【課題】四重極電場を理想状態に近付けるべく四重極マスフィルタの各電極に小振幅交流電圧±ａcosω₂ｔを印加する四重極型質量分析装置において、その交流電圧の直流電圧生成部への干渉を防止してその出力電圧の安定化を図る。
【解決手段】四重極駆動部において、電圧重畳部１４１と直流正電圧生成部１１１との間の信号経路上に交流電圧ａcosω₂ｔを双方向に減衰させるフィルタ１５１を設ける。また、フィルタ１５１と直流正電圧生成部１１１との間に、振幅位相調整回路１６１で振幅減衰、位相調整を行って生成した電圧±ａ'cos（ω₂ｔ＋Δ）を加算する。この加算された電圧と、電圧重畳部１４１、フィルタ１５１を経た電圧成分とはちょうど位相が180°ずれただけの同電圧であり、両者は打ち消し合う。これにより、小振幅交流電圧の漏れ込みによる直流正電圧生成部１１１への干渉を軽減することができる。 （もっと読む）

【課題】m/z範囲が限定された複数の測定モードが用意された質量分析装置において、インソース分解やクーリング時のイオン分解を利用した擬似ＭＳ³測定を実施する測定対象イオンのm/z範囲を広げることを可能とする。
【解決手段】全m/z範囲をカバーするように設定した複数の測定モードでそれぞれ目的試料に対するＭＳ¹スペクトルを取得するとともに、同試料に対しＭＳ²スペクトルを取得する（Ｓ１、Ｓ２）。そして、ＭＳ²スペクトルに存在するイオンピークと同m/zのピークが全ＭＳ1スペクトルにあるかどうかを判定し、同一m/zのイオンを擬似ＭＳ³測定対象イオンとして抽出する（Ｓ３）。全ＭＳ¹スペクトルの中で擬似ＭＳ³測定対象イオンのピーク強度が最大となる測定モードと該イオンのm/zを測定条件として擬似ＭＳ³測定を実施し、擬似ＭＳ³スペクトルを取得する（Ｓ４、Ｓ５）。 （もっと読む）

【課題】 イオントラップToF装置の、特にMS²及びMS³分析モードにおいて、イオンスループット速度及びスペクトル取得速度を改良する。
【解決手段】 飛行時間型質量分析装置（１）が、イオン源と、該イオン源から供給される試料イオンを受容する分割線形イオンデバイス（１０）と、該分割デバイスから排出されたイオンを分析する飛行時間型質量分析器を備える。最初にイオンを二以上の隣接するセグメントグループの中に捕捉し、次いでイオンをセグメントグループよりも短い分割デバイスの領域に捕捉するための捕捉電圧が分割デバイスに印加される。捕捉電圧はデバイス（１０）の全長に沿って一様な捕捉場を供給するのにも有効である。 （もっと読む）

【課題】１つの装置で、分析目的に応じた高感度の測定と測定質量範囲の広い測定とを自由に選択可能とする。
【解決手段】四重極電源部４において、高周波電源４０１による高周波電圧の周波数を切り替え可能とするとともに、四重極マスフィルタ２の浮遊容量に並列に可変コンデンサ４０２、４０３を設ける。感度優先の高感度モードでは質量範囲の広さを優先する高質量モードよりも、高周波電圧の周波数を高くするとともに、可変コンデンサ４０２、４０３の容量値を大きくする。ＬＣ共振回路を形成する容量値が大きくなることでＬＣ共振条件に基づく周波数が上がり、高い周波数の高周波電圧をＬＣ共振させて振幅を増幅することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】試料に含まれる物質を網羅的に同定する際にＭＳ²分析する分画数を抑えることで分析時間を短縮しながら同定の正確性を確保する。
【解決手段】全ての分画試料をＭＳ¹分析した結果に基づき作成した、保持時間、m/z、信号強度を３軸とする３次元グラフに対し（S1-S2）、ωよりも大きな閾値θ_Nで強度を判定してピーク検出を行い、検出されたピークのピークトップが存在する分画試料をＭＳ²分析対象として選択する（S3-S5）。次に、選択された分画試料にピークトップが存在し、強度が閾値ω以上であるピークを検出し、検出されたピークをプリカーサイオン候補として挙げる（S6）。そして、選択された分画試料の含有物質が同定されるまでプリカーサイオン候補についてのＭＳ²分析を順次実行する（S7-S9,S14-S15）。１つの分画試料に対し多くのプリカーサイオン候補が挙げられるので、分画試料の含有物質の同定確率が高まる。 （もっと読む）

