【課題】複数個のメモリチップが積層された構造を有する半導体装置の信頼性を向上させる。
【解決手段】半導体装置は、複数のビットラインと複数のワードラインとの交差点に複数個のメモリセルが配列される複数個のメモリチップが垂直方向に積層され、いずれか一つのメモリチップには複数個のメモリチップの各々に配列された複数のビットラインと連結されアクティブにされるメモリチップのビットラインをイネーブルさせるためのビットラインセンスアンプと、複数個のメモリチップの各々に配列された複数のワードラインと連結されアクティブされるメモリチップのワードラインをイネーブルさせるためのサブワードラインドライバを含み、ビットラインセンスアンプとサブワードラインドライバがいずれか一つのメモリチップに備わる。 （もっと読む）

【課題】半導体装置が動作状態から待機状態に移行するとき、内部電源電圧の目標電圧からの上昇を抑制する。
【解決手段】非動作状態の負荷回路への電源電流の供給に用いられる電源回路１５において、トランジスタＰＴＲＳ１は、外部電源電圧を受ける電源ノードと出力ノード１８との間に接続される。比較器５０は、第１の入力端子および参照電圧が入力される第２の入力端子を有し、第１および第２の入力端子間の電圧差に応じた制御電圧をトランジスタＰＴＲＳ１の制御電極に出力する。分圧回路４０は、出力ノードの電圧を分圧した電圧を比較器５０の第１の入力端子に出力する回路であり、分圧比を変更可能である。電源回路１５は、負荷回路が動作状態のときに、分圧回路４０の分圧比を第１の分圧比から第１の分圧比よりも高い第２の分圧比に変更する。 （もっと読む）

【課題】ワード線の選択回路のサイズを縮小することにより、半導体装置のサイズを縮小する。
【解決手段】メインワード線は、複数のグループに分類され、メインワードドライバはアドレス情報にしたがってメインワード線を選択する。４本のメインワード線ＭＷＬ０〜ＭＷＬ３から構成される１つのグループが、１つのレベルシフタ１１８を共有する。アドレス情報は、グループ選択のための第１アドレスとメインワード線選択のための第２アドレスを含む。メインワードドライバは、第１アドレスにしたがって、第１グループ選択回路や第２グループ選択回路１２８ａを選択し、選択された第２グループ選択回路１２８ａのレベルシフタ１１８は活性電位（ローレベル）を出力する。そして、選択された第２グループ選択回路１２８ａに所属する複数のメインワード線ＭＷＬ０〜ＭＷＬ３のうちの１本が第２アドレスＡ３，Ａ４により選択される。 （もっと読む）

【課題】容量素子の容量を低減し、また、集積度の高い半導体メモリ装置を提供する。
【解決手段】１つのビット線ＢＬ＿ｍに複数個のメモリブロックを接続させる。メモリブロックＭＢ＿ｎ＿ｍはサブビット線ＳＢＬ＿ｎ＿ｍと書き込みスイッチと複数のメモリセルを有する。サブビット線ＳＢＬ＿ｎ＿ｍと隣接するサブビット線ＳＢＬ＿ｎ＋１＿ｍは２つのインバータと２つの選択スイッチよりなる増幅回路ＡＭＰ＿ｎ／ｎ＋１＿ｍに接続し、増幅回路は選択スイッチによりその回路構成を変更できる。また、増幅回路は読み出しスイッチを介してビット線ＢＬ＿ｍに接続する。サブビット線ＳＢＬ＿ｎ＿ｍの容量は十分に小さいため、各メモリセルの容量素子の電荷による電位変動を増幅回路ＡＭＰ＿ｎ／ｎ＋１＿ｍでエラーなく増幅でき、ビット線ＢＬ＿ｍに出力できる。 （もっと読む）

【課題】従来のＤＲＡＭでは微細化と共にデータの読み出しエラーが発生しやすくなる。
【解決手段】第１のビット線ＢＬ＿１の微弱な電位の変動はＮチャネル型トランジスタＴＮＲとＰチャネル型トランジスタＴＰＲで構成される第１のインバータで反転され、第１のスイッチである第１の選択トランジスタＳＴ１を介して、第２のビット線ＢＬ＿２に出力される。第２のビット線ＢＬ＿２の電位は、第１のビット線ＢＬ＿１の電位とは反転した電位であるため、第１のビット線ＢＬ＿１と第２のビット線ＢＬ＿２の電位差は拡大する。この拡大した電位差を公知のセンスアンプＳＡ＿１／２あるいは、第２のインバータ（Ｎチャネル型トランジスタＴＮＬとＰチャネル型トランジスタＴＰＬで構成される）と第１のインバータで構成されるフリップフロップ回路等で増幅する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、リフレッシュ動作の時、電流消耗を減らすことができる半導体メモリ装置を提供する。
【解決手段】第１ビットライン分離信号に応答してビットラインとセンスアンプとを連結及び分離させる第１スイッチと、第２ビットライン分離信号に応答してビットラインバーとセンスアンプとを連結させる第２スイッチと、及びリフレッシュ動作の時、第２ビットライン分離信号のイネーブル区間の長さよりイネーブル区間が短いリフレッシュ用ビットライン分離信号を生成して第２スイッチに提供する制御部を備える。 （もっと読む）

