【課題】損失分布特性の波形と波形上に現れるイベントの解析結果を同時に表示する場合に、短時間で精度よくイベントの解析を行うことが出来る光パルス試験器を実現する。
【解決手段】
表示手段の表示分解能に応じた表示データを作成する表示データ作成手段とを備えた光パルス試験器において、表示データ作成手段で作成した表示データに基づいて仮の損失分布変極点を検出し、仮の損失分布変極点近傍の測定データに基づいて真の損失分布変極点を特定するとともに真の損失分布変極点を含むイベントを解析する解析手段を備えた。 （もっと読む）

【課題】太陽電池の欠陥検出の精度を改善する。
【解決手段】本発明の実施形態の欠陥検出装置は、検査対象である太陽電池セル９を保持する保持部１０と、複数の点光源３を備える面光源４と、駆動制御信号を生成するピッチ制御部（５，７）と、駆動制御信号に基づいて、面光源４を移動させる移動機構（６，８）と、面光源４の発光パターンを制御する発光制御信号を生成する光源制御部１３と、面光源４が発光した光に応じて太陽電池セル９に発生した電流の電流値を計測し、電流値を示す計測情報を生成する計測部１１と、を備える。ピッチ制御部（５，７）は、複数の点光源３の間隔より小さいピッチで面光源４が移動するように、駆動制御信号を生成する。計測部１１は、太陽電池セル９に対する面光源４の位置毎に、複数の計測情報を生成する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、複数の異なる波長の光を弁別して光強度測定を行うことや、複数の通信光の波長でＯＴＤＲ測定を行うことが可能で、かつ、光源としても使用可能な１台の光測定装置の提供を目的とする。
【解決手段】第１の接続部１と、第１のレーザモジュール５と、第１の受光器７と、光強度測定部２１と、ＯＴＤＲ測定部２２とを備えた光測定装置において、複数の通信波長測定光とを選択的に発生する第２のレーザモジュール６と、通信光と測定専用光の戻り光とを分離する第１の光フィルタ１１と、複数の通信光を分離する第２の光フィルタ１２と、分離された通信光の１つを受光第２の受光器８と、分離された他の通信光を受光する第３の受光器９と、第１の光カプラ１４と、第２の接続部２と、第２の光カプラ１５と、第３の光カプラ１６とを備え、光強度測定部は更に、第２の受光器又は第３の受光器で受光した光の光強度を測定することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】表示装置における表示特性を適切に評価することを可能とする表示装置の評価方法を提供する。
【解決手段】視感評価結果を用いて予め設定された所定の色基準画像を表示している評価対象の表示装置について、色差の測定値を取得する。色基準画像と色比較画像とを対比表示している表示装置についての色差の主観評価結果を用いて、色依存性のある視感度を考慮した、表示装置についての色差の検知限界値を求める。色差の測定値と色差の検知限界値とを用いて評価パラメータを求め、この評価パラメータを用いて表示装置の表示特性に関する評価を行う。 （もっと読む）

【課題】長距離線路の光ファイバに対しても適用可能な、光ファイバの診断方法を提供する。
【解決手段】ＯＴＤＲを用いて、波長１．２４μｍの第１の光、波長１．３１μｍの第２の光、及び、波長１．５９μｍの第３の光を、光ファイバにそれぞれ入射し、及び、光ファイバでの第１〜第３の光の反射光の光強度をそれぞれ検出する。次に、第１〜３の光のそれぞれの伝送損失を求める。次に、第２の光の伝送損失に対する第１の光の伝送損失の比が、予め定められた第１の閾値以上であるか否かを判定する。次に、第２の光の伝送損失に対する第３の光の伝送損失の比が、予め定められた第２の閾値以上であるか否かを判定する。次に、第１の光の伝送損失が第３の光の伝送損失以上であるか否かを判定する。 （もっと読む）

