして内部抵抗素子をＺＱ端子に電気的に接続する。これにより、外部抵抗素子に代えて内部抵抗素子を利用してキャリブレーションを行うことができる。 （もっと読む）

【課題】電子回路及びそのタイミング調整方法において、フリップフロップのホールドエラーを防止すること。
【解決手段】クロック信号ＣＬＫに同期してテストパターンＴＰを出力する送信側フリップフロップＦＦ_t１〜ＦＦ_t３と、テストパターンＴＰを遅延させる遅延回路４１〜４３と、遅延回路４１〜４３から出力されたテストパターンＴＰをラッチすると共に、テストパターンＴＰを出力する受信側フリップフロップＦＦ_r１〜ＦＦ_r３と、受信側フリップフロップＦＦ_r１〜ＦＦ_r３から出力されたテストパターンＴＰと期待値とを比較して、それらが一致するか否かを示す比較信号Ｓ_p１〜Ｓ_p３を出力する比較器４６と、比較信号Ｓ_p１〜Ｓ_p３によってテストパターンＴＰと期待値とが一致していないときに、遅延回路４１〜４３の遅延時間を調整するタイミング調整器４５とを有する電子回路による。 （もっと読む）

【課題】ドライバの故障による出力異常を救済することが可能な故障検出救済回路を含んだ半導体装置を提供すること。
【解決手段】故障検知部１は、ドライバ１０の出力の期待電位の逆電位となるようにドライバ１０の出力にプルアップ抵抗１５またはプルダウン抵抗１８を接続し、ドライバ１０の入力電位と出力電位とを比較することによりドライバ１０の故障を検出する。故障救済部２は、故障検知部１によってドライバ１０の故障が検出された場合に、期待電位と同電位となるようにドライバ１０の出力にプルアップ抵抗２６またはプルダウン抵抗２９を接続してドライバ１０の故障を救済する。したがって、ドライバ１０の故障による出力異常を救済することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】 集積回路における時間的に変動するばらつきを検出する回路を提供する。
【解決手段】 集積回路内に検出回路１００、演算回路１０１、ばらつき/電圧変換回路１１３とを設ける。検出回路１００において集積回路の特性ばらつきを検出回路１００の出力信号の発振周波数として検出する。演算回路１０１では、タイマ１０６にて規定した時間間隔毎に検出したばらつき情報をレジスタ１１１に格納し、統計演算回路１１２にて統計処理を施し、集積回路の時間的に変動する特性ばらつきを検出する。更に、ばらつき／電圧変換回路１１３は、検出された特性ばらつきに対応した電圧情報に変換する。 （もっと読む）