【課題】放射性廃棄物中に含まれる放射性核種の特定、その位置及び充填量（充填状態）を単一の検査装置を用い、単一のプロセスで行う。
【解決手段】被検体１８が内包する放射線源１８Ａが発生する放射線１８Ｂによって標準試料１２の第１の透過画像を得、次に、Ｘ線源１１から照射されるＸ線１９によって、標準試料１２の第２の透過画像を得る。第１の透過画像及び第２の透過画像の大きさに関する相対比と、Ｘ線源１１、放射線源１８Ａ、標準試料１２及び受像器１３の相対的位置関係に基づく幾何学的関係とから、放射線源１８Ａの位置を特定する。放射線源１８Ａによる標準試料１２の第１の吸収特性に対し、Ｘ線１９の強度を変化させることによって、標準試料１２の、第１の吸収特性と合致する第２の吸収特性を得、この際のＸ線１９の強度に基づいて、放射線源１８Ａの種類を同定する。 （もっと読む）

【課題】
ナイフエッジを用いて回折Ｘ線と透過Ｘ線を利用して高精度なＸ線ビームプロファイルの計測を行うことができる暗視野計測法において、一つのナイフエッジを用いて異なる波長のＸ線の計測に対応でき、またＸ線ビームの焦点深度やその他の計測装置の条件に応じて最適な計測を行うことが可能なＸ線ナノビーム強度分布の精密測定方法及びその装置を提供する。
【解決手段】
ナイフエッジ４は、それを透過するＸ線の位相を進める作用を有する重金属で長手方向に厚さを連続的又は段階的に変化させて作製するとともに、透過Ｘ線と該ナイフエッジの先端で回折した回折Ｘ線とが強め合う範囲の位相シフトが得られる厚さ位置でＸ線ビームを横切るように設定し、回折Ｘ線と透過Ｘ線とが重ね合わさったＸ線をＸ線検出器で測定する。 （もっと読む）

【課題】ファラデーカップと二次電子増倍管を備えるイオン検出器において、小型化・低価格化を可能とする。
【解決手段】イオンビームが通過する開口部１２を有する筐体１１と、開口部１２を通るイオンビームの飛行方向延長線上に位置するファラデーカップ２０と、飛行方向延長線からそれた方向にイオンビームの入射部３２を有する二次電子増倍管３０とを備えるイオン検出器１０であって、ファラデーカップ２０は、飛行方向延長線上に位置する底板部２１と、底板部２１の周囲に設けられた側板部２２ａ，２２ｂと、側板部２２ａ，２２ｂに囲まれた内部を複数の空間に区画する仕切り板部２３とを有し、側板部２２ａ，２２ｂは、入射部３２に近い側から遠い側に向かって高さが連続的または段階的に増大し、仕切り板部２３は、入射部３２から遠い側板部２２ｂの高さよりも低く、かつ入射部３２に近い側板部２２ａの高さよりも高く形成されている。 （もっと読む）

【課題】陽子線を用いた場合であっても、放射線照射装置が水中に形成する３次元の線量分布を一度に計測し、計測時間を短縮する。
【解決手段】複数のイオンチェンバー２１０を積層した放射線計測装置であって、イオンチェンバー２１０は、放射線の入射により発生した信号を取り出す信号取り出し電極と、信号取り出し電極と対向して配置される電圧印加電極と、イオンチェンバー及び他の前記イオンチェンバーの間に配置され、イオンチェンバーの放射線阻止能に関する水等価厚と放射線拡散量に関する水等価厚を一致させる調整体を備える。 （もっと読む）

