【課題】複数の種類の粒子線を照射可能な粒子線照射システムにおいて、粒子線の照射位置を確認する手段を一種類の機器で提供する。
【解決手段】複数種の粒子線を生成する粒子線発生装置と、粒子線を照射対象に出射する照射装置と、照射装置から出射された粒子線に基づいて照射対象から発生するガンマ線を検出する複数のガンマ線検出器２０３ａ，２０３ｂと、ガンマ線検出器からのガンマ線検出信号が即発ガンマ線又は対消滅ガンマ線に起因するかを判別する信号処理装置２０９と、信号処理装置２０９で即発ガンマ線に起因すると判別された前記ガンマ線検出信号から前記粒子線の照射野を求め、前記対消滅ガンマ線に起因すると判別された前記ガンマ線検出信号から前記粒子線の照射野を求める照射野確認装置を備える。 （もっと読む）

【課題】グリッドの縞状の影の位置の変化を正確に補正することによりグリッド影の除去が容易にでき、Ｘ線の照射領域は全て画像として表示できるＸ線撮像装置を提供することである。
【解決手段】グリッド４にマーカーＭが配設されている。マーカーＭはＸ線透過率が低い部材で構成され、マーカーＭを透過し二次元Ｘ線検出器６に入射したＸ線からも画像を得る。マーカーＭによりグリッド４の影の位置変化を補正する。従って、グリッド４の影の位置変化を正確に補正でき、Ｘ線の照射領域は全て画像として構成できる。 （もっと読む）

【課題】荷電粒子ビームの線量分布の確認を実照射前のみならず、実照射中あるいは実照射後にも行うことのできる照射線量確認システムを提供する。
【解決手段】粒子加速器から輸送されてきた荷電粒子ビームＢの進行方向に対する深さ方向Ｚ及び当該進行方向と直交する平面上の横方向Ｘと縦方向Ｙとで定義される三次元照射野を、深さ方向において複数の階層に分けた照射階層ごとに荷電粒子ビームＢを照射する粒子線照射装置２の照射線量を確認するための照射線量確認システム１であって、照射階層の深さに関する深さ情報と、荷電粒子ビームＢの二次元分布に関する二次元分布情報及び線量に関する線量情報とから、三次元照射野における照射線量を表した三次元照射野線量分布データを生成し、予め設定された計画線量分布における線量と合致するか確認する。 （もっと読む）

【課題】高精度、高再現性があり、大規模加速器における複数のビーム位置計測手段を設置する場合に、それぞれのビーム位置計測信号の同期を確保することができ、更に、人の判断と操作を不要とするビーム位置フィードバック制御装置を可能とした加速器のビーム位置計測装置を提供する。
【解決手段】位置センサ７００に接続した位置信号処理回路７０１と、位置信号処理回路７０１の出力によりゲインを判定するゲイン判定手段７０２と、ゲイン判定手段７０２により位置信号処理回路７０１の出力の減衰量を切換える減衰量切換え手段７０３と、減衰量切換え手段７０３の出力を位置データに変換してプロセッサ７０６に入力にするアナログ信号入力手段７０４と、ゲイン判定手段７０２の選択信号を減衰量データとしてプロセッサ７０６に入力するデジタル入力手段７０５を備え、前記のアナログデータに対して、減衰量の補正をプロセッサ７０６で行う。 （もっと読む）

【課題】
イオンビームで照射対象を照射し、即発ガンマ線の計測により照射野位置を測定するとき、照射野位置の計測精度を向上したいニーズがある。
【解決手段】
荷電粒子ビームを発生する荷電粒子ビーム発生装置と、荷電粒子ビームを照射対象に出射する照射装置と、荷電粒子ビームに基づいて照射対象から発生する即発ガンマ線を検出してガンマ線検出信号を出力するコンプトンカメラと、照射対象とコンプトンカメラの間に配置され、１ＭｅＶ未満のエネルギーの即発ガンマ線を吸収する吸収体と、コンプトンカメラからのガンマ線検出信号により照射野を求める照射野確認装置を備えることで照射野の位置計測精度を向上することができる。 （もっと読む）

