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国際特許分類[H01L21/67]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置 (183,847) | 製造または処理中の半導体または電気的固体装置の取扱いに特に適用される装置;半導体または電気的固体装置もしくは構成部品の製造または処理中のウエハの取扱いに特に適用される装置 (11,346)

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【課題】粘着シートに貼り付けられたピックアップ対象の半導体素子に局所的に大きな力又は大きな曲げモーメントが加わることに起因する割れ、欠け、キズ等の破損を生じさせずに半導体素子をピックアップできる半導体製造装置を提供する。
【解決手段】半導体素子12が貼り付けられた粘着シート11がステージ15上に載置され、ステージ上の粘着シート11の周辺部を吸着部14により真空吸着する。突き上げシート16aは開口部15aを閉塞すると共に開口部内に供給された流体の圧力により開口部から膨出して半導体素子12及び粘着シート11を持ち上げる。絞り部17は、半導体素子12の剥離過程において、半導体素子12と粘着シート11との接合部の縁部が、粘着シート11の下面と突き上げシート16aとの接触領域の縁部とが一致するようにその開口部の面積又は位置を調整する。 (もっと読む)


【課題】
装置の異常発生の状態から残留材料を自動的に回収できる様にし、回収の作業効率を向上し、又回収の作業の安全性を向上する。
【解決手段】
複数のモジュールを有する半導体製造装置が非常停止した場合に、機構部14を駆動して基板の検出を行う基板検出方法であって、前記機構部上の基板の有無を判断し、基板があれば、前記機構部による基板検知を終了すると共に前記機構部の材料情報を更新し、基板検知不可を通知する。
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【課題】半導体ダイのピックアップ装置において、保持シートの引き剥がしの際に半導体ダイに加わる力を抑制しつつ半導体ダイを容易にピックアップする。
【解決手段】密着面22から出入りする先端33bを含むワイパ33と、ワイパ33の移動方向にある開口41を塞ぎながらワイパ33と共に移動するシャッタ23を備える。半導体ダイ15をピックアップする際に、ワイパ33の先端33bに半導体ダイ15の一端15aを合わせ、コレット18で半導体ダイ15を吸着した状態で、ワイパ33の先端33bを密着面22から突出させながらワイパ33を密着面22に沿って移動させ、開口41の一端面41aとシート面33aとの間に吸引開口42を順次開き、吸引開口42に半導体ダイ15の一端15a側から保持シート12を順次吸引させて半導体ダイ15から保持シート12を順次引き剥がす。 (もっと読む)


【課題】底部開口容器を用いる場合に、検出装置を移動させることなく、基板の位置ずれを検出することができる基板位置ずれ検出システムを提供する。
【解決手段】底部に開口部を有する本体2と、開口部を開閉自在な蓋体3と、蓋体3に載置されてウエハWを保持するカセット4とを有する容器1及びカセット4とともに蓋体3を昇降させる担持体8を有するカセットモジュール5に適用される基板位置ずれ検出システムは、担持体8に配されて昇降方向に光を投光・受光する回帰反射型センサ10と、本体2の天井部において回帰反射型センサ10と対向するように配されて光を反射する回帰反射板12と、蓋体3に配されて光を透過させる透過窓11とを有する検出装置を備え、該検出装置の構成要素は昇降方向の一直線上に配され、回帰反射型センサ10が投光する光は、カセット4が所定の収容位置に保持するウエハWによって遮光されない。 (もっと読む)


【課題】 基板収納容器内の基板の収容状態を把握する基板検出装置を提供する。
【解決手段】 隔壁12の通過口12aを塞ぐためのシャッター部材5に反射型センサ10を取り付ける。シャッター部材5とともに下降する反射型センサ10は、カセット1内の基板Wを順次検出していく。データ処理部11は、基板Wの検出情報を収集する。一方、位置検出手段は、昇降機構7aに備えるエンコーダ13aから送られる情報から、反射型センサ10の位置を検出する。処理部14は、基板Wの検出情報と、反射型センサ10の位置とから、カセット1内の基板Wの状態を把握することができる。 (もっと読む)


【課題】半導体ダイのピックアップ装置において、保持シートの引き剥がしの際に半導体ダイに加わる力を抑制しつつ半導体ダイを容易にピックアップする。
【解決手段】密着面22を含むステージ20と、密着面22に設けられ、ピックアップする半導体ダイ15よりも大きな開口41と、その表面が密着面22に沿ってスライドし、開口41を開閉する蓋23とを備える。半導体ダイ15をピックアップする際に、ピックアップしようとする半導体ダイ15が開口41を閉じている蓋23の表面からはみ出さないよう蓋表面を保持シート12に密着させ、コレット18でピックアップする半導体ダイ15を吸着した状態で、蓋23をスライドさせて開口41を順次開き、開いた開口41に保持シート12を順次吸引させて保持シート12を順次引き剥がす。 (もっと読む)


