説明

国際特許分類[G01T1/29]の内容

物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 原子核放射線またはX線の測定 (7,738) | X線,ガンマ線,微粒子線または宇宙線の測定 (6,349) | 放射線ビームに関してなされる測定,例.ビームの位置または断面;放射線の空間分布の測定 (185)

国際特許分類[G01T1/29]に分類される特許

11 - 20 / 185


【課題】患部挿入用の放射線源の強度を効率良く測定することが可能な放射線源強度測定装置及び放射線源強度測定方法を提供する。また、放射線源の取り違えを検出することができる放射線源強度測定装置及び放射線源強度測定方法を提供する。
【解決手段】放射線源の強度を求める放射線源強度測定装置は、微小放射線源挿入装置1の微小放射線源の挿入位置毎に測定パラメータを記憶する記憶部を備えるコンピュータ33と、微小放射線源の挿入時に、微小放射線源挿入装置1のガイド針21中を移動中の微小放射線源からの放射線の強度を測定する放射線センサ31とを備える。コンピュータ33は、挿入位置に基づいて記憶している測定パラメータを特定し、特定した測定パラメータと放射線センサ31により測定された放射線強度とに基づいて、微小放射線源の強度を求める。 (もっと読む)


【課題】放射線ビームの線量分布測定を高精度に行うことを目的とする。
【解決手段】平行平板電離箱104の複数を積層状に保持するホルダー108を備え、ホルダー108は、平行平板電離箱104のそれぞれの間に空間を形成するスペーサ120を有し、平行平板電離箱104は、その内部に電離箱空洞202を形成する電離箱ケース201と、電離箱空洞202に接する電離箱ケース201の内面に形成された電離箱電極203とを有し、電離箱電極203は、信号が入力される信号電極203aと高圧電位が入力される高圧電極203bを有し、これらの複数の平行平板電離箱とホルダーは水103中に配置される。 (もっと読む)


【課題】治療照射中においても粒子線の深さ方向線量分布を測定できる深さ方向線量分布測定装置、粒子線治療装置及び粒子線照射装置を提供する。
【解決手段】照射野形成装置20はブロックコリメータ45のコリメータ部材44b上流側に取り付けられた複数電離箱型検出器30を備える。検出器30は、ビームの飛程を連続的又は段階的に変更する遮蔽体33とその後段に電離箱37を複数設置した構造を有し、信号処理装置31と共に深さ方向線量分布測定装置39を構成する。照射野形成装置20内に到達した粒子線の一部はビーム通路48を通過して患者60に照射され、残りの粒子線の一部が複数電離箱型検出器30に入射し、電離箱37内で電荷が発生する。個々の電離箱37内で発生した電荷量に基づいて、信号処理装置31で深さ方向線量分布が求められる。 (もっと読む)


【課題】間引きデータを画面上に迅速に表示させることが可能な放射線画像生成システムを提供する。
【解決手段】放射線画像生成システム30は、放射線画像検出器1と、コンソール31と、オフセット補正値生成手段31と、放射線発生装置34とを備え、コンソール31は、間引きデータf(x,y)又は実写画像データF(x,y)に基づいて作成した間引きデータに基づく画像、或いは、間引きデータ又は実写画像データに基づいて作成した間引きデータに対してゲイン補正処理及びオフセット補正値に基づくオフセット補正処理を行って間引きデータ又は実写画像データに基づいて作成した間引きデータに対する画像処理後の画像、或いは、実写画像データに対してゲイン補正処理及びオフセット補正値に基づくオフセット補正処理を行った画像処理後の画像、のうちの少なくとも1つとを、前記表示部に表示させる。 (もっと読む)


【課題】 照射室内における被照射体の位置決め精度の向上が図られた荷電粒子線照射装置を提供すること。
【解決手段】 照射室103内において、被照射体51に注入された放射性薬剤の到達位置から発生する消滅γ線を検出し、放射性薬剤の到達位置である照射目標位置を検出する。また、被照射体51に照射された荷電粒子線と被照射体51内の原子核との核反応によって生成されたポジトロン放出核からの消滅γ線を検出し、実際に照射された荷電粒子線の到達位置を検出する。これにより、照射室103内において、照射目標位置、及び実際に照射された荷電粒子線の到達位置を確認することで、照射目標位置と実際に照射された荷電粒子線の到達位置との位置ずれを修正し、適切な位置に被照射体51を位置決めすることができる。 (もっと読む)