【課題】Ｘ線画像中の照射ムラ成分を画像毎に適切に抑制する。
【解決手段】直接Ｘ線領域抽出手段４０が、Ｘ線管から被検体に対して照射されたＸ線によって形成されるＸ線画像から被検体を含まない領域の少なくとも一部を直接Ｘ線領域として抽出し、照射ムラ成分推定手段４１が、直接Ｘ線領域中の少なくとも一部の画素の位置とその画素の画素値との関係に基づいて、Ｘ線画像の各画素における照射ムラ成分を推定し、照射ムラ補正手段４２が、推定された照射ムラ成分をＸ線画像から除去する。 （もっと読む）

【課題】エミッタンス測定およびリボンビームの強度分布均一化を簡易な手段で実施できるようにする。
【解決手段】イオンビームＩＢの軌道上に設けられて、そのビーム強度分布を測定するビームプロファイルモニタと、イオンビームＩＢを挟んでｘ方向に対向配置され、互いの間でイオンビームＩＢを通過させる開口を形成する一対のビーム遮蔽部材６とを利用する。そして、ビーム遮蔽部材６の少なくとも一方を、ｙ方向には隙間なく、かつ、ｘ方向には独立して進退可能に設けられた複数の可動遮蔽板６１からなるものとしたうえで、可動遮蔽板６１の位置を調整して、対向するビーム遮蔽部材６との間に微小開口Ｐを形成し、微小開口Ｐを通過したイオンビームＩＢについての強度分布測定結果から、イオンビームＩＢのエミッタンスを算出するように構成した。 （もっと読む）

少なくとも即発ガンマ線および中性子を発生させる入射ハドロンビーム（１０）による上記標的（２０）の衝突における、上記標的（２０）の領域（２５）が受ける局所線量をリアルタイム測定する方法であって、上記標的（２０）から放出される粒子は、上記標的（２０）の上記領域（２５）をコリメートすることによって、かつ上記標的（２０）における測定される上記領域（２５）から距離Ｌの位置に検出器（４５）を配置することによって、測定される方法。上記検出器（４５）は、粒子エネルギーおよび粒子飛行時間を測定する上記手段を有しており、上記検出器（４５）が受けた即発ガンマ線の数は、記録された事象を選択することにより決定され、即発ガンマ線についての空間情報を提供するために、上記標的（２０）よりも前の入射ハドロンビーム（１０）中に配置されている、二方向性荷電粒子検出システムが、入射ハドロン（１０）の横断位置を取得するように用いられる。
（もっと読む）

【課題】 イオン源から引き出されたイオンビームの実際の進行方向を基板表面に投影した方向と実質的に等しい方向を、複雑な算出工程を用いずに測定する。
【解決手段】 上孔３３を有する上板３２および下孔３５を有する下板３４を備えていて少なくとも下孔３５がスリット状をしている治具３０と、治具３０の上孔および下孔の両方を通過したイオンビーム１２を受けてそのビーム電流を測定するビーム電流測定器６０とを用いて、治具３０およびビーム電流測定器６０を、上孔３３にイオン源１０から引き出されたイオンビーム１２が入射する場所に位置させた状態で、少なくとも下板３４を軸３８を中心に回転させて、イオン源１０から引き出されたイオンビーム１２を上孔３３および下孔３５の両方を通過させて、ビーム電流測定器６０で測定するビーム電流が最大となるときの下孔の長さ方向５１を測定する。 （もっと読む）

【課題】 高精度にて核物質を検出することができる核物質検出装置を提供する。
【解決手段】 検査対象となる検査物Ａに含まれる核物質を検出する核物質検出装置１０である。中性子検出センサ１は、検査物Ａに対して対向配置され、核物質から放出される中性子を検出する。中性子検出センサ１は、核物質から放出される中性子の発生源の二次元位置が検出可能とされている。 （もっと読む）