国際特許分類[C23C18/52]の内容
化学;冶金 (1,075,549) | 金属質材料への被覆;金属質材料による材料への被覆;化学的表面処理;金属質材料の拡散処理;真空蒸着,スパッタリング,イオン注入法,または化学蒸着による被覆一般;金属質材料の防食または鉱皮の抑制一般 (47,648) | 金属質への被覆;金属材料による材料への被覆;表面への拡散,化学的変換または置換による,金属材料の表面処理;真空蒸着,スパッタリング,イオン注入法,または化学蒸着による被覆一般 (43,865) | 液状化合物または溶液のいずれかからなる被覆形成化合物の分解による化学的被覆であって表面材料の反応生成物を被覆層中に残さないもの;接触メッキ (2,675) | 還元または置換によるもの,例.無電解メッキ (2,437) | グループ18/32から18/50の単一グループに分類されない金属質材料による被覆のために還元剤を用いるもの (169)
国際特許分類[C23C18/52]に分類される特許
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色素増感太陽電池用の低温プラチナイズ(platinisation)
本発明は、色素増感太陽電池(DSSC)の分野に関するものであり、幅広い種類の基材に適用できる対向電極の低温プラチナイズ方法に関する。 (もっと読む)
装飾表面仕上げ、およびそれを形成する方法
非導電性表面を有する部品用の装飾金属仕上げであって、非導電性表面は、その接着能力を向上させるために軽く粗面化されている。非導電性表面上に耐久性のある光沢金属仕上げを提供するために、軽く粗面化された表面の上に薄い金属層が無電解堆積される。金属仕上げ用の保護を提供するために、薄い金属層の上に半透明仕上げが堆積される。 (もっと読む)
電子部品用複合ボールの製造方法
【課題】 本発明の目的は、はんだめっき皮膜の密着性の低下やめっき未着を解決し、均一なはんだめっき層が形成された電子部品用複合ボールの製造方法を提供することである。
【解決手段】 本発明は、Cuの球体からなるコアボールを用意する工程と、前記コアボールの表面を還元性水溶液で洗浄する第1洗浄処理工程と、前記コアボールを包囲するようにNi下地めっき層を形成する第1めっき処理工程と、前記下地めっき層の表面を還元性水溶液で洗浄する第2洗浄処理工程と、前記下地めっき層を包囲するようにはんだめっき層を形成する第2めっき処理工程と、前記はんだめっき層の表面を洗浄する第3洗浄処理工程を経る電子部品用複合ボールの製造方法である。
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半導体装置の製造方法及び半導体装置の製造装置
【課題】半導体基板上に積層構造からなる複数の金属膜を無電解めっき法により形成する半導体装置の製造方法において、遮光環境下に位置させるめっき槽を少なくする方法を提供する。
【解決手段】金属膜を形成する工程は、第1めっき槽を用いた還元反応を含む無電解めっき工程(ステップS52)と、第2めっき槽を用いた置換反応のみによる無電解めっき工程(ステップS54)と、第3めっき槽を用いた置換反応のみによる無電解めっき工程(ステップS56)を含む。第1めっき槽を用いた還元反応を含む無電解めっき工程は遮光環境下で行われ、第2めっき槽および第3めっき槽を用いた置換反応のみによる無電解めっき工程は非遮光環境下で行われる。
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基板上に金属−セラミックコーティングを製造するめっき又はコーティング方法
基板上に硬さが増加した金属−セラミック複合コーティングを製造する方法は、セラミック相のゾルをめっき液又は電解液を添加することを含む。めっき若しくはコーティングの前及び/又は間に、セラミック相のナノ粒子が基板の直接上に若しくは基板で形成する、並びに/あるいは金属−セラミックコーティングが主として結晶構造で基板上に形成する、並びに/あるいはめっき液若しくは電解液中でのセラミック相のナノ粒子の形成及び/又はセラミック相の粒子の凝集を実質的に避けるのに十分低く調節したゾル添加割合で、ゾルを添加することができる。セラミック相は、Ti、W、Si、Zr、Al、Y、Cr、Fe、Pb、Co若しくは希土類元素の単一又は混合酸化物、炭化物、窒化物、ケイ酸塩、ホウ化物であってよい。セラミック相以外のコーティングは、Ni、Ni−P、Ni−W−P、Ni−Cu−P、Ni−B、Cu、Ag、Au、Pdを含んでもよい。 (もっと読む)
