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国際特許分類[G01M11/00]の内容

物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 機械または構造物の静的または動的つり合い試験;他に分類されない構造物または装置の試験 (8,636) | 光学装置の試験;他に分類されない光学的方法による構造物の試験 (2,870)

国際特許分類[G01M11/00]の下位に属する分類

光学的特性の試験 (824)
機械的特性の試験

国際特許分類[G01M11/00]に分類される特許

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【課題】パターン化位相差フィルムの欠陥を精度よく検出する。
【解決手段】パターン化位相差フィルム12を挟んで第1,第2偏光板18,19が配される。各偏光板18,19は、クロスニコル配置とされる。パターン化位相差フィルム12には、遅相軸がほぼ直交する第1位相差領域14,第2位相差領域15が交互に配されている。光源部16は、第1偏光板18を介してパターン化位相差フィルム12に検査光を照射し、撮影装置17は、パターン化位相差フィルム12,第2偏光板19を透過する光を受光して輝度画像を撮影する。第1位相差領域14の遅相軸As1と第1偏光板18の偏光透過軸P1とをほぼ平行となる状態で、正常な第1位相差領域14と第2位相差領域15の各輝度が同じレベルとなるように偏光透過軸P1の方向を調整する。 (もっと読む)


【課題】 光干渉素子の干渉特性の調整を行うことなく、光干渉素子に入力される入力光の特性を精度よく測定することができる、光干渉素子の入力光の特性測定方法を提供する。
【解決手段】 光干渉素子の入力光の特性測定方法は、入力カプラと、前記入力カプラに接続された複数の半導体アームと、前記半導体アームの出力を干渉させる出力カプラと、を備える光干渉素子の入力光の特性測定方法であって、前記複数の半導体アームのうち、1つを除く他のすべての半導体アームに光吸収特性を生じさせる制御を行う第1ステップと、前記第1ステップの後に、前記出力カプラから出力される前記入力光の特性を測定する第2ステップと、を含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】光ファイバ中の複屈折の増加位置を、簡素な構成で短時間に検出するための解析装置および解析方法を提供する。
【解決手段】光源2および偏波コントローラ3によって、ピーク波長が同じであり、偏波状態が互いに異なる複数の偏光パルスが発生される。偏波解析器5は、複数の偏光パルスの各々が光ファイバ1を伝播することによって生じる後方散乱光を受けて、偏光度を算出する。信号処理部6は、偏波解析器5によって算出された偏光度を用いて、偏波状態ごとに、偏光度の、光ファイバ1の長手方向の分布を算出する。信号処理部6は、その分布から、偏光度の最大値および最小値の差分のピークを検出する、あるいは、偏光度のピークを検出することによって、光ファイバ1における複屈折の増加位置を検出する。 (もっと読む)


【課題】 エキスパンドウエハ上の発光素子の光学特性の検査の効率化を高め、単位時間あたりの検査個数を増大させる検査装置と検査方法を提供すること。
【解決手段】 複数個のウエハチャックを備えたウエハチャックステージと;各ウエハチャックにロードされたエキスパンドウエハ上の発光素子の位置を測定する位置測定装置と;各エキスパンドウエハのそれぞれに対応して設けられたフォトディテクタ及びプローブと;各エキスパンドウエハ上の発光素子が順次対応するプローブの下方に来るようにウエハチャックステージをXY軸方向に移動させる手段と、プローブが発光素子の電極位置に対応する位置に来るように各プローブを移動させる手段と、プローブを対応するそれぞれの発光素子の電極と接触させる手段とを備える制御装置を有している検査装置及び当該検査装置を用いる検査方法を提供することによって解決する。 (もっと読む)


【課題】光パルス試験器において、支障移転工事における工事前後の測定作業の利便性を高める。
【解決手段】被測定光ファイバに光パルスを入射し、入射端に戻ってくる光を時間領域で測定する測定処理部と、操作受付部と、表示部と、操作受付部を介して第1測定開始指示を受け付けると、測定処理部に測定を開始させ、測定終了後に第1測定データとして記録し、操作受付部を介して第2測定開始指示を受け付けると、測定処理部に測定を開始させ、表示部に、記録した第1測定データおよび測定中の第2測定データを表示させる測定制御部と、を備えた光パルス試験器。 (もっと読む)