【課題】ケーラー照明系を用いたより安価な検査用照明装置を提供する。
【解決手段】検査用照明装置１０は、光源部２０と、光源部２０から発せられた光を平行光に変換するコリメータレンズ３０と、コリメータレンズ３０を通過した光を被検物体Ｗに向けて集光するためのフレネルコンデンサレンズ４０と、コリメータレンズ３０とフレネルコンデンサレンズ４０の間に配置されたシグマ絞り５０と、を備える。シグマ絞り５０とフレネルコンデンサレンズ４０の間には、アポダイジングフィルタ７０が設置されている。 （もっと読む）

【課題】本発明は、光スプリッタ下部の光ファイバを切断する際にＯＴＤＲ波形のフレネル反射の位置に光ファイバ番号を明記し、その波形を基準波形として背景に残しながら、接続工事時に基準波形と比較することにより番号などの間違いなく工事を正確に実施することを目的とする。
【解決手段】本発明のＰＯＮ接続工事方法は、ＰＯＮにおいてセンタ側から加入者側に向けてパルス光を出力したときの後方散乱光の波形（以降、基準波形と称する。）を取得する基準波形取得手順と、いずれかの加入者側の光ファイバを切断し、基準波形のピークと切断された加入者側の光ファイバの識別番号とを対応させて記録する記録手順と、切断した加入者側の光ファイバを新たな光スプリッタと接続し、接続後の後方散乱光の波形（以降、測定波形と称する。）を取得し、測定波形と共に記録手順で記録した基準波形及び識別番号を表示する。 （もっと読む）

【課題】大きな損失の後のデッドゾーンを短くすることを目的とする。
【解決手段】本願発明の光パルス試験装置は、パルス光を発生する光源としてのＬＤ１３と、パルス光の後方散乱光を受光するＡＰＤ１４と、ＡＰＤ１４の受光信号を増幅する増幅器１５と、増幅器１５の増幅した信号強度を蓄積して後方散乱光の時間波形を生成する加算部１７と、ＡＰＤ１４に任意のバイアス電圧を印加するＡＰＤバイアス回路２１と、任意の時間帯に、ＡＰＤ１４へのバイアス電圧をＡＰＤバイアス回路２１に低下させるか又はＡＰＤ１４へのバイアス電圧の印加をＡＰＤバイアス回路２１に停止させるマスク位置設定部２０と、を備える。 （もっと読む）

【課題】画面の異物付着及び画素欠陥を識別できる画質検査装置を提供する。
【解決手段】画質検査装置２は、ＬＣＤ３１に白色パターンを指示し、撮像画面の白色パターンから候補エリアを抽出する候補エリア抽出部２１を有する。画質検査装置は、ＬＣＤに黒色パターンを指示し、撮像画面の黒色パターンから輝点異常の画素を含む候補エリアがある場合に、候補エリア周囲の輝点異常検出時のＲＧＢ値差を取得する輝点異常検出部２２を有する。画質検査装置は、黒色パターンを表示させたまま、候補エリア内の画素の白表示を指示し、撮像画面から候補エリア周囲の今回のＲＧＢ値差を取得する暗点異常検出部２３を有する。画質検査装置は、今回のＲＧＢ値差が輝点異常検出時のＲＧＢ値差を超えた場合、異物付着による異常と識別し、今回のＲＧＢ値差が輝点異常検出時のＲＧＢ値差を超えなかった場合、暗点の画素欠陥による異常と識別する異常識別部２４を有する。 （もっと読む）

【課題】画質検査に要する画像を最小限に抑えて画質検査に要する処理負担を軽減する画質検査方法、画質検査装置及び画質検査プログラムを提供する。
【解決手段】画質検査装置１は、検査対象の画面の外枠を黒の破線模様４０で形成された白色パターンＷＰと、黒の破線と同じ位置に白の破線模様４０で形成された黒色パターンＢＰとを切替表示される検査対象の画面を連続撮像して取り込む取込部２１を有する。更に、画質検査装置１は、取り込まれた複数の画面の内、外枠の破線上辺４０Ａと当該破線上辺に対向する破線下辺４０Ｂとが一致した画面を抽出する抽出部２２を有する。更に、画質検査装置１は、抽出した画面から白色パターンと黒色パターンとを選別する選別部２３と、選別された白色パターン及び黒色パターンに基づき、当該検査対象の画面に対する画質検査を実行する検査部２４とを有する。 （もっと読む）