【課題】輝尽性蛍光体を用いて少線量及び／又は大線量の放射線を計測する方法及び装置を提供する。
【解決手段】放射線計測装置１は、放射線画像を記録した輝尽性蛍光体１１に長波長の励起光を照射する光源２と、輝尽性蛍光体１１から発生する蛍光を測定する蛍光強度測定器３と、輝尽性蛍光体に白色可視光又は短波長の励起光を照射する光源２と、輝尽性蛍光体から発生する光子数を測定する光子計数検出器４と、輝尽性蛍光体１１に励起光を照射しているときに蛍光強度を測定し、白色可視光、短波長の励起光及び励起光の照射制御及び輝尽性蛍光体に励起光を照射しているときに光子数を測定する制御を行なう制御手段５とからなる。 （もっと読む）

本発明はＸ線画像化方法および装置に関する。この方法においては、被検体（８）が１つのＸ線パルス又は時間間隔をおいて相前後する複数のＸ線パルスにより透視される。被検体（８）のボリューム要素で透視方向とは異なる方向に散乱させられたＸ線が、２次元配置の検出素子を有するＸ線検出器（９）により、時間的および空間的に分解されて記録される。Ｘ線パルスの波面の既知のジオメトリおよび伝搬を介して、時間的および空間的に分解された測定データから、被検体（８）の３次元散乱分布の画像データセットが再構成される。この方法は、１つのＸ線パルスのみにより３次元散乱放射線分布の画像データセットの作成を可能にし、従って非常に簡単に実施することができる。
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【課題】高分解能マイクロフォーカスＸ線検査システムのための、空間分解能とコントラスト分解能を同時に評価できるＸ線分解能評価用ファントムを提供する。
【解決手段】Ｘ線分解能評価用ファントムは、基板４と該基板上に設けた複数のブロック３からなり、ブロック３は、基板４に垂直な方向の高さが一定の感光性樹脂からなり、主ブロック３ａと副ブロック３ｂが基板上の一方向に交互に並列に連続して配置され、Ｘ線入射端面３ＡとＸ線出射端面３Ｂを有し、Ｘ線入射端面３Ａから入射しＸ線出射端面３Ｂから出射するＸ線の線量が全ての主ブロック３ａと副ブロック３ｂで異なるように構成する。 （もっと読む）

【課題】本願発明の目的は、電子が持つスピンを高効率で分解でき、100kVレベルに電子線を加速する必要がない小型で安価に製作できる電子スピン検出器を提供することである。
【解決手段】電子スピン検出器は、複数の磁気抵抗素子504と、電子線の減速レンズ505を備え、各磁気抵抗素子504は減速レンズ505によって広がった電子線が垂直入射できるよう傾斜させて配置させることを特徴とする。 （もっと読む）

本発明は、空間における（ｘ、ｙ、ｚ）方向のうち少なくとも１つに沿って制動光子流のスペクトル及ぶ空間分布を測定する方法に関し、該方法は、空間における（ｘ、ｙ、ｚ）方向に動く少なくとも１つの変換ターゲット（５）上に制動光子（ｐｈ）が衝突することによって生じる中性子の測定を含むことを特徴とする。本発明は、Ｘ線、医用画像、トモグラフィなどに利用することができる。 （もっと読む）

【課題】従来のナイフエッジスキャン法よりも作製が容易な遮蔽板を用い、かつ、遮蔽板の位置調整をより簡便にした、簡便で信頼性の高いＸ線ビームの断面強度分布測定方法を提供すること。
【解決手段】反射体２は、面粗さＲａがナノメータオーダである反射面３を有している必要があり、反射面３を入射Ｘ線ビーム１に対して全反射臨界角以下の角度ωだけ傾斜させて配置する。そうすると全反射であるため、反射Ｘ線ビーム６が反射体に侵入する侵入領域８の深さ、侵入深さδは数ナノメータとなり、したがって、通過Ｘ線ビーム７の遮蔽端のボケｃも数ナノメータとなる。反射Ｘ線ビーム６の端のボケもほぼδであり同様である。よって反射体２を、矢印Ａで示す入射Ｘ線ビーム１に直交する方向に移動させて通過Ｘ線ビーム７の強度を測定し、その変化を微分処理することにより、理想的なナイフエッジスキャンを行うことができる。 （もっと読む）