【課題】半導体メモリ装置の読み出し動作および書き込み動作フェイルを防止することができる半導体メモリ装置を提供する。
【解決手段】読み出し信号または書き込み信号に応答して、選択的にイネーブルされる第１テストモード信号ないし第３テストモード信号に応じて遅延量が調整されるストローブクロックを生成するストローブクロック生成部１０と、ストローブクロックの第１レベルに応答してアドレスをラッチし、ストローブクロックの第２レベルに応答して、アドレスをデコーディングして内部アドレスを生成する内部アドレス生成部２０と、内部アドレスをデコーディングして選択的にイネーブルされる出力イネーブル信号を生成する出力イネーブル信号生成部３０と、を備える。 （もっと読む）

【課題】分割抵抗回路で消費される消費電力を低減することが可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、抵抗分割回路で抵抗分割された分割電圧を受けるための入力端子と、入力端子から供給される分割電圧と、所定の基準電圧と、の電圧差を検出する検出回路と、外部から入力信号を受けるための信号入力端子と、分割電圧と入力信号の電圧を比較するカレントミラー回路と、を備え、カレントミラー回路は、検出回路が検出した電位差に応じて、カレントミラー回路に入力される分割電圧を実効的に補正する電位補正回路と、を含む。 （もっと読む）

【課題】ダミーマットの占有面積を縮小する。
【解決手段】半導体装置は、ビット線３２と、ビット線に接続された複数のメモリセル３１と、ダミービット線５２と、ダミービット線にソース及びドレインの一方が接続された複数のダミーセルトランジスタ５１と、ビット線とダミービット線との間に接続されたセンスアンプ３３とを有し、複数のダミーセルトランジスタの各々のソース及びドレインの他方は、フローティング状態にされるか、又はダミービット線に接続されている。 （もっと読む）

【課題】簡略化された回路構成でノイズ低減効果を持つ多相駆動型の昇圧回路を実現する。
【解決手段】昇圧回路は、所定周期のクロック信号を出力する発振回路と、前記クロック信号の１本の配線に直列接続され、トータル遅延時間が前記所定周期よりも長い複数の遅延回路と、前記複数の遅延回路に対応して前記１本の配線に接続された複数の分割昇圧回路と、を含む。 （もっと読む）

【課題】スタンバイ状態時における第１導電型のトランジスタでの劣化を抑制可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、第１導電型のトランジスタを含み縦列接続された複数の回路と、複数の回路の其々の入力端子のうち他の回路と接続された接続入力端子と接続し接続入力端子の電圧を制御するための制御信号の活性化に応じて、接続入力端子に、該接続入力端子から電圧を受け付ける回路内の第１導電型のトランジスタを非導通状態とする第１の電圧を供給する制御回路と、を備える。 （もっと読む）

【課題】マルチバンク構成のメモリにおいて、選択バンクの読み出しデータを低面積、低電力、高速に出力可能な方法を提供する。
【解決手段】第１バス１２８に結合された第１トライステートデバイスにおいて、センスアンプの第１センスアウトプットおよび第２センスアウトプットを受け取ることと、第２バス１３０に結合された第２トライステートデバイスにおいて、センスアンプの第１センスアウトプットおよび第２センスアウトプットを受け取ることと、バス選択インプットに応じて第１バスまたは第２バスを駆動するために第１トライステートデバイスおよび第２トライステートデバイスの１つを選択的にアクティブにする。 （もっと読む）

【課題】オープンビット線方式における電源ノイズの影響を低減した半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】半導体記憶装置は，列方向に両側に延びる一対のビット線に接続するセンスアンプを列方向に直交する行方向に複数配置したセンスアンプ群が列方向に複数配置され，列方向に隣接するセンスアンプ群それぞれに接続される複数のビット線が互いに平行に配置され，列方向の両端に配置されたセンスアンプ群に接続された一対のビット線のうち列方向の両端側の複数のビット線にそれぞれ平行に配置された複数の未使用ビット線を有し，複数のワード線が行方向に配線され，複数のビット線及び複数の未使用ビット線と複数のワード線との交差位置にメモリセルが配置されたメモリセルアレイと，メモリセルアレイの列方向の一端に配置され，複数のセンスアンプ群に内部電源を内部電源線を介して供給する内部電源回路とを有し，未使用ビット線は内部電源配線に接続されている。 （もっと読む）