【課題】赤外線熱影像アレーモジュールの検証装置と検証方法の提供。
【解決手段】主に本発明の赤外線熱影像アレーモジュールの検証装置と検証方法は、熱影像モジュール規格設計、エピタキシャルと光学物性検証を含み、先ずエピタキシャルパラメーターの校正を行う。単乙型感知部品製造工程と変温光電量測定検証を行い、これによりエピタキシャルは感知部品の低温変温と変圧測定校正を完成する。焦平面アレー製造工程とその光電均一度の検証を行い、暗電流均一度テストを行う。焦平面アレーと信号読み出し集積回路の接着と研磨製造工程検証を行い、感知モジュールと信号読み出し集積回路間にインジウム接着を行い光電信号を転換する。熱影像品質統合テスト検証を行い、最適駆動と制御出力パラメーター分析と測定を調整する。熱影像アレーモジュール雛形を継続して行い、インジウム柱接合方式を利用し、焦平面感知アレーと接合し、影像感知アレーモジュール雛形を完成することができる。 (もっと読む)


【課題】光パルス試験器において、多心光ファイバの支障移転工事における工事後の損失値の合否判定作業の利便性を高める。
【解決手段】多心光ファイバの被測定心線に光パルスを入射し、入射端に戻ってくる光を時間領域で測定する測定処理部と、操作受付部と、表示部と、ある心線について、表示部に測定波形を表示させ、操作受付部を介して、損失値を測定するためのマーカ位置の指定を受け付けると、他の心線についても指定を受け付けたマーカ位置において損失値を測定する測定制御部と、を備えた光パルス試験器。 (もっと読む)


【課題】光パルス試験器において、スプリッタ下部の支障移転工事における工事前後の測定作業の利便性を高める。
【解決手段】被測定光ファイバに光パルスを入射し、入射端に戻ってくる光を時間領域で測定する測定処理部と、操作受付部と、表示部と、操作受付部を介して第1測定開始指示を受け付けると、測定処理部に測定を開始させ、測定終了後に第1測定データとして記録し、操作受付部を介して第2測定開始指示を受け付けると、測定処理部に測定を開始させ、表示部に、記録した第1測定データおよび測定中の第2測定データを表示させるとともに、第1測定データと第2測定データとの差分波形を表示させる測定制御部と、を備えた光パルス試験器。 (もっと読む)


【課題】プレスキャン機能を実施することによって、表面欠陥が存在するときの光ディスク再生デバイスの読み出し性能を向上させる。
【解決手段】光ディスク再生デバイスは、第1および第2のレーザと、光学アセンブリと、第1および第2の光学検波器と、光学検波器に結合されたコントローラ回路とを備える。光学アセンブリは、第1および第2のレーザからの入射光を光ディスクの表面上にそれぞれ前走査スポットおよび後走査スポットを形成するように導くように構成され、さらに、光ディスクの表面上の前走査スポットおよび後走査スポットからの対応する反射光をそれぞれの光学検波器に導くように構成される。コントローラ回路は、後走査スポットが光ディスクの表面欠陥に到達する前に前走査スポットに関連する反射光を処理することによって光ディスクの表面欠陥を識別するように構成される。 (もっと読む)


【課題】多心光ファイバケーブルにおける試験対象の心線の指定を容易に行なうことができる光パルス試験器を提供する。
【解決手段】多心光ファイバの被測定心線に光パルスを入射し、入射端に戻ってくる光を時間領域で測定する測定処理部と、多心光ファイバの心線の識別子を一覧表示する表示部と、多心光ファイバの構造型に関する指定を受け付け、受け付けた構造型に対応した心線の配色情報の設定を受け付け、受け付けた配色情報に基づいて、一覧表示に色を付して表示部に表示させるユーザインタフェース部と、を備えた光パルス試験器。 (もっと読む)


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