【課題】 幅方向に均一な膜厚及び密度分布を有する圧延シートを製造することができる粉体圧延装置を提供する。
【解決手段】 粉体８を圧延することにより圧延シート２０を成形する圧延部４と、前記圧延部の上方に形成され前記粉体を貯槽するホッパー１０と、前記圧延シートの幅方向に複数設けられ、前記ホッパーに前記粉体を供給するフィーダ１２，１４，１６と、前記圧延部により成形された前記圧延シートの膜厚を示す値を幅方向に複数箇所測定する測定部１８Ａ〜１８Ｃと、前記複数箇所で測定された前記膜厚を示す値に基づいて前記幅方向の前記膜厚が一定の範囲となるように前記ホッパー内の前記幅方向の粉体のレベルを制御する制御部５４とを備える。 （もっと読む）

【課題】幅方向両端部の膜厚の増大を抑制し膜厚精度を向上させた圧延シートを製造する。
【解決手段】回転軸が平行で互いに逆向きに回転する一対のロール４Ａ，４Ｂと、前記一対のロール上に設けられたホッパー６と、前記ホッパーから前記一対のロールの両端部方向に前記粉体が排出される排出部１１とを備え、前記排出部から前記粉体を排出しつつ前記一対のロールにより前記粉体を圧延する。 （もっと読む）

【課題】 均一な膜厚及び密度分布を有する圧延シートを製造することができる粉体圧延装置を提供する。
【解決手段】 粉体８を圧延することにより圧延シート２０を成形する圧延部４と、前記圧延部の上方に形成され前記粉体を貯槽するホッパー１０と、供給口２６を介して前記ホッパーに粉体を供給するフィーダ１２と、前記圧延部により成形される前記圧延シートの目標膜厚を設定する設定部５４と、前記圧延部により成形された前記圧延シートの膜厚を示す値を測定する測定部１８と、前記目標膜厚及び前記膜厚を示す値に基づいて前記フィーダ供給口下端の高さを調整する調整部３２と、前記供給口と前記ホッパー内の粉体レベルとが一致するように前記粉体を供給する駆動部３０とを備える。 （もっと読む）

【課題】信頼性に優れる電極を製造可能な電極成形装置を提供すること。
【解決手段】電極活物質及びバインダを含有する複合粒子を供給するための供給部１０と、前記供給部１０から供給された前記複合粒子１２をシート状に成形し、シート状の電極成形体２００を形成する電極成形部と、を備え、前記供給部１０が、前記供給部１０から供給するための複合粒子１２に含有される磁性異物を除去するための磁気フィルタ１４を有していることを特徴とする電極成形装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】 圧延シートの成形に測定結果を反映させる際の時間遅れを小さくすることができる粉体圧延装置を提供する。
【解決手段】 回転軸が平行で互いに逆向きに回転する一対のロール４Ａ，４Ｂと、前記一対のロール間に粉体を供給する供給部１２と、前記供給部から供給された前記粉体を前記一対のロールにより圧延する際に、前記一対のロールの間隔を測定する測定部１８と、前記測定部による測定結果に基づいて、前記供給部から前記一対のロール間に供給される前記粉体の供給量を制御する制御部５４とを備える。 （もっと読む）

【課題】チップ型電子部品を搬送しながら電気的特性を測定するときに、プローブ押圧による外部電極の損傷が生じない装置と方法を提供する。
【解決手段】ワーク測定装置はテーブルベース１と、テーブルベース上に回転自在に設置され、テーブルベースと反対側の第１層２ａと、テーブルベース１側の第２層２ｂとを有する搬送テーブル２とを備えている。第１層を貫通してワークＷを収納する複数のワーク収納孔４が設けられ、第２層に各ワーク収納孔に対応して、第２層を貫通してスルーホール９が設けられている。ワーク収納孔に収納されたワークの一側電極Ｗａは、ワーク収納孔の第１層側から露出するとともに、他側電極Ｗｂは第２層のスルーホールに当接する。搬送テーブルの第１層側に、ワーク収納孔内のワークの一側外部電極に当接する第１のプローブ６０を設け、テーブルベース内に第２層のスルーホールに当接する第２プローブ６１を設けた。 （もっと読む）

【課題】Ｃｕを含む内部電極を有するセラミック電子部品を好適に製造し得る方法を提供する。
【解決手段】セラミック素体１０と、セラミック素体１０内に配されており、Ｃｕを含む内部電極２５，２６とを有するセラミック電子部品１を製造する。内部電極２５，２６を有する生のセラミック素体２０を、ＣｕまたはＣｕを含む合金を配した状態で焼成することによりセラミック素体１０を得る。 （もっと読む）

【課題】外観が良好であり膜厚精度を向上させた粉体成形シートを製造する。
【解決手段】回転軸が平行で互いに逆向きに回転する一対のロール４Ａ，４Ｂと、前記一対のロール間に供給される粉体が貯留された粉体貯留部と、前記一対のロールの内の一方のロール４Ａを抱かせるように前記一対のロール間を通し基材１６を搬送する基材搬送部とを備え、前記一対のロールからの圧力が前記基材の幅方向の両端部にかかり難くした状態で前記粉体貯留部から供給された粉体を前記基材上に圧延成形する。 （もっと読む）

【課題】曲線的充放電特性の電気二重層キャパシタにおいて、内部抵抗Ｒ及び静電容量Ｃを測定する方法及び装置を提供する。
【解決手段】
計測された端子電圧Ｖ、充電時間ｔ_ｃｈ及び放電時間ｔから、充電時の電荷Ｑ_ｃｈと放電時の電荷Ｑとの差ΔＱと、放電時に端子から放出される放出エネルギーＷと、を算出し、ΔＱと、放出エネルギーＷと直線的放電特性の放出エネルギーＷ_０との差である乖離エネルギーΔＷと、の算定式から内部抵抗Ｒを解析的に求め、算出された内部抵抗ＲとΔＱとから、電気二重層キャパシタの静電容量における電圧に依存する成分αＶ_ｃの電圧係数αを算出し、算出された内部抵抗Ｒと電圧係数αとから、静電容量Ｃを算出する。 （もっと読む）

【課題】電解コンデンサの寿命を、従来の寿命加速試験に要していた試験時間よりも短期間で予測する。
【解決手段】電解コンデンサの寿命診断方法であって、電解コンデンサのケース２に複数の開口部７を設け、該ケース内部の電解液の拡散速度を加速させた状態で、電解コンデンサの加速寿命試験を行い、電解コンデンサの重量実測値と静電容量変化量の相関特性あるいは電解コンデンサの重量実測値と等価直列抵抗変化量の相関特性をロット別に求め、劣化故障に至る寿命点の重量をロット別に算出する。また、前記の相関特性から近似式を求めて、劣化故障に至る寿命点の重量変化量を算出し、開口部７を設けていない電解コンデンサの加速寿命試験で得られた重量変化量の経時変化特性を基に、開口部７を設けていない電解コンデンサの寿命を推定する。 （もっと読む）