金属微粒子、メッキ液、リード線及び関連する方法
【課題】金属の融点以下の低温において、導電性を損なうことなく、また、シアン化合物のような有毒な物質を使用せずに、各種金属を所望の形状に加工したり、各種金属の被覆膜を形成する方法を提供すること。
【解決手段】最表面に反応性基を有する化学吸着物質の単分子膜で被覆された金属微粒子を利用して、メッキや粉体塗装を行う。
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無電解めっき方法および無電解めっき液
【課題】めっき金属中にカーボンナノチューブもしくはその誘導体を常温で混入させることのできる無電解めっき方法を提供する。
【解決手段】無電解めっき方法は、無電解ニッケルめっき液もしくは無電解銅めっき液中に、カーボンナノチューブ10もしくはその誘導体を添加して、該めっき液を用いて基材12上に無電解めっきを施して、基材12表面に、前記カーボンナノチューブ10もしくはその誘導体が混入しているめっき皮膜14を形成する無電解めっき方法であって、前記めっき液中に分散剤としてポリアクリル酸もしくはその塩を添加して、カーボンナノチューブ10もしくはその誘導体をめっき液中に分散させて無電解めっきを行う。
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無電解Cuめっき液および無電解Cuめっき方法
【課題】カーボンナノチューブ(CNT)をめっき皮膜中に良好に取り込むことのできる無電解Cuめっき液を提供する。
【解決手段】CNTの分散剤として、トリメチルセチルアンモニウム塩を1.0×10−3M〜2.0×10−3M程度添加する。トリメチルセチルアンモニウム塩は、トリメチルセチルアンモニウムクロリドが好適である。めっき条件によって、CNTが無電解Cuめっき皮膜内に完全に埋没している状態や、無電解Cuめっき皮膜表面にCNTの先端が突出している状態に調整できる。CNT先端がめっき皮膜表面に突出している場合には、摺動特性に優れる被めっき物を得ることができる。また、無電解Cuめっき皮膜中にCNTを取り込ませた場合、2μm程度のめっき皮膜の厚さで、100kHz〜数GHz程度までの高い周波数の電磁波シールド性を有することが期待できる。
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錫めっき皮膜の成膜方法
【課題】還元型の無電解錫めっき浴を用いて、プリント配線基板に適した処理条件で、所望とする膜厚を有する錫めっき皮膜を形成させるための錫めっき皮膜の成膜方法を提供する。
【解決手段】3価のチタン化合物を還元剤とする無電解錫めっき浴に銅又は銅合金を浸漬させて錫めっき皮膜を形成する錫めっき皮膜形成工程と、錫めっき皮膜が形成された銅又は銅合金を無電解銅めっき浴に浸漬して錫めっき皮膜上に銅めっき皮膜を形成する銅めっき皮膜形成工程と、銅めっき皮膜が形成された銅又は銅合金を無電解錫めっき浴に浸漬して銅めっき皮膜上に錫めっき皮膜を形成する厚膜化工程とを有する。そして、銅めっき皮膜形成工程と厚膜化工程とを交互に繰り返し実行して、銅又は銅合金の膜厚方向に錫めっき皮膜を膜厚化する。
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弾性接点及びその製造方法、ならびに、接点基板及びその製造方法
【課題】 特に、無電解メッキによりNiX層とPd層とを積層メッキする構成において、前記Pd層が安定して析出して接触信頼性等を向上させることが可能な弾性接点及びその製造方法等を提供することを目的としている。
【解決手段】 弾性接点20は、Ni−X(ただしXは、P、W、Mn、Ti、Be,Bのうちいずれか一種以上)にて無電解メッキされたアモルファス状態のNiX層32と、前記NiX層32の表面にNi−Xにて無電解メッキされ、元素Xの含有量が前記NiX層32よりも少ない結晶質状態の下地層33と、前記下地層33の表面に無電解メッキされたPdあるいはPd合金の金属層34とを有する。
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