【課題】デジタルイオントラップにおいて、イオンを捕捉する際にリング電極に印加する矩形波電圧のデューティ比を５０％近傍に保つことで高m/z範囲の検出感度を改善する。
【解決手段】リング電極３１に印加される矩形波電圧の正極側部分と負極側部分とを整流回路５７、５８で別々に抽出し、積分回路５９、６０でそれぞれ平滑化する。これにより、矩形波電圧の正極側部分の面積値と負極側部分の面積値はそれぞれ直流信号の波高値ｈ１、ｈ２に置き換えられる。比較回路６１は両波高値の差を誤差信号Δとして出力し、この誤差信号Δが０になるように可変遅延回路５１、５２において制御信号の遅延量を調整する。これによって、スイッチ５３、５４をオン・オフ駆動する正極側制御信号と負極側制御信号との相対的位相関係が変化し、矩形波電圧のデューティ比が５０％に近づくように変化する。 （もっと読む）

【課題】質量分析用途に用いる成形用セラミックスを提供する。
【解決手段】ＲＦ部材のオーバーモールドに適した、アルカリ土類金属酸化物、例えばＳｒＯを含むガラスセラミックは、良好なＲＦ応答および良好な機械的強度を提供する。具体的には、ＳｒＯは、ＲＦおよび機械的性能を維持しながら、セラミックの流動温度を低下させる。得られるガラス配合物は、１０〜５０モル％のＳｒＯ、５〜３０モル％のＡｌ_２Ｏ_３および２０〜６０モル％のＢ_２Ｏ_３を含有する。 （もっと読む）

【課題】目的成分に対する最適なプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択することができるＭＳ／ＭＳ型質量分析装置及び同装置用プログラムを提供する。
【解決手段】プリカーサイオンを選別する第１質量分離部３と、イオン開裂部４と、プロダクトイオンを選別する第２質量分離部６と、検出器７とを有するＭＳ／ＭＳ型質量分析装置であって、目的成分のＭＳ分析を行うＭＳ分析実行部１１０と、ＭＳ分析の結果に基づき１又は複数の正イオン、及び、１又は複数の負イオンをプリカーサイオン候補とするプリカーサイオン候補選択部１２０と、全プリカーサイオン候補のＭＳ／ＭＳ分析を行うＭＳ／ＭＳ分析実行部１３０と、ＭＳ／ＭＳ分析結果に基づき目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択する組合せ選択部１４０を備える。 （もっと読む）

【課題】イオントラップで質量分析を行なう場合に、空間電荷の影響を補正し、感度とダイナミックレンジを両立する。
【解決手段】イオン源で試料をイオン化する工程と、イ
オントラップにイオンを蓄積する工程と、前記イオント
ラップから質量選択的にイオンを排出して検出器で検出
し、質量スペクトルを取得する工程を有し、前記質量ス
ペクトルの質量軸を、各イオンが排出される時点で前記
イオントラップ内に蓄積されているイオン量に基づいて
補正する。 （もっと読む）

【課題】試料イオン化装置（イオン源）からの試料導入の際、イオン化が不充分であった試料が導入部細孔以外の部位に滞留し、熱などのエネルギーにより、酸化物ないし炭化物などの生成物として堆積する。その堆積する生成物は質量分析装置の性能劣化の原因となる。
【解決手段】本発明は、試料供給源と、試料供給源から供給される試料をイオン化する試料イオン化部と、イオン化された試料イオンが導入される試料導入抑制室と、試料導入抑制室の下流になる差動排気室と、差動排気室の下流側になる分析部を有する質量分析装置において、試料導入抑制室、前記差動排気室の少なくとも一方の内部で放電を生成する放電生成手段を有する。そして、放電生成手段は、試料導入抑制室で対向するように設けた対向する試料導入部電極と第一細孔部用部材（電極）、ないし前記差動排気室で対向するように設けた第一細孔部用部材（電極）と第二細孔部用部材（電極）を有することを特徴とする。 （もっと読む）