【課題】容量素子の容量を低減し、また、集積度の高い半導体メモリ装置を提供する。
【解決手段】１つのビット線ＢＬ＿ｍに複数個のメモリブロックを接続させる。第ｎ行のメモリブロックはサブビット線ＳＢＬ＿ｎ＿ｍと複数のメモリセルを有する。メモリセルはトランジスタと容量素子を直列に接続し、容量素子の電極の一をサブビット線ＳＢＬ＿ｎ＿ｍに接続する。さらに第ｎ行のメモリブロックは書き込みトランジスタＷＴｒ＿ｎ＿ｍと読み出しトランジスタＲＴｒ＿ｎ＿ｍを有し、また、読み出しトランジスタＲＴｒ＿ｎ＿ｍには相補型インバータ等の増幅回路ＡＭＰ＿ｎ＿ｍを接続する。サブビット線ＳＢＬ＿ｎ＿ｍの電位変動を増幅回路ＡＭＰ＿ｎ＿ｍで増幅する。サブビット線ＳＢＬ＿ｎ＿ｍの容量は十分に小さいため、各メモリセルの容量素子の電荷による電位変動を増幅回路ＡＭＰ＿ｎ＿ｍでエラーなく増幅でき、ビット線ＢＬ＿ｍに出力できる。 （もっと読む）

【課題】相補の信号によりプルアップバッファ回路とプルダウンバッファ回路を制御し、シリアライザの負荷を抑制する。
【解決手段】半導体装置１０は、プルアップバッファ回路１００とプルダウンバッファ回路２００を排他的にオン・オフ制御することによりデータ端子ＤＱからデータを出力する。シリアライザ３００は、ｎ×２本の入力信号線から相補な内部データ信号ＤＡＴ０／ＤＡＣ０〜ＤＡＴ３／ＤＡＣ３を受信し、内部データ信号ＤＴ１／ＤＣ１をシリアルに出力する。プルアップバッファ回路１００とプルダウンバッファ回路２００は、内部データ信号ＤＴ１／ＤＣ１により制御される。 （もっと読む）

【課題】入力信号に基づいて位相の一致した相補の出力信号を生成する。
【解決手段】半導体装置に含まれるスプリッター回路１０は、入力信号ＩＮＴを受けて反転信号ＩＢ１を出力するインバータＩＮＶ１と、反転信号ＩＢ１を受けて非反転信号ＩＴ１（第１の出力信号）を出力するインバータＩＮＶ２が縦続接続される信号パスＰＡＳＳ１を含む。また、スプリッター回路１０は、入力信号ＩＮＴを受けて反転信号ＩＢ３（第２の出力信号）を出力するインバータＩＮＶ３を含む信号パスＰＡＳＳ２を含む。また、インバータＩＮＶ３と補助インバータＩＮＶＣは出力信号線を共有する。インバータＩＮＶ３と補助インバータＩＮＶＣは、共に、入力信号ＩＮＴの反転信号を電源とする。 （もっと読む）

【課題】ストローブ信号の変化によって基準電位に重畳するノイズを低減し、これにより、基準電位を用いる入力レシーバ回路の動作マージンの低下を防止する。
【解決手段】ストローブ信号ＩＤＱＳＴによって活性化され、入力信号ＤＱの電位と基準電位ＶＲＥＦとを比較することによって出力信号ＩＤＱＲを生成する入力レシーバ回路１７Ｒと、ストローブ信号ＩＤＱＳＴの変化によって基準電位ＶＲＥＦに生じるノイズをキャンセルするノイズキャンセラ１００Ｔとを備える。本発明によれば、ノイズキャンセラ１００Ｔによって基準電位ＶＲＥＦに生じるノイズがキャンセルされることから、入力レシーバ回路１７Ｒの動作マージンを十分に確保することができる。これにより、高速なデータ転送を行うことが可能となる。 （もっと読む）

【課題】低電圧駆動時における動作完了直後のビット線のプリチャージ電圧復帰するまでの時間を高速化し、読み取りエラーを防止する。
【解決手段】メモリセルＢＬＣＥＬＬ＜０＞、ＢＬＣＥＬＬ＜１＞と、メモリセルのビット線対ｂｌ／ｂｌｂと、ビット線対の電位差を増幅するセンスアンプ回路ＢＬＳＡと、センスアンプ回路ＢＬＳＡのグローバルビット線対ｇｂｌ／ｇｂｌｂと、を有する半導体記憶装置である。センスアンプ回路ＢＬＳＡは、Ｐチャネル型ＭＯＳ電界効果トランジスタＰ１及びＰ２と、Ｎチャネル型ＭＯＳ電界効果トランジスタＮ１〜Ｎ６と、を含むＳＲＡＭ型であり、該ＳＲＡＭの接続ノードａ及び接続ノードｂに専用のイコライズ線ｅｑｃを設けることによって、各駆動信号線に分布する寄生容量を分散させる。 （もっと読む）