【課題】質量分析用デバイスにおいて、測定光の低エネルギー化を可能とし、かつ高感度な質量分析を可能とする。
【解決手段】質量分析用デバイス１は、半透過半反射性を有する第１の反射体１０と、透光体２０と、反射性を有する第２の反射体３０とを順次備えた光共振体を備える。第１の反射体１０の表面１ｓに接触された試料に対して測定光Ｌ１を照射することにより、光共振体内に生じる共振によって増強された第１の反射体１０の表面１ｓにおける電場を利用して、試料中に含まれる質量分析の被分析物質Ｓを脱離させる。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】開示する質量分析装置において、イオン信号は、第一及び第二の信号に分割される。第一及び第二の信号は、異なる利得により増幅され、デジタル化される。両デジタル化信号について、到達時間／強度ペアを計算し、結果的に生じた時間／強度ペアを結合して高ダイナミックレンジスペクトルを形成する。スペクトルは、その後、他の対応するスペクトルと結合して加算スペクトルを形成する。 （もっと読む）

【課題】ＭＡＬＤＩ質量分析における糖タンパク質又は糖ペプチドの構造解析において、比較的均質な試料−マトリックス混合物の調製が可能で、且つ、糖ペプチドイオンのような糖−アミノ酸結合が維持されたイオンを優先的に検出することが可能な方法を提供する。
【解決手段】構造解析すべき糖タンパク質又は糖ペプチドと、マトリックスとしてのイオン性液体とを少なくとも含む混合物を、ＭＡＬＤＩ質量分析測定に供し、前記混合物中から前記構造解析すべき糖タンパク質又は糖ペプチドに由来し且つ糖−アミノ酸結合が維持されたイオンを検出することを含む、液体マトリックスを用いたＭＡＬＤＩ質量分析による糖タンパク質又は糖ペプチドの構造解析手法。 （もっと読む）

本発明は、エアロゾルが試料の溶液から形成される大気圧イオン化源と共に用いる装置を備える。エアロゾルは、中空部材に収容され、溶液中の不揮発性材料と予め分析された試料とによって、イオン化源自体の汚染を低減するためにイオン化源のチャンバから外側に放出される。中空部材は、洗浄と交換とを容易に行うためイオン化源から容易に取り外し可能である。装置を構成するイオン化源と質量スペクトロメータとイオン移動度スペクトロメータとがさらに記載されている。
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【課題】硫酸化糖鎖のイオン化における脱硫酸化を抑制して、容易かつ正確に硫酸化糖鎖を分析することができる、硫酸化糖鎖の構造解析手法を提供する。
【解決手段】MALDI法により硫酸化糖鎖をイオン化する工程を含む、硫酸化糖鎖の分析方法および配列解析方法。 （もっと読む）

【課題】質量分析において、よく利用されている電子衝撃法は、イオン化過程において選択性がなく、分子の解離が起り易い。このため、いくつかの方法が考案されているが、分子の解離を完全に抑制する方法は発明されていない。この状況を鑑みて、分子の振動周期より短い光パルスを用いて、分子の解裂を抑制してイオン化する方法、及び装置を提供する。
【解決手段】分子の振動周期より短い光パルスを用いて、分子の解裂を抑制してイオン化する。この方法では、分子振動により原子が動く前に電子を放出してイオン化するので、分子を解裂させずにイオン化することができる。したがって、ニトロ化合物や臭素化ダイオキシン化合物などに対して、解裂を抑制して分子イオンを測定することが可能になる。 （もっと読む）

【課題】検出感度を向上させて低濃度のサンプルの分析も可能とする。
【解決手段】検出セル１１内に封入された放射性同位体元素である放射線源１６の量を、従来よりも少ない２０ＭＢｑ以上１００ＭＢｑ未満の範囲、例えば９０ＭＢｑに設定する。これにより、検出セル１１内で不活性ガスの正イオン化に伴って発生する自由電子の量が少なくなるので、低濃度の検出対象物質（親電子性分子）が導入されたときに捕獲される電子の量の変化が検出信号に現れ易くなり検出感度が向上する。 （もっと読む）

【課題】基板状の被検体上のサブミクロンオーダーの異物をその位置情報と共に確実に検出し、異物を被検体から収集して同定、解析を行う必要がなく、信頼性が高い分析、解析を効率よく行うことができる異物検査装置や方法を提供する。特に、微小な有機物の異物の検出、分析を確実に行うことができる異物検査装置や異物検査方法を提供する。
【解決手段】基板状の被検体の表面の凹凸を測定し、異物を検出する検出手段と、異物から特定の水平距離の被検体の表面に凹部を付すマーキング手段と、被検体表面に１次イオンビームを照射・走査して凹部を検出し、凹部から特定の水平距離の位置から放出される２次イオンの質量スペクトル測定手段とを有する。 （もっと読む）

【課題】試料から汚染成分を除去するための高温熱処理等の処理を要することなく、簡便且つ迅速に正確な試料分析を行なう。
【解決手段】ホルダー板１２の表面のうち、試料１から散乱したイオン等が衝突し易い、試料１との対向面を絶縁性薄膜１３で被覆する。この絶縁性薄膜１３により、その被覆部分が帯電して試料と異なる電位となり、所謂チャージアップ現象により絶縁性薄膜１３の部分からの二次イオンの放出が抑止される。 （もっと読む）

質量分析機器システムにおける混入を減らすための装置および方法が開示される。システムは、レーザ脱離／イオン化でイオンを生成する第１圧力にあるイオン源と、イオン源の第１圧力よりも低い第２圧力にある真空チェンバへの入口開口部とを含む。イオン源内のサンプルプレートが、上に堆積させたサンプルを支持し、レーザが、質量分析計の第１イオン光学軸の中心線に対して約０から約８０度の入射角でサンプルの少なくとも一部に当たるレーザパルスを生成し、プルームを生成するように構成できる。レーザパルスの入射角と、サンプルプレートと入口領域開口部との間の距離との組み合わせが、入口開口部に引き込まれるプルームにおける中性混入物を減らすことができる。
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