【課題】ハイパワーの電子線の照射中に、照射対象物の照射領域の大きさを検出できる電子線照射装置、電子線照射領域検出方法、電子線照射方法を提供する。
【解決手段】
真空排気された真空槽11内で照射対象物60に電子銃30から電子線を照射して照射対象物60を加熱する際に、照射対象物60の表面の電子線を照射されてX線を放出する領域を照射領域とすると、照射領域から放出されたX線が入射する位置にX線検出装置20を配置して照射領域の大きさを検出し、検出した照射領域の大きさに基づいて電子線のビーム径を制御する。 (もっと読む)


【課題】 加速器を用いた熱外(熱)中性子照射装置において、照射される熱外(熱)中性子に混入する高速中性子の角度分布および強度の測定を迅速かつ低コストで行える高速中性子の線量分布測定方法を提供すること。
【解決手段】 ターゲットTのビーム照射点Pから陽子ビームBの進行方向に所定距離離れた位置に、中性子による核反応の閾値が0.1MeV以上の放射化箔F1を基準として設置すると共に、この基準とした放射化箔F1の鉛直方向、水平方向或いは斜め方向に、前記ビーム照射点Pを中心として一定距離、所定角度ごとに複数の放射化箔F2・F3…を円周上に配置して、前記中性子照射装置から中性子の照射を行った後、放射化箔F1・F2…中に生成された放射性物質から放出される所定エネルギーのγ線の強度を測定して高速中性子の角度分布及び強度を測定する点に特徴がある。 (もっと読む)


【課題】精度よく放射線源の方向を特定できる放射線検出モジュールを提供する。
【解決手段】本発明に係る放射線検出モジュール1は、放射線を検出可能な複数の半導体素子が搭載された放射線検出基板と、放射線検出基板より放射線が入射する側に近い位置に設けられ、放射線の一部を遮へい可能な遮へい材20と、底部300と、底部300の一端から底部300の法線方向に沿って延びる第1側面部310と、底部300の他端から底部300の法線方向に沿って延びる第2側面部320とを有し、第1側面部310と第2側面部320とがそれぞれ、放射線検出基板を支持する基板支持部330と、基板支持部330に対し予め定められた位置に設けられ、遮へい材20を支持する遮へい材支持部340とを有する固定部材30とを備える。 (もっと読む)


【課題】粒子線ビーム形状の劣化を低く抑えつつ、簡素な構成でスキャン時の線量2次元分布を測定し表示することができる粒子線ビーム照射装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る粒子線ビーム照射装置は、粒子線ビームを生成するビーム生成部と、粒子線ビームの出射を制御するビーム出射制御部と、粒子線ビームを2次元走査するビーム走査部と、複数の第1の線状電極が第1の方向に並列配置され、複数の第2の線状電極が第1の方向と直交する第2の方向に並列配置されるセンサ部と、各第1の線状電極から出力される第1の信号と、各第2の線状電極から出力される第2の信号とから粒子線ビームの重心位置を算出し、重心位置の周辺の粒子線ビームの2次元ビーム形状を求めるビーム形状算出部と、2次元ビーム形状を累積記憶する記憶部と、2次元ビーム形状を線量の2次元分布として表示する表示部と、を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】組立て性に優れた放射線検出モジュールを提供する。
【解決手段】本発明に係る放射線検出モジュールは、複数の半導体素子が搭載される放射線検出基板と、放射線検出基板を保持する固定部材と、放射線検出基板に接続される回路基板とを備え、放射線検出基板が、エッジ部を一端に有する基板と、基板と接続する複数の半導体素子と、複数の半導体素子それぞれに接続する配線パターンを有するフレキシブル基板とを有し、固定部材が、底部と、第1側面部と、第2側面部とを含み、第1側面部と第2側面部とのそれぞれに設けられ、放射線検出基板を支持する基板支持部とを有する。 (もっと読む)


11 - 20 / 185