【課題】本発明は、半導体チップの移送,実装効率を改善することを目的とする。
【解決手段】XYZ方向に移動可能なボンディングヘッド21と突き上げユニット25とXYテーブルステージ34を具備し、ボンディングヘッドは、XY方向に移動可能なボンディングヘッド軸22とボンディングヘッド軸に取り付けられた複数個のコレットホルダー23と複数個のコレット23を備え、突き上げユニットは、複数の半導体チップからなるウェハが貼り付けられたリング状のシート28とシート上でかつウェハの外側に配置されたリング29と半導体チップを突き上げる突き上げピンを有したピンホルダー31を備え、XYテーブルステージはリングをXY方向に移動する機能を備え、突き上げユニットの突き上げピンにより特定の半導体チップを突き上げ、その半導体チップをコレットにより吸着し、リードフレームに移送して実装することを特徴とするダイボンダー装置。 (もっと読む)


【課題】チップにダメージを与えることなく効率よくシートから剥離させることができるチップ剥離装置およびチップ剥離方法ならびにチップピックアップ装置を提供することを目的とする。
【解決手段】チップピックアップ装置において取出しノズル20によってチップ6をシート5から取り出す際に、シート5の下面に当接してチップ6とシート5との剥離を促進する剥離促進機構7において、剥離ツール22の吸着面22aに吸着開口部24および吸着孔22bの真空吸引力がシート5の下面に及ぶ距離まで吸着面22aをシート5の下面に近接させた状態において下面に当接する厚みの凸部23を形成し、凸部23をシート5の下面に当接させた状態で真空吸引してシート5を下方に撓ませることにより、凸部23の近傍に位置するチップ外縁部を剥離の起点としてチップ6とシート5とを剥離させる。 (もっと読む)


ソーラーウエハ(2)のマウントディバイスであって、細長いウエブ(3)を有する少なくとも1つの櫛状ホルダ(1)を有し、細長いウエブ(3)の長手方向に延びる部分に沿って等間隔に配置された複数の櫛歯要素(4)が備えられており、互いに向き合う隣接する2つの櫛歯要素(4)の間に、少なくとも1つの凹部(5または6)が形成されており、凹部は、ソーラーウエハ(2)を挿入する接触表面(7)及びガイド表面(8)からなる。マウントディバイスにソーラーウエハを確実に保持且つマウントするために、少なくとも1つの櫛状ホルダ(1)の細長いウエブ(3)の隣接する2つの櫛歯要素(4)の間に、マウント・ギャップ(9)が備えられている。マウント・ギャップの輪郭は、互いにズレた2つの凹部(5または6)による任意の間隔(bH)と、櫛歯要素(4)の総奥行き(tges)よりも短い奥行き(t1)または奥行き(t2)を有する接触表面(7)及びガイド表面(8)からなり、奥行き(t1)及び奥行き(t2)は、合わせて櫛歯要素(4)の個々の総奥行き(tges)を形成し、輪郭(uA1またはuA2)は、マウント・ギャップ(9)の輪郭(uS)の接触表面(7)を含む平面(13)に対して鋭角(α)をもって傾斜して延びる平面(12)内に位置するウエブ寄りに傾斜表面(11)を有する溝部(10)を有し、ソーラーウエハ(2)の下端縁(21)が、輪郭(uA1またはuA2)に含まれる溝部(10)の傾斜表面(11)と接触するまで、重力によって滑って予め決められた位置に移動する。この位置において、マウント・ギャップ(9)の輪郭(uS)に含まれる接触表面(7)の垂線を中心にして櫛状ホルダ(1)を予め決められた鋭角(φ)回転させている間、接触表面(7)と平面接触するように、ソーラーウエハ(2)の表面(13)が接触表面(7)と向かい合わされている。このとき、ソーラーウエハ(2)の接触表面(7)から離れた側の表面(22)と、接触表面(7)と平行に延びるマウント・ギャップ(9)の輪郭(uS)に含まれるガイド表面(8)との間には公差(14)が同じ位置に形成される。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の高信頼性を実現させる。
【解決手段】ダイシングシート20の一方の主面に置かれた半導体素子11を、当該ダイシングシート20の他方の主面側から押し上げ、押し上げられた半導体素子11上に、吸着コレット100を近接配置する。そして、半導体素子11の表面に気体を噴出し、気体を排出する。更に、半導体素子11を、吸着コレット100に保持しつつダイシングシート20から剥離する。そして、半導体素子11を、吸着コレット100に保持しつつ支持部材上に搭載する。これにより、半導体装置の高信頼性が実現する。 (もっと読む)


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